説明

Fターム[5F045HA07]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 他プロセスとの組合せ (2,158) | 前処理(膜形成が後) (762) | ビームアニール (7)

Fターム[5F045HA07]の下位に属するFターム

Fターム[5F045HA07]に分類される特許

1 - 1 / 1


【課題】低密度の結晶欠陥と高品質の結晶性を有する窒化ガリウム系半導体の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に伴う窒化ガリウム系半導体の製造方法は、ガリウム酸化物基板を準備する段階と;上記ガリウム酸化物基板表面に対する物理的化学的前処理により上記ガリウム酸化物基板表面を窒化物に改質させGa-N結合を有する表面窒化物層を形成する段階と;上記表面窒化物層上に窒化ガリウム系半導体層を形成する段階を含む。 (もっと読む)


1 - 1 / 1