【課題】レーザユニットが備える複数の半導体レーザの精密な位置調整および小型化を実現するレーザユニット調整装置を提供する。
【解決手段】本発明に係るレーザユニット調整装置は、２波長半導体レーザ１および青色半導体レーザ２から出射された出射光を略平行光化するコリメートレンズ３２と、コリメートレンズ３２の光軸に垂直なミラー面を有するハーフミラー３３と、２波長半導体レーザ１および青色半導体レーザ２を移動させる移動手段と、上記移動手段を制御する制御手段とを備えており、上記制御手段が移動手段を移動させて半導体レーザの注入電流に対する半導体レーザの光出力強度の相対的な増大、または、半導体レーザの光出力強度に対する半導体レーザの注入電流の相対的な減少が検知された位置に上記半導体レーザを移動させるように移動手段を制御する。 （もっと読む）

【課題】レーベル面に高速に描画を行うことが可能な光ピックアップ及びそれを備える光ディスク装置を提供する。
【解決手段】光ピックアップ１００を、光ビームを出射するレーザ光源１と、レーザ光源１から出射した光ビームを光ディスクの記録面に集光するための記録再生用対物レンズ１１と、光ディスクのレーベル面の描画専用対物レンズ１２とを備えた構成とする。光ディスクのレーベル面の描画時には、描画専用対物レンズ１２により光ビームをレーベル面に集光させてレーベル面の描画を行う。 （もっと読む）

この発明は、測定対象（１２；１５；１８）の特性を光学的に測定するための測定装置（６）に関し、この測定装置は、ある有効光学空洞長さを有する空洞（７）を形成する、第１および第２反射端（１、２）を有する主共振器（１１）、この第１および第２反射端（１、２）の間の光ビーム経路に沿って進む光を発生するための光学ゲイン素子（３）、並びにこの光学ゲイン素子（３）とこの第２反射端（２）の間のこの光ビーム経路に沿って配置してある分散集束共振器素子（５）を含み、それでこの測定対象が少なくとも部分的にこの主共振器（１１）のこの光ビーム経路内にあるように配置してあり、およびそれでこの測定装置（６）が更にこの主共振器から出た光の特性を検出するための検出手段（８）を含み、この検出した特性の値がこの測定対象の特性の尺度である。
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