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Fターム[4G077AB09]の内容

結晶、結晶のための後処理 (61,211) | 結晶自体の特徴 (2,433) | 結晶の直径、繊維長、繊維径の特定 (362)

Fターム[4G077AB09]に分類される特許

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シリコンエピタキシャルウェーハの主裏面に微少な凹凸が生じるのを抑制でき、主裏面全体のヘイズレベルを50ppm以下にするシリコンエピタキシャルウェーハの製造方法を提供する。
反応容器内に、シリコン単結晶基板を載置可能なサセプタが配設され、サセプタに載置されたシリコン単結晶基板に、水素雰囲気中で熱処理を施す水素熱処理工程と、水素熱処理工程後に、シリコンエピタキシャル層を気相成長する気相成長工程とを備えるシリコンエピタキシャルウェーハの製造方法において、水素熱処理工程中に、シリコン単結晶基板をサセプタから離間させ、気相成長工程の間は、シリコン単結晶基板をサセプタに載置する。
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【課題】 種結晶を用いることなく、浮遊帯溶融法により、<111>方位から2°以内に方位制御された磁性ガーネット単結晶を製造することができる、磁性ガーネット単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】 磁性ガーネット単結晶の製造方法は、種結晶を用いない、浮遊帯溶融法による磁性ガーネット単結晶の製造方法であり、多結晶の原料棒を準備する工程と、原料棒の一部を長手方向に順次溶融し固化させる工程と、直径が3.0mm以下の磁性ガーネット単結晶を製造する工程とを含む。磁性ガーネット単結晶の組成は、(Y,R)3 (Fe,M)5 12系(ただし、RはYおよび原子番号57〜71の元素のうちの少なくとも1種で、MはAl,Ga,In,Scのうちの少なくとも1種)であり、磁性ガーネット単結晶の成長方向は、<111>方位から2°00′以内の傾きの範囲である。 (もっと読む)


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