説明

大日本スクリーン製造株式会社により出願された特許

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【課題】高い分解能および処理の高速化が実現可能な視覚装置を提供する。
【解決手段】物体に対して照射した光の反射光を受光することによって当該物体との距離を測定する視覚装置であり、光源、光学素子、および受光部を備える。光学素子は、光源から発せられる光を反射する反射面の方向を変化させることによって、当該光が照射する方向を主走査方向に走査移動させる。受光部は、光学素子が照射した光が物体に照射された場合、当該物体の表面で反射した散乱光の少なくとも一部を受光する。光源は、複数の発光素子および発光制御部を含む。複数の発光素子は、互いに離間して設けられ、光学素子が有する反射面に向けてそれぞれ光を発する。発光制御部は、複数の発光素子のうち1つを順次発光させる。 (もっと読む)


【課題】 インクジェット方式の画像記録装置においてエア浮上モジュールを使用した場合にも、エア浮上モジュールにインキが付着することがないインクジェット画像記録装置を提供すること。
【解決手段】 インクジェット画像記録装置は、エア浮上モジュール11、12により基板を浮上させた状態で一方向に搬送するエア浮上搬送機構と、このエア浮上搬送機構により搬送される基板の上方からインクを吐出してインクジェット方式で画像を記録する画像記録部20とを備える。画像記録部20と対向する領域においては、複数個のエア浮上モジュール12は、基板の搬送方向に対してインクジェットヘッド21と同方向に交差する方向で、かつ、各インクジェットヘッド21と対向しない位置に配設されている。 (もっと読む)


【課題】シートフィルム上に薄膜を形成する薄膜形成システムおよび薄膜形成方法において、多数枚のシートフィルムを連続して処理するのに適した技術を提供する。
【解決手段】フィルムカセットから取り出したシートフィルムFに対し、塗布ユニット34内で薄膜材料を塗布するとともに上部リングRupおよび下部リングRdwにより挟み込む。形成されたリング体RFは乾燥ユニット36を経て転写ユニット35に送る。基板Wを基板カセット11から取り出し反転ユニット31でフェースダウン状態として転写ユニット35に搬入しシートフィルムF上の薄膜を転写する。剥離ユニット10ではリングRup,Rdwを取り外し、シートフィルムFを基板Wから剥離する。取り外したリングRup,Rdwは再び塗布ユニット34に搬入し新たなリング体RFの形成に使用する。 (もっと読む)


【課題】ノズルの保護部材を設けた場合において、塗布不良の発生を効果的に抑制する技術を提供する。
【解決手段】スリットノズル41の前方端面412から離間距離D1分離れた位置に、保護部材60を配置する。保護部材60は、接続部材61を介してスリットノズル41に固定される。保護部材60、接続部材61およびスリットノズル41は、ボルト部材62により一体的に連結可能であり、このボルト部材62を着脱することで、接続部材61が着脱自在となっている。また、離間距離D1は、接続部材61のX方向の長さを変えることにより調整可能であり、離間距離D1の値は、塗布速度に応じて設定される。このように、離間距離D1を設けた分、吐出口411と基板90との間に形成されるレジスト液RGの液面が、離間空間S1を通過する気流により乱されることを効果的に抑制できる。 (もっと読む)


【課題】検査対象領域における印刷の検査を迅速かつ高精度に行う。
【解決手段】印刷装置では、検査対象領域801の搬送方向の範囲を示す目印805が元画像に追加された印刷データに基づいて印刷が行われ、印刷結果画像から検査対象領域801を含む検査画像84が目印805に基づいて取得されて検査対象領域801における印刷の検査が行われる。このように、印刷結果画像全体を元画像と比較することなく、印刷結果画像の一部である検査画像84のみを元画像と比較することにより、検査対象領域801における印刷の検査を迅速に行うことができる。また、検査対象領域801の搬送方向の範囲を示す目印805に基づいて検査画像84の取得が行われることにより、印刷媒体の伸縮等が生じている場合であっても、検査対象領域801の全体を高精度に検査画像84に含めることができ、検査対象領域801における印刷の検査を高精度に行うことができる。 (もっと読む)


