【課題】簡易な構成で精度良く信号を出力する。
【解決手段】ＤＡ変換器と、ＤＡ変換器と当該信号発生装置の出力端との間に設けられたサンプルホールド部と、ＤＡ変換器の出力電圧を伝搬して入力データに応じた信号を出力するアナログ回路から出力される電圧とＤＡ変換器の出力電圧とを比較する比較部と、ホールド期間において、入力データに代えて比較データをＤＡ変換器に与えて比較データに応じた比較電圧を出力させ、比較部にアナログ回路から出力される信号の電圧と比較電圧とを比較させ、比較部の比較結果に基づいて、入力データに応じてＤＡ変換器から出力される出力電圧を調整する制御部と、を備える信号発生装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】半導体デバイスの試験結果に関連する関連情報を必要に応じて表示することで、異常が生じた場合の原因究明に要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。
【解決手段】半導体試験装置１は、ＤＵＴ３０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０で得られた試験結果を表示する表示部２６を有する端末装置２０とを備える。試験装置本体１０は、ＤＵＴ３０の試験結果と、この試験結果に関連する関連情報とを対応させて記憶する試験メモリ１３を備える。端末装置２０は、ユーザにより操作される操作部２４と、試験装置本体１０の試験メモリ１３に記憶された試験結果と関連情報とを取得する試験データ取得部２１と、試験データ取得部２１が取得した試験結果を表示部２６に表示するとともに、操作部２４に対する所定の操作がユーザによってされた場合に関連情報を表示部２６に表示する表示制御部２５とを備える。 （もっと読む）

【課題】 発光ダイオードやレーザダイオードなどの半導体素子のサイリスタ特性を迅速かつ確実に検出する検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】 時間経過と共に増加する検査電流Ｉｏを、検査対象の発光ダイオードＬＥＤに印加する定電流回路５と、発光ダイオードＬＥＤの両端電圧Ｖｏを受けて、そのピーク値Ｖｐを保持するピークホールド回路７と、ピークホールド回路の出力電圧Ｖｐと共に、発光ダイオードＬＥＤの両端電圧Ｖｏを受けて、両者の差電圧に対応した出力電圧を発生する差動増幅回路８と、差動増幅回路８の出力電圧Ｖ２が所定値Ｖｒを超えたことを検出するコンパレータ９とを備える。 （もっと読む）

【課題】静電気放電耐性特性の測定、及び静電気破壊試験において、静電気放電保護回路に対し、多種類の導通状態を実現することができるようにＴＬＰ電圧の設定方法を改善する。
【解決手段】パルス波高を調整自在とする矩形はパルス発生回路１から発生したパルスを波形成形回路によって、所望のＴＬＰ電圧の波形を作成したうえで、静電気放電保護回路２に対し、同軸ケーブル４を介して、印加を行うことにより、ピーク値を選択自在とすると共に、電圧上昇率を選択することを可能にしている。 （もっと読む）

【課題】 外来ノイズの影響を軽減し、測定精度を向上することができるデバイス特性の測定方法を提供する。
【解決手段】 同一測定条件によるｎ回すべての測定データを一度に積分するのではなく、ｍ回に分けて、ある程度短い時間の積分を繰り返し行い、その結果について統計処理を行い、積分データの平均および標準偏差σを算出し、所定以上のばらつきがある場合には、外来ノイズが侵入したものと判断し、平均より大きく離れているデータを削除し、削除した分の不足データは追加測定を行うことで補う。 （もっと読む）