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Fターム[5F152CD01]の内容

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【課題】アモルファス薄膜を溶融加熱により結晶化させる際に、結晶薄膜の表面に突起が形成されるのを防止する。
【解決手段】アモルファス薄膜4の下層に、溶融結晶化に際し、少なくとも表層側が溶融してアモルファス薄膜4が結晶化されて凝固する際の体積変化を緩和するバッファ層3を設ける。バッファ層成膜という単純な1工程を追加するだけで、結晶化した時点で既に突起の高さが十分低いものにすることができ、絶縁膜を十分薄くする。さらには突起が形成された際の研磨・エッチングなどという無駄なプロセスを導入する必要がなくなり、コンタミネーションの発生防止や歩留まりの向上、製造効率の向上などの効果が得られる。 (もっと読む)


【課題】キャリア移動度がよく且つプラスチック基材に密着性よく設けられたポリシリコン膜を有する、低コストの薄膜トランジスタ基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】プラスチック基材10と、プラスチック基材10上に形成された歪付与膜11と、歪付与膜11上に形成されたバッファ膜12と、バッファ膜12上に形成されたポリシリコン膜13と、そのポリシリコン膜13上に形成されたゲート絶縁膜14と、ゲート絶縁膜14上に、又はゲート絶縁膜14のコンタクトホールを介して形成された電極15と、電極15等を覆う保護膜18とを有する薄膜トランジスタ基板1により、上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタ及びその製造方法に関し、特に、漏洩電流を減少するための薄膜トランジスタ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】可撓性基板100と、可撓性基板100上に形成される拡散防止層110と、拡散防止層110上に少なくとも二個の絶縁物質が積層して形成されるバッファ層120と、バッファ層120の一の領域上にチャンネル層130aとソース/ドレイン領域130bを有して形成される半導体層130と、半導体層130を含むバッファ層120上に形成されるゲート絶縁層140と、ゲート絶縁層140上のチャンネル層130aと対応する領域に形成されるゲート電極150と、ゲート電極150を含むゲート絶縁層140上に形成される層間絶縁層160と、層間絶縁層160にソース/ドレイン領域130bの少なくとも一の領域を露出させる所定のコンタクトホール170有し、ソース/ドレイン領域130bに接続されるように形成されるソース/ドレイン電極180a、180bと、を備えている。 (もっと読む)


【課題】 移動度を大きくすることが可能な薄膜トランジスタ素子、およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】 基板1と、基板1上に形成されており、かつチャネル領域21とこれを挟むソース領域22Aおよびドレイン領域22Bとを有するポリシリコン層2と、を備える薄膜トランジスタ素子Aであって、基板1およびポリシリコン層2の間に介在する介在部3aとポリシリコン層2から基板1の面内方向に延びる延出部3bとを有し、かつ基板1よりも熱伝導率が大きい絶縁層3をさらに備えている。 (もっと読む)


【課題】広範囲にわたって全導電性領域に、断切れ及び上層配線層との間のリーク電流の発生のない、均一な膜厚の銅配線層を形成することが可能な銅配線層の形成方法を提供すること。
【解決手段】基板上に銅シード層のパターンを形成する工程、及び前記銅シード層のパターン上に銅配線層を無電解めっき法で形成する工程を具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 電子ビームを照射することによってアモルファスシリコン膜を結晶化する際に蓄積される電荷を逃がす。
【解決手段】 導電性遮光膜204は、電子ビームが照射されるアモルファスシリコン膜及びポリシリコン層に蓄積される電荷を外部に逃がすことが可能である。より具体的には、導電性遮光膜204は、配線L1及びL2を介して電荷を装置外部に逃がすことが可能である。したがって、アモルファスシリコン膜或いはポリシリコン層におけるチャージアップを低減できる。これにより、アモルファスシリコン膜或いはポリシリコン層に蓄積した電荷による電界の発生を抑制でき、電子ビームをアモルファスシリコン膜等に到達させることができる。 (もっと読む)


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