自動分析装置
【課題】特に複数のモジュールに対し、複数のメンテナンス機能を同時に実施するときに、メンテナンスに要する時間を事前に確認できるようにして、ユーザの経験に頼らなくても作業スケジュールを予測しやすい自動分析装置を提供することにある。
【解決手段】入力部１０１により、ユーザが希望するメンテナンス機能及びメンテナンス機能を実施するモジュールを指定する。所要時間算出部１０８は、入力部１０１により指定されたモジュールがメンテナンスに要する所要時間を算出する。表示部１０２には、所要時間算出部１０８により算出された所要時間を表示する。
【解決手段】入力部１０１により、ユーザが希望するメンテナンス機能及びメンテナンス機能を実施するモジュールを指定する。所要時間算出部１０８は、入力部１０１により指定されたモジュールがメンテナンスに要する所要時間を算出する。表示部１０２には、所要時間算出部１０８により算出された所要時間を表示する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自動分析装置に係り、特に、自動分析装置のメンテナンスを行う際に好適な自動分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の自動分析装置は、ユーザがメンテナンス機能を個々に実施したり、あるいは、複数同時に実施するなどして、実施すべきメンテナンスを個々に選択するようにしている。近年では、人員削減、検体分析処理量の増加、また緊急を要する検体への即時対応など、ルーチン業務が過密になってきている。メンテナンススケジュールにおいて十分な空き時間にメンテナンスを実施できる余裕がある場合は良いが、過密になるルーチン業務スケジュールになればなるほど、空き時間に適切なメンテナンスを実施する必要がでてきている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
自動分析装置において、十分な空き時間に実施されるメンテナンスは勿論、特に分析スケジュールの合間などに行われるメンテナンスは、選択モジュール、実行回数などの実行条件によりメンテナンス所要時間が変化する。
【０００４】
しかしながら、従来の自動分析装置では、メンテナンスに要する時間は、メンテナンスを実行しなければ、そのメンテナンスに要する時間が把握できなかった。そのため、その時点で実行すべきかどうかは、ユーザの経験、記憶に頼ることになっていたため、特に経験の浅いユーザには、あらかじめ予測することは困難であった。
【０００５】
本発明の目的は、特に複数のモジュールに対し、複数のメンテナンス機能を同時に実施するときに、メンテナンスに要する時間を事前に確認できるようにして、ユーザの経験に頼らなくても作業スケジュールを予測しやすい自動分析装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
（１）上記目的を達成するために、本発明は、メンテナンスを必要とするモジュールを備えた自動分析装置であって、ユーザが希望するメンテナンス機能及びメンテナンス機能を実施するモジュールを指定する入力手段と、該入力手段により指定されたモジュールがメンテナンスに要する所要時間を算出する所要時間算出手段と、該所要時間算出手段により算出された前記所要時間を表示する手段を備えるようにしたものである。
かかる構成により、メンテナンスに要する時間を事前に確認できるようにして、ユーザの経験に頼らなくても作業スケジュールを予測し得るものとなる。
【０００７】
（２）上記（１）において、好ましくは、前記所要時間算出手段は、個々のメンテナンス機能の所要時間以外に、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間、複数指定されたメンテナンス機能のトータル所要時間を算出するようにしたものである。
【０００８】
（３）上記（１）において、好ましくは、前記入力手段により指定された実行パラメータによりメンテナンス機能を実施するメンテナンス実行部を備えるようにしたものである。
【０００９】
（４）上記（１）において、好ましくは、前記入力手段により指定された実行パラメータを記憶する実行パラメータ記憶部を備えるようにしたものである。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、特に複数のモジュールに対し、複数のメンテナンス機能を同時に実施するときに、メンテナンスに要する時間を事前に確認できるようにして、ユーザの経験に頼らなくても作業スケジュールを予測しやすいものとなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、図１〜図３を用いて、本発明の一実施形態による自動分析装置の構成及び動作について説明する。
最初に、図１を用いて、本実施形態による自動分析装置の構成について説明する。
図１は、本発明の一実施形態による自動分析装置の全体構成を示す概略図である。
【００１２】
本実施形態の自動分析装置は、操作部１と、検体試料容器２が設置された搬送ラック３と、試薬容器８が設置された試薬ディスク７と、反応容器６が設置された反応ディスク５と、検体試料容器２の検体試料を反応容器６に分注する検体試料分注機構４と、試薬容器８の試薬を反応容器６に分注する試薬分注機構９と、反応容器６の検体試料などを攪拌する攪拌機構１０と、反応容器６内の分析対象成分の吸光度を読み取る光度計１１と、使用後の反応容器６などを洗浄する洗浄機構１２を備えている。試薬ディスク７には、試薬分注機構９が試薬容器８内の試薬を吸引するための開口部（図示省略）が開いている。
【００１３】
検体試料分注機構４、反応ディスク５、反応容器６、試薬ディスク７、試薬容器８、試薬分注機構９、攪拌機構１０、光度計１１、洗浄機構１２はひとつのモジュール内に存在し、モジュールはユーザの好みにより、複数台構成になることもある。
【００１４】
また、分析装置に用いるモジュールの構成は、図１に示したものと異なるものもある。例えば、図１に示したモジュールを第１モジュールと称すると、第２モジュールは、試薬に関する構成が異なる。すなわち、第１モジュールでは、試薬ディスク７に複数（例えば、４０種類）の試薬が搭載可能であり、１個の試薬分注機構７により選択した試薬を分注することで、第１モジュールは４０種類の分析項目の分析が可能な多機能なモジュールである。
【００１５】
