画像処理装置、画像形成装置およびプログラム
【課題】画素の挿入または間引きによる局所的な画素の位置ずれが発生しても、本構成を有していない場合と比較して、エッジを検出する処理を正確に行う。
【解決手段】
拡大縮小処理部４１は、画像データに対して、画素の挿入または画素の間引きによる拡大縮小処理が行う。この拡大縮小処理の際に、記憶部４２は、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する。そして、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、算出部４３は、画像データの各行毎に、それぞれの画素の位置が１つ上に隣接する行上の対応する画素の位置に対する位置ずれ情報を算出する。パターン切替部４４は、位置ずれ情報に基づいてエッジ検出部４５のエッジ検出パターンを切り替える。そして、エッジ検出部４５は、画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することによりエッジ部分を検出する。
【解決手段】
拡大縮小処理部４１は、画像データに対して、画素の挿入または画素の間引きによる拡大縮小処理が行う。この拡大縮小処理の際に、記憶部４２は、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する。そして、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、算出部４３は、画像データの各行毎に、それぞれの画素の位置が１つ上に隣接する行上の対応する画素の位置に対する位置ずれ情報を算出する。パターン切替部４４は、位置ずれ情報に基づいてエッジ検出部４５のエッジ検出パターンを切り替える。そして、エッジ検出部４５は、画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することによりエッジ部分を検出する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置、画像形成装置およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、画像データに対して倍率補正を行う場合に、間引く画素の位置を各ラインでずらすことにより細線が消えてしまうような弊害を防止する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−１１８３７２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明の目的は、画素の挿入または間引きによる局所的な画素の位置ずれが発生した場合でも、本構成を有していない場合と比較して、エッジ部分の検出をより正確に行うことが可能な画像処理装置、画像形成装置およびプログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
請求項１に係る本発明は、画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行う拡大縮小処理手段と、
前記拡大縮小処理手段により、画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各行毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出する算出手段と、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するエッジ検出手段と、前記算出手段によって算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、前記エッジ検出手段がエッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替える切替手段とを有する画像処理装置である。
【０００６】
請求項２に係る本発明は、前記エッジ検出手段により検出されたエッジ部分の画素の画素値を変更してエッジを強調するエッジ強調手段をさらに有する請求項１に記載の画像処理装置である。
【０００７】
請求項３に係る本発明は、前記算出手段により算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ部分の画素のうち、位置ずれしている画素の画素値を変更する画素値変更手段をさらに有する請求項１または２記載の画像処理装置である。
【０００８】
請求項４に係る本発明は、画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行う拡大縮小処理手段と、
前記拡大縮小処理手段により、画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける副走査方向の各列毎に、それぞれの画素の位置が右または左に隣接する他の列上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向にずれているかを示す位置ずれ情報を算出する算出手段と、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するエッジ検出手段と、
前記算出手段によって算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、前記エッジ検出手段がエッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替える切替手段とを有する画像処理装置である。
【０００９】
請求項５に係る本発明は、画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行う拡大縮小処理手段と、
前記拡大縮小処理手段により、画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各行毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出する算出手段と、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するエッジ検出手段と、
前記算出手段によって算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、前記エッジ検出手段がエッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替える切替手段と、
前記エッジ検出手段により検出されたエッジ部分の画素の画素値を変更してエッジを強調するエッジ強調手段と、
前記エッジ強調手段によりエッジが強調された画像データを出力する出力手段とを有する画像形成装置である。
【００１０】
請求項６に係る本発明は、前記算出手段により算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ部分の画素のうち、位置ずれしている画素の画素値を変更する画素値変更手段をさらに有する請求項５に記載の画像形成装置である。
【００１１】
請求項７に係る本発明は、画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行うステップと、
画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶するステップと、
記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各行毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出するステップと、
算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替えるステップと、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するステップとをコンピュータに実行させるためのプログラムである。
【発明の効果】
【００１２】
請求項１に係る本発明によれば、画素の挿入または間引きによる局所的なずれが発生した場合でも、本構成を有していない場合と比較して、エッジ部分の検出をより正確に行うことが可能な画像処理装置を提供することができる。
【００１３】
