手持型眼科装置
【課題】 安定した測定を行うことができる。
【解決手段】 被検眼に指標光束を投光する投光光学系と、指標光束の被検眼での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、を有する測定光学系が収納された装置本体と、受光された指標像に基づいて乱視軸情報を含む被検眼の眼特性を測定する演算制御手段と、装置本体に加わるぶれを検出するぶれ検出手段と、検眼光学系の一部としてチルト方向とスイング方向に駆動可能なミラーを有し、装置本体に加わったぶれによる指標光束のぶれを補正するためのぶれ補正光学手段と、ぶれ検出手段からの出力に基づいてぶれ補正光学手段を駆動する駆動手段と、ミラーのスイング方向への回動角度を検出する回動検出手段を有し、回動検出手段の検出結果に基づいて，演算制御手段によって測定される乱視軸情報を補正する補正手段と、を備える。
【解決手段】 被検眼に指標光束を投光する投光光学系と、指標光束の被検眼での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、を有する測定光学系が収納された装置本体と、受光された指標像に基づいて乱視軸情報を含む被検眼の眼特性を測定する演算制御手段と、装置本体に加わるぶれを検出するぶれ検出手段と、検眼光学系の一部としてチルト方向とスイング方向に駆動可能なミラーを有し、装置本体に加わったぶれによる指標光束のぶれを補正するためのぶれ補正光学手段と、ぶれ検出手段からの出力に基づいてぶれ補正光学手段を駆動する駆動手段と、ミラーのスイング方向への回動角度を検出する回動検出手段を有し、回動検出手段の検出結果に基づいて，演算制御手段によって測定される乱視軸情報を補正する補正手段と、を備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、眼の検査・測定を行う手持型眼科装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
眼を測定・検査する眼科装置として、例えば、オートレフラクトメータやケラトメータが知られている。このような装置には、検査室に置かれる据え置き型の装置と、持ち運びが可能なハンディタイプの装置（特許文献１参照）がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平１１−１９０３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
一方、ハンディタイプの装置の場合、検者は、装置全体を把持し、装置全体を三次元に移動させる。また、検者の手ぶれによって装置が眼に対して動くことがありうる。このような点から、ハンディタイプの眼科装置は、アライメントが難しく、測定／検査のエラーが生じやすいのが現状である。
【０００５】
本発明は、上記問題点を鑑み、安定した測定を行うことができる手持型眼科装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００７】
（１） 被検眼に指標光束を投光する投光光学系と、前記指標光束の被検眼での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、を有する測定光学系が収納された装置本体と、前記受光光学系によって受光された前記指標像に基づいて乱視軸情報を含む被検眼の眼特性を測定する演算制御手段と、装置本体に配置され、前記装置本体に加わるぶれを検出するぶれ検出手段と、前記検眼光学系の一部としてチルト方向とスイング方向に駆動可能なミラーを有し、前記装置本体に加わったぶれによる前記指標光束のぶれを補正するためのぶれ補正光学手段と、前記ぶれ検出手段からの出力に基づいて前記ぶれ補正光学手段を駆動する駆動手段と、前記ミラーのスイング方向への回動角度を検出する回動検出手段を有し、前記回動検出手段の検出結果に基づいて，前記演算制御手段によって測定される乱視軸情報を補正する補正手段と、を備えることを特徴とする。
（２） 前記測定光学系は、被検眼眼底に指標光束を投光する投光光学系と、前記指標光束の眼底での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、有する眼屈折力測定光学系である（１）の手持型眼科装置。
（３） 前記測定光学系は、さらに、被検眼角膜に指標光束を投光する投光光学系と、前記指標光束の角膜での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、有する角膜形状測定光学系を有する（２）の手持型眼科装置。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、安定した測定を行うことができる。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は本実施形態に係る手持型眼科装置の一例を示す外観側方図である。以下、眼屈折力測定装置（オートレフラクトメータ）を例に説明する。なお、以下の説明では、被検眼と装置との位置関係について、前後方向をＺ方向、左右方向をＸ方向、上下方向をＹ方向として説明する。
【００１０】
装置本体１００には、被検眼Ｅに指標光束を投光しその反射光を受光する検眼光学系１０を含む光学ユニット１、装置本体１００に加わるぶれ（例えば、検者の手ぶれ）を検出するぶれ検出ユニット６０、装置本体１００に加わったぶれによる検眼光束のぶれを補正するためのぶれ補正ユニット７０、が設けられている。また、検査窓１０２は、本体１００の眼Ｅ側に配置される。操作部８４及びモニタ８５は、本体１００の検者側に配置される。さらに、装置本体１００には、制御や演算処理のための電気系が収納される。検者は、被検者に対向し、本体１００を把持する。そして、モニタ８５を見ながら、眼Ｅに対し本体１００をアライメントする。
【００１１】
ぶれ補正ユニット７０は、ぶれ補正光学系としての反射ミラー７２、反射ミラー７２をＸＹ方向に回転させる駆動部（例えば、ボイルコイルモータ機構）７４を備える。反射ミラー７２は、検眼光学系１０の光路中のいずれかに配置され、検眼光学系１０の一部として用いられる。一般的には、駆動部７４は、反射ミラー７２をチルト方向（上下方向）に駆動（回動）させるチルト駆動部７４ａと、反射ミラー７２をスイング方向（左右方向）に駆動（回動）させるスイング駆動部７４ｂと、を備え、各方向にそれぞれ反射ミラー７２を回動させる（図２参照）。
【００１２】
図１において、反射ミラー７２は、眼Ｅと対向する位置に配置され、検眼光学系１０は、反射ミラー７２の下方に配置されている。なお、検眼光学系１０の光軸Ｌ１は、反射ミラー７２によって眼Ｅ方向に折り曲げられる。反射ミラー７２は、検眼光学系１０からの出射光を反射して眼Ｅに導き、また、眼Ｅからの反射光を反射して検眼光学系１０に導く。
【００１３】
