【課題】接触不良のトラブルが発生し難く、また、生産コストを抑えることが可能な電気接触子およびこの電気接触子を備える検査治具を提供すること。
【解決手段】回路基板Ｐの電気的特性を検査する検査治具１に用いられ、検査治具１の収容孔３の内部に配置される電気接触子２であって、電気接触子２は、線材１３から構成されると共に、電気接触子２の長さ方向の一端側に配置され回路基板Ｐに接触する検査側端部１０と、上記一端側に対して他端側に配置され検査治具１の接点に接触する治具側端部５と、検査側端部１０と治具側端部５とを繋ぎ、収容孔３に収容される本体部１２とを有し、本体部１２は、線材１３が螺旋状にばね性を有するように巻かれたばね巻き部２２を有することとする。 （もっと読む）

【課題】所定の接触圧で被接触物に接触させることが可能で、かつ、撓み量を所定量以上とすることが可能な電気接触子を提供すること。
【解決手段】導電性およびバネ性を有する薄板によって一体で形成される電気接触子２は、一端部を構成する第１接触部２ｃと、他端部を構成する第２接触部２ｄと、第１接触部２ｃと第２接触部２ｄとを繋ぐとともに電気接触子２の長手方向へ電気接触子２を変形させるための変形部２ｅとを備えている。変形部２ｅは、第１接触部２ｃに繋がる第１変形部２ｊと、第２接触部２ｄに繋がる第２変形部２ｋと、第１変形部２ｊと第２変形部２ｋとの間に配置される第３変形部２ｍとを備えている。第３変形部２ｍのバネ定数は、第１変形部２ｊのバネ定数および第２変形部２ｋのバネ定数よりも小さくなっている。 （もっと読む）

【課題】検査対象の端子表面の傷の発生を抑制することが可能な検査冶具を提供すること。
【解決手段】検査治具１は、先端が検査対象に接触するとともにワイヤ状に形成され屈曲可能で弾性を有する複数のプローブ５と、プローブ５の先端側部分が挿通される先端側挿通孔および検査対象に対向する対向面２ａが形成される先端側支持体２と、先端側支持体２の後方に所定の隙間を介して配置されプローブ５の後端側部分が挿通される後端側挿通孔が形成される後端側支持体３と、先端側支持体２と後端側支持体３とを連結する連結体４と、プローブ５の後端が接触する接触面７ａが形成され後端側支持体３の後方に配置される電極７と、接触面７ａと対向面２ａとが離れる方向に、先端側支持体２と後端側支持体３と連結体４とを付勢する付勢機構８とを備えている。 （もっと読む）

【課題】細長状に形成される検査用の端子の短手方向の幅が非常に狭い場合であっても、検査対象の適切な検査を行うことが可能な検査冶具を提供すること。
【解決手段】長手方向と短手方向とを有する細長状の端子が形成される検査対象５０の検査を行うための検査治具１は、検査対象５０に向くプローブ案内方向を有する先端側挿通孔が形成される先端側支持体２と、先端側支持体２に対して隙間を介して配置され、先端側挿通孔のプローブ案内方向に対して端子の長手方向にほぼ沿って傾斜するプローブ案内方向を有する後端側挿通孔が形成される後端側支持体３と、先端側挿通孔に挿通される先端側部分および後端側挿通孔に挿通される後端側部分を有するプローブ５とを備えている。プローブ５の先端側部分は、後端側部分に対して後端側挿通孔のプローブ案内方向に傾斜する側にずれた位置に配置されている。 （もっと読む）

【課題】電気接触子の厚さが薄い場合であっても、簡易な組立作業で、電気接触子を精度良く配置することが可能な検査治具を提供すること。
【解決手段】検査対象物の電気的特性を検査するための検査冶具は、導電性およびバネ性を有する薄板で形成されるとともに検査対象物に接触する対象接触部２ａを先端側に有する電気接触子２と、電気接触子２の後端部２ｂが接触する電極３と、電気接触子２が遊びのある状態で配置される配置孔４ａが複数形成される配置部材４とを備えている。 （もっと読む）

【課題】プローブの径が小さくなっても、容易な組立が可能となる検査冶具を提供すること。
【解決手段】検査冶具１は、検査対象に向くプローブ案内方向を有する先端側挿通孔が形成される先端側支持体２と、先端側支持体２に対して所定の隙間Ｓを介して配置され、先端側挿通孔のプローブ案内方向に対して傾斜するプローブ案内方向を有する後端側挿通孔が形成される後端側支持体３と、先端が検査対象側において出没可能となるように先端側挿通孔に挿通される先端側部分および後端側挿通孔に挿通される後端側部分を有するプローブ５とを備え、プローブ５の先端側部分は、後端側部分に対して後端側挿通孔のプローブ案内方向に傾斜する側にずれた位置に配置されている。この検査冶具１では、後端側支持体３の厚さＴ２が、先端側支持体２と後端側支持体３との隙間Ｓよりも大きくなっている。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で、接続長を短縮することが可能な接点部材を提供すること。
【解決手段】接点部材２は、導電性材料によって円環状に形成されている。この接点部材２は、その外周面で、導電性を有する電子部品５の被接触部５ａ、あるいは、導電性を有するマザーボード６の被接触部に接触する。そのため、接点部材２の径を製造可能な範囲で小さくするといった簡易な構成で、電子部品５の被接触部５ａとマザーボード６の被接触部との距離である接続長を短縮することが可能になる。 （もっと読む）

【課題】配線パターンのピッチが狭く、かつ、検査用パターンを備えていない検査対象物であっても、検査対象物の電気的特性の検査を適切に行うことが可能な検査治具を提供すること。
【解決手段】検査対象物の導通状態を検査する検査装置２に用いられる検査冶具１は、導電性を有する複数の導線３と、複数の導線３が固定される固定部材４とを備えている。複数の導線３の側面には、検査対象物に導電接触する接触部が形成されている。 （もっと読む）

【課題】 プローブ針の配置面積が広い場合であっても、プローブ針の先端部を、ほぼ均等な圧力で検査対象物に接触させることができる構成を備えた検査装置を提供すること。
【解決手段】 ヘッド部６から突出させたプローブ針の先端部を半導体ウェハ２に接触させて、半導体ウェハ２上のＩＣチップの電気的特性を検査する検査装置１は、ヘッド部６からのプローブ針の先端部の突出量のばらつきを補正する突出量調整機構１５と、半導体ウェハ２に対するヘッド部６の傾きを補正する傾き調整機構１６とを備えている。 （もっと読む）