説明

ユナイテッド・マイクロエレクトロニクス・コーポレイションにより出願された特許

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【課題】窒化物半導体層上の層間絶縁膜の開口部が、電界の集中が緩和される形状に安定して精度良く形成された窒化物半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体層30と、窒化物半導体層30上に配置された第1の絶縁膜41と、第1の絶縁膜41上に配置された第2の絶縁膜42と、窒化物半導体層30上に互いに離間して配置された第1及び第2の主電極51,52と、第1及び第2の主電極51,52間で第2の絶縁膜42上に配置され、第1及び第2の絶縁膜に設けられた開口部を介して窒化物半導体層に接続するフィールドプレート60とを備える窒化物半導体装置であって、開口部において、窒化物半導体層30の表面と第1の絶縁膜41の側面とのなす第1の傾斜角が、窒化物半導体層30の表面と第2の絶縁膜42の側面を延長した線とのなす第2の傾斜角よりも小さく形成されている。 (もっと読む)


【課題】トレンチを用いて素子分離され、且つ、隣接素子の動作による影響が抑制された化合物半導体装置及び化合物半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板10と、キャリア走行層21とキャリア供給層22を有し、半導体基板上に配置された窒化物半導体層20と、上端部がキャリア走行層とキャリア供給層との界面よりも上方に位置する空洞40を内部に有する、窒化物半導体層の周囲を囲んで配置された素子分離絶縁膜30とを備える。 (もっと読む)


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