【課題】マスクの交換や洗浄の頻度を低減させ、それにより、パターン描画装置の生産能力を向上させることができるパターン描画装置を提供する。
【解決手段】このパターン描画装置では、マスクM上に形成された8組のパターン群Ga1〜Gd2の中に、同一の形状を有して互いに代替可能なパターン群(Ga1とGa2,Gb1とGb2,Gc1とGc2,Gd1とGd2)が含まれている。そして、マスク移動機構322aを動作させることにより、これらのパターン群のいずれに対してパルス光PLを照射するかを選択することができる。このため、あるパターン群に汚れまたは欠陥が発生した場合にも、マスクM自体を交換または洗浄することなく、同一の形状を有する他のパターン群を使用して描画処理を行うことができる。従って、マスクMの交換や洗浄の頻度を低減させることができ、その結果、パターン描画装置の生産能力を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】対象物上に形成された膜の膜厚測定において、複数の測定点における膜厚を迅速に求める。
【解決手段】膜厚測定装置1では、光学定数が既知である膜92について、複数の検査波長に対応する複数の反射特性が予め記憶されており、検査波長を切り替えつつ膜92を撮像することにより取得された複数の検査波長に対応する複数の検査画像と上記複数の反射特性に基づいて、膜厚演算部73により、膜92上の各測定点における複数の検査画像の複数の画素値と、各膜厚における複数の反射特性が示す複数の理論反射率との一致度に基づいて各測定点における膜厚が求められる。したがって、測定点数が増加した場合であっても膜厚演算部73による演算量が僅かに増加するだけであり、基板9上の複数の測定点における膜厚を迅速に求めることができる。その結果、基板9上における広い範囲の膜厚分布が高精度かつ高分解能にて取得される。 (もっと読む)


【課題】エッジ効果による線状図形要素の幅の増大を補正し、トナー画像における線状図形要素の幅を所望の幅とする。
【解決手段】画像形成装置1のデータ補正部72では、元パターンデータの線状図形要素に対し、線状図形要素のエッジ部の各画素と各画素に最も近接する離間画素(すなわち、各画素を中心とする周囲の所定領域内において図形要素に含まれる画素であって、かつ、各画素との間に図形要素に含まれない背景画素が存在する画素)との間の距離に基づいて線状図形要素を細らせることにより補正済パターンデータが生成される。そして、補正済パターンデータに基づいて感光体312上に形成された静電潜像が現像され、形成されたトナー画像が対象物9に転写される。これにより、エッジ効果による線状図形要素の幅の増大を補正し、対象物9上のトナー画像における線状図形要素の幅を所望の幅とすることができる。 (もっと読む)


【課題】フッ素系溶剤を主成分とする溶剤を基板表面から除去して当該基板表面を乾燥させる基板処理方法および基板処理装置において、基板表面に水滴が付着するのを防止して乾燥性能を高める。
【解決手段】IPA液で覆われた基板表面WfにHFE液を供給してIPA液をHFE液で置換して基板表面Wfの全部がHFE液で覆われた後に、高温窒素ガスが基板裏面Wbに供給されて基板Wが加熱されるとともに、基板表面WfからHFE液が除去される。この基板加熱は、乾燥処理(除去処理)によってHFE液が基板表面Wfから全部除去されるまで継続される。このように乾燥処理の間、基板裏面Wbに高温窒素ガスを供給して基板Wを加熱しているため、仮に基板の周辺に多量の水蒸気成分が存在していたとしても、基板表面Wfに水滴は付着することなく、基板Wを確実に乾燥することができる。 (もっと読む)


【課題】フラッシュ光照射時における保持プレートの変色を防止することができる熱処理装置を提供する。
【解決手段】ホットプレート71の上面に石英のサセプタ72が載置され、そのサセプタ72の上面に半導体ウェハーWが載置される。ホットプレート71およびサセプタ72の直径は半導体ウェハーWの直径よりも大きい。半導体ウェハーWよりも外側のサセプタ72の周縁部には遮光リング75が載置される。遮光リング75は、ホットプレート71の上面のうち半導体ウェハーWによって覆われる領域よりも外側の円環状領域を覆う。これにより、ホットプレート71の上面のほぼ全面が半導体ウェハーWおよび遮光リング75によってフラッシュランプFLのフラッシュ光から遮光される。その結果、フラッシュ光が照射されたときに、ホットプレート71の酸化による変色が防止される。 (もっと読む)


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