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Fターム[5F103PP20]の内容

半導体装置を構成する物質の物理的析出 (6,900) | 前処理・後処理 (421) | その他の前処理・後処理 (43)

Fターム[5F103PP20]に分類される特許

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【課題】比較的低温下で、安価に、安全に結晶性シリコン薄膜を得て、該結晶性シリコン薄膜から容易に終端処理された結晶性シリコン薄膜を得ることができる結晶性シリコン薄膜の形成方法及び装置を提供する。
【解決手段】シリコンスパッタターゲットTと被成膜物品Sを設置した成膜室1内に水素ガスを導入し、高周波電力を印加して、プラズマ発光における波長656nmでの水素原子ラジカルの発光スペクトル強度Hα及び波長414nmでのシランラジカルの発光スペクトル強度SiH* との比(Hα/SiH* )が0.3〜1.3であるプラズマを発生させ、該プラズマにてシリコンスパッタターゲットTをケミカルスパッタリングして被成膜物品S上に結晶性シリコン薄膜を形成し、次いで、終端処理室10において、終端処理用ガスに高周波電力を印加することで発生させた終端処理用プラズマのもとで該結晶性シリコン薄膜の表面を終端処理する。 (もっと読む)


【課題】電界発光(EL)素子および、希土類元素がドープされたシリコン(Si)/二酸化ケイ素(SiO)格子構造の形成方法の提供。
【解決手段】基板を被うSi層のDCスパッタリングする工程1004と、該Si層へドープするための希土類元素のDCスパッタリングする工程1006と、希土類元素がドープされたSi層を被うSiO層のDCスパッタリングする工程1010と、格子構造を形成する工程1012と、希土類元素がドープされたSi層においてナノ結晶を形成するためのアニール工程1014とを含む。一形態において、希土類元素およびSiは、同時DCスパッタされる。格子構造において、SiO層と希土類元素がドープされたSi層が交互に複数積層されるように、SiのDCスパッタリング、希土類元素のDCスパッタリング、およびSiOのDCスパッタリングする工程は5〜60回繰り返される。 (もっと読む)


SiCは極めて安定な物質であり、通常のIII族窒化物の結晶成長装置では、SiC表面状態を結晶成長に適した状態に制御することが困難である。そこで、以下の処理を行った。HClガス雰囲気中で熱処理を行ってSiC基板1の表面をステップ−テラス構造にし、SiC基板1の表面に対して、王水、塩酸、フッ酸による処理を順次行ってSiC基板1の表面にわずかに形成されているシリコン酸化膜をエッチングして基板表面にはSiC清浄表面3を形成し、SiC基板1を高真空装置内に取り付け、超高真空状態(例えば、10−6〜10−8Pa)に保持した。超高真空状態において、例えば800℃以下でGa原子ビーム5を時間t1において照射し800℃以上で熱処理を行うプロセスを、少なくとも1回以上繰り返し、AlN膜の成長温度に設定し、超高真空状態でAl原子8aをSiC基板表面3に対して先行照射し、その後、N原子8bを供給する。
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