説明

Fターム[5F173AA06]の内容

Fターム[5F173AA06]に分類される特許

1 - 20 / 79


【課題】開口を有する電流狭窄層上にp型クラッド層が再成長された構成を備えるIII族窒化物半導体レーザ素子において、半極性の再成長界面に存在するn型不純物による影響を低減する。
【解決手段】半導体レーザ素子10は、n型半導体領域14、活性層16、第1のp型半導体領域18、電流狭窄層20、及び第2のp型半導体領域22を備える。第2のp型半導体領域22は、電流狭窄層20の開口20aの形成後に第1のp型半導体領域18上及び電流狭窄層20上に再成長された領域である。第1のp型半導体領域18における第2のp型半導体領域22との界面は、III族窒化物半導体の半極性面を含む。第1のp型半導体領域18は、第1のp型半導体領域18と第2のp型半導体領域22との界面を構成し且つ1×1020cm−3以上のp型不純物濃度を有する高濃度p型半導体層18cを有する。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い高出力レーザを実現する窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】実施の形態によれば、基板と、基板上のn型窒化物半導体層と、n型窒化物半導体層上の窒化物半導体の活性層と、活性層上のp型窒化物半導体層と、p型窒化物半導体層に形成されるリッジストライプと、リッジストライプの伸長方向に垂直な、n型窒化物半導体層、活性層およびp型窒化物半導体層の端面に形成され、活性層よりもバンドギャップの広い端面窒化物半導体層とを有し、端面窒化物半導体層の、少なくともp型窒化物半導体層の端面に形成される領域のMgの濃度が、5E16atoms/cm以上5E17atoms/cm以下である半導体発光素子である。 (もっと読む)


【課題】素子抵抗が低い半導体レーザの製造方法及び半導体レーザを提供すること。
【解決手段】本発明は、活性層104を、n型GaN基板の上方に堆積する。GaNからなるp型ガイド層105を活性層104の上方に堆積する。低温AlN層112を、p型ガイド層105上に堆積する。開口部106aをAlN層112に形成する。AlGaNからなるp型クラッド層107を、低温AlN層112及び開口部106aを介して露出したp型ガイド層105上に、開口部106aを介して露出したp型ガイド層105上における成長開始時の成長レートが低温AlN層112上における成長開始時の成長レートよりも大きくなるように形成する。そして、p型コンタクト層108をp型クラッド層107上に形成する。 (もっと読む)


【課題】生産性および製造歩留まりが高い半導体素子の製造方法および低コストの半導体素子を提供すること。
【解決手段】アルミニウムを含むIII−V族化合物半導体からなる第1の半導体層と、アルミニウムを含むIII−V族化合物半導体からなり、第1の半導体層の上方に位置し、開口パターンを有する第2の半導体層と、第1の半導体層と第2の半導体層との間に位置し、所定のエッチングガスを用いる場合に該第1および第2の半導体層に対してエッチング選択比が大きい材料からなる第3の半導体層とを備えた半導体積層構造を基板上に形成する半導体積層構造形成工程と、第1の半導体層をエッチ停止層として、所定のエッチングガスにて第2の半導体層の開口パターンの下の第3の半導体層をエッチング除去するエッチング工程と、エッチング工程によって第3の半導体層に形成された溝内に第4の半導体層を形成する半導体層形成工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】高い発光強度を有する発光素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】発光素子は、第1導電型のIII−V族窒化物系半導体からなるクラッド層兼コンタクト層4と、コンタクト層4上に形成されInを含有するIII−V族窒化物系半導体からなる活性層5と、活性層5上に形成されIII−V族窒化物系半導体からなるアンドープのキャップ層6と、キャップ層6上に形成され第2導電型のIII−V族窒化物系半導体からなるクラッド層7とを備える。 (もっと読む)


【課題】より高い光出力を実現できる半導体レーザ素子を提供すること。
【解決手段】基板と、前記基板上に形成され、第1導電型半導体層領域と、前記第1導電型半導体層領域上に形成された活性層と、前記活性層上に形成された第2導電型半導体層領域と、前記活性層に注入する電流経路を狭窄するための電流狭窄領域を有する電流狭窄構造と、を有する半導体積層構造と、前記第1導電型半導体層領域と前記第2導電型半導体層領域とから前記活性層に電流を注入するための2つの電極と、を備え、前記半導体層積層構造は、光出射方向に垂直な幅方向において前記電流狭窄領域とは幅中心が許容範囲内で一致するように形成された非窓領域と、前記非窓領域を囲むように形成され、前記活性層のバンドギャップエネルギーが前記非窓領域よりも大きい窓領域とを有し、前記電流狭窄領域の幅をW1、前記非窓領域の幅をW2とすると、3μm≦W2−W1が成り立つ。 (もっと読む)