請求項２に係る本発明によれば、請求項１により得られる効果に加えて、画像データ中のエッジ部分を視覚的に目立たせることが可能な画像処理装置を提供することができる。
【００１４】
請求項３に係る本発明によれば、請求項１により得られる効果に加えて、画像データ中のエッジ部分のずれを視覚的に目立たなくすることが可能な画像処理装置を提供することができる。
【００１５】
請求項４に係る本発明によれば、画素の挿入または間引きによる局所的なずれが発生した場合でも、本構成を有していない場合と比較して、エッジ部分の検出をより正確に行うことが可能な画像処理装置を提供することができる。
【００１６】
請求項５に係る本発明によれば、画素の挿入または間引きによる局所的なずれが発生した場合でも、本構成を有していない場合と比較して、より正確にエッジ部分が検出された画像を形成することが可能な画像形成装置を提供することができる。
【００１７】
請求項６に係る本発明によれば、請求項５により得られる効果に加えて、画像データ中のエッジ部分のずれが視覚的に目立たない画像を形成することが可能な画像形成装置を提供することができる。
【００１８】
請求項７に係る本発明によれば、画素の挿入または間引きによる局所的なずれが発生した場合でも、本構成を有していない場合と比較して、エッジ部分の検出をより正確に行うことが可能なプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の一実施形態における位置ずれの一例を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態の印刷システムを示す図である。
【図３】本発明の一実施形態における画像形成装置１のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の一実施形態における画像処理装置４の機能構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の一実施形態の画像処理装置４における全体の処理の流れを示すフローチャートである。
【図６】本発明の一実施形態の記憶部４２において記憶される挿入された画素の位置および間引きされた画素の位置の一例を示す図である。
【図７】本発明の一実施形態の画像処理装置４における位置ずれ情報を算出する流れを示すフローチャートである。
【図８】本発明の一実施形態における位置ずれ情報の一例を示す図である。
【図９】本発明の一実施形態の画像処理装置４におけるエッジ部分を検出する流れを示すフローチャートである。
【図１０】本発明の一実施形態におけるエッジ検出方法の一例を示す図である。
【図１１】本発明の一実施形態におけるエッジ強調方法の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
[背景]
まず、本発明の理解を助けるために、画素の挿入または間引きによる局所的な画素のずれ（位置ずれ）について図１を参照して説明する。
【００２１】
画像処理において、画像主副走査倍率補正の処理を行う場合に、画素の挿入または間引きを行う補正が行われることがある。
【００２２】
しかし、画素の挿入または間引きの位置を均一に配置する場合、注目点が連続することで視覚的に目立ちやすくなってしまう。従って、画像主副走査倍率補正の処理において、画素の挿入または間引きの位置を不均一にする方法が採用される場合がある。しかし、補正箇所を不均一に配置する場合、画像主副走査方向に画素の位置ずれが発生し、この位置ずれの領域がエッジを跨ぐことで、エッジ部分の画素が本来の配列と異なってしまう。
【００２３】
例えば、図１（Ａ）に示すような画像データに対して画素の挿入を行い、画像を走査方向に拡大する処理を行う場合について説明する。図１（Ａ）における画像データは、複数の黒画素５０からなる領域を有する。また、図１（Ｂ）は、図１（Ａ）の画像データに対して、各ライン毎に１画素ずつ挿入画素５１が挿入されて走査方向に１画素分だけ拡大される処理が行われた後の画像データを示している。
【００２４】
上述したように、拡大処理において、挿入画素５１は画像データに対して不均一に配置される。ここで、図１（Ｂ）では、挿入画素５１は、複数の黒画素５０からなる領域上に配置されていないため、エッジ部分において位置ずれは発生していない。しかし、図１（Ｃ）に示されるように、挿入画素５１が複数の黒画素５０からなる領域上に配置される場合、挿入画素５１の分走査方向に移動する黒画素５０と、移動しない黒画素５０が存在することにより位置ずれが発生する。そして、この位置ずれが発生することによって、エッジ部分の画素が本来の配列とは異なる配列となってしまうために、エッジの検出パターンと注目画素の近傍画素の配置パターンとを比較してエッジを検出する際に、正確にエッジが検出されない恐れがある。
【００２５】
また、縮小処理についても、画素が間引きされて画像データが縮小されることにより、複数の黒画素５０からなる領域のうちいずれかの画素が間引かれることによって位置ずれが発生し、エッジ部分の画素が本来の配列と異なってしまうために、エッジの検出パターンと注目画素の近傍画素の配置パターンとを比較してエッジを検出する際に、正確にエッジが検出されない恐れがある。
【００２６】
[実施形態]
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００２７】
図２は本発明の一実施形態の画像形成システムを示す図である。
【００２８】
本実施形態における画像形成装置１は、ネットワーク３を介して端末装置２と接続されている。画像形成装置１は、端末装置２からネットワーク３を介して送信されてきた画像データ、および図示しない光学的に画像を読み取るプリンタなどの読み取り装置から送信されてきた画像データを用紙に印刷する。また、本実施形態において、画像形成装置１には、内部に画像処理装置４が設置されている。
【００２９】
次に、画像形成装置１の構成を図３を参照して詳細に説明する。
【００３０】
画像形成装置１は、図３に示されるように、ＣＰＵ１１、メモリ１２、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）等の記憶装置１３、ネットワーク１０を介して外部の装置等との間でデータの送信及び受信を行う通信インタフェース（ＩＦ）１４、タッチパネル又は液晶ディスプレイ並びにキーボードを含むユーザインタフェース（ＵＩ）装置１５、スキャナ１６、プリンタ１７を有する。これらの構成要素は、制御バス１８を介して互いに接続されている。
【００３１】
ＣＰＵ１１は、メモリ１２または記憶装置１３に格納された制御プログラムに基づいて所定の処理を実行して、画像形成装置１に設置された画像形成装置４の動作を制御する。なお、本実施形態では、ＣＰＵ１１は、メモリ１２または記憶装置１３内に格納された制御プログラムを読み出して実行するものとして説明したが、当該プログラムをＣＤ−ＲＯＭ等の記憶媒体に格納してＣＰＵ１１に提供することも可能である。
【００３２】
図４は、上記の制御プログラムが実行されることにより実現される画像形成装置１内の画像処理装置４の機能構成を示すブロック図である。
【００３３】
画像処理装置４は、図４に示されるように、画像拡大縮小処理部４１、記憶部４２、算出部４３、パターン切替部４４、予め設定されているエッジ検出パターンに基づいて画像データのエッジ部分を検出するエッジ検出部４５、画像データの階調を補正する階調補正処理部４６を有する。そして、階調補正処理部４６の補正に基づいて光書込みを行う露光部４７が画像処理装置４と接続されている。なお、本実施形態において画像処理装置４は、画像形成装置１の内部に設置されているものとして説明するが、本発明はこのような構成に限定されず、画像形成装置１から独立させるようにしてもよい。
【００３４】
画像拡大縮小処理部４１は、画像データに対して画素の挿入による拡大処理または画素の間引きによる縮小処理を行う。
【００３５】
記憶部４２は、画像拡大縮小処理部４１において、画像の拡大および縮小がされた場合に挿入された画素の位置および間引きされた画素の位置の情報を記憶する。このとき、記憶部４２は、挿入された画素の位置を２、間引きされた画素の位置を０、それ以外の画素の位置を１として表した保持バッファ値を記憶する。
【００３６】
算出部４３は、記憶部４２に記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各ライン毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出する。
