【課題】半導体テスト装置のテストヘッドカードに対する追加回路を容易に実装できるようにする。
【解決手段】テストヘッドカードとＤＵＴボードとの間で半導体テストに関する信号を伝送する半導体テスト信号伝送ケーブルであって、テストヘッドカード側と接続する第１ケーブル部と、ＤＵＴボード側と接続する第２ケーブル部と、第１ケーブルと第２ケーブルとの間に取り付けられた電子回路収容部材とを備えた半導体テスト信号伝送ケーブル。第２ケーブル部のＤＵＴボード側端には、スプリングピンを備えることができる。 （もっと読む）

【課題】レベルシフト機能を有するＳＲフリップフロップを提供する。
【解決手段】クロスカップルインバータ３０は、互いに入力端子と出力端子とがクロスカップリングされた第１インバータ３２および第２インバータ３４を含む。第１セットトランジスタｍｓ１のゲートにセット信号Ｓが入力され、第４セットトランジスタｍｓ４のゲートに、反転セット信号ＳＸが入力される。リセット部２０の第１リセットトランジスタｍｒ１のゲートにリセット信号Ｒが入力され、第４リセットトランジスタｍｒ４のゲートに、反転リセット信号ＲＸが入力される。第２セットトランジスタｍｓ２のゲートおよび第３リセットトランジスタｍｒ３のゲートは、第２インバータ３４の出力端子と接続される。第３セットトランジスタｍｓ３のゲートおよび第２リセットトランジスタｍｒ２のゲートは、第１インバータ３２の出力端子と接続される。 （もっと読む）

【課題】出力インピーダンスを伝送線路の特性インピーダンスに整合させる。
【解決手段】被試験デバイスを試験する試験装置であって、予め定められた入力パターンに応じた出力信号を生成して被試験デバイスに供給するドライバ回路と、被試験デバイスが出力する応答信号を測定して、被試験デバイスの良否を判定する測定部とを備え、ドライバ回路は、与えられる複数の入力側駆動電圧のいずれかを入力パターンの論理値に応じて選択して出力する入力側ゲート駆動部と、入力側ゲート駆動部が出力する入力側駆動電圧をゲート端子に受け取り、ソース端子に予め定められた基準電圧が印加されるトランジスタを有し、トランジスタのドレイン電圧に応じた出力信号を出力する電圧切換部と、基準電圧に応じた入力側駆動電圧を生成して、入力側ゲート駆動部に供給する入力側駆動電圧供給部とを有する試験装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】回路チップ間で電源電圧が異なる電位であっても検査を同時に行なうことができるマルチチップパッケージを提供すること。
【解決手段】パッケージの内部に電気的に接続された複数の回路チップを備え、回路チップの検査を行なう検査モードを有するマルチチップパッケージ１００であって、複数の回路チップは、ドライバーチップ２０と、端子に保護ダイオード１１が接続され、検査モード時の電源電圧がドライバーチップ２０の電源電圧よりも低電位であるＬＳＩチップ１０とを含み、検査モード時に、ドライバーチップ２０からの信号をＬＳＩチップ１０の電源電圧と同電位にレベルシフトしてＬＳＩチップ１０に出力する第一レベルシフト回路３３aを備える。 （もっと読む）

【課題】与えられる多値データの各々に応じた大きさの電圧を出力することができる。
【解決手段】与えられる多値データに応じた電圧を出力する多値ドライバ回路であって、第１の電源電圧および第２の電源電圧を受け取り、与えられる入力データの論理値に応じて選択される前記第１の電源電圧または前記第２の電源電圧に応じた出力電圧を出力する出力ドライバと、前記多値データに基づいて、前記第１の電源電圧および前記第２の電源電圧の少なくとも一方の電圧値を制御する電源電圧制御部とを備える多値ドライバ回路が提供される。 （もっと読む）

【課題】適正な任意の波形を有するアナログ信号を被検査デバイスに入力可能なミックスドシグナルLSIテスタを提供。
【解決手段】タイミングジェネレータ18が生成するデジタルビットストリーム20を、レベル変換回路26にて所望の振幅にレベル変換し、ローパスフィルタ30にて所望のアナログ波形を抽出する。アナログ信号を被検査デバイス16へ出力する場合は、第１のスイッチ38により固定レベル信号Ｈをドライバ36に入力し、第２のスイッチ40により上述のアナログ波形32をドライバ36のリファレンス信号Vihとする。一方、デジタル信号を被検査デバイス16へ出力する場合は、第１のスイッチ38によりデジタルビットストリーム20をドライバ36に入力し、第２のスイッチ40により、D/Aコンバータ44から到来する一定レベルのアナログ信号42をドライバ36のリファレンス信号Vihとする。 （もっと読む）

【課題】回路基板等の信号測定方法に関するものであり、プローブとの接触点で発生する反射が被測定回路に伝わり、信号波形が変化することを低減するものである。
【解決手段】信号配線１０６に接続されるインピーダンス整合用等の回路素子を２つ以上に分割し、その接続点にプローブ１０７を接触させて信号の分圧電圧を測定することで、被測定回路に隣接する回路素子１０１で信号の反射を減衰させている。さらに、回路素子１０１と１０２のインピーダンス値と測定した分圧電圧を用いて補正演算を行い、測定点の信号を導出する。 （もっと読む）

【課題】ＩＣテスタにより、ＴＭＤＳ信号を入力する被試験対象のダイナミック特性試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。
【解決手段】本発明は、ＩＣテスタにより、ＴＭＤＳ信号を入力する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。本システムは、ＩＣテスタのパラレル出力をシリアル信号に変換するパラレル／シリアル変換器と、このパラレル／シリアル変換器の出力を差動電流信号に変換し、被試験対象に出力する第１の差動電流ドライバとを備えたことを特徴とするシステムである。 （もっと読む）