【課題】 歩留まりが大幅に改善された半導体ウェハの製造方法を提供する。
【解決手段】 本発明の半導体ウェハの製造方法は、基板301上の一部にストライプ状の保護膜302を形成する保護膜形成工程と、前記保護膜形成工程後、前記基板301上における前記保護膜302形成部位以外の部位に半導体結晶を成長させて半導体層を形成する半導体層形成工程とを含み、前記基板301として、前記保護膜302の長さ方向と平行な方向のオフ角θpの絶対値|θp|が、前記保護膜302の長さ方向と直交する方向のオフ角θoの絶対値|θo|よりも小さく、且つ、|θp|≦0.2°を満たすものを用いることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】電流を効率よく狭窄でき、且つマルチモード発振を抑制できるIII族窒化物半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】半導体レーザ素子10は、n型半導体領域12と、活性層44を含むアンドープ半導体層14と、所定方向に延びる開口16aを有する電流狭窄層16と、p型半導体領域18とを備える。電流狭窄層16のバンドギャップは、p型半導体領域18のバンドギャップより大きい。p型半導体領域18は、上部光ガイド層32及びクラッド層33,34を含む。アンドープ半導体層14は、活性層44上に設けられた上部光ガイド層46を更に含む。電流狭窄層16は、Inx1Aly1Ga1−x1−y1N(0≦x1≦0.5,0.5≦y1≦1)からなる。電流狭窄層16の厚さは、20nm以上50nm以下である。開口16aの幅は、1.3μm以上2.3μm以下である。 (もっと読む)


【課題】リッジ型半導体レーザーの端部における放熱性を向上することが可能なリッジ型半導体レーザー及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】リッジ型半導体レーザー1は、所定の軸Ax方向に順に配列された一端部31、中間部32、及び他端部33を含む半導体基板SBと、半導体基板SBの主面a1上に設けられたクラッド層C1と、クラッド層C1上に設けられたコア領域10と、コア領域10上に設けられ、所定の軸Ax方向に延在するリッジ部C2と、リッジ部C2上に設けられた絶縁層19と、リッジ部C2及び絶縁層19上に設けられ、リッジ部C2に接続された電極E1と、中間部32上において、絶縁層19上に設けられリッジ部C2を埋め込む樹脂層6とを備え、中間部32上の樹脂層6は、絶縁層19の側面に接し、一端部31及び他端部33上の電極E1は、リッジ部C2の側面5上の絶縁層19上に延在することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】歪が十分に緩和された半導体レーザおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】基板10の上面に複数の帯状の溝部10Aが設けられている。複数の溝部10Aは、リッジ部27との対向部分(帯状領域27A)の両脇に、帯状領域27Aに沿って設けられている。各溝部10Aの、共振器方向の長さL1は、共振器長をL3としたときに、L3/2よりも短くなっている。基板10の上面には、溝部10Aによってリッジ部27の延在方向から挟まれた領域(溝未形成方形領域10B)が存在している。各溝未形成方形領域10Bの、共振器方向の長さL2は、L3/3以下となっている。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体層を用いた半導体レーザ素子において、より高出力あるいは長寿命な特性を有する半導体レーザ素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】n型GaNもしくはn型AlGaNからなる第1クラッド層103と、AlGaInN多重量子井戸からなり、第1クラッド層103上に形成された活性層105と、活性層105上に形成され、p型もしくはアンドープのGaNもしくはAlGaNからなる第2クラッド層106と、第2クラッド層106上に形成され、p型GaNもしくはp型AlGaNからなる第3クラッド層107とを有する共振器を備え、共振器は、共振器端部にイオン注入部104を有する。 (もっと読む)


【課題】 非極性面上に低抵抗な半導体結晶が形成された半導体を提供する。
【解決手段】 本発明の半導体は、基板101と、前記基板101の主面上に積層されたp型層108および109とを含み、前記基板主面は、非極性面であり、前記p型層108および109は、III族窒化物半導体およびII族酸化物半導体の少なくとも一方から形成され、且つ、前記p型層108および109の上面が、前記基板主面と面方位が異なるファセット面を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】大面積で低コストな基板を用いながら、分極に起因する光学利得の低下が抑制された半導体レーザを提供する
【解決手段】基板上に、クラッド層2、7で挟持された活性層4を有する窒化物半導体レーザ。活性層は、基板の主面とは異なるように制御された面方位を有する領域を備え、制御された面方位を有する活性層領域の少なくとも一部を含むように光導波路が形成されている。例えば、基板は、底部基板13とその主面上に形成された下地層16とを備え、下地層は、底部基板の主面とは異なるように制御された面方位の領域を有し、下地層における制御された面方位の領域の上部に、制御された面方位を有する活性層領域が形成されている。 (もっと読む)


