説明

Fターム[5F058BH03]の内容

絶縁膜の形成 (41,121) | 無機絶縁膜形成後の処理 (2,470) | 熱処理(後処理) (1,507) | 雰囲気 (896) | 酸化雰囲気 (425)

Fターム[5F058BH03]に分類される特許

421 - 425 / 425


流動性絶縁材料から残留炭素堆積物を除去する方法。流動性絶縁材料はケイ素、炭素および水素を含むもので、流動性酸化物材料またはスピンオン流動性酸化物材料である。残留炭素堆積物は、流動性絶縁材料をオゾンに曝露することによってその流動性絶縁材料から除去される。流動性絶縁材料は、半導体基板上に配置されたトレンチの中に絶縁層を形成するために使用される。 (もっと読む)


【課題】 低温の結晶化により良好な特性を有するBi層状ペロブスカイト構造を有する強誘電体膜の製造方法を提供する。
【解決手段】 本発明の強誘電体膜の製造方法は、第1の原料液と、第2の原料液とを含む強誘電体の原料液を結晶化することにより、強誘電体膜を形成する工程を含み、前記第1の原料液と前記第2の原料液とは、種類が異なる関係にあり、前記第1の原料液は、Bi系層状ペロブスカイト構造を有する強誘電体を生成するための原料液であり、前記第2の原料液は、AサイトがPbであるABO系酸化物を生成するための原料液である。 (もっと読む)


窒素を含む誘電体膜を形成するための方法。この方法は、プラズマ窒化プロセスを使用して誘電体膜に窒素を組み込んで、酸窒化シリコン膜を形成するステップを含む。該酸窒化シリコン膜はまず、約700℃〜1100℃の温度で不活性または還元雰囲気においてアニーリングされる。該酸窒化シリコン膜は、約900度〜1100℃の温度で酸化雰囲気において2回目のアニーリングがなされる。 (もっと読む)


【課題】下層のポリシリコン膜を酸化させることなく、酸素アニールによりHTO膜を十分に改質させ、電気的にリークが少ないトンネル酸化膜を形成する半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】ポリシリコン膜からなる第1フローティングゲート16上に、窒化膜26又は酸窒化膜28を介してHTO膜を成膜し、酸素アニール処理を施して、トンネル酸化膜18(HTO膜)を形成する。 (もっと読む)


【課題】 半導体装置の層間絶縁膜などとして有用な低誘電率の膜を形成する方法と、この方法により形成される膜を提供すること。
【解決手段】 基材上に膜を成長させるのに十分な化学気相成長条件下で、シリルエーテル、シリルエーテルオリゴマー又は1以上の反応性基を有する有機ケイ素化合物を含む、有機ケイ素前駆物質を反応させて、約3.5以下の誘電率を有する層間絶縁膜を形成する。 (もっと読む)


421 - 425 / 425