それに対して、第２モジュールは、試薬ディスク７は備えておらず、その代わりに、複数（例えば、４台）の試薬分注機構を備えており、１台の試薬分注機構でモジュールの上部に配置された複数（例えば、４種類）の試薬ボトルから試薬を選択して分注可能であり、第２モジュールは１６種類の分析項目の分析が可能な多機能なモジュールである。試薬ボトルの容量は、試薬ディスク７に搭載された試薬容器の容量よりもかなり大きく、多数の検体への試薬供給が可能である。従って、第２モジュールは、分析項目数は限定されるが、一般的に実施される標準的な分析項目について多数の検体の分析が可能な標準的なモジュールである。
【００１６】
その他に、電解質分析が可能な第３モジュールや、免疫分析が可能な第４モジュールがある。
【００１７】
自動分析装置は、あらかじめ搭載可能なモジュール数が決まっている。例えば、４台のモジュールが搭載可能な場合には、第１の例として、２台の第１モジュールと、２台の第２モジュールを搭載したり、第２の例として、第１〜第４モジュールを各１台づつ搭載したりというように、自動分析装置を使用するユーザの要望に応じて、組み合わせるモジュールを変更することができる。
【００１８】
このような構成を持つ自動分析装置においては、反応容器、分注機構の洗浄を行うなど、常に安定した分析結果が得られるように、定期的なメンテナンスを実施する必要がある。
【００１９】
次に、図２を用いて、本実施形態による自動分析装置におけるメンテナンス機能を実行するための構成について説明する。
図２は、本発明の一実施形態による自動分析装置におけるメンテナンス機能を実行するための機能構成を示すブロック図である。
【００２０】
本実施形態の自動分析装置は、メンテナンス実行のために、メンテナンス機能を指定する入力部１０１と、実行パラメータを読み込み、および書き込みを制御する実行パラメータアクセス部１０４と、実行パラメータを記憶する実行パラメータ記憶部１０５と、実行パラメータの内容を実行単位に解析する実行パラメータ解析部１０３と、実行パラメータ解析部１０３から受け渡された実行パラメータごとにメンテナンスの所要時間を算出する所要時間算出部１０８と、所要時間算出部１０８から受け渡された所要時間情報をトータル所要時間、モジュールごとの所要時間、メンテナンス機能ごとの所要時間に整理し、表示部に受け渡す所要時間報告部１０６と、所要時間報告部１０６から受け渡された各所要時間を表示する表示部１０２と、実行パラメータ解析部１０３から受け渡された実行パラメータに従いメンテナンスを実施するメンテナンス実行部１０７とを備えている。
【００２１】
次に、動作を説明する。
【００２２】
最初に、入力部１０１よりユーザが好みのメンテナンス機能を単数、あるいは複数指定する。入力部１０１より指定された実行パラメータは、実行パラメータ解析部１０３に受け渡される。
【００２３】
実行パラメータ解析部１０３は、指定されたメンテナンス機能１つ１つに対して、指定されたモジュールを判断し、指定されたモジュールに対するメンテナンス機能、実行回数などの実行パラメータを所要時間算出部１０８へ順次受け渡す。
【００２４】
所要時間算出部１０８は、指定されたメンテナンス機能の実行スケジュールに従い、メンテナンス固定動作時間、実行回数による可変動作時間を基に算出する。また、所要時間算出部１０８は、指定されたメンテナンスの所要時間、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間を算出する。所要時間算出部１０８は、指定されたメンテナンスの所要時間、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間が算出すると、各所要時間は所要時間報告部１０６へ受け渡される。
【００２５】
所要時間報告部１０６は、ユーザが指定した全てのメンテナンス機能において、各メンテナンスの所要時間、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間を受け渡された時点で、ユーザが指定したメンテナンス機能全てのトータルメンテナンス所要時間を算出する。トータルメンテナンス所要時間は、指定されたメンテナンス機能において、同じモジュールに対する各メンテナンス所要時間の総和を求め、その中で一番所要時間の長いモジュールのメンテナンス所要時間をトータルメンテナンス所要時間とする。所要時間報告部１０６は、指定されたメンテナンス機能の各メンテナンス所要時間、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間、トータルメンテナンス所要時間を表示部１０２へ受け渡す。
【００２６】
表示部１０２は、指定されたメンテナンス機能の各メンテナンス所要時間、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間、トータルメンテナンス所要時間を表示する。
【００２７】
入力部１０１は、ユーザが単数、または複数指定したメンテナンス機能の実行パラメータの保存を指示した場合には、入力部１０１は、保存要求と共に実行パラメータを実行パラメータアクセス部１０４へ受け渡す。
【００２８】
実行パラメータアクセス部１０４は、実行パラメータの書き込みの指示を実行パラメータと共に実行パラメータ記憶部１０５へ受け渡す。
【００２９】
実行パラメータ記憶部１０５は、ハードディスクなどに実行パラメータを記憶する。
【００３０】
入力部１０１は、ユーザが単数、または複数指定したメンテナンス機能の実行パラメータの実行を指示した場合には、入力部１０１は、メンテナンス実行要求と共に実行パラメータを実行パラメータ解析部１０３へ受け渡す。
【００３１】
実行パラメータ解析部１０３は、入力部１０１がメンテナンス実行要求を行った場合、メンテナンス実行部１０７に対してメンテナンス実行要求と共に、ステップ３にて行った実行パラメータ解析と同じように受け渡す。また、同時に実行パラメータアクセス部１０４に対して、実行パラメータの書き込みの指示を実行パラメータと共に実行パラメータ記憶部１０５へ受け渡す。
【００３２】
実行パラメータ記憶部１０５は、ハードディスクなどに実行パラメータを記憶する。また、メンテナンス実行部１０７では、実行パラメータ、実行スケジュールに従いメンテナンスを実行する。
【００３３】
表示部１０２は、初めて画面表示した場合などは、実行パラメータアクセス部１０４に全てのメンテナンス機能の実行パラメータ取得要求を指示する。
【００３４】
実行パラメータアクセス部１０４は、全てのメンテナンス機能の実行パラメータ読み込み指示を実行パラメータ記憶部１０５へ受け渡す。
【００３５】
実行パラメータ記憶部１０５は、ハードディスクなどから全てのメンテナンス機能の実行パラメータを読み込み実行パラメータアクセス部１０５へ受け渡す。
