【課題】
走査型の光波距離測定方法及び光波距離測定装置に於いて、測距光の光束断面でのスペックルパターンの影響を平均化し、光強度を増大させることなく、測定精度を向上させる。
【解決手段】
測距光１３を測定対象物２に照射し、反射光を受光して距離測定を行う距離測定方法に於いて、所定の広がり角の光束を少なくとも１つ有する測距光を走査照射し、前記光束が測定対象物を横切る間に少なくとも２回パルス発光させ、少なくとも２回反射光を受光して測距し、測距結果を平均化する。
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