【課題】素子分離溝や劈開導入溝等の凹部を形成することによって発生するレーザ素子の発振しきい値の変動現象を抑制し、正確な素子分離や劈開をすることができ、かつ、動作特性に優れた窒化物半導体レーザ素子を得ること。
【解決手段】基板101上に、窒化物半導体層を結晶成長させて積層形成された、n型層105と、活性層108と、電子障壁層109と、p型層112とを有する積層体103を備え、前記積層体103内に、ストライプ状の光導波路115と、前記基板101および前記積層体103の分離に用いられる凹部104とが形成された窒化物半導体レーザ素子であって、前記基板101上における前記光導波路115の形成位置と、前記基板101上における前記凹部104の形成位置との間の前記基板101上に、前記窒化物半導体層の結晶成長を抑制するマスク部102が形成されている。 (もっと読む)


【課題】高い光学特性を有しながら、下層の結晶性層との選択エッチングを容易に行うことができる電流狭窄層を備えた、窒化物半導体素子を得ること。
【解決手段】一電導型の第1の窒化物半導体層(107)と、前記一電導型とは逆の二電導型、もしくは高抵抗のAlInNにより形成された第2の窒化物半導体層(108)とが直接積層されていて、前記第2の窒化物半導体層(108)に、前記第1の窒化物半導体層(107)が露出するような開口部(112)が形成されている。 (もっと読む)


【課題】ウェットエッチングの際に所定の位置で確実にエッチストップすることができる構造を提供する。
【解決手段】電流狭窄層(窒化物半導体層3)と接しており、かつ電流狭窄層(窒化物半導体層3)よりも基板1側に位置する窒化物半導体層2に遷移金属を導入する。窒化物半導体層2がn型導電型の場合は正孔を捕獲する準位を形成する遷移金属(Ti)、またp型導電型の場合は電子を捕獲する準位を形成する遷移金属(Cu)を導入する。この構成に対して、PECエッチングを行うと、電流狭窄層(窒化物半導体層3)と窒化物半導体層2の界面近傍で確実なエッチストップが得られ、デバイス特性の安定化が可能である。 (もっと読む)


【課題】精度良く加工された窒化物半導体装置を実現できるようにする。
【解決手段】窒化物半導体装置は、基板101の上に形成された第1の窒化物半導体層107と、第1の窒化物半導体層107の上に形成された欠陥導入層108と、欠陥導入層108の上に接して形成され、欠陥導入層108を露出する開口部を有する第2の窒化物半導体層109とを備えている。欠陥導入層108は、第1の窒化物半導体層107及び第2の窒化物半導体層109と比べて結晶欠陥密度が大きい。 (もっと読む)


【課題】電流狭窄層に起因するクラックの発生が抑制されて、発光に寄与しない無効電流の低減により閾値電流特性が向上する埋め込み型窒化物半導体レーザ装置を提供する。
【解決手段】GaN基板101上に積層された、少なくともn型クラッド層103、活性層105、及びn型電流狭窄層109を備え、n型電流狭窄層の一部が除去されて電流通電部115が形成されており、n型電流狭窄層上および電流通電部上にp型クラッド層111が形成されている。n型電流狭窄層は、少なくともAlを含んだ窒化物半導体により形成され、n型電流狭窄層の不純物濃度が1×1019cm-3より高い。これにより、電流狭窄層が受けている引っ張り歪を大幅に低減させることができる。 (もっと読む)


【課題】安定した特性を有する自励発振型の埋込型の窒化物半導体レーザ素子を提供すること。
【解決手段】窒化物半導体レーザ素子は、基板の上に形成された窒化物半導体からなる活性層106と、活性層106の上に形成され、活性層106に選択的に電流を流す開口部109aを有する電流狭窄層109とを備え、開口部109aと電流狭窄層109との実効屈折率差をΔnとし、活性層106から発光するレーザ光のうち活性層106に閉じ込められるレーザ光の垂直方向の光閉じ込め率をΓvとするとき、0.044<Δn/Γv<0.062の関係を満たす。 (もっと読む)


【課題】素子単体でスペックルが低減された半導体発光素子を提供すること。
【解決手段】本発明に係る半導体発光素子は、基本横モードと1次横モードとを許容する能動多モード導波路と、前記基本横モードが前記1次横モードよりも多く分布する第1の活性層領域と、前記1次横モードが前記基本横モードよりも多く分布する第2の活性層領域と、を有する活性層と、を備え、前記第1の活性層領域の発光波長と、前記第2の活性層領域の発光波長が異なることを特徴とするものである。 (もっと読む)


1 - 20 / 79