【００３６】
実行パラメータアクセス部１０５は、全てのメンテナンス機能の実行パラメータを表示部１０２へ受け渡す。
【００３７】
表示部１０２は、全てのメンテナンス機能の実行パラメータを表示する。
【００３８】
次に、図３を用いて、本実施形態による自動分析装置におけるメンテナンス画面の構成について説明する。
図２は、本発明の一実施形態による自動分析装置におけるメンテナンス機能を実行するための機能構成を示すブロック図である。
【００３９】
図１に示した操作部１は、図２に示したマウスやキーボートなどの入力部１０１と、モニターなどの表示部１０２から構成されるＧＵＩである。図３に示すメンテナンス画面は、表示部１０２への表示例であり、この表示部１０２に対して、入力部１０１からメンテナンス項目を選択、指示することで、算出されたメンテナンス設定時の所要時間を表示できるものである。
【００４０】
ここで、図３を用いて、メンテナンス所要時間を表示する際の画面操作について説明する。
【００４１】
最初に、メンテナンス画面を開く。モジュールの構成は、自動分析装置の種類によって異なるため、表示されるモジュールの個数は変化する。
【００４２】
例えば、図３のメンテナンス画面では、メンテナンスを要するモジュールが、モジュールＡ、モジュールＢ、モジュールＣ、モジュールＤというように、４個のモジュールがある場合のレイアウト一例である。
【００４３】
次に、用途リストボックス２０４からユーザが利用したい用途を指定する。用途ボックス２０４には、例えば、図示のように、「ユーザ用途１」，「ユーザ用途２」，「ユーザ用途３」のように、複数のユーザ用途が表示されている。この中で、ユーザが利用したい用途をマウス等を用いて指定することで、指定されたユーザ用途に含まれる複数のメンテナンス項目が用途リストボックス２０４の右側のメンテナンス項目リストボックス２０７に表示される。図示の例では、「ユーザ用途１」が指定され、その右側のメンテナンス項目リストボックス２０７に、「ユーザ用途１」に含まれるメンテナンス項目として、「メンテナンスＡ」，「メンテナンスＢ」，「メンテナンスＣ」等の複数のメンテナンス項目が表示された状態を図示している。
【００４４】
さらに、メンテナンス項目リストボックス２０７からユーザが実施したいメンテナンス機能を指定する。単一のみではなく複数のメンテナンスを指定することが可能である。そのために、リストボックス２０７の項目ごとにチェックボックス２０６を設け、指定されていることが分かるような方法を取る。例えば、図３では、「メンテナンスＡ」，「メンテナンスＢ」が指定されている状態を示している。
【００４５】
次に、実行パラメータ２０３を指定する。例えば、図３では、モジュールＡ、モジュールＢ、モジュールＣ、モジュールＤが指定されている状態を示している。例えば、モジュールＡ、モジュールＢを指定し、モジュールＣ、モジュールＤを指定しないという指定の方法もとることができる。また、実行パラメータ２０３の下の方には、メンテナンスＡを実行する実行回数が、「Ｎ１」回であることを示している。実行パラメータ２０３は、主にモジュール指定、実行回数入力を行うが、その他にメンテナンスに必要なパラメータが存在する場合には、このエリアに表示してもよいものである。
【００４６】
以上の操作を実行すると、その時点の実行パラメータにより、トータル所要時間、モジュールごとの所要時間、メンテナンス機能ごとの所要時間を算出して表示する。表示場所については、ユーザに見やすい位置を考慮し配置する。例えば、図３では、トータル所要時間は、トータル所要時間２０２に表示し、モジュールごとの所要時間は、モジュールごとの所要時間２０１に表示し、メンテナンス機能ごとの所要時間は項目ごとの所要時間２０８に表示している。
【００４７】
例えば、所要時間２０８に示すように、「ユーザ用途１」の「メンテナンスＡ」の所要時間はｔ１Ａ分であり、「メンテナンスＢ」の所要時間はｔ１Ｂ分である。また、所要時間２０１に示すように、例えば、メンテナンスＡを４個のモジュール全てについて行い、メンテナンスＢを４個のモジュール全てについて行った場合、モジュールＡにおけるメンテナンスの所要時間はＴＡ分であり、モジュールＢにおけるメンテナンスの所要時間はＴＢ分であることが表示される。さらに、メンテナンスＡ，Ｂを全てのモジュールＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対して行うと、各モジュール毎に所要時間ＴＡ分，ＴＢ分，ＴＣ分，ＴＤ分は同じとなるが、例えば、メンテナンスＢは、モジュールＡ，Ｂのみで行ったり、モジュールＡ，Ｂの構成と，モジュールＣ，Ｄの構成が異なる場合には、各モジュール毎に所要時間ＴＡ分，ＴＢ分，ＴＣ分，ＴＤ分は異なる。そのような場合、トータル所要時間２０２は、各モジュール毎に所要時間ＴＡ分，ＴＢ分，ＴＣ分，ＴＤ分の最大値がＴＴ分として表示される。
【００４８】
なお、表示形態については、ユーザに効果的に知らせるようにするとよいものである。例えば、図３では、本発明で最も重要であるトータル所要時間２０２を他のメンテナンス画面内の文字よりも文字サイズを大きくし、かつ太字という表示形態で示している。
【００４９】
次に、保存ボタン２１０により、以上の操作で決定された内容を装置の記憶部に保存できる。
【００５０】
そして、実行ボタン２１１により、以上の操作で決定された内容にて装置メンテナンスを実施できる。また、以上の操作で決定された内容を同時に保存することもできる。
【００５１】
なお、用途リストボックス２０４及びメンテナンス項目リストボックス２０７には、スクロールボタン２０５が設けられている。
【００５２】
ここで、メンテナンスの設定の具体的な内容について説明する。前述したように、モジュールの種類としては、例えば、４種類あるが、ここでは、自動分析装置が４台のモジュールから構成可能であり、２台の第１モジュールと、２台の第２モジュールから構成されているものとする。図３に示したモジュールＡ，Ｂを第１モジュールとし、モジュールＣ，Ｄを第２モジュールとする。
【００５３】
最初に、図３の用途リストボックス２０４には、「ユーザ用途１」，「ユーザ用途２」が図示されているが、これらについて具体的に説明する。
【００５４】
自動分析装置におけるユーザ用途としては、例えば、「通常メンテナンス（電源立ち上げ時のメンテナンス）」，「プローブに関するトラブル発生時」，「機構系に関するトラブル発生時」，「試薬バーコードリーダに関するトラブル発生時」等がある。
【００５５】
