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Fターム[5F152CD30]の内容

再結晶化技術 (53,633) | 被結晶化層の下方の層 (4,095) | その他 (4)

Fターム[5F152CD30]に分類される特許

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【課題】三次元半導体装置における特性を向上させることができる製造方法および装置構成を提供する。
【解決手段】第1半導体膜(9)上にカーボンナノチューブを備えるプラグ電極(15)を形成する工程、形成されたプラグ電極(15)の周囲に層間絶縁膜(16,18)を形成する工程、層間絶縁膜の表面を平滑化してプラグ電極(15)の頂部を露出させる工程、層間絶縁膜およびプラグ電極の頂部上に非晶質の第2半導体膜を形成する工程、非晶質の第2半導体膜にエネルギーを供給して露出したプラグ電極(15)を触媒として機能させて非晶質の第2半導体膜を結晶化させ結晶化した第2半導体膜(23)とする工程を備える。 (もっと読む)


【課題】金属酸化物を用いた絶縁膜を低温プロセスで結晶化することが可能で、これによりガラス基板やプラスチック基板上に特性の向上が図られた素子を設けることが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板1上に、金属酸化膜15と非晶質シリコン膜19との積層体を成膜形成する。積層体の上部に光吸収層23を形成する。光吸収層23で吸収される波長のエネルギー線Lhを光吸収層23に対して照射し、光吸収層23で発生させた熱により非晶質シリコン膜19と金属酸化膜15とを同時に結晶化させる。 (もっと読む)


【課題】半導体装置において、今後のさらなる高精細化(画素数の増大)及び小型化に伴う各表示画素ピッチの微細化を進められるように、複数の素子を限られた面積に形成し、素子が占める面積を縮小して集積することを課題とする。
【解決手段】同一基板上に第1のトランジスタと第2のトランジスタを有し、第1のトランジスタは、結晶構造を有する第1の半導体膜と、その上に順に積層して設けられた第1の絶縁膜と、結晶構造を有する第2の半導体膜と、第2の絶縁膜と、第1のゲート電極とを有し、第2のトランジスタは、結晶構造を有する第3の半導体膜と、その上に順に積層して設けられた第1の絶縁膜と、第3の絶縁膜と、第2のゲート電極とを有し、第2の絶縁膜と第3の絶縁膜は同一の材料からなる。 (もっと読む)


【課題】凹部を用いた結晶成長をより安定に実現し、高性能な半導体素子を安定して得ることを可能とすること。
【解決手段】本発明にかかる半導体装置の製造方法は、基板(11)の一方面側に凹部(125)を形成する第1工程と、上記基板の一方面側に膜厚Tの半導体膜(130)を形成する第2工程と、上記半導体膜に熱処理を行い、上記凹部を略中心とする略単結晶粒を形成する第3工程と、上記半導体膜を用いて半導体素子を形成する第4工程と、を含み、上記第2工程では、上記凹部の直径Dと深さFがF+T≧4×D+532(nm)の関係を満たすように上記凹部が形成される。 (もっと読む)


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