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Fターム[5F173AF81]の内容

半導体レーザ (89,583) | 半導体の積層方向の構造 (3,445) | 電流狭窄層(横方向の電流狭窄のための層)の構造 (638)

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【課題】 内部量子効率を低下させることなく、吸収損失を低減することができる半導体レーザを提供する。
【解決手段】 本発明の半導体レーザは、p型クラッド層と、n型クラッド層と、p型クラッド層とn型クラッド層との間に設けられた活性層と、活性層とp型クラッド層との間に設けられ、i型半導体から成る第1光閉じ込め層と、活性層とn型クラッド層との間に設けられ、i型半導体から成る第2光閉じ込め層と、第1光閉じ込め層とp型クラッド層との間に設けられ、p型クラッド層からの不純物が活性層へ拡散することを抑制する拡散抑制層とを備える。 (もっと読む)


空隙からなる凹部(102b)およびIII族窒化物からなる凸部(102a)が表面に形成されている基板(101)と、基板(101)上に形成された窒化物半導体層(106)と、窒化物半導体層(106)上に形成され活性層を有する窒化物半導体積層体とを備え、基板(101)の格子定数は、III族窒化物(102a)の格子定数とは異なり、基板(101)は誘電体(104)からなるマスク(104a)を有しており、マスク(104a)は、凸部(102a)の側面にのみ形成され、凸部(102a)の上面は露出しており、かつ凹部(102b)には基板(101)が露出しており、マスク(104a)の高さL1は、50nm以上5000nm以下であり、凹部(102b)の幅L2は、5000nm以上50000nm以下であり、凹部(102b)のアスペクト比L1/L2は、0.001以上1.0以下である窒化物半導体素子である。このような構成により、窒化物半導体素子の信頼性を高めることができる。
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少なくとも、基板、平均屈折率がN1cldである第一導電型クラッド層、平均屈折率がNAである活性層構造、平均屈折率が、N2cldである第二導電型クラッド層を有する発振波長λ(nm)の半導体レーザであって、基板と第一導電型クラッド層の間に、第一導電型を示し平均的な屈折率がN1SWGである副導波路層を有し、かつ、副導波路層と基板の間には、第一導電型を示し平均屈折率がN1LILである低屈折率層を有し、かつ、これら屈折率が特定関係式を満たすことを特徴とする半導体レーザを開示する。この半導体レーザは、電流/光出力/温度等の変化に対して安定な発振波長を有する。
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【課題】 利得結合型分布帰還型半導体レーザ素子は、屈折率結合型分布帰還型半導体レーザ素子と比較して過渡的な出力変動が少ないという特徴を持つが、利得を持つ活性層の途中まで回折格子を形成する際に、活性層のある特定深さで制御性良く回折格子エッチングを止めることができないという課題があった。
【解決手段】
エッチング停止層を上下2つの利得を有する領域の間に形成し、且つ、エッチング停止層として利得領域とエッチングレートが異なる材質を用いることで、選択的に上側の利得領域のみをエッチングし、一様な深さをもつ周期的な回折格子を形成することが可能となる。 (もっと読む)


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