次に、「通常メンテナンス（電源立ち上げ時のメンテナンス）」に対する「メンテナンス項目」としては、種々の箇所を洗浄する「洗浄」，流路内に試薬や洗剤を充填する「プライム（流路内の充填）」，サンプル・試薬の流路の気泡を抜く「エアパージ（ピペッタの気泡抜き）」，反応槽の水を新しい水と交換する「反応槽水交換」，光度計の光量を確認する「光度計チェック」，反応容器の水ブランク吸光度を測定する「セルブランク測定」，試薬切れセンサをチェックする「試薬切れセンサチェック」等がある。
【００５６】
ここで、前述の第１モジュールと第２モジュールとでは、各部の機構の構成が異なるため、メンテナンス項目によっては、それぞれメンテナンスに要する時間が異なる。また、第１モジュールでは必要だが、第２モジュールでは不要なものもある。例えば、「メンテナンス項目」が「洗浄」においては、セル洗浄，試薬ノズル洗浄，反応系洗浄，試薬分注流路洗浄等がある。ここで、試薬ノズル洗浄，試薬分注流路洗浄は、第１モジュールでは実施するが、第２モジュールでは不要なものである。また、セル洗浄は、第１モジュールでは１４分掛かるが、第２モジュールでは２４分掛かり、また、反応系洗浄は、第１モジュールでは３８分掛かるが、第２モジュールでは２５分掛かるというように、メンテナンスに要する時間が異なる。
【００５７】
また、「メンテナンス項目」が「プライム（流路内の充填）」においては、「試薬プライム」，「セル洗浄プライム」等がある。ここで、流路内に試薬を充填する「試薬プライム」は、第１モジュールでは実施されるが、第２モジュールでは実施されず、また、流路内に洗剤を充填する「セル洗浄プライム」は、第２モジュールでは実施されるが、第１モジュールでは実施されないものである。
【００５８】
実行パラメータ２０３の実行回数「Ｎ１」回は、１回で固定されているメンテナンス項目と、複数回で可変のメンテナンス項目がある。例えば、試薬流路を水で洗浄する「試薬ノズル洗浄」は、実行回数を可変設定できるものである。そして、「通常メンテナンス（電源立ち上げ時のメンテナンス）」は、毎日、自動分析装置の立ち上げ前に実行されるため、毎日１回は実行されるものであるので、「試薬ノズル洗浄」は、念のため「２」回に設定する。しかしながら、１週間に１度とか、１ヶ月に１度は、「試薬ノズル洗浄」の実行回数を「５」回として、念入りに洗浄するようにする。
【００５９】
以上のように、メンテナンス項目に応じて、モジュール毎にメンテナンスの所要時間が異なったり、モジュールによっては実施・不実施のメンテナンス項目があったり、実行回数が異なったりする場合がある。そのため、従来は、図３に示すメンテナンスの画面で，メンテナンス項目を選択しただけでは、どの程度時間が掛かるか不明であった。それに対して、本実施形態では、図３に示したように、各モジュール毎の所要時間、また、全体としてのトータル所要時間を表示できるようにしている。このような構成の自動分析装置であれば、ユーザは、メンテナンス機能を指定する、算出されたメンテナンス所要時間表示を見るという単純な行為により、空き時間内にメンテナンス実施が可能か容易に判断できるようになる。すぐに判断できることにより、少しでもメンテナンスに要する時間を省くことも可能となる。また、毎朝、装置を立ち上げて行う分析準備のためのメンテナンスにおいては、本発明の機能により、事前にメンテナンス所要時間を把握できるため、装置立上げ時間帯も逆算でき、無駄に早めに装置立上げを行わなくて済み、節電の効果もある。メンテナンスの所要時間を提示することで、メンテナンス自体だけでなく、メンテナンス以外のスケジュールを組み立てる際に効果がある。
【００６０】
以上、説明したように、本実施形態によれば、選択する、表示を見るという単純な行為により、メンテナンスの所要時間を認識でき、ユーザの検査スケジュールに合わせたメンテナンススケジュールを組むことができる。または、メンテナンススケジュールから次回検査スケジュールを組み立て可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】本発明の一実施形態による自動分析装置の全体構成を示す概略図である。
【図２】本発明の一実施形態による自動分析装置におけるメンテナンス機能を実行するための機能構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の一実施形態による自動分析装置におけるメンテナンス機能を実行するための機能構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００６２】
１…操作部
２…検体試料容器
３…搬送ラック
４…検体試料分注機構
５…反応ディスク
６…反応容器
７…試薬ディスク
８…試薬容器
９…試薬分注機構
１０…攪拌機構
１１…光度計
１２…洗浄機構
１０１…入力部
１０２…表示部
１０３…実行パラメータ解析部
１０４…実行パラメータアクセス部
１０５…実行パラメータ記憶部
１０６…所要時間報告部
１０７…メンテナンス実行部
１０８…所要時間算出部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自動分析装置に係り、特に、自動分析装置のメンテナンスを行う際に好適な自動分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の自動分析装置は、ユーザがメンテナンス機能を個々に実施したり、あるいは、複数同時に実施するなどして、実施すべきメンテナンスを個々に選択するようにしている。近年では、人員削減、検体分析処理量の増加、また緊急を要する検体への即時対応など、ルーチン業務が過密になってきている。メンテナンススケジュールにおいて十分な空き時間にメンテナンスを実施できる余裕がある場合は良いが、過密になるルーチン業務スケジュールになればなるほど、空き時間に適切なメンテナンスを実施する必要がでてきている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
自動分析装置において、十分な空き時間に実施されるメンテナンスは勿論、特に分析スケジュールの合間などに行われるメンテナンスは、選択モジュール、実行回数などの実行条件によりメンテナンス所要時間が変化する。
【０００４】
しかしながら、従来の自動分析装置では、メンテナンスに要する時間は、メンテナンスを実行しなければ、そのメンテナンスに要する時間が把握できなかった。そのため、その時点で実行すべきかどうかは、ユーザの経験、記憶に頼ることになっていたため、特に経験の浅いユーザには、あらかじめ予測することは困難であった。
