【課題】 配線ネットに適した設計ルールに基づいて半導体集積回路の配置配線を行うことができる半導体集積回路の自動配置配線方法および半導体集積回路の自動配置配線プログラムを得ること。
【解決手段】 タイミング制約情報１０１で指定されたタイミングを満たすようにセル駆動能力の変更、ドライバセルの挿入など回路の最適化を行う回路最適化処理ステップＳ１４０の前に、パス間距離の長いパスを含むネットに対して太幅・広幅間隔設計ルールを適用するネットの指定を行う太幅・広幅間隔配線指定ステップＳ１２０を行う。 （もっと読む）

【課題】 配線１の終端部３の形状がＬ型であるときでも、終端部３における配線１の外周とコンタクト２の間隔が“ａ”未満のときはエラーメッセージを出力する。しかし、終端部３においては、図７に示すように、間隔が“ａ”より短い“ｂ”以上であれば設計上許容される場合があるので、不要なエラーメッセージを出力してしまうことがある課題があった。
【解決手段】 配線１の終端部３の形状を判定し、その形状に応じた設計基準値を出力する。 （もっと読む）

【課題】 配線容量Ｃ及び配線遅延ＲＣの低減の可能なＬＳＩの配線構造及びその設計方法を提供する。
【解決手段】プロセスばらつき量を推定しδ_Ｐとし、配線容量変動ΔＣ／Ｃの許容範囲を設定しδ_Ｃとし、フリンジ容量Ｃ_Ｆと平行平板容量Ｃ_Ｐからフリンジ容量比Ｆ＝Ｃ_Ｆ／Ｃ_Ｐを評価して、以下の式
【数１】


を満たすように、前記配線構造が決定される。 （もっと読む）

【課題】 データをフレキシブルに利用しうる状態で格納した集積回路装置の設計用データベース及びこれを利用した集積回路装置の設計方法を提供する。
【解決手段】 設計データの格納層であるＶＣＤＢ１００（ＶＣデータベース）と、制御システムであるＶＣＤＢＭＳ２００（ＶＣＤＢマネージメントシステム）とを備えている。ＶＣＤＢ１００には、ＶＣクラスタ３００と、テストベクタクラスタ３０４と、目的別機能検証モデル３２０とが含まれている。ＶＣＤＢ１００内には、共用テストクラスタ４１０と周辺モデルクラスタ４２０とを含むシステム検証用データベース４０２が配置されている。ＶＣＤＢＭＳ２００内には、テストシナリオ，目的別機能検証モデル，システム検証モデルなどの生成を行なう機能検証支援手段５００や、ＶＣインターフェース合成手段７００などが配設されている。 （もっと読む）

【課題】 レイアウトパターンに対する補正結果と、この補正の検証結果とをレイアウトパターン設計者自身が設計中に逐次確認できるレイアウト設計支援装置、コンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供する。
【解決手段】 縮小投影露光に使われるレチクルパターンを作成する設計支援装置であって、レイアウトパターンを作成するためのレイアウトエディタ１と、レイアウトパターンに対して補正および検証を行うためのＯＰＣ補正・検証装置２と、レイアウトパターン、補正および検証のデータを格納するためのデータベース３などから構成され、レイアウトエディタ１は、設計者がユーザインタフェースを通して操作することが可能とされ、レイアウトパターンを作成するための機能の他に、ＯＰＣ補正・検証装置２の補正および検証を行うための機能を支援するために、画面上のメニューに補正・検証コマンドが追加されている。 （もっと読む）

【課題】 配線パターンの信号伝播方向及び回路の駆動タイミングを考慮したクロストークノイズの検証により精度の良いクロストークノイズ検証を行う。
【解決手段】 計算機101内のクロストークノイズ検証処理プログラムにおける制御部107は、処理部108〜113を順次起動する。処理部108はファイル102〜106から情報を読み込み、所定の情報をテーブル114〜118に作成し、処理部109はテーブル114〜116内の所定の情報を参照し配線パターンの信号伝播方向に関する情報をテーブル116に作成し、処理部110はテーブル116、117内の所定の情報を参照し配線パターンの駆動タイミングに関する情報をテーブル116に作成し、処理部111はテーブル116、118内の所定の情報を参照しテーブル119を作成し、処理部112はテーブル118、119内の所定の情報を参照しテーブル120を作成し、処理部113はテーブル120内の所定の情報を参照し出力リスト121に情報を出力する。 （もっと読む）