【００３７】
具体的には、算出部４３は、記憶部４２に記憶されている保持バッファ値を参照して、画像データのライン毎にラインの先頭からその画素の位置までの保持バッファ値を加算する。さらに、算出部４３は、各画素の位置にそれぞれの加算値が対応付けられた加算値情報を生成する。そして、算出部４３は、注目ラインの走査方向に１つ上のラインを選択し、注目ラインの画素の位置と、注目ラインの１つ上のライン上において注目ラインの画素の位置と対応する位置の画素との加算値を比較する。
【００３８】
ここで、算出部４３は、加算値情報を参照して、注目ラインの画素の位置の加算値が対応する画素の位置の加算値よりも小さい場合は、走査方向に対して加算値の差分左ずれであるという情報を位置ずれ情報として算出する。また、算出部４３は、注目ラインの画素の位置の加算値が、対応する画素の位置の加算値よりも大きい場合は、走査方向に対して加算値の差分右ずれであるという情報を位置ずれ情報として算出する。さらに、算出部４３は、注目ラインの画素の位置の加算値と対応する画素の位置の加算値が同じである場合は、位置ずれ無しであるという情報を位置ずれ情報として算出する。
【００３９】
パターン切替部４４は、エッジ検出部４５によってエッジ部分の検出が行われる際、算出部４３によって算出された位置ずれ情報を参照して、画素のずれ方向および何画素分ずれているかに応じて、エッジ検出部４５がエッジの検出に用いるパターンを切り替える。
【００４０】
次に、本実施形態の画像処理装置４の動作を図面を参照して詳細に説明する。
【００４１】
まず、画像処理装置４の動作の全体的な流れを図５を参照して説明する。
【００４２】
まず、画像拡大縮小処理部４１は、スキャナ１６により読み取られた画像データまたは端末装置２から送信されてきた画像データに対して、図６（Ａ）に示されるように、挿入画素５１が挿入されることによる拡大処理、および間引き画素５２が間引かれることによる縮小処理を行う。この際、記憶部４２は、図６（Ｂ）に示されるように、挿入画素５１および間引き画素５２の位置を記憶する（ステップＳ１０１）。ここで、図６（Ｂ）に示されるように、記憶部４２は、挿入画素５１の位置を２、間引き画素５２の位置を０、それ以外の画素の位置を１として表した保持バッファ値を記憶する。なお、保持バッファ値として用いる値は挿入画素５１の位置、間引き画素５２の位置、それ以外の画素の位置をそれぞれ区別できる値であれば数に限定されるものではない。
【００４３】
次に、算出部４３は、図６（Ｃ）に示されるように、拡大および縮小処理後の画像データの走査方向の各ラインに対して、ライン毎にラインの先頭からその画素の位置までの保持バッファ値を走査方向順に加算する（ステップＳ１０２）。
【００４４】
そして、算出部４３は、保持バッファ値の加算値が各画素の位置に対応付けられた加算値情報を生成する（ステップＳ１０３）。例えば、算出部４３は、図６（Ｃ）に示されるように、１段目のラインの場合、左から順に、１つ目の画素の位置には１、２つ目の画素の位置には３、３つ目の画素の位置には４・・・というようにラインの先頭からその画素の位置までの保持バッファ値を加算して加算値情報を生成する。
【００４５】
そして、算出部４３は、ステップＳ１０３で生成された加算値情報に基づいて、位置ずれ情報を算出する（ステップＳ１０４）。なお、位置ずれ情報の算出方法の詳細は後述する。
【００４６】
次に、エッジ検出部４５は、画像データ中から１つの画素を順次選択してこれを注目画素とし、注目画素の近傍の画素の配置パターンと、パターン切替部４４が指示したエッジ検出パターンとを比較することによってエッジ部分を検出する（ステップＳ１０５）。エッジ部分の検出方法の詳細は後述する。
【００４７】
最後に、階調補正処理部４６は、画像データに対して階調の補正を行う。ここで、ステップＳ１０５において検出されたエッジ部分の画素に対して、画素値を変更して強調する補正を行う（ステップＳ１０６）。
【００４８】
次に、ステップＳ１０４における位置ずれ情報の算出方法の流れを図７を参照して詳細に説明する。
【００４９】
まず、算出部４３は、画像データ中のラインの１つを注目ラインとし（ステップＳ２０１）、ステップＳ１０３において生成された加算値情報を参照して、注目ライン上の各画素の位置の加算値と、注目ラインの１ライン上に隣接するライン上の対応する画素の位置の加算値とを比較して、画素の位置の加算値の差を位置ずれ情報として算出する（ステップＳ２０２）。
【００５０】
ここで、加算値の比較において、例えば、算出部４３が２段目のラインに注目し、１段目のラインと２段目のラインを比較する場合について、図８（Ａ）を参照して説明する。まず、１段目のライン上および２段目のライン上の左から１番目の画素の位置においては、算出部４３は、画素の位置の加算値がともに１であるため、位置ずれなしと判定する。また、１段目のライン上および２段目のライン上の左から２番目の画素の位置おいては、１段目のライン上の画素の位置の加算値が３、２段目のライン上の画素の位置の加算値が２となり、２段目のライン上の画素の位置の加算値が１段目のライン上の画素の位置の加算値よりも１小さいため、算出部４３は、２段目のライン上の左から２番目の画素の位置を左ずれ領域５３と判定する。また、１段目のライン上および２段目のライン上の左から９番目の画素の位置においては、１段目のライン上の画素の位置の加算値が９、２段目のライン上の画素の位置の加算値が１０となり、２段目のライン上の画素の位置の加算値が１段目の画素の位置の加算値よりも１大きいため、算出部４３は、２段目のライン上の画素の位置を右ずれ領域５４と判定する。
【００５１】
さらに、算出部４３は、上記の処理を３段目のライン上の各画素の位置、および４段目のライン上の各画素の位置に対しても行うことにより、図８（Ｂ）に示されるような位置ずれ情報を算出する。なお、図８（Ｂ）は、各ライン上の左から１番目から１０番目までの画素の位置ずれ情報を示している。ここで、図８（Ｂ）において、Ｎはラインずれ無しの画素、Ｌは左ずれ領域５３の画素、Ｒは右ずれ領域５４の画素を示している。
【００５２】
そして、全てのラインで位置ずれ情報が算出された場合、上記処理を終了する（ステップＳ２０４）。
【００５３】
次に、ステップＳ１０５におけるエッジの検出方法の流れを図９を参照して詳細に説明する。
【００５４】
まず、エッジ検出部４５は、画像データ中の画素を１つ選択し、これを注目画素とする（ステップＳ３０１）。
【００５５】
次に、パターン切替部４４は、注目画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ検出パターンを切り替える（ステップＳ３０２）。具体的には、注目画素が位置ずれしている画素でない場合、パターン切替部４４は、図１０（Ａ）に示されるような基準パターン６１を用いるようエッジ検出部４５に指示する。また、パターン切替部４４は、注目画素が左ずれしている画素である場合には、左ずれパターン６２を用いるようエッジ検出部４５に指示し、注目画素が右ずれしている画素である場合には、右ずれパターン６３を用いるようエッジ検出部４５に指示する。ここで、左ずれパターン６２は、基準パターン６１に対して、２段目のラインが加算値の差分左にずれて中央の画素が黒画素となっている。また、右ずれパターン６３は、基準パターン６１に対して、１段目のラインおよび３段目のラインが加算値の差分左にずれて中央の画素の上下に隣接する画素が黒画素となっている。
【００５６】
そして、エッジ検出部４５は、パターン切替部４４によって指示されたエッジ検出パターンを用いて、注目画素の近傍８画素の配置パターンがエッジ検出パターンと一致するか否かを判定する（ステップＳ３０３）。ここで、注目画素の近傍８画素の配置パターンとエッジ検出パターンが一致すると判定された場合、エッジ検出部４５は、当該注目画素はエッジ部分であると判定する（ステップＳ３０４）。また、注目画素の近傍８画素の配置パターンがエッジ検出パターンと不一致と判定された場合、エッジ検出部４５は、当該注目画素はエッジ部分と判定せず、ステップＳ３０５に進む。
【００５７】
そして、注目画素のエッジ判定が行われた後、エッジ検出部４５は、画像データ中に未選択の画素が存在するか否かを判定する（ステップＳ３０５）。ここで、画像データ中に未選択の画素が存在する場合、エッジ検出部４５は、ステップＳ３０１に戻って未選択の画素を注目画素とし、上記と同様の処理を行う。また、画像データ中に未選択の画素が存在しない場合、エッジ検出部４５は、エッジ検出の処理を終了する。
