Fターム[5F140BG42]の内容
絶縁ゲート型電界効果トランジスタ (137,078) | ゲート電極及び側壁の製造 (21,161) | ゲート電極形成後の処理 (1,641) | 不純物の導入 (232)
Fターム[5F140BG42]の下位に属するFターム
イオン注入 (191)
Fターム[5F140BG42]に分類される特許
41 - 41 / 41
水素化ホウ素クラスターイオンの注入によるイオン注入装置及び半導体製造方法
【課題】 イオン化水素化ホウ素分子から形成されたイオンビームの注入によってP型ドーピングが達成される半導体製造法を提供する。
【解決手段】 イオン化された水素化ホウ素分子クラスターがP型トランジスタ構造を形成するために注入される、イオン注入装置及び半導体素子を製造する方法。例えば、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)素子の製造において、このクラスターは、ソース及びドレーン構造及びポリゲートに対してP型ドーピングを提供するために注入され、これらのドーピング段階は、PMOSトランジスタの形成に極めて重要である。分子クラスターイオンは、化学形態BnHx+及びBnHx-を有し、ここで、10<n<100及び0≦x≦n+4である。
(もっと読む)
41 - 41 / 41
[ Back to top ]