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Fターム[2G001BA24]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 利用、言及された生起現象、分折手法 (5,017) | 回折 (542) | ラング、ベルクブレハット法等回折顕微法 (2)

Fターム[2G001BA24]に分類される特許

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【課題】試料の径が大きくなっても、試料に対応した大面積の面状のX線検出器を、X線トポグラフの分解能を低下させること無く、使用できるようにする。また、試料の径が大きくなったことに対応して大面積の面状のX線検出器を使用することになった場合でも、X線検出部の全体形状を大きくしなくて済むようにする。
【解決手段】試料11を線状のX線で走査したときに試料11で回折したX線をX線検出器28によって検出して平面的な回折像を得るX線トポグラフィ装置である。X線検出器28は試料11よりも大きい面積を有する円筒形状のイメージングプレート28であり、線状のX線の走査移動Fに関連させてイメージングプレート28を円筒形状の中心軸X0を中心としてα回転させる。円筒形状の中心軸X0は線状のX線の走査移動方向Fと直角方向に延在する。 (もっと読む)


【課題】 各種のトポグラフィとロッキングカーブ測定法が一台の装置で可能なX線単結晶評価装置を提供する。
【解決手段】 単結晶試料SMを保持してX線発生装置30から出射されるX線を照射して回折X線を生じるX線回折部20と、X線回折部において試料で回折したX線を受光するX線検出部100とを備えたX線単結晶評価装置は、X線発生装置から出射して単結晶試料に照射される光路部40の一部に、結晶コリメータ47が選択的に挿入可能なコリメータ45を備え、かつ、X線検出部は、X線TV110とシンチレーションカウンタ(SC)120とを備えており、このSCは移動可能で、その移動位置によってアナライザ結晶121が挿入可能である。 (もっと読む)


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