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Fターム[5F033XX11]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 目的、効果 (15,696) | 低融点化 (3)

Fターム[5F033XX11]に分類される特許

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【課題】SiCOH膜からなる層間絶縁膜に形成された埋め込み用の凹部に銅材を埋め込んで導電路を形成するにあたり、導電路の抵抗を低くすること。
【解決手段】SiCOH膜にプラズマにより凹部を形成すると表面が疎水性になる。このSiCOH膜に水素ガスのリモートプラズマを供給し、Hラジカル及びHイオンにより凹部の表面を親水性に改質する。またプラズマに代えて過酸化水素水を供給してもよく、この場合表面にOH基が形成される。次いで例えばRu(CO)12ガスとCOガスとを用いてCVDによりRu膜4を成膜し、その後銅材5を埋め込み、CMP処理をして上層側の配線構造を形成する。また改質にあたって、グリム、DMEDAなどを用いてもよい。 (もっと読む)


【課題】多くの半導体装置に必要な低温処理と両立しない高温操作を必要とするような欠点がない、堆積可能なアッド‐オン層形成方法を提供することを目的とする。
【解決手段】堆積可能なアッド‐オン層形成方法であって、第一半導体基板の取り外し層の形成、取り外し層の上の第一半導体基板に多くのドーピング領域の形成、ここで多くのドーピング層の形成は、第一電導型を有するように、ドーピングされ、取り外し層の上の第一半導体基板の第一ドーピング層の形成、第一電導型に対する第二電導型を有するようにドーピングされ、第一ドーピング層の上の第一半導体基板に最低中間ドーピング層の形成、及び中間ドーピング層上の第一半導体基板に最低第三ドーピング層の形成からなり、第三ドーピング層上に第一の電導性ブランケット層の形成、第一電導ブランケット層上に第二の電導性ブランケット層の形成、及び第二電導性ブランケット層が第二半導体基板の対応する電導性上部層と接触するように、第一半導体基板を第二半導体基板への取り付け、からなる。 (もっと読む)


【課題】 容易に切断できるヒューズ素子を高密度に配置できるようにする。
【解決手段】 下層配線205と上層配線210と当該両配線を接続するビア209とからヒューズ素子が構成されている。ビア209の下面の一部分は下層配線205の外側に位置する。 (もっと読む)


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