【課題】ディスクドライブを受容するためのベイと、ディスクドライブの試験中又は運転中にディスクドライブの温度を直接感知するように構成され配置されている温度センサとを備えるディスクドライブ取り付け装置を提供する。
【解決手段】少なくとも一のディスクドライブを受容するためのディスクドライブホルダと、ディスクドライブがカードを介して試験し又は運転され得る少なくとも一の該カード、および、空気をディスクドライブに通すための少なくとも一のファンを含むカードホルダとを備えるディスクドライブ取り付け装置であって、空気がカードホルダからディスクドライブホルダおよびディスクドライブに通ることができる一方で、ディスクドライブホルダおよびカードホルダが互いに機械的に孤立しており、ディスクドライブホルダおよびカードホルダが非接触で封止する配置によって互いに動作可能に接続される。 （もっと読む）

【課題】ディスクドライブの温度を制御可能に変化させることが可能であり、ディスクドライブへの振動の伝達を抑制し、同時にディスクドライブからの振動発生を抑制することのできるディスクドライブ収容用装置および手段を提供する。
【解決手段】内部にディスクドライブを有するディスクドライブトレーを受容することができる容器を画定し、三つの直交方向における振動を減衰するための減衰材料を有する、ディスクドライブ取り付け手段。 （もっと読む）

【課題】ディスクドライブを試験機ラックに開放可能に締め付けるための配置。
【解決手段】膨張式アクチュエータは、ディスク１０ドライブ１２をディスクドライブキャリア２を介してブロック８に締め付けるように作動する。ディスクドライブキャリア１２は、ディスクドライブ１２を基板に締め付けるためのクランプ機構である。ディスクドライブキャリア１２は、異なる種類のディスクドライブ２と共に用いることができる。ディスクドライブ２は、ディスクドライブの下方または後方において、電気的および／またはデータ接続を設け、さらに関連する独自のプロダクトカードを備える。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】 試験装置（１）でディスク（２）に対する読み取り／書き込みヘッド（４）の位置を制御する方法が開示される。試験装置（１）はヘッド（４）を位置決めするためのポジショナ（７）を有する。ポジショナ（４）は、該ポジショナ（７）によって得られる実際の位置を測定するためのセンサ（１２）を有する。当該方法は、ポジショナ（７）によって得られる実際の位置を測定するセンサ信号（１３）を生成するステップと、ヘッド（４）で検出されるディスク（２）に対するヘッド（４）の位置誤差信号（２０）を生成するステップと、ヘッドの位置誤差信号（２０）をハイパスフィルタリング（２１）するとともに、センサ信号（１３）をローパスフィルタリング（１４）して、それらの信号間で周波数の重なり合いが実質的に存在しないようにするステップと、ヘッド（４）の任意のドリフトに対応するヘッド位置誤差信号（２０）から低周波のヘッド誤差信号（２４）を得るステップとを含む。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】
ディスク（１）のデータトラックに対する読取り／書込みヘッドの所望の径方向位置に関する位置誤差信号を生成する方法が開示される。当該方法において、トラックは、当該トラック（１０１）のための複数のサーボ零位を形成する複数のサーボバーストを有し、サーボ零位は、トラックに対する４つを超える異なる径方向位置にサーボ零位が存在するように位置決めされ、サーボ零位は、トラック（１０１）との既知の位置関係を有する螺旋などの所定の軌跡を形成し、軌跡はトラック（１０１）の径方向範囲にわたって延びる。また、読取り／書込みヘッドを検査するための方法が開示される。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】サーボパターンをディスクに書き込む方法において、サーボパターンはプロセッサで生成される。生成されたサーボパターンは、その後、ディスクに対して書き込まれる。サーボセクタのためのサーボパターンは単一のルーチンで生成されることが好ましい。 （もっと読む）

ディスクドライブ（１２）を大きなブロック（８）に開放可能に締め付けるための配置。上記クランプ配置は、上記ディスク１０ドライブ（１２）をディスクドライブキャリア（２）を介して上記ブロック（８）に締め付けるように作動する膨張式アクチュエータ（１０）であってもよい。ディスクドライブキャリア（１２）のような、ディスクドライブ（１２）を基板に締め付けるための種々のクランプ機構も開示されている。異なる種類のディスクドライブ（２）と共に用いることができるディスクドライブキャリア(１２)も開示されている。このようなディスクドライブ(２)は、ディスクドライブ(２)の下において電気的および／またはデータ接続を設けるもの、ディスクドライブ(２)の後において電気的および／またはデータ接続を設けるもの、および関連する独自のいわゆるプロダクトカードを有するものを含む。
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複数のディスクドライブ２を搭載するための、ディスクドライブ搭載用組立体１が提供される。当該組立体１は、第一及び第二の互いに対向する端面と、互いに対向する側壁と、天面と、底面と、を有するケーシング３を備える。ドライブカード１０はケーシング３内に備えられる。それぞれのドライブカード１０はディスクドライブ２を受け容れるためのディスクドライブ受容部２１を有し、電源及びディスクドライブ２へのデータコネクタのうち少なくとも一つを供する。バッフル装置列３０、３１、３２、３３は、ケーシング３の第一端において、ケーシング３に入り込む空気の流れを分離し、空気は、それぞれのドライブカード１０のディスクドライブ受容部２１にわたって流れ込む。ドライブカード１０とバッフル装置列３０、３１、３２、３３とは、空気が、それぞれのドライブカード１０のディスクドライブ受容部２１に並行に流れ込むように配置される。係る手段において、それぞれのディスクドライブ受容部２１は、搭載用組立体１の他のディスクドライブ受容部１２には流れ込ませないように、空気を受け容れる。
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本発明は、ハードディスクドライブを受容する温熱室と、温熱室と該温熱室内に受容されているハードディスクドライブとの間の領域内で空気動を発生させる振動空気動発生器と、を有し、これによって、温熱室とハードディスクドライブとの間の熱伝達を促進することができる、ハードディスクドライブの温度制御装置を提供する。
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本発明は、試験されるそれぞれのディスクドライブを個々に受容するための複数のベイ４と、ディスクドライブがテストカードを介して試験され得る該テストカード７、８を個々に受容するための複数のカードスロット６と、それぞれのテストカードは個々のカードスロットに受容され、それぞれのテストカードは環境テストカード７又は接続テストカード８である、複数のテストカードと、を備えており、カードスロット６とテストカード７、８とが、それぞれのカードスロット６が環境テストカード７又は接続テストカード８を選択的に受容できるように配置される、ディスクドライブ試験装置１と、ディスクドライブのその他の配置又はディスクドライブ取り付け装置を開示する。
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