Fターム[4M106DE21]の内容
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Fターム[4M106DE21]に分類される特許
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試料表面形状検査装置及び試料表面形状検査方法
【課題】試料上にレジスト材料が形成されていても、その表面形状を、ミラー電子プロジェクション式検査装置によって検出可能にするパターン検査技術を提供する。
【解決手段】試料7のレジスト材料表面に照射することでその表面の電気伝導度を上げることのできる波長(160〜250nm)の紫外光を、紫外光源30より試料表面に対して全反射する角度(試料水平方向に対して約10度以下)以下で入射させることにより、試料表面のみを導電性にするよう構成する。
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撮像装置、欠陥検査装置、欠陥検査方法及び電子線検査装置
【課題】検査対象の表面の電位分布を均一にし、撮像した画像のコントラストを向上させる。
【解決手段】電子銃から放出された電子ビームを対象に照射し、対象から放出された電子を検出器を用いて検出し、前記対象の画像情報の収集、対象の欠陥の検査等を行う撮像装置において、前記対象に帯電した電荷を均一化若しくは低減化する手段を有する。
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