薄膜の厚さに関するデータ（例えば、厚さ変化）は、以下の通りに本願明細書において決定される。前記膜および基板が、全体において、干渉計構造を形成するように、前記膜は基板上に配置される。その光放射線が膜および基板によって形成される干渉計構造の方へ発されて、前記干渉計構造から光学的に反射された後、放射線は測定される。前記薄膜の厚さ関連のデータ（例えば、厚さ変化）は、その後、スペクトル関連の情報の中で、例えば、前記光学的に反射された放射線によって決定される。 （もっと読む）

光学的放射の手段による対象物の表面の特性を決定するための測定機器は、光学的放射源及び測定表面から反射した放射を受信する検出器を具備する。更に、測定デバイスは、放射される光学的放射の処理装置を具備し、それは、光源から放射される光学的放射を、別の波長へ分割し、前述の波長の内、少なくとも最も短い波長及び最も長い波長が、測定表面の法線方向において、測定対象物の異なる半分且つ異なる高さに集中するように、前述の測定対象物への分割された波長を測定表面の通常から異なる方向に向けるように調整される。更に、測定デバイスは、反射光の放射線処理装置を具備し、被測定物から少なくとも鏡面反射の方向に反射光学的放射線を受けるように調整され、測定表面の法線方向とは異なり、受信した光学的放射を前述の検出器へ向ける。更に、測定デバイスは、検出器によって生成された電子シグナルを分析し、そこに集中した放射線の強度に比例し、更に、被測定物の表面の光沢（光沢度）及び／又は厚さ特性を、その波長の強度、測定面に位置する、焦点に基づいて決定するように調整され、波長は鏡面のジオメトリにおいて検出器へのその点から反射された最も強いものであった。 （もっと読む）

本発明は、マイクロメカニカル（ＭＥＭＳ）技術を用いて製造される制御可能なファブリー・ペロー干渉計に関する。先行技術におけるマイクロメカニカル干渉計は、著しく、赤外光の放射が減衰するといった欠点を有する。本発明の解決策において、少なくとも１つのミラーに間隙（１０４、１１４）があり、ミラー層の役割を担う。ミラーのその他の層は、多結晶質シリコンで作製され、赤外域において軽微な減衰を有する。また、干渉計の光学領域にある基板に孔（１２５）または凹部を具備することも好ましい。 （もっと読む）

本発明は、制御可能なファブリ・ペロー干渉計に関し、この干渉計は微小機械（ＭＥＭＳ）技術によって製造される。従来技術の干渉計の製造は、犠牲層（１２３）のエッチングの間のミラーの劣化のリスクを含む。本発明による解決法に従えば、ミラーの少なくとも１つの層（１０３、１０５、１１４、１１６）は、ケイ素リッチな窒化ケイ素から成る。この発明的なファブリ・ペロー干渉計においては、ミラー層における酸化ケイ素の使用を回避または減少させることが可能であり、それによりミラーの劣化のリスクが減少する。また、高い粗さのミラー表面を使用することも可能であり、それによりミラーが互いに貼り付いてしまうというリスクが減少する。 （もっと読む）

モバイル機器および／またはそのユーザーのコンテキストを示すデータを取得するためのいくつかの検知エンティティ（２３０）、そのデータを利用する、複数の代表的な特徴値を決定するための特徴決定論理（２３０）、および分類動作中に、複数の特徴値をコンテキストクラスにマッピングするように構成された、適合線形分類器（２３４）を含むコンテキスト認識論理（２２８）を備えたモバイル機器（１０２）であって、その分類器がさらに、特徴値およびそのモバイル機器のユーザーによるフィードバック情報に基づき、その分類論理を適合させる（２３６）ように構成されている。そのモバイル機器で実行される方法が提示されている。 （もっと読む）

タッチスクリーンやタッチパッドなどのユーザ入力装置の構成（２０２）であって、光学的に、実質的に透明な屈曲フィルムまたは多層フィルムなどの基板を有し、前記基板は、更なる電子装置（２１０）への電源、制御、および／または、通信接続を提供するためのサポート電子装置（２１２）と、光をそれぞれ発光および検出するために、前記基板に配置され、前記サポート電子装置に接続されている多くのエミッタおよび検出器（２１０）と、前記のエミッタと検出器が光ガイド材料に光学的に結合されるように、前記基板上で、積層などによって配置された光ガイド（２０８）とを有する。光ガイドの特性は、選択された光ガイド材料の屈折率と、使用時に、エミッタと検出器との間の光ガイド内で全反射（ＴＩＲ）型の光伝搬と、検出された光から判定されるＴＩＲ性能の低下に基づくタッチの認識を可能とするように構成されたエミッタおよび検出器を含む。関連する製造方法を提供する。 （もっと読む）