反射ミラー７２は、光軸Ｌ１と反射ミラー７２の間の交点Ｋを中心に回転される。反射ミラー７２の基準位置は、光軸Ｌ１がＺ方向に平行になる位置である。反射ミラー７２が回転されるとき、光軸Ｌ１上の所定点Ｏを中心に光軸Ｌ１が旋回される（図６参照）。所定点Ｏは、アライメントにより瞳孔中心Ｐｃに一致される。
【００１４】
検出ユニット６０は、少なくとも一つの角速度センサ又は加速度センサを持ち、装置本体１００のぶれ状態を検出する。そして、検出ユニット６０は駆動部７４に接続されており、駆動部７４は反射ミラー７２に接続されている。このような構成において、ぶれ検出ユニット６０がぶれ量を検出し、ぶれ検出ユニット６０の出力に基づいて駆動部７４が反射ミラー７２を駆動する。
【００１５】
図１において、検出ユニット６０は加速度センサ６２を有する。加速度センサ６２は、ＸＹ方向における装置本体１００の平行ぶれ（シフトぶれ）に応じた加速度信号を出力する。なお、ＸＹの２軸のセンサに加えて、Ｚ方向の平行ぶれを検出するセンサを設けても良い。また、１軸のセンサのみであってもよい。なお、加速度センサ６２としては、機械式、光学式、半導体式（静電容量型、ピエゾ抵抗型、ガス温度分布型）の加速度センサの利用が考えられる。なお、加速度センサ６２を用いたのは、眼の検査・測定においては装置本体１００と眼Ｅとの間の距離が比較的短く、検者による平行ぶれが発生しやすいからである。また、加速度センサ６２に加えて、角速度センサを設けるようにしてもよい。この場合、装置本体１００の回転ぶれに応じた角速度信号が出力される。
【００１６】
図３は本体１００に収納された光学系を正面から見た光学配置図である。光学ユニット１は、検眼光学系１０、眼Ｅに固視標を投影するための投影光学系３０、眼Ｅを観察するための観察光学系５０、を備える。
【００１７】
図３において、検眼光学系１０は、他覚的に眼屈折力を測定するための光学系である。検眼光学系１０は、眼底Ｅｆに測定指標を投影し、その眼底反射光束を受光する。そして、その受光信号に基づいて眼Ｅの屈折力が測定される。
【００１８】
より具体的には、検眼光学系１０は、瞳孔中心Ｐｃを介して被検眼Ｅの眼底Ｅｆに指標光束（スポット指標）を投光する投光光学系１０と、指標光束の眼底反射光を瞳孔周辺からリング状に取り出し、受光素子（撮像素子）２６上に形成される指標像（リング状の反射像）を受光する受光光学系２０と、から構成される。
【００１９】
投光光学系１０ａは、光軸Ｌ１上に配置された光源１１，リレーレンズ１２，ホールミラー１３，対物レンズ１４、及び反射ミラー７２を備える。光源１１は、眼底Ｅｆと略共役位置に配置され、ホールミラー１３の開口は、眼Ｅの瞳孔と略共役位置に配置される。
【００２０】
光源１１から出射された測定光は、光源１１，リレーレンズ１２，ホールミラー１３、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー５３、対物レンズ１４を介して反射ミラー７２により反射される。そして、反射ミラー７２によって反射された測定光は瞳孔中心Ｐｃを通過し、そして、スポット状の光束が眼底Ｅｆ上に投影される。
【００２１】
受光光学系１０ｂは、反射ミラー７２、対物レンズ１４，ホールミラー１３、コリメータレンズ２２、リングレンズ２４、及び撮像素子（例えば、ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等の二次元撮像素子）２６、を備える。撮像素子２６は、レンズ１４、レンズ２２、リングレンズ２４を介して眼底Ｅｆと略共役位置に配置される。リングレンズ２０は、円筒レンズがリング状に形成されたレンズ部と、レンズ部と同じ大きさのリング開口を持つ遮光部と、から構成され、眼Ｅの瞳孔と略共役位置に配置されている。撮像素子２６からの出力信号は、制御部８０に接続される（図４参照）。
【００２２】
そして、投光光学系１０ａによる眼底反射光束は、再び反射ミラー７２により反射され、対物レンズ１４、ダイクロイックミラー５３、ダイクロイックミラー３５、ホールミラー１３の反射面により反射され、コリメータレンズ２２にて略平行光束（正視眼の場合）とされ、リングレンズ２４によってリング状光束として取り出され、リング像として撮像素子２６に受光される。
【００２３】
なお、上記構成の他、瞳孔周辺部から眼底Ｅｆにリング指標を投影し、瞳孔中心から反射光を取り出して、撮像素子上にリング像を受光させる方式、眼底にスリット光を投影する位相差方式、など種々の方式が採用可能である。
【００２４】
対物レンズ１４とホールミラー１３との間には、ビームスプリッタとして可視反射・赤外透過のダイクロイックミラー３５が配置され、光源３１からの光が眼Ｅに向けて導光される。また、ダイクロイックミラー３５と対物レンズ１４との間には、ビームスプリッタとしてダイクロイックミラー５３が配置され、前眼部からの光が観察光学系５０に導光される。そのミラー５３は、測定光束を透過し、観察光束を反射する波長特性を有する。これらのビームスプリッタによって、測定光軸、固視光軸、観察光軸は、同じ光軸（Ｌ１）上に配置される。
【００２５】
投影光学系３０は、可視光を発する光源３１、風景／動物などが描かれた固視標３２、投光レンズ３３、全反射ミラー３４、ダイクロイックミラー３５、対物レンズ１４、反射ミラー７２を備える。なお、上記構成の他、固視標として、ＬＥＤなどの点光源、液晶パネルなどのディスプレイなどが用いられる。また、複数の固視標が二次元的に配置されてもよい。
【００２６】
光源３１に照明された固視標３２は、投光レンズ３３、全反射ミラー３４、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー５３、対物レンズ１４、反射ミラー７２を介して眼底Ｅｆに投影される。これにより、眼Ｅは固視される。また、光源３１及び固視標３２が光軸方向に移動され、眼Ｅに雲霧がかけられる。
【００２７】
また、検査窓１０２の外側には、被検眼の角膜Ｅｃにリング状の有限遠指標を投光（投影）する第１投光光学系（第１投影光学系）４５が光軸Ｌ１と同心円状に配置されている。また、角膜Ｅｃに無限遠指標を投影する第２投光光学系（第２投影光学系）４６が光軸Ｌ１に対し左右対称（図の便宜上上下）に配置されている。なお、第１投影光学系４５は、赤外光にて前眼部を照明する。また、角膜形状測定指標（ケラト指標）としても利用されうる。
【００２８】
観察光学系５０は、反射ミラー７２、対物レンズ１４、ダイクロイックミラー５３、撮像レンズ５１、二次元撮像素子５２を備える。撮像素子５２からの出力信号は、制御部８０に接続され、モニタ８５に出力される（図４参照）。なお、観察光学系５０は、眼Ｅの正面像を観察する他、眼Ｅに対する装置本体１００のアライメント状態を検出する検出光学系として用いられる。
【００２９】
