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Fターム[5F101BA63]の内容

不揮発性半導体メモリ (42,765) | 電荷蓄積機構 (9,664) | その他記憶作用 (122) | 非晶質 (1)

Fターム[5F101BA63]に分類される特許

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【課題】 シリコン表面とシリコン化合物層とが露出した被処理体に対して、選択的にシリコンを高い窒化レートと高い窒素ドーズ量でプラズマ窒化処理する方法を提供する。
【解決手段】 選択的プラズマ窒化処理は、処理圧力を66.7Pa以上667Pa以下の範囲内に設定し、載置台2の電極42に高周波電源44から被処理体の面積当り0.1W/cm以上1.2W/cm以下の高周波電力を供給して行う。この高周波電力によってウエハWへバイアス電圧が印加され、高いSi/SiO選択比が得られる。 (もっと読む)


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