国際特許分類[H01L21/68]の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 (183,847) | 製造または処理中の半導体または電気的固体装置の取扱いに特に適用される装置;半導体または電気的固体装置もしくは構成部品の製造または処理中のウエハの取扱いに特に適用される装置 (11,346) | 位置決め,方向決め,または整列のためのもの (1,768)
国際特許分類[H01L21/68]に分類される特許
1,761 - 1,768 / 1,768
基板外観検査装置
【目的】簡単且つコンパクトな構成であり、検査に移るまでの時間が短縮できると共に、安全且つ確実に基板の検査が可能な基板外観検査装置を提供する。
【構成】本発明は、基板36を回動させて、基板36の外観を検査する検査装置40を有する基板外観検査装置である。検査装置40は、キャリア42に収納された基板36を保持可能な吸着保持アーム58と、この吸着保持アーム58を回動可能に支持する回動機構60と、この回動機構60をキャリア42に接近あるいは離間する方向に移動可能に支持して、吸着保持アーム58をキャリア42に対して挿入あるいは離脱させる案内機構62と、を備えている。
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