試料流体の光学的キャラクタリゼーションを補助する装置（１００）。前記装置は、流体（１０６）をある充填方向にて満たすよう適合させた、少なくとも一つの測定容器（１０４）を備えた基板（１０２）を含み得る。従って、前記装置（１００）は、少なくとも一つの測定容器（１０４）内の流体（１０６）に照射するための照射ビーム（１０８）を受けるよう適合させている。前記少なくとも一つの測定容器（１０４）は、流体中の照射ビームの光路長の変化速度が変化するよう適合させている。前記測定容器の特性は、流体を満たす間の複数の時点において、流体中の照射ビームの光路長の情報を提供するよう適合させている。更に、対応する光学的キャラクタリゼーション装置を説明する。本発明は、対応する方法にも関する。
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光学材料を特定するための光学特定システムが開示されている。当該システムは、通常回折エレメント（１０４）、検出器（１０６）、及び光学エレメント（１０２）を備える。光学エレメント（１０２）は、材料の照射レスポンスである照射ビームを受光するために適用される。当該光学エレメント（１０２）は、通常照射ビームを屈折により平行化して回折エレメント（１０４）に入射させるための屈折表面と、回折された照射ビームを反射して検出器（１０６）に入射させるための反射表面とを備える。光学エレメント（１０２）は、さらに照射ビームを受光するための受光サイドと反対側の、上記光学エレメント（１０２）の同じサイドに配置された回折エレメント（１０４）及び検出器（１０６）と協同するために適用される。
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