【００５８】
上記の処理によって、エッジ部分が検出された後、階調補正処理部４６は、黒画素５０の画素の画素値を変更してエッジを強調する。例えば、図１１に示されるように、階調補正処理部４６は、黒画素５０のうち、ラインずれにより左ずれを起こしているエッジずれ画素５５に対しては、薄くして目立たなくなるような画素値に変更する。また、階調補正処理部４６は、黒画素５０の領域のうち、エッジ部分に挟まれた強調画素５７に対しては、濃くして目立つような画素値に変更する。
【００５９】
さらに、エッジが強調された後、階調補正処理部４６は、上記の処理によってエッジ部分が検出および強調された画像データを露光部４７に送信し、露光部４７は該画像データに基づいて光書込みを行う。
【００６０】
なお、本実施形態においては、走査方向に対する位置ずれ情報を算出しているが、副走査方向に対する位置ずれ情報を算出するようにしてもよい。この場合、本実施形態における算出部４３の保持バッファ値の加算および加算値を比較する処理を副走査方向の各列毎に行えばよい。
【００６１】
なお、本実施形態では、左側のエッジ部分を検出する場合について説明したが、本発明は、右側のエッジ部分を検出する場合も同様の方法を用いることができる。例えば、右側のエッジ部分を検出する場合、図１０（Ｂ）に示されるように、基準パターン６１とは対称的に左側に黒画素が直線的に配置された基準パターン６４を用いるようにしてもよい。この場合、注目画素が左ずれである場合は、左ずれパターン６５、注目画素が右ずれである場合は、右ずれパターン６６を用いるようにしてもよい。
【００６２】
さらに、本実施形態においては、注目ライン上の画素の位置の加算値と１つ上のライン上の対応する画素の位置の加算値とを比較するものとして説明したが、本発明はこれに限定されず、最上段のラインまたは１つ下のラインを選択して注目ライン上の画素の位置の加算値と対応する画素の位置の加算値を比較するようにしてもよい。
【００６３】
また、本実施形態において、画素の位置ずれは１画素分ずれている場合を説明したが、本発明は位置ずれの画素数に限定されるものではなく、２画素分以上の位置ずれが発生していても適用することができる。この場合、算出部４３は、位置ずれの方向に加えて、画素の位置の加算値の比較の際に、加算値の差分を位置ずれ量として各画素の位置と対応させ、パターン切替部４４は、基準となるパターンに対して、位置ずれの方向および位置ずれ量を考慮したエッジ検出パターンに切り替えるようにすればよい。
【００６４】
また、本実施形態において、パターン切替部４４は、エッジ部分を検出するために用いられるエッジ検出パターンを予め設定されているパターンの中から切り替えるものとして説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではなく、パターン切替部４４は、基準となるエッジ検出パターンに対して、位置ずれ情報に基づいて異なるエッジ検出パターンを動的に生成するようにしてもよい。この場合、パターン切替部４４は、エッジ検出部４５に対して生成されたエッジ検出パターンを用いるよう指示すればよい。
【符号の説明】
【００６５】
１ 画像形成装置
２ 端末装置
３ ネットワーク
４ 画像処理装置
１１ ＣＰＵ
１２ メモリ
１３ 記憶装置
１４ 通信ＩＦ
１５ ＵＩ装置
１６ スキャナ
１７ プリンタ
１８ 制御バス
４１ 画像拡大縮小処理部
４２ 記憶部
４３ 算出部
４４ パターン切替部
４５ エッジ検出部
４６ 階調補正処理部
４７ 露光部
５０ 黒画素
５１ 挿入画素
５２ 間引き位置
５３ 左ずれ領域
５４ 右ずれ領域
５５ エッジずれ画素
５６ 強調画素
６１、６４ 基準パターン
６２、６５ 左ずれパターン
６３、６６ 右ずれパターン
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置、画像形成装置およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、画像データに対して倍率補正を行う場合に、間引く画素の位置を各ラインでずらすことにより細線が消えてしまうような弊害を防止する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−１１８３７２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明の目的は、画素の挿入または間引きによる局所的な画素の位置ずれが発生した場合でも、本構成を有していない場合と比較して、エッジ部分の検出をより正確に行うことが可能な画像処理装置、画像形成装置およびプログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
請求項１に係る本発明は、画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行う拡大縮小処理手段と、
前記拡大縮小処理手段により、画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各行毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出する算出手段と、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するエッジ検出手段と、前記算出手段によって算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、前記エッジ検出手段がエッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替える切替手段とを有する画像処理装置である。
【０００６】
請求項２に係る本発明は、前記エッジ検出手段により検出されたエッジ部分の画素の画素値を変更してエッジを強調するエッジ強調手段をさらに有する請求項１に記載の画像処理装置である。
【０００７】
請求項３に係る本発明は、前記算出手段により算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ部分の画素のうち、位置ずれしている画素の画素値を変更する画素値変更手段をさらに有する請求項１または２記載の画像処理装置である。
【０００８】
請求項４に係る本発明は、画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行う拡大縮小処理手段と、
前記拡大縮小処理手段により、画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける副走査方向の各列毎に、それぞれの画素の位置が右または左に隣接する他の列上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向にずれているかを示す位置ずれ情報を算出する算出手段と、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するエッジ検出手段と、
前記算出手段によって算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、前記エッジ検出手段がエッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替える切替手段とを有する画像処理装置である。
【０００９】
請求項５に係る本発明は、画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行う拡大縮小処理手段と、
前記拡大縮小処理手段により、画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各行毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出する算出手段と、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するエッジ検出手段と、
前記算出手段によって算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、前記エッジ検出手段がエッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替える切替手段と、
