【課題】セラミック素体の端面と内部電極とのサイドギャップを正確に測定でき、極力小型化を図ることのできる積層型電子部品の製造方法を得る。
【解決手段】複数のセラミック層を積層してセラミック素体を形成するとともに、引出し部がセラミック素体の側面１２ａ，１２ｂに露出した内部電極２１，２２をセラミック素体の内部に形成し、側面１２ａ，１２ｂにめっきにより内部電極２１，２２の露出部と電気的に接続された帯状の外部端子電極２５，２６を形成する積層型電子部品の製造方法。端面１３ａに最も近い外部端子電極２１から端面１３ａまでの距離Ｇ２を測定し、測定された距離Ｇ２が所定の基準値を満たさない場合、そのセラミック素体を不良品として選別除去する。 （もっと読む）