国際特許分類[C08F120/18]の内容
化学;冶金 (1,075,549) | 有機高分子化合物;その製造または化学的加工;それに基づく組成物 (224,083) | 炭素−炭素不飽和結合のみが関与する反応によってえられる高分子化合物 (38,630) | ただ1つの炭素―炭素二重結合を含有する1個以上の不飽和脂肪族基をもち,そのうちのただ1つの脂肪族基がただ1つのカルボキシル基によって停止されている化合物その塩,無水物,エステル,アミド,イミドまたはそのニトリルの単独重合体 (60) | 9個以下の炭素原子をもつモノカルボン酸;その誘導体 (59) | エステル (44) | 一価のアルコールまたはフェノールの (7) | フェノールまたは2個以上の炭素原子を含有するアルコールのエステル (3) | アクリル酸またはメタクリル酸との (3)
国際特許分類[C08F120/18]に分類される特許
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ネガ型化学増幅レジスト組成物、並びに、それを用いたレジスト膜、レジスト塗布マスクブランクス、レジストパターン形成方法、及び、フォトマスク
【課題】高感度、高解像性(例えば、高い解像力、優れたパターン形状、小さいラインエッジラフネス、スカムの低減、及び、良好なドライエッチング耐性を同時に満足したパターンを形成できるネガ型化学増幅レジスト組成物、並びに、それを用いたレジスト膜、レジスト塗布マスクブランクス、レジストパターン形成方法、及び、フォトマスクの提供。
【解決手段】(A)酸及びアルカリに安定な下記一般式(I)で表される繰り返し単位(P)、及び、フェノール性水酸基を有する繰り返し単位(Q)を有する高分子化合物、(B)活性光線又は放射線の照射により酸を発生する化合物、並びに、(C)架橋剤を含有する、ネガ型化学増幅レジスト組成物。
一般式(I)中、R1は、水素原子又はメチル基を表す。L1は、酸素原子又は−NH−を表す。L2は、単結合又はアルキレン基を表す。Aは、多環炭化水素基を表す。
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FPD貼り合わせ用光/湿分デュアルキュアー系硬化性組成物
【課題】光によって速硬化可能で、かつ光の当らない部分についても未硬化にならない硬化性組成物であり、更に硬化させた際の液晶表示ムラも改善されたFPD貼り合わせ用UV/湿分デュアルキュアー系硬化性組成物を提供する。
【解決手段】1分子中に加水分解性シリル基を平均して少なくとも一個有する化合物(A)、1分子中に重合性の炭素−炭素二重結合を平均して少なくとも一個有する化合物(B)、光重合開始剤(C)、硬化触媒(D)を含有する硬化性組成物であり、UVおよび湿分で硬化させた際の硬化物の弾性率が0.4MPa以下、及び硬化収縮率が1.0%以下であることを特徴とするFPD貼り合わせ用光/湿分デュアルキュアー系硬化性組成物。
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液状樹脂組成物及び液状樹脂組成物を使用して作製した半導体装置
【課題】保存時の充填剤の沈降が少なく樹脂組成物層の厚み安定性に優れかつ弾性率が低く十分な低応力性を有する液状樹脂組成物及び該液状樹脂組成物を半導体用ダイアタッチペーストまたは放熱部材接着用材料として使用することで信頼性に優れた半導体装置を提供する。
【解決手段】アクリル基を1つ有する化合物(A)、充填材(B)を含む液状樹脂組成物であって、前記化合物(A)の50℃における透過率をTaとし、0℃における透過率をTbとしたとき、TaおよびTbが下記条件式1を満たすことを特徴とする液状樹脂組成物。[条件式1:(Ta−Tb)/Ta≧0.1]
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