前記エッジ検出手段により検出されたエッジ部分の画素の画素値を変更してエッジを強調するエッジ強調手段と、
前記エッジ強調手段によりエッジが強調された画像データを出力する出力手段とを有する画像形成装置である。
【００１０】
請求項６に係る本発明は、前記算出手段により算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ部分の画素のうち、位置ずれしている画素の画素値を変更する画素値変更手段をさらに有する請求項５に記載の画像形成装置である。
【００１１】
請求項７に係る本発明は、画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行うステップと、
画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶するステップと、
記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各行毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出するステップと、
算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替えるステップと、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するステップとをコンピュータに実行させるためのプログラムである。
【発明の効果】
【００１２】
請求項１に係る本発明によれば、画素の挿入または間引きによる局所的なずれが発生した場合でも、本構成を有していない場合と比較して、エッジ部分の検出をより正確に行うことが可能な画像処理装置を提供することができる。
【００１３】
請求項２に係る本発明によれば、請求項１により得られる効果に加えて、画像データ中のエッジ部分を視覚的に目立たせることが可能な画像処理装置を提供することができる。
【００１４】
請求項３に係る本発明によれば、請求項１により得られる効果に加えて、画像データ中のエッジ部分のずれを視覚的に目立たなくすることが可能な画像処理装置を提供することができる。
【００１５】
請求項４に係る本発明によれば、画素の挿入または間引きによる局所的なずれが発生した場合でも、本構成を有していない場合と比較して、エッジ部分の検出をより正確に行うことが可能な画像処理装置を提供することができる。
【００１６】
請求項５に係る本発明によれば、画素の挿入または間引きによる局所的なずれが発生した場合でも、本構成を有していない場合と比較して、より正確にエッジ部分が検出された画像を形成することが可能な画像形成装置を提供することができる。
【００１７】
請求項６に係る本発明によれば、請求項５により得られる効果に加えて、画像データ中のエッジ部分のずれが視覚的に目立たない画像を形成することが可能な画像形成装置を提供することができる。
【００１８】
請求項７に係る本発明によれば、画素の挿入または間引きによる局所的なずれが発生した場合でも、本構成を有していない場合と比較して、エッジ部分の検出をより正確に行うことが可能なプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の一実施形態における位置ずれの一例を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態の印刷システムを示す図である。
【図３】本発明の一実施形態における画像形成装置１のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の一実施形態における画像処理装置４の機能構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の一実施形態の画像処理装置４における全体の処理の流れを示すフローチャートである。
【図６】本発明の一実施形態の記憶部４２において記憶される挿入された画素の位置および間引きされた画素の位置の一例を示す図である。
【図７】本発明の一実施形態の画像処理装置４における位置ずれ情報を算出する流れを示すフローチャートである。
【図８】本発明の一実施形態における位置ずれ情報の一例を示す図である。
【図９】本発明の一実施形態の画像処理装置４におけるエッジ部分を検出する流れを示すフローチャートである。
【図１０】本発明の一実施形態におけるエッジ検出方法の一例を示す図である。
【図１１】本発明の一実施形態におけるエッジ強調方法の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
[背景]
まず、本発明の理解を助けるために、画素の挿入または間引きによる局所的な画素のずれ（位置ずれ）について図１を参照して説明する。
【００２１】
画像処理において、画像主副走査倍率補正の処理を行う場合に、画素の挿入または間引きを行う補正が行われることがある。
【００２２】
しかし、画素の挿入または間引きの位置を均一に配置する場合、注目点が連続することで視覚的に目立ちやすくなってしまう。従って、画像主副走査倍率補正の処理において、画素の挿入または間引きの位置を不均一にする方法が採用される場合がある。しかし、補正箇所を不均一に配置する場合、画像主副走査方向に画素の位置ずれが発生し、この位置ずれの領域がエッジを跨ぐことで、エッジ部分の画素が本来の配列と異なってしまう。
【００２３】
例えば、図１（Ａ）に示すような画像データに対して画素の挿入を行い、画像を走査方向に拡大する処理を行う場合について説明する。図１（Ａ）における画像データは、複数の黒画素５０からなる領域を有する。また、図１（Ｂ）は、図１（Ａ）の画像データに対して、各ライン毎に１画素ずつ挿入画素５１が挿入されて走査方向に１画素分だけ拡大される処理が行われた後の画像データを示している。
【００２４】
上述したように、拡大処理において、挿入画素５１は画像データに対して不均一に配置される。ここで、図１（Ｂ）では、挿入画素５１は、複数の黒画素５０からなる領域上に配置されていないため、エッジ部分において位置ずれは発生していない。しかし、図１（Ｃ）に示されるように、挿入画素５１が複数の黒画素５０からなる領域上に配置される場合、挿入画素５１の分走査方向に移動する黒画素５０と、移動しない黒画素５０が存在することにより位置ずれが発生する。そして、この位置ずれが発生することによって、エッジ部分の画素が本来の配列とは異なる配列となってしまうために、エッジの検出パターンと注目画素の近傍画素の配置パターンとを比較してエッジを検出する際に、正確にエッジが検出されない恐れがある。
【００２５】
また、縮小処理についても、画素が間引きされて画像データが縮小されることにより、複数の黒画素５０からなる領域のうちいずれかの画素が間引かれることによって位置ずれが発生し、エッジ部分の画素が本来の配列と異なってしまうために、エッジの検出パターンと注目画素の近傍画素の配置パターンとを比較してエッジを検出する際に、正確にエッジが検出されない恐れがある。
【００２６】
[実施形態]
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００２７】
図２は本発明の一実施形態の画像形成システムを示す図である。
【００２８】
本実施形態における画像形成装置１は、ネットワーク３を介して端末装置２と接続されている。画像形成装置１は、端末装置２からネットワーク３を介して送信されてきた画像データ、および図示しない光学的に画像を読み取るプリンタなどの読み取り装置から送信されてきた画像データを用紙に印刷する。また、本実施形態において、画像形成装置１には、内部に画像処理装置４が設置されている。
【００２９】
次に、画像形成装置１の構成を図３を参照して詳細に説明する。
【００３０】
画像形成装置１は、図３に示されるように、ＣＰＵ１１、メモリ１２、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）等の記憶装置１３、ネットワーク１０を介して外部の装置等との間でデータの送信及び受信を行う通信インタフェース（ＩＦ）１４、タッチパネル又は液晶ディスプレイ並びにキーボードを含むユーザインタフェース（ＵＩ）装置１５、スキャナ１６、プリンタ１７を有する。これらの構成要素は、制御バス１８を介して互いに接続されている。
【００３１】
