充電電流（ＩＰＯＳＣ１）が積分器（１）で積分されるＲＣ発振回路が提供される。積分器の出力電圧は、基準閾値（ＶＴＨ）と、比較器（７）にて比較される。比較に応じて、クロックパルス発生器（９）にて、周期信号が発生する。さらに、回路全体の温度及び供給電圧に応じて基準閾値（ＶＴＨ）が発生される基準発生器（８）が具備される。これにより、発振器の周波数依存性は、供給電圧の変動から大幅に補償される。
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【課題】半導体集積回路の動作速度を保証すると共に、ダイナミック回路の動作時のピーク電流が単一時間に集約されることを防ぎ、ＥＭＩを抑制することを目的とする。
【解決手段】トランジスタ駆動能力測定回路３３３によりプロセスのばらつきによるトランジスタの駆動能力を測定し、クロックパルス変更回路４４４にて測定結果に基づいてクロックパルスの立ち上がりおよび立ち下りのタイミングを変更することにより、最適なタイミングでダイナミック回路２５１を動作させることができ、半導体集積回路の動作速度の保証を行うことができる。 （もっと読む）