微分移動度分光計（ＤＭＳ）のフィルタ処理電場が除去された時に、質量分光計（ＭＳ）がＤＭＳから搬送流を連続的に受容するように、ＭＳと一列になるように構成されるＤＭＳを含む、プレフィルタアセンブリ。一実施形態において、プレフィルタアセンブリは、一対のフィルタ電極間の分析空隙内の時間変動電場に該試料の１つ以上のイオン種を通過させるための微分移動度分光計フィルタと、該微分移動度分光計フィルタからイオン流を提供するための流出口とを含む。
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本発明は、一般に、サンプル分析のためのイオン移動度ベースのシステム、方法及び装置に関する。本発明は、例えば、分散特性；サンプル解離；及び／又は、限定はされないがフロー・チャンネル／フィルター電界状態中の変動のようなサンプル処理における変動を使って、サンプル収集、フィルタ、検知、測定、識別及び／又は分析（「分析」と総称）の改善を提供する。このような条件に、以下に限定はされないが、圧力；温度；湿度；電界の強さ、デューティサイクル及び／又は周波数；電界電圧振幅、周波数及び／又はデューティサイクル；検知器バイアス電圧大きさ及び／又は極性；及び／又はフィルタ電界補償電圧の大きさ及び／又は極性を含めることができる。
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