ＣＰＵ１１は、メモリ１２または記憶装置１３に格納された制御プログラムに基づいて所定の処理を実行して、画像形成装置１に設置された画像形成装置４の動作を制御する。なお、本実施形態では、ＣＰＵ１１は、メモリ１２または記憶装置１３内に格納された制御プログラムを読み出して実行するものとして説明したが、当該プログラムをＣＤ−ＲＯＭ等の記憶媒体に格納してＣＰＵ１１に提供することも可能である。
【００３２】
図４は、上記の制御プログラムが実行されることにより実現される画像形成装置１内の画像処理装置４の機能構成を示すブロック図である。
【００３３】
画像処理装置４は、図４に示されるように、画像拡大縮小処理部４１、記憶部４２、算出部４３、パターン切替部４４、予め設定されているエッジ検出パターンに基づいて画像データのエッジ部分を検出するエッジ検出部４５、画像データの階調を補正する階調補正処理部４６を有する。そして、階調補正処理部４６の補正に基づいて光書込みを行う露光部４７が画像処理装置４と接続されている。なお、本実施形態において画像処理装置４は、画像形成装置１の内部に設置されているものとして説明するが、本発明はこのような構成に限定されず、画像形成装置１から独立させるようにしてもよい。
【００３４】
画像拡大縮小処理部４１は、画像データに対して画素の挿入による拡大処理または画素の間引きによる縮小処理を行う。
【００３５】
記憶部４２は、画像拡大縮小処理部４１において、画像の拡大および縮小がされた場合に挿入された画素の位置および間引きされた画素の位置の情報を記憶する。このとき、記憶部４２は、挿入された画素の位置を２、間引きされた画素の位置を０、それ以外の画素の位置を１として表した保持バッファ値を記憶する。
【００３６】
算出部４３は、記憶部４２に記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各ライン毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出する。
【００３７】
具体的には、算出部４３は、記憶部４２に記憶されている保持バッファ値を参照して、画像データのライン毎にラインの先頭からその画素の位置までの保持バッファ値を加算する。さらに、算出部４３は、各画素の位置にそれぞれの加算値が対応付けられた加算値情報を生成する。そして、算出部４３は、注目ラインの走査方向に１つ上のラインを選択し、注目ラインの画素の位置と、注目ラインの１つ上のライン上において注目ラインの画素の位置と対応する位置の画素との加算値を比較する。
【００３８】
ここで、算出部４３は、加算値情報を参照して、注目ラインの画素の位置の加算値が対応する画素の位置の加算値よりも小さい場合は、走査方向に対して加算値の差分左ずれであるという情報を位置ずれ情報として算出する。また、算出部４３は、注目ラインの画素の位置の加算値が、対応する画素の位置の加算値よりも大きい場合は、走査方向に対して加算値の差分右ずれであるという情報を位置ずれ情報として算出する。さらに、算出部４３は、注目ラインの画素の位置の加算値と対応する画素の位置の加算値が同じである場合は、位置ずれ無しであるという情報を位置ずれ情報として算出する。
【００３９】
パターン切替部４４は、エッジ検出部４５によってエッジ部分の検出が行われる際、算出部４３によって算出された位置ずれ情報を参照して、画素のずれ方向および何画素分ずれているかに応じて、エッジ検出部４５がエッジの検出に用いるパターンを切り替える。
【００４０】
次に、本実施形態の画像処理装置４の動作を図面を参照して詳細に説明する。
【００４１】
まず、画像処理装置４の動作の全体的な流れを図５を参照して説明する。
【００４２】
まず、画像拡大縮小処理部４１は、スキャナ１６により読み取られた画像データまたは端末装置２から送信されてきた画像データに対して、図６（Ａ）に示されるように、挿入画素５１が挿入されることによる拡大処理、および間引き画素５２が間引かれることによる縮小処理を行う。この際、記憶部４２は、図６（Ｂ）に示されるように、挿入画素５１および間引き画素５２の位置を記憶する（ステップＳ１０１）。ここで、図６（Ｂ）に示されるように、記憶部４２は、挿入画素５１の位置を２、間引き画素５２の位置を０、それ以外の画素の位置を１として表した保持バッファ値を記憶する。なお、保持バッファ値として用いる値は挿入画素５１の位置、間引き画素５２の位置、それ以外の画素の位置をそれぞれ区別できる値であれば数に限定されるものではない。
【００４３】
次に、算出部４３は、図６（Ｃ）に示されるように、拡大および縮小処理後の画像データの走査方向の各ラインに対して、ライン毎にラインの先頭からその画素の位置までの保持バッファ値を走査方向順に加算する（ステップＳ１０２）。
【００４４】
そして、算出部４３は、保持バッファ値の加算値が各画素の位置に対応付けられた加算値情報を生成する（ステップＳ１０３）。例えば、算出部４３は、図６（Ｃ）に示されるように、１段目のラインの場合、左から順に、１つ目の画素の位置には１、２つ目の画素の位置には３、３つ目の画素の位置には４・・・というようにラインの先頭からその画素の位置までの保持バッファ値を加算して加算値情報を生成する。
【００４５】
そして、算出部４３は、ステップＳ１０３で生成された加算値情報に基づいて、位置ずれ情報を算出する（ステップＳ１０４）。なお、位置ずれ情報の算出方法の詳細は後述する。
【００４６】
次に、エッジ検出部４５は、画像データ中から１つの画素を順次選択してこれを注目画素とし、注目画素の近傍の画素の配置パターンと、パターン切替部４４が指示したエッジ検出パターンとを比較することによってエッジ部分を検出する（ステップＳ１０５）。エッジ部分の検出方法の詳細は後述する。
【００４７】
最後に、階調補正処理部４６は、画像データに対して階調の補正を行う。ここで、ステップＳ１０５において検出されたエッジ部分の画素に対して、画素値を変更して強調する補正を行う（ステップＳ１０６）。
【００４８】
次に、ステップＳ１０４における位置ずれ情報の算出方法の流れを図７を参照して詳細に説明する。
【００４９】
まず、算出部４３は、画像データ中のラインの１つを注目ラインとし（ステップＳ２０１）、ステップＳ１０３において生成された加算値情報を参照して、注目ライン上の各画素の位置の加算値と、注目ラインの１ライン上に隣接するライン上の対応する画素の位置の加算値とを比較して、画素の位置の加算値の差を位置ずれ情報として算出する（ステップＳ２０２）。
【００５０】
ここで、加算値の比較において、例えば、算出部４３が２段目のラインに注目し、１段目のラインと２段目のラインを比較する場合について、図８（Ａ）を参照して説明する。まず、１段目のライン上および２段目のライン上の左から１番目の画素の位置においては、算出部４３は、画素の位置の加算値がともに１であるため、位置ずれなしと判定する。また、１段目のライン上および２段目のライン上の左から２番目の画素の位置おいては、１段目のライン上の画素の位置の加算値が３、２段目のライン上の画素の位置の加算値が２となり、２段目のライン上の画素の位置の加算値が１段目のライン上の画素の位置の加算値よりも１小さいため、算出部４３は、２段目のライン上の左から２番目の画素の位置を左ずれ領域５３と判定する。また、１段目のライン上および２段目のライン上の左から９番目の画素の位置においては、１段目のライン上の画素の位置の加算値が９、２段目のライン上の画素の位置の加算値が１０となり、２段目のライン上の画素の位置の加算値が１段目の画素の位置の加算値よりも１大きいため、算出部４３は、２段目のライン上の画素の位置を右ずれ領域５４と判定する。
【００５１】
さらに、算出部４３は、上記の処理を３段目のライン上の各画素の位置、および４段目のライン上の各画素の位置に対しても行うことにより、図８（Ｂ）に示されるような位置ずれ情報を算出する。なお、図８（Ｂ）は、各ライン上の左から１番目から１０番目までの画素の位置ずれ情報を示している。ここで、図８（Ｂ）において、Ｎはラインずれ無しの画素、Ｌは左ずれ領域５３の画素、Ｒは右ずれ領域５４の画素を示している。
【００５２】
そして、全てのラインで位置ずれ情報が算出された場合、上記処理を終了する（ステップＳ２０４）。
【００５３】
次に、ステップＳ１０５におけるエッジの検出方法の流れを図９を参照して詳細に説明する。
【００５４】
まず、エッジ検出部４５は、画像データ中の画素を１つ選択し、これを注目画素とする（ステップＳ３０１）。
【００５５】