【０００５】
本発明の目的は、特に複数のモジュールに対し、複数のメンテナンス機能を同時に実施するときに、メンテナンスに要する時間を事前に確認できるようにして、ユーザの経験に頼らなくても作業スケジュールを予測しやすい自動分析装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
（１）上記目的を達成するために、本発明は、メンテナンスを必要とするモジュールを備えた自動分析装置であって、ユーザが希望するメンテナンス機能及びメンテナンス機能を実施するモジュールを指定する入力手段と、該入力手段により指定されたモジュールがメンテナンスに要する所要時間を算出する所要時間算出手段と、該所要時間算出手段により算出された前記所要時間を表示する手段を備えるようにしたものである。
かかる構成により、メンテナンスに要する時間を事前に確認できるようにして、ユーザの経験に頼らなくても作業スケジュールを予測し得るものとなる。
【０００７】
（２）上記（１）において、好ましくは、前記所要時間算出手段は、個々のメンテナンス機能の所要時間以外に、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間、複数指定されたメンテナンス機能のトータル所要時間を算出するようにしたものである。
【０００８】
（３）上記（１）において、好ましくは、前記入力手段により指定された実行パラメータによりメンテナンス機能を実施するメンテナンス実行部を備えるようにしたものである。
【０００９】
（４）上記（１）において、好ましくは、前記入力手段により指定された実行パラメータを記憶する実行パラメータ記憶部を備えるようにしたものである。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、特に複数のモジュールに対し、複数のメンテナンス機能を同時に実施するときに、メンテナンスに要する時間を事前に確認できるようにして、ユーザの経験に頼らなくても作業スケジュールを予測しやすいものとなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、図１〜図３を用いて、本発明の一実施形態による自動分析装置の構成及び動作について説明する。
最初に、図１を用いて、本実施形態による自動分析装置の構成について説明する。
図１は、本発明の一実施形態による自動分析装置の全体構成を示す概略図である。
【００１２】
本実施形態の自動分析装置は、操作部１と、検体試料容器２が設置された搬送ラック３と、試薬容器８が設置された試薬ディスク７と、反応容器６が設置された反応ディスク５と、検体試料容器２の検体試料を反応容器６に分注する検体試料分注機構４と、試薬容器８の試薬を反応容器６に分注する試薬分注機構９と、反応容器６の検体試料などを攪拌する攪拌機構１０と、反応容器６内の分析対象成分の吸光度を読み取る光度計１１と、使用後の反応容器６などを洗浄する洗浄機構１２を備えている。試薬ディスク７には、試薬分注機構９が試薬容器８内の試薬を吸引するための開口部（図示省略）が開いている。
【００１３】
検体試料分注機構４、反応ディスク５、反応容器６、試薬ディスク７、試薬容器８、試薬分注機構９、攪拌機構１０、光度計１１、洗浄機構１２はひとつのモジュール内に存在し、モジュールはユーザの好みにより、複数台構成になることもある。
【００１４】
また、分析装置に用いるモジュールの構成は、図１に示したものと異なるものもある。例えば、図１に示したモジュールを第１モジュールと称すると、第２モジュールは、試薬に関する構成が異なる。すなわち、第１モジュールでは、試薬ディスク７に複数（例えば、４０種類）の試薬が搭載可能であり、１個の試薬分注機構７により選択した試薬を分注することで、第１モジュールは４０種類の分析項目の分析が可能な多機能なモジュールである。
【００１５】
それに対して、第２モジュールは、試薬ディスク７は備えておらず、その代わりに、複数（例えば、４台）の試薬分注機構を備えており、１台の試薬分注機構でモジュールの上部に配置された複数（例えば、４種類）の試薬ボトルから試薬を選択して分注可能であり、第２モジュールは１６種類の分析項目の分析が可能な多機能なモジュールである。試薬ボトルの容量は、試薬ディスク７に搭載された試薬容器の容量よりもかなり大きく、多数の検体への試薬供給が可能である。従って、第２モジュールは、分析項目数は限定されるが、一般的に実施される標準的な分析項目について多数の検体の分析が可能な標準的なモジュールである。
【００１６】
その他に、電解質分析が可能な第３モジュールや、免疫分析が可能な第４モジュールがある。
【００１７】
自動分析装置は、あらかじめ搭載可能なモジュール数が決まっている。例えば、４台のモジュールが搭載可能な場合には、第１の例として、２台の第１モジュールと、２台の第２モジュールを搭載したり、第２の例として、第１〜第４モジュールを各１台づつ搭載したりというように、自動分析装置を使用するユーザの要望に応じて、組み合わせるモジュールを変更することができる。
【００１８】
このような構成を持つ自動分析装置においては、反応容器、分注機構の洗浄を行うなど、常に安定した分析結果が得られるように、定期的なメンテナンスを実施する必要がある。
【００１９】
次に、図２を用いて、本実施形態による自動分析装置におけるメンテナンス機能を実行するための構成について説明する。
図２は、本発明の一実施形態による自動分析装置におけるメンテナンス機能を実行するための機能構成を示すブロック図である。
【００２０】
本実施形態の自動分析装置は、メンテナンス実行のために、メンテナンス機能を指定する入力部１０１と、実行パラメータを読み込み、および書き込みを制御する実行パラメータアクセス部１０４と、実行パラメータを記憶する実行パラメータ記憶部１０５と、実行パラメータの内容を実行単位に解析する実行パラメータ解析部１０３と、実行パラメータ解析部１０３から受け渡された実行パラメータごとにメンテナンスの所要時間を算出する所要時間算出部１０８と、所要時間算出部１０８から受け渡された所要時間情報をトータル所要時間、モジュールごとの所要時間、メンテナンス機能ごとの所要時間に整理し、表示部に受け渡す所要時間報告部１０６と、所要時間報告部１０６から受け渡された各所要時間を表示する表示部１０２と、実行パラメータ解析部１０３から受け渡された実行パラメータに従いメンテナンスを実施するメンテナンス実行部１０７とを備えている。
【００２１】
次に、動作を説明する。
【００２２】