第１投影光学系４５により照明された眼Ｅの前眼部像は、反射ミラー７２、対物レンズ１４、ダイクロイックミラー５３、撮像レンズ５１を介して、撮像素子５２の撮像面に受光される。また、同様に、第１投影光学系４５、第２投影光学系４６によるアライメント指標像が、撮像素子５２に検出される。
【００３０】
図４は本体１００に収納された電気・制御系を示すブロック図である。制御部８０は、装置全体の制御、眼屈折値の算出などの演算処理を行う。制御部８０には、光源１１、撮像素子２６、光源３１、撮像素子５２、各種設定に用いられる操作部８４、モニタ８５、ぶれ検出ユニット６０、ぶれ補正ユニット７０、メモリ８１、等が接続されている。なお、制御部８０による検出ユニット６０及び補正ユニット７０の作動について、高速化のため、専用の駆動回路（例えば、ＬＳＩ）を用いてもよい。もちろんソフトウェアによる作動であってもよい。
【００３１】
なお、制御部８０は、モニタ８５の表示を制御し、前眼部像、測定結果、などを画面上に重畳表示する。また、制御部８０は、撮像素子５２からの撮像信号に基づいてアライメントずれを検出する。
【００３２】
図５は測定の際に撮像素子２６に撮像されるリング像である。撮像素子２６からの出力信号は、メモリ８１に画像データ（測定画像）として記憶される。その後、制御部８０は、メモリ８１に記憶された画像に基づいて各経線方向に関し像位置を検出し、その後、最小二乗法等を用いて楕円近似を行う。そして、制御部８０は、近似した楕円の中心位置を検出し、中心位置を基準として楕円形状から各経線方向の屈折誤差が求める。そして、制御部８０は、各経線方向の測定結果に基づいて眼屈折値、Ｓ（球面度数）、Ｃ（柱面度数）、Ａ（乱視軸角度）を測定し、結果をモニタ８５に表示する。
【００３３】
以上のような構成を備える装置において、その動作について説明する。検者は、装置本体１００を把持し、固視標３２を固視するよう指示した後、検査窓１０２を眼Ｅの正面に置く。これにより、前眼部が撮像素子５２によって撮像され、モニタ８５には、前眼部像Ｆ、第１投影光学系４５によるリング像（マイヤーリング像）Ｒ、第２投影光学系４６によって投影された無限遠指標像Ｍが表示される（図４参照）。
【００３４】
そして、制御部８０は、撮像素子５２からの撮像信号に基づいて被検眼に対するアライメント状態を検出する。この場合、制御部８０は、リング指標Ｒの中心位置（略角膜中心）を算出することによりＸＹ方向のアライメントずれを求める。また、制御部８０は、装置本体１００がＺ方向にずれた場合に、指標Ｍの間隔がほとんど変化しないのに対して、リング指標Ｒの像間隔が変化するという特性を利用して、Ｚ方向のアライメントずれを求める（詳しくは、特開平６−４６９９９号参照）。制御部８０は、Ｚ方向のアライメント検出結果に基づいてインジゲータＧの数を増減させる。
【００３５】
ここで、検者は、リング像ＲとレチクルマークＬＴが同心円になるように装置本体１００をＸＹ方向に移動させる。また、Ｚ方向のアライメント検出結果に基づいて変化するインジゲータＧを参考にしながら（もしくはリング像Ｒが最も細くなるように）、装置本体１００をＺ方向に移動させる。
【００３６】
その後、オートショットを作動させた場合、制御部８０は、ＸＹＺ方向のアライメント状態が許容範囲を満たしたら、測定開始のトリガ信号を発する。一方、オートショットがＯＦＦの場合には、操作部８４に設けられたトリガスイッチが押されると、測定が開始される。
【００３７】
トリガ信号が出力されると、制御部８０は、光源１１を点灯させて、眼底Ｅｆに測定指標を投光する。そして、制御部８０は、その反射光を撮像素子２６により受光し、指標像を検出する。
【００３８】
このとき、はじめに予備測定が行われ、その結果に基づいて光源３１及び固視標板３２が光軸方向に移動され、眼Ｅに対して雲霧がかけられる。その後、眼Ｅに対して本測定が行われる。なお、本測定では、リング画像の加算／蓄積処理、又は複数回測定するため、複数フレームの画像が取得され、メモリ８１に記憶される。
【００３９】
上記測定中において、制御部８０は、センサ６２に電源を供給し、センサ６２から出力される加速度信号に基づいて位置変位信号を生成する。そして、制御部８０は、生成された位置変位信号を入力として、装置本体１００のシフトぶれをキャンセルする方向に反射ミラー７２を回転させるためのブレ補正信号を出力する。
【００４０】
＜リング像の回転減少＞
反射ミラー７２を用いて手ブレ補正を行う場合において、反射ミラー７２が水平方向に回動されると、リング画像が光軸に対して回転される。この場合、水平方向の手ブレがなかったときのリング像に対して像の向きが傾くため、乱視軸の測定精度に影響を及ぼしうる。
【００４１】
図６は、手ぶれ補正時の反射ミラーの駆動と、反射ミラーによる反射光束によって受光素子に形成される像の移動を模式的に示した図である。図６（ａ）は、手ぶれ補正の際に、反射ミラーの駆動が入射光軸と反射光軸から成る面に対して垂直な軸を回転軸として駆動する場合を示している。ここで、投光系と受光系との共通光路に反射ミラー７２が配置されている場合、反射ミラー７２が傾斜（チルト）方向に駆動されても、リング像は回転しない。
【００４２】
図６（ｂ）は、手ぶれ補正の際に、反射ミラー７２の駆動が入射軸と反射軸から成る面に対して垂直な軸以外を回転軸として駆動をする場合を示している（例えば、前述の面に対して平行な回転軸Ｐ１）。
【００４３】
投光系と受光系との共通光路に反射ミラー７２が配置されている場合、反射ミラー７２が水平（スイング）方向に駆動されると、リング像は反射光軸を中心に回転される。なお、水平方向へ反射ミラー７２を回転させる際には、入射光軸を回転軸とする他に、例えば、入射光軸を回転軸とする構成や反射光軸を回転軸とする構成でもよい。
【００４４】
図７は、反射ミラー７２の水平駆動によるリング像の回転現象を示している。図７（ａ）は、反射ミラーが基準位置（振れ角０）に配置されたときのリング像を示している。図７（ｂ）は、反射ミラーが水平方向に回転されたときのリング像を示している。この場合、リング像がΔθ回転される。リング画像の回転現象は、例えば、眼屈折力を求める際のリング像が回転することになるため、測定される乱視軸角度に回転角度分のずれ量Δθが生じる。
【００４５】
＜乱視軸の補正＞
そこで、制御部８０は、反射ミラー７２のスイング方向への回動角度（回転角度）を検出し、検出結果に基づいて、乱視軸情報を補正する。すなわち、反射ミラー７２の振れ角度を検出し、振れ角度に応じて、乱視軸角度を補正する。リング像の短径又は長径の傾きから算出される乱視軸角度は、リング像の回転現象によってずれが生じるため、そのずれ量に対応する補正量を乱視軸角度に反映させ、補正を行う。
【００４６】
