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Fターム[5F044HH06]の内容

ボンディング (23,044) | ワイヤショート防止 (110) | ボンディング後にワイヤループを修正 (2)

Fターム[5F044HH06]に分類される特許

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【課題】半導体装置の信頼性を向上させる。
【解決手段】半導体素子の第1の電極と電子部品の第1の電極端子とを第1のボンディングワイヤにて接続する工程と、次いで、前記半導体素子の第2の電極と前記電子部品の第2の電極端子とを第2のボンディングワイヤにて接続する工程と、前記第2の電極と前記第2の電極端子とを接続する過程に於いて、前記第2のボンディングワイヤと前記第1のボンディングワイヤとの接触を検出する工程と、前記第2の電極と前記第2電極端子とを接続した後に、前記第2のボンディングワイヤと前記第1のボンディングワイヤとの間の接触を解除する。これにより、半導体装置の信頼性が格段に向上する。 (もっと読む)


【課題】ボンディングしたワイヤの,隣り合うワイヤ同士の接触を確実に回避する半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】まず,ワイヤボンディング工程として,ボンディングツール4によって半導体チップ1の電極パッド10とプリント基板2の電極パッド20とをボンディングワイヤ3で電気的に接続する。次に,ワイヤ解し工程として,隣り合うボンディングワイヤ3,3間にボンディングツール4を挿入する。そして,ボンディングツール4を電極パッド10と電極パッド20とを結ぶ方向に対して平行移動させる。 (もっと読む)


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