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Fターム[5F083ER20]の内容

半導体メモリ (164,393) | EPROM、EEPROMの書込、消去方法 (6,790) | キャリア制御 (6,786) | 電子放出 (1,246) | ソース/ドレインを除く拡散領域へ放出 (2)

Fターム[5F083ER20]に分類される特許

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【課題】優れた動作性能を持ち高集積化可能な不揮発性メモリ素子及びその動作方法を提供する。
【解決手段】基板電極と、基板電極上に離隔配置された半導体チャンネル層と、半導体チャンネル層と対向するように、基板電極上に離隔配置されたフローティングゲート電極と、フローティングゲート電極上の制御ゲート電極と、を備え、フローティングゲート電極の一部分と基板電極との離隔距離は、電荷のトンネリングを許容するように半導体チャンネル層と基板電極との離隔距離より短い不揮発性メモリ素子。 (もっと読む)


【課題】その場で消去する能力を有し、従来のCMOSプロセスに適合する単一ポリのフローティングゲートメモリデバイスを提供する。
【解決手段】従来のロジックプロセスに適合する単一ポリシリコンゲートを有する不揮発性フローティングゲートメモリセルは、第1導電型の基板を備えている。第2導電型の第1及び第2領域は、基板内にあって、互いに離間されて、それらの間にチャンネル領域を画成する。第1ゲートが基板から絶縁され、チャンネル領域の第1部分の上及び第1領域の上に配置されて、それに実質的に容量性結合される。第2ゲートは、基板から絶縁され、第1ゲートから離間されると共に、第1部分とは異なるチャンネル領域の第2部分の上に配置され、第2領域にほとんど又は全く重畳しない。 (もっと読む)


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