この場合、制御部８０は、撮像素子２６にてリング像を得たときの反射ミラー７２の振れ角度を検出し、メモリ８１に記憶する。なお、振れ角度を検出する構成として、スイング駆動部への駆動信号（例えば、駆動量、駆動位置）に基づいて検出される。また、反射ミラー７２の振れ角を検出するための角度検出センサが反射ミラー７２の近傍に設けられる。また、検出ユニット６０の検出結果に基づいて反射ミラー７２が回動されることを鑑み、検出ユニット６０の検出結果を用いて振れ角度を間接的に検出する構成であってもよい。
【００４７】
図８は、反射ミラー７２の水平方向における振れ角度と乱視軸角度のずれ量の関係を示した図である。振れ角度と乱視軸角度のずれ量は、略比例の関係となる。すなわち、パン軸を回転軸として、水平方向への振れ角度に基づいて、乱視軸角度のずれ量が算出できる。
【００４８】
制御部８０は、振れ角度の検出結果に基づいて、乱視軸角度を補正するための補正量Δθを取得する。この場合、反射ミラー７２の水平方向における振れ角度とリング像の回転量との関係がシミュレーション又は実験等により予め求められ、各振れ角度に対応する補正量が予め求められる。そして、各振れ角度に対応する補正情報として補正用データテーブル、演算式が作成され、メモリ８１に記憶される。
【００４９】
＜眼屈折力の測定＞
次に、撮像素子２６に撮像されたリング像に基づいて眼屈折力を測定する場合について説明する。
【００５０】
制御部８０は、撮像素子２６に撮像されたリング像の楕円近似を行い、近似した楕円形状から乱視軸角度Ａを求める。制御部８０は、メモリ８１に記憶された補正情報を用いて、反射ミラー７２の振れ角に対応する補正量Δθを取得する。そして、制御部８０は、取得された補正量を乱視軸角度に反映させ、ずれ量を補正する（補正後の乱視軸角度＝Ａ＋Δθ）。そして、制御部８０は、球面度数、乱視度数と共に、補正した乱視軸角度を測定結果としてモニタ８５に表示させる。この場合、制御部８０は、参考情報として補正量Δθをモニタ８５に表示するようにしてもよい。
【００５１】
以上のような補正処理により、手ブレ補正用のミラーの駆動に伴うリング像の回転現象による測定値のずれが補正されるため、精度の良い測定値が得られる。
【００５２】
なお、上記説明においては、回転現象の影響を抑える手段として、リング像より算出した測定値のずれ量を補正する手段を用いたがこれに限定されない。例えば、制御部８０は、撮像素子２６によって取得されたリング画像を、反射ミラー７２の振れ角に基づいて画像処理により回転するようにしてもよい。この場合、反射ミラーの振れ角度と、リング像の回転補正量の相関が予め算出され、メモリ８１に記憶される。
【００５３】
なお、上記説明においては、眼屈折力を例にとって説明したが、他の測定においても、本発明の適用は可能である。概して、被検眼に指標光束を投光する投光光学系と、指標光束の被検眼での反射により形成される指標像を受光する受光光学系とを有する測定光学系を有し、受光光学系によって受光された指標像に基づいて乱視軸情報を含む被検眼の眼特性を測定する構成であればよい。例えば、被検眼角膜に指標光束を投光する投光光学系と、指標光束の角膜での反射により形成される指標像を受光する受光光学系とを有し、角膜乱視軸を測定するケラトメータにおいても、本発明の適用は可能である。例えば、被検眼の角膜に指標を投影し、その反射像に基づいて角膜形状ケラトメータに用いられる指標としては、リング状視標、４点指標などがありうる。なお、上記実施形態においては、第１投影光学系４５と観察光学系５０を用いることが可能である。
【００５４】
なお、手持型眼科装置でなく、据置型眼装置であっても、装置が不安定な場所に置かれる場合に備えて、本発明の適用がありうる。
【００５５】
なお、上記説明においては、リング像取得後の補正処理により乱視軸を補正する構成を説明した。なお、他の手法としては、２つの反射ミラーを傾斜方向が異なるように配置し、各反射ミラーは、それぞれ傾斜方向に回動される（図９参照）。例えば、第１反射ミラー１０１は、眼Ｅの前方に配置され、眼Ｅからの反射光を所定方向（例えば、下方）に反射させるように配置される。一方、第２反射ミラー１０２は、第１反射ミラーによって反射された眼Ｅからの反射光を検眼光学系１０に導く。
【００５６】
一般的には、第１反射ミラー１０１に対する入射軸と、第２反射ミラー１０２に対する反射軸とが、直交する関係となるように第１反射ミラー１０１と第２反射ミラー１０２の位置関係が設定される。そして、第１反射ミラー１０１は、第１面（第１反射ミラー１０１に対する入射軸と反射軸によって形成される面）に対して垂直な回転軸を中心に回転され、第２反射ミラー１０２は、第２面（第２反射ミラー１０２に対する入射軸と反射軸によって形成される面）に対して垂直な回転軸を中心に回転される。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本実施形態に係る手持型眼科装置の一例を示す外観側方図である。
【図２】本実施形態に係るぶれ補正ユニットの概略構成図である。
【図３】本体に収納された光学系を正面から見た光学配置図である。
【図４】本体に収納された電気・制御系を示すブロック図である。
【図５】測定の際に撮像素子に撮像されるリング像である。
【図６】手ぶれ補正時の反射ミラーの駆動と、反射ミラーによる反射光束によって受光素子に形成される像の移動を模式的に示した図である。
【図７】反射ミラーの水平駆動によるリング像の回転現象を示している。
【図８】反射ミラーの水平方向における振れ角度と乱視軸角度のずれ量の関係を示した図である。
【図９】乱視軸を補正するため変容例を示す図である。
【符号の説明】
【００５８】
１０ 検眼光学系
４５ 第１投影光学系
４６ 第２投影光学系
５０ 観察光学系
５２ 撮像素子
６０ ぶれ検出ユニット
７０ ぶれ補正ユニット
７２ 反射ミラー
７４ 駆動部
８０ 制御部
８１ メモリ
８５ モニタ
１００ 装置本体
【技術分野】
【０００１】
本発明は、眼の検査・測定を行う手持型眼科装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
眼を測定・検査する眼科装置として、例えば、オートレフラクトメータやケラトメータが知られている。このような装置には、検査室に置かれる据え置き型の装置と、持ち運びが可能なハンディタイプの装置（特許文献１参照）がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平１１−１９０３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
一方、ハンディタイプの装置の場合、検者は、装置全体を把持し、装置全体を三次元に移動させる。また、検者の手ぶれによって装置が眼に対して動くことがありうる。このような点から、ハンディタイプの眼科装置は、アライメントが難しく、測定／検査のエラーが生じやすいのが現状である。
【０００５】
本発明は、上記問題点を鑑み、安定した測定を行うことができる手持型眼科装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００７】
