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Fターム[5F043DD20]の内容

ウェットエッチング (11,167) | 方法 (1,636) | リフトオフ法 (107) | オーバーハング構造を用いるもの (3)

Fターム[5F043DD20]に分類される特許

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【課題】短時間のエッチングで低反射化が可能な低反射基板の製造方法を得る。
【解決手段】低反射基板の製造方法は、(100)単結晶シリコン基板1aを挟んだ両面の上に不純物拡散層2を形成する工程と、両面に形成された不純物拡散層の上に50nm以上400nm以下の膜厚のシリコン酸化膜3を形成する工程と、一方の上のシリコン酸化膜に対してブラスト加工を施すことにより、シリコン酸化膜を貫通して不純物拡散層に達する開口4を形成する工程と、基板をシリコン酸化膜が耐性を有するアルカリ水溶液に浸漬して開口を介したアルカリ水溶液による不純物拡散層のエッチングを行うことにより、シリコン酸化膜と基板との間にアンダーカットを形成する工程と、引き続きアルカリ水溶液により、アンダーカットの空間的な広がりに依存しつつシリコン(111)面を露出させる異方性エッチングを行う工程と、その後にシリコン酸化膜を除去する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】金属薄膜パターンの端部におけるバリ発生を確実に防止できる金属薄膜の製造方法および半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は、所定パターンの金属薄膜パターン8を形成するための方法であって、下地の上に、前記パターンのエッジに対応する位置近傍に壁面を有する段差パターン3を形成する工程と、段差パターン3を含む下地全体にレジスト4を塗布する工程と、塗布したレジスト4に対して、前記パターンの反転パターンとなるようにパターニングを施す工程と、レジスト4および段差パターン3を含む下地全体に金属薄膜5を形成する工程と、溶剤を塗布して、レジスト4および該レジスト4上に位置する金属薄膜5を除去する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】電流ブロック層にボイドが発生することを防止して、良好なレーザ特性を有する半導体レーザ素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体基板2上にクラッド層3と、活性層4と、第1のクラッド層5と、第2のクラッド層7からなるリッジ部8と、キャップ層9とが順次積層され、更に、第1のクラッド層5上にあって、リッジ部8及びキャップ層9を挟持する電流ブロック層10と、キャップ層9及び電流ブロック層10上に形成されたコンタクト層12を有し、キャップ層9の上部の幅をW1、キャップ層9の下部の幅をW2、リッジ部8の上部の幅をW3とするとき、W1>W2=W3の関係を満たす構成とする。 (もっと読む)


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