最初に、入力部１０１よりユーザが好みのメンテナンス機能を単数、あるいは複数指定する。入力部１０１より指定された実行パラメータは、実行パラメータ解析部１０３に受け渡される。
【００２３】
実行パラメータ解析部１０３は、指定されたメンテナンス機能１つ１つに対して、指定されたモジュールを判断し、指定されたモジュールに対するメンテナンス機能、実行回数などの実行パラメータを所要時間算出部１０８へ順次受け渡す。
【００２４】
所要時間算出部１０８は、指定されたメンテナンス機能の実行スケジュールに従い、メンテナンス固定動作時間、実行回数による可変動作時間を基に算出する。また、所要時間算出部１０８は、指定されたメンテナンスの所要時間、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間を算出する。所要時間算出部１０８は、指定されたメンテナンスの所要時間、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間が算出すると、各所要時間は所要時間報告部１０６へ受け渡される。
【００２５】
所要時間報告部１０６は、ユーザが指定した全てのメンテナンス機能において、各メンテナンスの所要時間、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間を受け渡された時点で、ユーザが指定したメンテナンス機能全てのトータルメンテナンス所要時間を算出する。トータルメンテナンス所要時間は、指定されたメンテナンス機能において、同じモジュールに対する各メンテナンス所要時間の総和を求め、その中で一番所要時間の長いモジュールのメンテナンス所要時間をトータルメンテナンス所要時間とする。所要時間報告部１０６は、指定されたメンテナンス機能の各メンテナンス所要時間、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間、トータルメンテナンス所要時間を表示部１０２へ受け渡す。
【００２６】
表示部１０２は、指定されたメンテナンス機能の各メンテナンス所要時間、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間、トータルメンテナンス所要時間を表示する。
【００２７】
入力部１０１は、ユーザが単数、または複数指定したメンテナンス機能の実行パラメータの保存を指示した場合には、入力部１０１は、保存要求と共に実行パラメータを実行パラメータアクセス部１０４へ受け渡す。
【００２８】
実行パラメータアクセス部１０４は、実行パラメータの書き込みの指示を実行パラメータと共に実行パラメータ記憶部１０５へ受け渡す。
【００２９】
実行パラメータ記憶部１０５は、ハードディスクなどに実行パラメータを記憶する。
【００３０】
入力部１０１は、ユーザが単数、または複数指定したメンテナンス機能の実行パラメータの実行を指示した場合には、入力部１０１は、メンテナンス実行要求と共に実行パラメータを実行パラメータ解析部１０３へ受け渡す。
【００３１】
実行パラメータ解析部１０３は、入力部１０１がメンテナンス実行要求を行った場合、メンテナンス実行部１０７に対してメンテナンス実行要求と共に、ステップ３にて行った実行パラメータ解析と同じように受け渡す。また、同時に実行パラメータアクセス部１０４に対して、実行パラメータの書き込みの指示を実行パラメータと共に実行パラメータ記憶部１０５へ受け渡す。
【００３２】
実行パラメータ記憶部１０５は、ハードディスクなどに実行パラメータを記憶する。また、メンテナンス実行部１０７では、実行パラメータ、実行スケジュールに従いメンテナンスを実行する。
【００３３】
表示部１０２は、初めて画面表示した場合などは、実行パラメータアクセス部１０４に全てのメンテナンス機能の実行パラメータ取得要求を指示する。
【００３４】
実行パラメータアクセス部１０４は、全てのメンテナンス機能の実行パラメータ読み込み指示を実行パラメータ記憶部１０５へ受け渡す。
【００３５】
実行パラメータ記憶部１０５は、ハードディスクなどから全てのメンテナンス機能の実行パラメータを読み込み実行パラメータアクセス部１０５へ受け渡す。
【００３６】
実行パラメータアクセス部１０５は、全てのメンテナンス機能の実行パラメータを表示部１０２へ受け渡す。
【００３７】
表示部１０２は、全てのメンテナンス機能の実行パラメータを表示する。
【００３８】
次に、図３を用いて、本実施形態による自動分析装置におけるメンテナンス画面の構成について説明する。
図２は、本発明の一実施形態による自動分析装置におけるメンテナンス機能を実行するための機能構成を示すブロック図である。
【００３９】
図１に示した操作部１は、図２に示したマウスやキーボートなどの入力部１０１と、モニターなどの表示部１０２から構成されるＧＵＩである。図３に示すメンテナンス画面は、表示部１０２への表示例であり、この表示部１０２に対して、入力部１０１からメンテナンス項目を選択、指示することで、算出されたメンテナンス設定時の所要時間を表示できるものである。
【００４０】
ここで、図３を用いて、メンテナンス所要時間を表示する際の画面操作について説明する。
【００４１】
最初に、メンテナンス画面を開く。モジュールの構成は、自動分析装置の種類によって異なるため、表示されるモジュールの個数は変化する。
【００４２】
例えば、図３のメンテナンス画面では、メンテナンスを要するモジュールが、モジュールＡ、モジュールＢ、モジュールＣ、モジュールＤというように、４個のモジュールがある場合のレイアウト一例である。
【００４３】
次に、用途リストボックス２０４からユーザが利用したい用途を指定する。用途ボックス２０４には、例えば、図示のように、「ユーザ用途１」，「ユーザ用途２」，「ユーザ用途３」のように、複数のユーザ用途が表示されている。この中で、ユーザが利用したい用途をマウス等を用いて指定することで、指定されたユーザ用途に含まれる複数のメンテナンス項目が用途リストボックス２０４の右側のメンテナンス項目リストボックス２０７に表示される。図示の例では、「ユーザ用途１」が指定され、その右側のメンテナンス項目リストボックス２０７に、「ユーザ用途１」に含まれるメンテナンス項目として、「メンテナンスＡ」，「メンテナンスＢ」，「メンテナンスＣ」等の複数のメンテナンス項目が表示された状態を図示している。
【００４４】
さらに、メンテナンス項目リストボックス２０７からユーザが実施したいメンテナンス機能を指定する。単一のみではなく複数のメンテナンスを指定することが可能である。そのために、リストボックス２０７の項目ごとにチェックボックス２０６を設け、指定されていることが分かるような方法を取る。例えば、図３では、「メンテナンスＡ」，「メンテナンスＢ」が指定されている状態を示している。