（１） 被検眼に指標光束を投光する投光光学系と、前記指標光束の被検眼での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、を有する測定光学系が収納された装置本体と、前記受光光学系によって受光された前記指標像に基づいて乱視軸情報を含む被検眼の眼特性を測定する演算制御手段と、装置本体に配置され、前記装置本体に加わるぶれを検出するぶれ検出手段と、前記検眼光学系の一部としてチルト方向とスイング方向に駆動可能なミラーを有し、前記装置本体に加わったぶれによる前記指標光束のぶれを補正するためのぶれ補正光学手段と、前記ぶれ検出手段からの出力に基づいて前記ぶれ補正光学手段を駆動する駆動手段と、前記ミラーのスイング方向への回動角度を検出する回動検出手段を有し、前記回動検出手段の検出結果に基づいて，前記演算制御手段によって測定される乱視軸情報を補正する補正手段と、を備えることを特徴とする。
（２） 前記測定光学系は、被検眼眼底に指標光束を投光する投光光学系と、前記指標光束の眼底での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、有する眼屈折力測定光学系である（１）の手持型眼科装置。
（３） 前記測定光学系は、さらに、被検眼角膜に指標光束を投光する投光光学系と、前記指標光束の角膜での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、有する角膜形状測定光学系を有する（２）の手持型眼科装置。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、安定した測定を行うことができる。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は本実施形態に係る手持型眼科装置の一例を示す外観側方図である。以下、眼屈折力測定装置（オートレフラクトメータ）を例に説明する。なお、以下の説明では、被検眼と装置との位置関係について、前後方向をＺ方向、左右方向をＸ方向、上下方向をＹ方向として説明する。
【００１０】
装置本体１００には、被検眼Ｅに指標光束を投光しその反射光を受光する検眼光学系１０を含む光学ユニット１、装置本体１００に加わるぶれ（例えば、検者の手ぶれ）を検出するぶれ検出ユニット６０、装置本体１００に加わったぶれによる検眼光束のぶれを補正するためのぶれ補正ユニット７０、が設けられている。また、検査窓１０２は、本体１００の眼Ｅ側に配置される。操作部８４及びモニタ８５は、本体１００の検者側に配置される。さらに、装置本体１００には、制御や演算処理のための電気系が収納される。検者は、被検者に対向し、本体１００を把持する。そして、モニタ８５を見ながら、眼Ｅに対し本体１００をアライメントする。
【００１１】
ぶれ補正ユニット７０は、ぶれ補正光学系としての反射ミラー７２、反射ミラー７２をＸＹ方向に回転させる駆動部（例えば、ボイルコイルモータ機構）７４を備える。反射ミラー７２は、検眼光学系１０の光路中のいずれかに配置され、検眼光学系１０の一部として用いられる。一般的には、駆動部７４は、反射ミラー７２をチルト方向（上下方向）に駆動（回動）させるチルト駆動部７４ａと、反射ミラー７２をスイング方向（左右方向）に駆動（回動）させるスイング駆動部７４ｂと、を備え、各方向にそれぞれ反射ミラー７２を回動させる（図２参照）。
【００１２】
図１において、反射ミラー７２は、眼Ｅと対向する位置に配置され、検眼光学系１０は、反射ミラー７２の下方に配置されている。なお、検眼光学系１０の光軸Ｌ１は、反射ミラー７２によって眼Ｅ方向に折り曲げられる。反射ミラー７２は、検眼光学系１０からの出射光を反射して眼Ｅに導き、また、眼Ｅからの反射光を反射して検眼光学系１０に導く。
【００１３】
反射ミラー７２は、光軸Ｌ１と反射ミラー７２の間の交点Ｋを中心に回転される。反射ミラー７２の基準位置は、光軸Ｌ１がＺ方向に平行になる位置である。反射ミラー７２が回転されるとき、光軸Ｌ１上の所定点Ｏを中心に光軸Ｌ１が旋回される（図６参照）。所定点Ｏは、アライメントにより瞳孔中心Ｐｃに一致される。
【００１４】
検出ユニット６０は、少なくとも一つの角速度センサ又は加速度センサを持ち、装置本体１００のぶれ状態を検出する。そして、検出ユニット６０は駆動部７４に接続されており、駆動部７４は反射ミラー７２に接続されている。このような構成において、ぶれ検出ユニット６０がぶれ量を検出し、ぶれ検出ユニット６０の出力に基づいて駆動部７４が反射ミラー７２を駆動する。
【００１５】
図１において、検出ユニット６０は加速度センサ６２を有する。加速度センサ６２は、ＸＹ方向における装置本体１００の平行ぶれ（シフトぶれ）に応じた加速度信号を出力する。なお、ＸＹの２軸のセンサに加えて、Ｚ方向の平行ぶれを検出するセンサを設けても良い。また、１軸のセンサのみであってもよい。なお、加速度センサ６２としては、機械式、光学式、半導体式（静電容量型、ピエゾ抵抗型、ガス温度分布型）の加速度センサの利用が考えられる。なお、加速度センサ６２を用いたのは、眼の検査・測定においては装置本体１００と眼Ｅとの間の距離が比較的短く、検者による平行ぶれが発生しやすいからである。また、加速度センサ６２に加えて、角速度センサを設けるようにしてもよい。この場合、装置本体１００の回転ぶれに応じた角速度信号が出力される。
【００１６】
図３は本体１００に収納された光学系を正面から見た光学配置図である。光学ユニット１は、検眼光学系１０、眼Ｅに固視標を投影するための投影光学系３０、眼Ｅを観察するための観察光学系５０、を備える。
【００１７】
図３において、検眼光学系１０は、他覚的に眼屈折力を測定するための光学系である。検眼光学系１０は、眼底Ｅｆに測定指標を投影し、その眼底反射光束を受光する。そして、その受光信号に基づいて眼Ｅの屈折力が測定される。
【００１８】
より具体的には、検眼光学系１０は、瞳孔中心Ｐｃを介して被検眼Ｅの眼底Ｅｆに指標光束（スポット指標）を投光する投光光学系１０と、指標光束の眼底反射光を瞳孔周辺からリング状に取り出し、受光素子（撮像素子）２６上に形成される指標像（リング状の反射像）を受光する受光光学系２０と、から構成される。
【００１９】
投光光学系１０ａは、光軸Ｌ１上に配置された光源１１，リレーレンズ１２，ホールミラー１３，対物レンズ１４、及び反射ミラー７２を備える。光源１１は、眼底Ｅｆと略共役位置に配置され、ホールミラー１３の開口は、眼Ｅの瞳孔と略共役位置に配置される。
【００２０】
光源１１から出射された測定光は、光源１１，リレーレンズ１２，ホールミラー１３、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー５３、対物レンズ１４を介して反射ミラー７２により反射される。そして、反射ミラー７２によって反射された測定光は瞳孔中心Ｐｃを通過し、そして、スポット状の光束が眼底Ｅｆ上に投影される。