次に、パターン切替部４４は、注目画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ検出パターンを切り替える（ステップＳ３０２）。具体的には、注目画素が位置ずれしている画素でない場合、パターン切替部４４は、図１０（Ａ）に示されるような基準パターン６１を用いるようエッジ検出部４５に指示する。また、パターン切替部４４は、注目画素が左ずれしている画素である場合には、左ずれパターン６２を用いるようエッジ検出部４５に指示し、注目画素が右ずれしている画素である場合には、右ずれパターン６３を用いるようエッジ検出部４５に指示する。ここで、左ずれパターン６２は、基準パターン６１に対して、２段目のラインが加算値の差分左にずれて中央の画素が黒画素となっている。また、右ずれパターン６３は、基準パターン６１に対して、１段目のラインおよび３段目のラインが加算値の差分左にずれて中央の画素の上下に隣接する画素が黒画素となっている。
【００５６】
そして、エッジ検出部４５は、パターン切替部４４によって指示されたエッジ検出パターンを用いて、注目画素の近傍８画素の配置パターンがエッジ検出パターンと一致するか否かを判定する（ステップＳ３０３）。ここで、注目画素の近傍８画素の配置パターンとエッジ検出パターンが一致すると判定された場合、エッジ検出部４５は、当該注目画素はエッジ部分であると判定する（ステップＳ３０４）。また、注目画素の近傍８画素の配置パターンがエッジ検出パターンと不一致と判定された場合、エッジ検出部４５は、当該注目画素はエッジ部分と判定せず、ステップＳ３０５に進む。
【００５７】
そして、注目画素のエッジ判定が行われた後、エッジ検出部４５は、画像データ中に未選択の画素が存在するか否かを判定する（ステップＳ３０５）。ここで、画像データ中に未選択の画素が存在する場合、エッジ検出部４５は、ステップＳ３０１に戻って未選択の画素を注目画素とし、上記と同様の処理を行う。また、画像データ中に未選択の画素が存在しない場合、エッジ検出部４５は、エッジ検出の処理を終了する。
【００５８】
上記の処理によって、エッジ部分が検出された後、階調補正処理部４６は、黒画素５０の画素の画素値を変更してエッジを強調する。例えば、図１１に示されるように、階調補正処理部４６は、黒画素５０のうち、ラインずれにより左ずれを起こしているエッジずれ画素５５に対しては、薄くして目立たなくなるような画素値に変更する。また、階調補正処理部４６は、黒画素５０の領域のうち、エッジ部分に挟まれた強調画素５７に対しては、濃くして目立つような画素値に変更する。
【００５９】
さらに、エッジが強調された後、階調補正処理部４６は、上記の処理によってエッジ部分が検出および強調された画像データを露光部４７に送信し、露光部４７は該画像データに基づいて光書込みを行う。
【００６０】
なお、本実施形態においては、走査方向に対する位置ずれ情報を算出しているが、副走査方向に対する位置ずれ情報を算出するようにしてもよい。この場合、本実施形態における算出部４３の保持バッファ値の加算および加算値を比較する処理を副走査方向の各列毎に行えばよい。
【００６１】
なお、本実施形態では、左側のエッジ部分を検出する場合について説明したが、本発明は、右側のエッジ部分を検出する場合も同様の方法を用いることができる。例えば、右側のエッジ部分を検出する場合、図１０（Ｂ）に示されるように、基準パターン６１とは対称的に左側に黒画素が直線的に配置された基準パターン６４を用いるようにしてもよい。この場合、注目画素が左ずれである場合は、左ずれパターン６５、注目画素が右ずれである場合は、右ずれパターン６６を用いるようにしてもよい。
【００６２】
さらに、本実施形態においては、注目ライン上の画素の位置の加算値と１つ上のライン上の対応する画素の位置の加算値とを比較するものとして説明したが、本発明はこれに限定されず、最上段のラインまたは１つ下のラインを選択して注目ライン上の画素の位置の加算値と対応する画素の位置の加算値を比較するようにしてもよい。
【００６３】
また、本実施形態において、画素の位置ずれは１画素分ずれている場合を説明したが、本発明は位置ずれの画素数に限定されるものではなく、２画素分以上の位置ずれが発生していても適用することができる。この場合、算出部４３は、位置ずれの方向に加えて、画素の位置の加算値の比較の際に、加算値の差分を位置ずれ量として各画素の位置と対応させ、パターン切替部４４は、基準となるパターンに対して、位置ずれの方向および位置ずれ量を考慮したエッジ検出パターンに切り替えるようにすればよい。
【００６４】
また、本実施形態において、パターン切替部４４は、エッジ部分を検出するために用いられるエッジ検出パターンを予め設定されているパターンの中から切り替えるものとして説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではなく、パターン切替部４４は、基準となるエッジ検出パターンに対して、位置ずれ情報に基づいて異なるエッジ検出パターンを動的に生成するようにしてもよい。この場合、パターン切替部４４は、エッジ検出部４５に対して生成されたエッジ検出パターンを用いるよう指示すればよい。
【符号の説明】
【００６５】
１ 画像形成装置
２ 端末装置
３ ネットワーク
４ 画像処理装置
１１ ＣＰＵ
１２ メモリ
１３ 記憶装置
１４ 通信ＩＦ
１５ ＵＩ装置
１６ スキャナ
１７ プリンタ
１８ 制御バス
４１ 画像拡大縮小処理部
４２ 記憶部
４３ 算出部
４４ パターン切替部
４５ エッジ検出部
４６ 階調補正処理部
４７ 露光部
５０ 黒画素
５１ 挿入画素
５２ 間引き位置
５３ 左ずれ領域
５４ 右ずれ領域
５５ エッジずれ画素
５６ 強調画素
６１、６４ 基準パターン
６２、６５ 左ずれパターン
６３、６６ 右ずれパターン
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行う拡大縮小処理手段と、
前記拡大縮小処理手段により、画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各行毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出する算出手段と、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するエッジ検出手段と、
前記算出手段によって算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、前記エッジ検出手段がエッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替える切替手段と、
を有する画像処理装置。
【請求項２】
前記エッジ検出手段により検出されたエッジ部分の画素の画素値を変更してエッジを強調するエッジ強調手段をさらに有する請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記算出手段により算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ部分の画素のうち、位置ずれしている画素の画素値を変更する画素値変更手段をさらに有する請求項１または２記載の画像処理装置。
【請求項４】
画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行う拡大縮小処理手段と、
前記拡大縮小処理手段により、画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける副走査方向の各列毎に、それぞれの画素の位置が右または左に隣接する他の列上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向にずれているかを示す位置ずれ情報を算出する算出手段と、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するエッジ検出手段と、
前記算出手段によって算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、前記エッジ検出手段がエッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替える切替手段と、
を有する画像処理装置。
【請求項５】
画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行う拡大縮小処理手段と、
