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Fターム[5J084BB36]の内容

光レーダ方式及びその細部 (24,468) | 装置の光学要素 (2,698) | チョッパ、レチクル (6)

Fターム[5J084BB36]に分類される特許

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【課題】レーザ装置の共振器長を固定化する手段や、周波数を安定化する手段を設けずに、周波数が変化する2以上の周期信号の位相差から距離を測定する。
【解決手段】距離測定装置は、レーザ光束として光周波数コムを発生するレーザ装置1と、レーザ光束を基準光と測距光に分割する分割手段2と、基準光を受光する基準受光部3と、測距光を受光する測定受光部6とを備える。測定受光部6の受光信号は、第1フィルタ14で測距用の周波数成分が抜き出され、基準受光部3の受光信号は、第2フィルタ11で基準用の周波数成分が抜き出される。サンプリング部18は、第1フィルタ14および第2フィルタ11からの処理信号を非同期のサンプリング周波数でサンプリングする。位相差測定部23は、そのサンプル結果から処理信号の実際の周波数を演算し、2つの処理信号の位相差を測定する。距離測定部17は、位相差から距離を測定する。 (もっと読む)


【課題】発振器の周波数にゆらぎが生じても、ビートダウンした処理信号間の位相差から距離を測定する。
【解決手段】距離測定装置は、レーザ光束として光周波数コムを発生するレーザ装置1と、基準光27を受光する基準受光部3と、測距光28を受光する測定受光部6とを備える。第1ミキサ31および第2ミキサ32は、測定受光部6および基準受光部3の受光信号と特定の周波数を持つ発振器50の周期信号とを乗算する。第4フィルタ51および第5フィルタ52は、第1ミキサ31および第2ミキサ32で生成された信号成分から異なる周波数成分を抜き出す。第4フィルタ51および第5フィルタ52で抜き出された信号は、第3ミキサで乗算され、差の周波数成分が第6フィルタ54で抜き出される。位相差測定部12は、第6フィルタ54および第2フィルタ11からの2つの処理信号の位相差を測定し、距離測定部17は、その位相差から距離を測定する。 (もっと読む)


【課題】高速で濃度の切り替えが行える調光装置とこの調光装置を用いた距離測定装置を提供する。
【解決手段】2つの反射面が垂直に配置された光学部材205で反射されたビームを集光レンズ202を介して平面ミラー220へ集光させ、この平面ミラー220で反射されて集光レンズ202でほぼコリメートされたビームを濃度フィルタに通して射出する調光装置200であって、濃度フィルタ204はビームの平行移動と直交方向に沿って濃度が異なり、平面ミラー220を前記直交方向に対して傾動可能に設け、この平面ミラー220の傾動により前記ビームが通る濃度フィルタ204の位置を変える。 (もっと読む)


【課題】近い位置にある目標物から強い反射レーザ光を受信した場合にでも、この反射レーザ光によりパルスレーザ受信器が破損や破壊されることのない安定した測距機能が得られるレーザ測距装置を提供すること。
【解決手段】レーザ測距装置20は、レーザ光a0を目標物21に向け発振するレーザ発振器22と、上記レーザ光a0の上記目標物21からの反射レーザ光a2を入力し、この反射レーザ光a2を透過させることにより反射レーザ光a2の強度を制御可能に設けられるフィルタ手段24と、このフィルタ手段24を透過した上記反射レーザ光a3の強度を検知してこの光a3の強度に対応した制御電圧bを出力するパルスレーザ受信器25と、制御電圧bを入力して、この制御電圧bの大きさに対応してバイアス電力制御信号eを出力する信号処理器26と、上記バイアス電力制御信号eを入力してパルスレーザ受信器25の光検知器25bの感度を制御させるべく上記光検知器25bにバイアス電圧gを送信するバイアス電圧発生器32とを備える。 (もっと読む)


【課題】
測定基準の精度を向上させることにより、レーザ光線を使用した距離測定装置の測定精度の向上を図る
【解決手段】
測距光6を発生する光源5と、前記測距光を測定対象物8に照射し、該測定対象物からの反射光9を受光する受光部と、外部の基準時間を取得する外部基準時間取得装置とを有し、該外部基準時間取得装置54で取得した基準時間に基づいて、前記光源を制御し測距光を変調させると共に、該変調した測距光を、内部光路を介して受光した位相と、前記対象反射体で反射されて戻る反射光を受光した位相を測定し、その位相差に基づいて距離を演算する。
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【課題】
距離測定装置に於いて、簡単な受光光学系とし、而も遠距離測定、近距離測定のいずれでも高精度の測距を可能にする。
【解決手段】
測定対象物に測距光を投光し、該測定対象物からの反射測距光を受光して距離を測定する距離測定装置に於いて、測距光を発する光源部15と、該光源部からの測距光を投光する投光光学系16と、該投光光学系と一部を共用し、入射集光された測定対象物からの反射測距光を受光する受光光学系18とを具備し、該受光光学系は反射測距光が入射集光する中心部と、集光位置が中心部からずれるに応じて透過する光量を制限する孔明きマスク53とを有する。
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