国際特許分類[G01M11/00]の内容
物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 機械または構造物の静的または動的つり合い試験;他に分類されない構造物または装置の試験 (8,636) | 光学装置の試験;他に分類されない光学的方法による構造物の試験 (2,870)
国際特許分類[G01M11/00]の下位に属する分類
光学的特性の試験 (824)
機械的特性の試験
国際特許分類[G01M11/00]に分類される特許
2,041 - 2,046 / 2,046
透過波面測定用干渉計
【目的】 光源の単色性が充分でない場合でも、所定範囲の波長に対して干渉縞の位相が略揃い、コントラストが高くなり、高精度の測定検査ができる。
【構成】 光源系1と入射光路を分割する光分割素子2と該光分割素子2からの光束をそれぞれ反射する参照側と被検側反射鏡3、7を備え、両光束を観測面5で形成された干渉縞を観測する干渉計において、参照光路の長さを被検光路から独立して設定でき、而もその参照光路長を、被検光路の光源の中心波長に対する光学的距離に被検光学部品の波長屈折率分散を考慮した補正を加えて設定して成る。
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被覆状態測定方法及び装置
【目的】 表面に被覆が施された線状体の被覆状態を連続的に正確に測定する。
【構成】 線状体100の側面に平行光を照射し、特定方向への表面反射光Aと境界面反射光Bとを集光レンズ121及びピンホール部材122を用いて選択してイメージセンサ124で検出して、その反射光間の特定方向に直交する方向の距離d2 及び該反射光を形成する入射光A′,B′間の距離d1を測定し、これらd1 ,d2 から被覆状態を推定する。
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被覆状態測定方法及び装置
カーボンコート光ファイバ検査方法およびその装置
光ファイバ担持用スペーサの螺旋ピッチ測定装置
金型作成用原板及び該金型作成用原板を使用した光学特性測定方法
2,041 - 2,046 / 2,046
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