【００４５】
次に、実行パラメータ２０３を指定する。例えば、図３では、モジュールＡ、モジュールＢ、モジュールＣ、モジュールＤが指定されている状態を示している。例えば、モジュールＡ、モジュールＢを指定し、モジュールＣ、モジュールＤを指定しないという指定の方法もとることができる。また、実行パラメータ２０３の下の方には、メンテナンスＡを実行する実行回数が、「Ｎ１」回であることを示している。実行パラメータ２０３は、主にモジュール指定、実行回数入力を行うが、その他にメンテナンスに必要なパラメータが存在する場合には、このエリアに表示してもよいものである。
【００４６】
以上の操作を実行すると、その時点の実行パラメータにより、トータル所要時間、モジュールごとの所要時間、メンテナンス機能ごとの所要時間を算出して表示する。表示場所については、ユーザに見やすい位置を考慮し配置する。例えば、図３では、トータル所要時間は、トータル所要時間２０２に表示し、モジュールごとの所要時間は、モジュールごとの所要時間２０１に表示し、メンテナンス機能ごとの所要時間は項目ごとの所要時間２０８に表示している。
【００４７】
例えば、所要時間２０８に示すように、「ユーザ用途１」の「メンテナンスＡ」の所要時間はｔ１Ａ分であり、「メンテナンスＢ」の所要時間はｔ１Ｂ分である。また、所要時間２０１に示すように、例えば、メンテナンスＡを４個のモジュール全てについて行い、メンテナンスＢを４個のモジュール全てについて行った場合、モジュールＡにおけるメンテナンスの所要時間はＴＡ分であり、モジュールＢにおけるメンテナンスの所要時間はＴＢ分であることが表示される。さらに、メンテナンスＡ，Ｂを全てのモジュールＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対して行うと、各モジュール毎に所要時間ＴＡ分，ＴＢ分，ＴＣ分，ＴＤ分は同じとなるが、例えば、メンテナンスＢは、モジュールＡ，Ｂのみで行ったり、モジュールＡ，Ｂの構成と，モジュールＣ，Ｄの構成が異なる場合には、各モジュール毎に所要時間ＴＡ分，ＴＢ分，ＴＣ分，ＴＤ分は異なる。そのような場合、トータル所要時間２０２は、各モジュール毎に所要時間ＴＡ分，ＴＢ分，ＴＣ分，ＴＤ分の最大値がＴＴ分として表示される。
【００４８】
なお、表示形態については、ユーザに効果的に知らせるようにするとよいものである。例えば、図３では、本発明で最も重要であるトータル所要時間２０２を他のメンテナンス画面内の文字よりも文字サイズを大きくし、かつ太字という表示形態で示している。
【００４９】
次に、保存ボタン２１０により、以上の操作で決定された内容を装置の記憶部に保存できる。
【００５０】
そして、実行ボタン２１１により、以上の操作で決定された内容にて装置メンテナンスを実施できる。また、以上の操作で決定された内容を同時に保存することもできる。
【００５１】
なお、用途リストボックス２０４及びメンテナンス項目リストボックス２０７には、スクロールボタン２０５が設けられている。
【００５２】
ここで、メンテナンスの設定の具体的な内容について説明する。前述したように、モジュールの種類としては、例えば、４種類あるが、ここでは、自動分析装置が４台のモジュールから構成可能であり、２台の第１モジュールと、２台の第２モジュールから構成されているものとする。図３に示したモジュールＡ，Ｂを第１モジュールとし、モジュールＣ，Ｄを第２モジュールとする。
【００５３】
最初に、図３の用途リストボックス２０４には、「ユーザ用途１」，「ユーザ用途２」が図示されているが、これらについて具体的に説明する。
【００５４】
自動分析装置におけるユーザ用途としては、例えば、「通常メンテナンス（電源立ち上げ時のメンテナンス）」，「プローブに関するトラブル発生時」，「機構系に関するトラブル発生時」，「試薬バーコードリーダに関するトラブル発生時」等がある。
【００５５】
次に、「通常メンテナンス（電源立ち上げ時のメンテナンス）」に対する「メンテナンス項目」としては、種々の箇所を洗浄する「洗浄」，流路内に試薬や洗剤を充填する「プライム（流路内の充填）」，サンプル・試薬の流路の気泡を抜く「エアパージ（ピペッタの気泡抜き）」，反応槽の水を新しい水と交換する「反応槽水交換」，光度計の光量を確認する「光度計チェック」，反応容器の水ブランク吸光度を測定する「セルブランク測定」，試薬切れセンサをチェックする「試薬切れセンサチェック」等がある。
【００５６】
ここで、前述の第１モジュールと第２モジュールとでは、各部の機構の構成が異なるため、メンテナンス項目によっては、それぞれメンテナンスに要する時間が異なる。また、第１モジュールでは必要だが、第２モジュールでは不要なものもある。例えば、「メンテナンス項目」が「洗浄」においては、セル洗浄，試薬ノズル洗浄，反応系洗浄，試薬分注流路洗浄等がある。ここで、試薬ノズル洗浄，試薬分注流路洗浄は、第１モジュールでは実施するが、第２モジュールでは不要なものである。また、セル洗浄は、第１モジュールでは１４分掛かるが、第２モジュールでは２４分掛かり、また、反応系洗浄は、第１モジュールでは３８分掛かるが、第２モジュールでは２５分掛かるというように、メンテナンスに要する時間が異なる。
【００５７】
また、「メンテナンス項目」が「プライム（流路内の充填）」においては、「試薬プライム」，「セル洗浄プライム」等がある。ここで、流路内に試薬を充填する「試薬プライム」は、第１モジュールでは実施されるが、第２モジュールでは実施されず、また、流路内に洗剤を充填する「セル洗浄プライム」は、第２モジュールでは実施されるが、第１モジュールでは実施されないものである。
【００５８】
実行パラメータ２０３の実行回数「Ｎ１」回は、１回で固定されているメンテナンス項目と、複数回で可変のメンテナンス項目がある。例えば、試薬流路を水で洗浄する「試薬ノズル洗浄」は、実行回数を可変設定できるものである。そして、「通常メンテナンス（電源立ち上げ時のメンテナンス）」は、毎日、自動分析装置の立ち上げ前に実行されるため、毎日１回は実行されるものであるので、「試薬ノズル洗浄」は、念のため「２」回に設定する。しかしながら、１週間に１度とか、１ヶ月に１度は、「試薬ノズル洗浄」の実行回数を「５」回として、念入りに洗浄するようにする。
【００５９】