【００２１】
受光光学系１０ｂは、反射ミラー７２、対物レンズ１４，ホールミラー１３、コリメータレンズ２２、リングレンズ２４、及び撮像素子（例えば、ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等の二次元撮像素子）２６、を備える。撮像素子２６は、レンズ１４、レンズ２２、リングレンズ２４を介して眼底Ｅｆと略共役位置に配置される。リングレンズ２０は、円筒レンズがリング状に形成されたレンズ部と、レンズ部と同じ大きさのリング開口を持つ遮光部と、から構成され、眼Ｅの瞳孔と略共役位置に配置されている。撮像素子２６からの出力信号は、制御部８０に接続される（図４参照）。
【００２２】
そして、投光光学系１０ａによる眼底反射光束は、再び反射ミラー７２により反射され、対物レンズ１４、ダイクロイックミラー５３、ダイクロイックミラー３５、ホールミラー１３の反射面により反射され、コリメータレンズ２２にて略平行光束（正視眼の場合）とされ、リングレンズ２４によってリング状光束として取り出され、リング像として撮像素子２６に受光される。
【００２３】
なお、上記構成の他、瞳孔周辺部から眼底Ｅｆにリング指標を投影し、瞳孔中心から反射光を取り出して、撮像素子上にリング像を受光させる方式、眼底にスリット光を投影する位相差方式、など種々の方式が採用可能である。
【００２４】
対物レンズ１４とホールミラー１３との間には、ビームスプリッタとして可視反射・赤外透過のダイクロイックミラー３５が配置され、光源３１からの光が眼Ｅに向けて導光される。また、ダイクロイックミラー３５と対物レンズ１４との間には、ビームスプリッタとしてダイクロイックミラー５３が配置され、前眼部からの光が観察光学系５０に導光される。そのミラー５３は、測定光束を透過し、観察光束を反射する波長特性を有する。これらのビームスプリッタによって、測定光軸、固視光軸、観察光軸は、同じ光軸（Ｌ１）上に配置される。
【００２５】
投影光学系３０は、可視光を発する光源３１、風景／動物などが描かれた固視標３２、投光レンズ３３、全反射ミラー３４、ダイクロイックミラー３５、対物レンズ１４、反射ミラー７２を備える。なお、上記構成の他、固視標として、ＬＥＤなどの点光源、液晶パネルなどのディスプレイなどが用いられる。また、複数の固視標が二次元的に配置されてもよい。
【００２６】
光源３１に照明された固視標３２は、投光レンズ３３、全反射ミラー３４、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー５３、対物レンズ１４、反射ミラー７２を介して眼底Ｅｆに投影される。これにより、眼Ｅは固視される。また、光源３１及び固視標３２が光軸方向に移動され、眼Ｅに雲霧がかけられる。
【００２７】
また、検査窓１０２の外側には、被検眼の角膜Ｅｃにリング状の有限遠指標を投光（投影）する第１投光光学系（第１投影光学系）４５が光軸Ｌ１と同心円状に配置されている。また、角膜Ｅｃに無限遠指標を投影する第２投光光学系（第２投影光学系）４６が光軸Ｌ１に対し左右対称（図の便宜上上下）に配置されている。なお、第１投影光学系４５は、赤外光にて前眼部を照明する。また、角膜形状測定指標（ケラト指標）としても利用されうる。
【００２８】
観察光学系５０は、反射ミラー７２、対物レンズ１４、ダイクロイックミラー５３、撮像レンズ５１、二次元撮像素子５２を備える。撮像素子５２からの出力信号は、制御部８０に接続され、モニタ８５に出力される（図４参照）。なお、観察光学系５０は、眼Ｅの正面像を観察する他、眼Ｅに対する装置本体１００のアライメント状態を検出する検出光学系として用いられる。
【００２９】
第１投影光学系４５により照明された眼Ｅの前眼部像は、反射ミラー７２、対物レンズ１４、ダイクロイックミラー５３、撮像レンズ５１を介して、撮像素子５２の撮像面に受光される。また、同様に、第１投影光学系４５、第２投影光学系４６によるアライメント指標像が、撮像素子５２に検出される。
【００３０】
図４は本体１００に収納された電気・制御系を示すブロック図である。制御部８０は、装置全体の制御、眼屈折値の算出などの演算処理を行う。制御部８０には、光源１１、撮像素子２６、光源３１、撮像素子５２、各種設定に用いられる操作部８４、モニタ８５、ぶれ検出ユニット６０、ぶれ補正ユニット７０、メモリ８１、等が接続されている。なお、制御部８０による検出ユニット６０及び補正ユニット７０の作動について、高速化のため、専用の駆動回路（例えば、ＬＳＩ）を用いてもよい。もちろんソフトウェアによる作動であってもよい。
【００３１】
なお、制御部８０は、モニタ８５の表示を制御し、前眼部像、測定結果、などを画面上に重畳表示する。また、制御部８０は、撮像素子５２からの撮像信号に基づいてアライメントずれを検出する。
【００３２】
図５は測定の際に撮像素子２６に撮像されるリング像である。撮像素子２６からの出力信号は、メモリ８１に画像データ（測定画像）として記憶される。その後、制御部８０は、メモリ８１に記憶された画像に基づいて各経線方向に関し像位置を検出し、その後、最小二乗法等を用いて楕円近似を行う。そして、制御部８０は、近似した楕円の中心位置を検出し、中心位置を基準として楕円形状から各経線方向の屈折誤差が求める。そして、制御部８０は、各経線方向の測定結果に基づいて眼屈折値、Ｓ（球面度数）、Ｃ（柱面度数）、Ａ（乱視軸角度）を測定し、結果をモニタ８５に表示する。
【００３３】
以上のような構成を備える装置において、その動作について説明する。検者は、装置本体１００を把持し、固視標３２を固視するよう指示した後、検査窓１０２を眼Ｅの正面に置く。これにより、前眼部が撮像素子５２によって撮像され、モニタ８５には、前眼部像Ｆ、第１投影光学系４５によるリング像（マイヤーリング像）Ｒ、第２投影光学系４６によって投影された無限遠指標像Ｍが表示される（図４参照）。
【００３４】
そして、制御部８０は、撮像素子５２からの撮像信号に基づいて被検眼に対するアライメント状態を検出する。この場合、制御部８０は、リング指標Ｒの中心位置（略角膜中心）を算出することによりＸＹ方向のアライメントずれを求める。また、制御部８０は、装置本体１００がＺ方向にずれた場合に、指標Ｍの間隔がほとんど変化しないのに対して、リング指標Ｒの像間隔が変化するという特性を利用して、Ｚ方向のアライメントずれを求める（詳しくは、特開平６−４６９９９号参照）。制御部８０は、Ｚ方向のアライメント検出結果に基づいてインジゲータＧの数を増減させる。
【００３５】
ここで、検者は、リング像ＲとレチクルマークＬＴが同心円になるように装置本体１００をＸＹ方向に移動させる。また、Ｚ方向のアライメント検出結果に基づいて変化するインジゲータＧを参考にしながら（もしくはリング像Ｒが最も細くなるように）、装置本体１００をＺ方向に移動させる。