前記拡大縮小処理手段により、画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各行毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出する算出手段と、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するエッジ検出手段と、
前記算出手段によって算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、前記エッジ検出手段がエッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替える切替手段と、
前記エッジ検出手段により検出されたエッジ部分の画素の画素値を変更してエッジを強調するエッジ強調手段と、
前記エッジ強調手段によりエッジが強調された画像データを出力する出力手段と、
を有する画像形成装置。
【請求項６】
前記算出手段により算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ部分の画素のうち、位置ずれしている画素の画素値を変更する画素値変更手段をさらに有する請求項５に記載の画像形成装置。
【請求項７】
画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行うステップと、
画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶するステップと、
記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各行毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出するステップと、
算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替えるステップと、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するステップと、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項１】
画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行う拡大縮小処理手段と、
前記拡大縮小処理手段により、画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各行毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出する算出手段と、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するエッジ検出手段と、
前記算出手段によって算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、前記エッジ検出手段がエッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替える切替手段と、
を有する画像処理装置。
【請求項２】
前記エッジ検出手段により検出されたエッジ部分の画素の画素値を変更してエッジを強調するエッジ強調手段をさらに有する請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記算出手段により算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ部分の画素のうち、位置ずれしている画素の画素値を変更する画素値変更手段をさらに有する請求項１または２記載の画像処理装置。
【請求項４】
画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行う拡大縮小処理手段と、
前記拡大縮小処理手段により、画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける副走査方向の各列毎に、それぞれの画素の位置が右または左に隣接する他の列上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向にずれているかを示す位置ずれ情報を算出する算出手段と、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するエッジ検出手段と、
前記算出手段によって算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、前記エッジ検出手段がエッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替える切替手段と、
を有する画像処理装置。
【請求項５】
画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行う拡大縮小処理手段と、
前記拡大縮小処理手段により、画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各行毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出する算出手段と、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するエッジ検出手段と、
前記算出手段によって算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、前記エッジ検出手段がエッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替える切替手段と、
前記エッジ検出手段により検出されたエッジ部分の画素の画素値を変更してエッジを強調するエッジ強調手段と、
前記エッジ強調手段によりエッジが強調された画像データを出力する出力手段と、
を有する画像形成装置。
【請求項６】
前記算出手段により算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ部分の画素のうち、位置ずれしている画素の画素値を変更する画素値変更手段をさらに有する請求項５に記載の画像形成装置。
【請求項７】
画像データに対して、画素の挿入による拡大または画素の間引きによる縮小の処理を行うステップと、
画像データの拡大または縮小の処理が行われた際に、挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置を記憶するステップと、
記憶されている挿入された画素の位置または間引きされた画素の位置の情報に基づいて、拡大または縮小された画像データにおける主走査方向の各行毎に、それぞれの画素の位置が上または下に隣接する他の行上の対応する画素の位置に対して何画素分およびどちらの方向に位置ずれしているかを示す位置ずれ情報を算出するステップと、
算出された画素の位置ずれ情報に基づいて、エッジ部分の検出の際に使用する検出パターンを切り替えるステップと、
前記画像データにおける注目画素の近傍画素の配置パターンと、エッジの検出パターンとを比較することにより、前記画像データ中のエッジ部分を検出するステップと、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【公開番号】特開２０１３−２６９１３（Ｐ２０１３−２６９１３Ａ）
【公開日】平成２５年２月４日（２０１３．２．４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１６１１３９（Ｐ２０１１−１６１１３９）
【出願日】平成２３年７月２２日（２０１１．７．２２）
【出願人】（０００００５４９６）富士ゼロックス株式会社 (21,908)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年２月４日（２０１３．２．４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年７月２２日（２０１１．７．２２）
【出願人】（０００００５４９６）富士ゼロックス株式会社 (21,908)
【Ｆターム（参考）】
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