以上のように、メンテナンス項目に応じて、モジュール毎にメンテナンスの所要時間が異なったり、モジュールによっては実施・不実施のメンテナンス項目があったり、実行回数が異なったりする場合がある。そのため、従来は、図３に示すメンテナンスの画面で，メンテナンス項目を選択しただけでは、どの程度時間が掛かるか不明であった。それに対して、本実施形態では、図３に示したように、各モジュール毎の所要時間、また、全体としてのトータル所要時間を表示できるようにしている。このような構成の自動分析装置であれば、ユーザは、メンテナンス機能を指定する、算出されたメンテナンス所要時間表示を見るという単純な行為により、空き時間内にメンテナンス実施が可能か容易に判断できるようになる。すぐに判断できることにより、少しでもメンテナンスに要する時間を省くことも可能となる。また、毎朝、装置を立ち上げて行う分析準備のためのメンテナンスにおいては、本発明の機能により、事前にメンテナンス所要時間を把握できるため、装置立上げ時間帯も逆算でき、無駄に早めに装置立上げを行わなくて済み、節電の効果もある。メンテナンスの所要時間を提示することで、メンテナンス自体だけでなく、メンテナンス以外のスケジュールを組み立てる際に効果がある。
【００６０】
以上、説明したように、本実施形態によれば、選択する、表示を見るという単純な行為により、メンテナンスの所要時間を認識でき、ユーザの検査スケジュールに合わせたメンテナンススケジュールを組むことができる。または、メンテナンススケジュールから次回検査スケジュールを組み立て可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】本発明の一実施形態による自動分析装置の全体構成を示す概略図である。
【図２】本発明の一実施形態による自動分析装置におけるメンテナンス機能を実行するための機能構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の一実施形態による自動分析装置におけるメンテナンス機能を実行するための機能構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００６２】
１…操作部
２…検体試料容器
３…搬送ラック
４…検体試料分注機構
５…反応ディスク
６…反応容器
７…試薬ディスク
８…試薬容器
９…試薬分注機構
１０…攪拌機構
１１…光度計
１２…洗浄機構
１０１…入力部
１０２…表示部
１０３…実行パラメータ解析部
１０４…実行パラメータアクセス部
１０５…実行パラメータ記憶部
１０６…所要時間報告部
１０７…メンテナンス実行部
１０８…所要時間算出部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
メンテナンスを必要とするモジュールを備えた自動分析装置であって、
ユーザが希望するメンテナンス機能及びメンテナンス機能を実施するモジュールを指定する入力手段と、
該入力手段により指定されたモジュールがメンテナンスに要する所要時間を算出する所要時間算出手段と、
該所要時間算出手段により算出された前記所要時間を表示する表示手段を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
請求項１記載の自動分析装置において、
前記所要時間算出手段は、個々のメンテナンス機能の所要時間以外に、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間、複数指定されたメンテナンス機能のトータル所要時間を算出することを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
請求項１記載の自動分析装置において、
前記入力手段により指定された実行パラメータによりメンテナンス機能を実施するメンテナンス実行部を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項４】
請求項１記載の自動分析装置において、
前記入力手段により指定された実行パラメータを記憶する実行パラメータ記憶部を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項１】
メンテナンスを必要とするモジュールを備えた自動分析装置であって、
ユーザが希望するメンテナンス機能及びメンテナンス機能を実施するモジュールを指定する入力手段と、
該入力手段により指定されたモジュールがメンテナンスに要する所要時間を算出する所要時間算出手段と、
該所要時間算出手段により算出された前記所要時間を表示する表示手段を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
請求項１記載の自動分析装置において、
前記所要時間算出手段は、個々のメンテナンス機能の所要時間以外に、指定されたモジュールごとのメンテナンス所要時間、複数指定されたメンテナンス機能のトータル所要時間を算出することを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
請求項１記載の自動分析装置において、
前記入力手段により指定された実行パラメータによりメンテナンス機能を実施するメンテナンス実行部を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項４】
請求項１記載の自動分析装置において、
前記入力手段により指定された実行パラメータを記憶する実行パラメータ記憶部を備えることを特徴とする自動分析装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図２】
【図３】
【公開番号】特開２０１０−１２２１２３（Ｐ２０１０−１２２１２３Ａ）
【公開日】平成２２年６月３日（２０１０．６．３）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−２９７３７８（Ｐ２００８−２９７３７８）
【出願日】平成２０年１１月２０日（２００８．１１．２０）
【出願人】（５０１３８７８３９）株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年６月３日（２０１０．６．３）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年１１月２０日（２００８．１１．２０）
【出願人】（５０１３８７８３９）株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Ｆターム（参考）】
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