【００３６】
その後、オートショットを作動させた場合、制御部８０は、ＸＹＺ方向のアライメント状態が許容範囲を満たしたら、測定開始のトリガ信号を発する。一方、オートショットがＯＦＦの場合には、操作部８４に設けられたトリガスイッチが押されると、測定が開始される。
【００３７】
トリガ信号が出力されると、制御部８０は、光源１１を点灯させて、眼底Ｅｆに測定指標を投光する。そして、制御部８０は、その反射光を撮像素子２６により受光し、指標像を検出する。
【００３８】
このとき、はじめに予備測定が行われ、その結果に基づいて光源３１及び固視標板３２が光軸方向に移動され、眼Ｅに対して雲霧がかけられる。その後、眼Ｅに対して本測定が行われる。なお、本測定では、リング画像の加算／蓄積処理、又は複数回測定するため、複数フレームの画像が取得され、メモリ８１に記憶される。
【００３９】
上記測定中において、制御部８０は、センサ６２に電源を供給し、センサ６２から出力される加速度信号に基づいて位置変位信号を生成する。そして、制御部８０は、生成された位置変位信号を入力として、装置本体１００のシフトぶれをキャンセルする方向に反射ミラー７２を回転させるためのブレ補正信号を出力する。
【００４０】
＜リング像の回転減少＞
反射ミラー７２を用いて手ブレ補正を行う場合において、反射ミラー７２が水平方向に回動されると、リング画像が光軸に対して回転される。この場合、水平方向の手ブレがなかったときのリング像に対して像の向きが傾くため、乱視軸の測定精度に影響を及ぼしうる。
【００４１】
図６は、手ぶれ補正時の反射ミラーの駆動と、反射ミラーによる反射光束によって受光素子に形成される像の移動を模式的に示した図である。図６（ａ）は、手ぶれ補正の際に、反射ミラーの駆動が入射光軸と反射光軸から成る面に対して垂直な軸を回転軸として駆動する場合を示している。ここで、投光系と受光系との共通光路に反射ミラー７２が配置されている場合、反射ミラー７２が傾斜（チルト）方向に駆動されても、リング像は回転しない。
【００４２】
図６（ｂ）は、手ぶれ補正の際に、反射ミラー７２の駆動が入射軸と反射軸から成る面に対して垂直な軸以外を回転軸として駆動をする場合を示している（例えば、前述の面に対して平行な回転軸Ｐ１）。
【００４３】
投光系と受光系との共通光路に反射ミラー７２が配置されている場合、反射ミラー７２が水平（スイング）方向に駆動されると、リング像は反射光軸を中心に回転される。なお、水平方向へ反射ミラー７２を回転させる際には、入射光軸を回転軸とする他に、例えば、入射光軸を回転軸とする構成や反射光軸を回転軸とする構成でもよい。
【００４４】
図７は、反射ミラー７２の水平駆動によるリング像の回転現象を示している。図７（ａ）は、反射ミラーが基準位置（振れ角０）に配置されたときのリング像を示している。図７（ｂ）は、反射ミラーが水平方向に回転されたときのリング像を示している。この場合、リング像がΔθ回転される。リング画像の回転現象は、例えば、眼屈折力を求める際のリング像が回転することになるため、測定される乱視軸角度に回転角度分のずれ量Δθが生じる。
【００４５】
＜乱視軸の補正＞
そこで、制御部８０は、反射ミラー７２のスイング方向への回動角度（回転角度）を検出し、検出結果に基づいて、乱視軸情報を補正する。すなわち、反射ミラー７２の振れ角度を検出し、振れ角度に応じて、乱視軸角度を補正する。リング像の短径又は長径の傾きから算出される乱視軸角度は、リング像の回転現象によってずれが生じるため、そのずれ量に対応する補正量を乱視軸角度に反映させ、補正を行う。
【００４６】
この場合、制御部８０は、撮像素子２６にてリング像を得たときの反射ミラー７２の振れ角度を検出し、メモリ８１に記憶する。なお、振れ角度を検出する構成として、スイング駆動部への駆動信号（例えば、駆動量、駆動位置）に基づいて検出される。また、反射ミラー７２の振れ角を検出するための角度検出センサが反射ミラー７２の近傍に設けられる。また、検出ユニット６０の検出結果に基づいて反射ミラー７２が回動されることを鑑み、検出ユニット６０の検出結果を用いて振れ角度を間接的に検出する構成であってもよい。
【００４７】
図８は、反射ミラー７２の水平方向における振れ角度と乱視軸角度のずれ量の関係を示した図である。振れ角度と乱視軸角度のずれ量は、略比例の関係となる。すなわち、パン軸を回転軸として、水平方向への振れ角度に基づいて、乱視軸角度のずれ量が算出できる。
【００４８】
制御部８０は、振れ角度の検出結果に基づいて、乱視軸角度を補正するための補正量Δθを取得する。この場合、反射ミラー７２の水平方向における振れ角度とリング像の回転量との関係がシミュレーション又は実験等により予め求められ、各振れ角度に対応する補正量が予め求められる。そして、各振れ角度に対応する補正情報として補正用データテーブル、演算式が作成され、メモリ８１に記憶される。
【００４９】
＜眼屈折力の測定＞
次に、撮像素子２６に撮像されたリング像に基づいて眼屈折力を測定する場合について説明する。
【００５０】
制御部８０は、撮像素子２６に撮像されたリング像の楕円近似を行い、近似した楕円形状から乱視軸角度Ａを求める。制御部８０は、メモリ８１に記憶された補正情報を用いて、反射ミラー７２の振れ角に対応する補正量Δθを取得する。そして、制御部８０は、取得された補正量を乱視軸角度に反映させ、ずれ量を補正する（補正後の乱視軸角度＝Ａ＋Δθ）。そして、制御部８０は、球面度数、乱視度数と共に、補正した乱視軸角度を測定結果としてモニタ８５に表示させる。この場合、制御部８０は、参考情報として補正量Δθをモニタ８５に表示するようにしてもよい。
【００５１】
以上のような補正処理により、手ブレ補正用のミラーの駆動に伴うリング像の回転現象による測定値のずれが補正されるため、精度の良い測定値が得られる。
【００５２】
なお、上記説明においては、回転現象の影響を抑える手段として、リング像より算出した測定値のずれ量を補正する手段を用いたがこれに限定されない。例えば、制御部８０は、撮像素子２６によって取得されたリング画像を、反射ミラー７２の振れ角に基づいて画像処理により回転するようにしてもよい。この場合、反射ミラーの振れ角度と、リング像の回転補正量の相関が予め算出され、メモリ８１に記憶される。
【００５３】
なお、上記説明においては、眼屈折力を例にとって説明したが、他の測定においても、本発明の適用は可能である。概して、被検眼に指標光束を投光する投光光学系と、指標光束の被検眼での反射により形成される指標像を受光する受光光学系とを有する測定光学系を有し、受光光学系によって受光された指標像に基づいて乱視軸情報を含む被検眼の眼特性を測定する構成であればよい。例えば、被検眼角膜に指標光束を投光する投光光学系と、指標光束の角膜での反射により形成される指標像を受光する受光光学系とを有し、角膜乱視軸を測定するケラトメータにおいても、本発明の適用は可能である。例えば、被検眼の角膜に指標を投影し、その反射像に基づいて角膜形状ケラトメータに用いられる指標としては、リング状視標、４点指標などがありうる。なお、上記実施形態においては、第１投影光学系４５と観察光学系５０を用いることが可能である。
【００５４】
なお、手持型眼科装置でなく、据置型眼装置であっても、装置が不安定な場所に置かれる場合に備えて、本発明の適用がありうる。
【００５５】
なお、上記説明においては、リング像取得後の補正処理により乱視軸を補正する構成を説明した。なお、他の手法としては、２つの反射ミラーを傾斜方向が異なるように配置し、各反射ミラーは、それぞれ傾斜方向に回動される（図９参照）。例えば、第１反射ミラー１０１は、眼Ｅの前方に配置され、眼Ｅからの反射光を所定方向（例えば、下方）に反射させるように配置される。一方、第２反射ミラー１０２は、第１反射ミラーによって反射された眼Ｅからの反射光を検眼光学系１０に導く。
【００５６】
一般的には、第１反射ミラー１０１に対する入射軸と、第２反射ミラー１０２に対する反射軸とが、直交する関係となるように第１反射ミラー１０１と第２反射ミラー１０２の位置関係が設定される。そして、第１反射ミラー１０１は、第１面（第１反射ミラー１０１に対する入射軸と反射軸によって形成される面）に対して垂直な回転軸を中心に回転され、第２反射ミラー１０２は、第２面（第２反射ミラー１０２に対する入射軸と反射軸によって形成される面）に対して垂直な回転軸を中心に回転される。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本実施形態に係る手持型眼科装置の一例を示す外観側方図である。
【図２】本実施形態に係るぶれ補正ユニットの概略構成図である。
【図３】本体に収納された光学系を正面から見た光学配置図である。
【図４】本体に収納された電気・制御系を示すブロック図である。
【図５】測定の際に撮像素子に撮像されるリング像である。
【図６】手ぶれ補正時の反射ミラーの駆動と、反射ミラーによる反射光束によって受光素子に形成される像の移動を模式的に示した図である。
【図７】反射ミラーの水平駆動によるリング像の回転現象を示している。
【図８】反射ミラーの水平方向における振れ角度と乱視軸角度のずれ量の関係を示した図である。
【図９】乱視軸を補正するため変容例を示す図である。
【符号の説明】
【００５８】
１０ 検眼光学系
４５ 第１投影光学系
４６ 第２投影光学系
５０ 観察光学系
５２ 撮像素子
６０ ぶれ検出ユニット
７０ ぶれ補正ユニット
７２ 反射ミラー
７４ 駆動部
８０ 制御部
８１ メモリ
８５ モニタ
１００ 装置本体
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼に指標光束を投光する投光光学系と、前記指標光束の被検眼での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、を有する測定光学系が収納された装置本体と、
前記受光光学系によって受光された前記指標像に基づいて乱視軸情報を含む被検眼の眼特性を測定する演算制御手段と、
装置本体に配置され、前記装置本体に加わるぶれを検出するぶれ検出手段と、
前記検眼光学系の一部としてチルト方向とスイング方向に駆動可能なミラーを有し、前記装置本体に加わったぶれによる前記指標光束のぶれを補正するためのぶれ補正光学手段と、
前記ぶれ検出手段からの出力に基づいて前記ぶれ補正光学手段を駆動する駆動手段と、
前記ミラーのスイング方向への回動角度を検出する回動検出手段を有し、前記回動検出手段の検出結果に基づいて，前記演算制御手段によって測定される乱視軸情報を補正する補正手段と、
を備えることを特徴とする手持型眼科装置。
【請求項２】
前記測定光学系は、被検眼眼底に指標光束を投光する投光光学系と、前記指標光束の眼底での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、有する眼屈折力測定光学系である請求項１の手持型眼科装置。
【請求項３】
前記測定光学系は、さらに、被検眼角膜に指標光束を投光する投光光学系と、前記指標光束の角膜での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、有する角膜形状測定光学系を有する請求項２の手持型眼科装置。
【請求項１】
被検眼に指標光束を投光する投光光学系と、前記指標光束の被検眼での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、を有する測定光学系が収納された装置本体と、
前記受光光学系によって受光された前記指標像に基づいて乱視軸情報を含む被検眼の眼特性を測定する演算制御手段と、
装置本体に配置され、前記装置本体に加わるぶれを検出するぶれ検出手段と、
前記検眼光学系の一部としてチルト方向とスイング方向に駆動可能なミラーを有し、前記装置本体に加わったぶれによる前記指標光束のぶれを補正するためのぶれ補正光学手段と、
前記ぶれ検出手段からの出力に基づいて前記ぶれ補正光学手段を駆動する駆動手段と、
前記ミラーのスイング方向への回動角度を検出する回動検出手段を有し、前記回動検出手段の検出結果に基づいて，前記演算制御手段によって測定される乱視軸情報を補正する補正手段と、
を備えることを特徴とする手持型眼科装置。
【請求項２】
前記測定光学系は、被検眼眼底に指標光束を投光する投光光学系と、前記指標光束の眼底での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、有する眼屈折力測定光学系である請求項１の手持型眼科装置。
【請求項３】
前記測定光学系は、さらに、被検眼角膜に指標光束を投光する投光光学系と、前記指標光束の角膜での反射により形成される指標像を受光する受光光学系と、有する角膜形状測定光学系を有する請求項２の手持型眼科装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【公開番号】特開２０１２−１８３１２３（Ｐ２０１２−１８３１２３Ａ）
【公開日】平成２４年９月２７日（２０１２．９．２７）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−４６９７７（Ｐ２０１１−４６９７７）
【出願日】平成２３年３月３日（２０１１．３．３）
【出願人】（０００１３５１８４）株式会社ニデック (745)
【公開日】平成２４年９月２７日（２０１２．９．２７）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年３月３日（２０１１．３．３）
【出願人】（０００１３５１８４）株式会社ニデック (745)
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