【目的】数十μm程度の非常に薄い塗装であっても高精度で膜厚を計測できる塗装膜厚計測装置を提供する。
【構成】塗料を塗布した直後の未乾燥塗装表面を撮像する撮像手段１００と、上記撮像手段からの画像情報を画像処理する画像処理手段１０１と、上記画像処理手段で処理された画像処理データに基づいて、塗装表面の凹凸波形のパワースペクトラムにおける長波長領域のピーク波長を求める波長演算手段１０２と、上記長波長領域のピーク波長の値と予め実験で求めた塗装膜厚との関係から、ウエット状態における膜厚を算出する膜厚演算手段１０３と、を備えた塗装膜厚計測装置。 （もっと読む）

【目的】 表面プラズモン共鳴を利用した測定装置において、刺激に対する試料の状態変化を測定できる表面プラズモン共鳴を利用した測定装置を提供する。
【構成】 表面プラズモン顕微鏡(2,21)と化学・バイオセンサ(41,42,51,52,53)、または表面プラズモン顕微鏡および化学・バイオセンサと外部刺激手段(3,31,32,111) および／または他の測定手段(61,71,81,91,101) 、あるいは表面プラズモン顕微鏡と外部刺激手段および／または他の測定手段とを設けて試料を測定・分析する。 （もっと読む）

【目的】 透過率が変化する紙や原稿の給紙時にも、また２枚の紙が完全に重なって送られる時にも、重送を確実に検出することができるようにした自動給紙装置の重送検出装置を提供する。
【構成】 紙の側縁の画像を一次元画像センサに結像し、紙の厚さ（Ｄ）を検出し、この厚さ（Ｄ）が設定値（Ｄ₀ ）以上となった時に重送と判別する。すなわち、両摩擦ロ−ラを通過した紙の送り方向に対して実質的に交わる方向に配設した一次元画像センサと、紙の側縁の画像を前記一次元画像センサに結像する光学系と、一次元画像センサに入力された側縁の画像により紙の厚さを検出し所定厚さ以上の時に重送と判断する重送判別手段とを備える。 （もっと読む）

【目的】 熱的要因によるロール等の変形、ロールの偏心が原因となる検出器ヘッドとロールとの距離の変化による厚み測定誤差をなくす非金属のシートの厚み測定装置を得る。
【構成】 非金属のシート５の表面までの距離を計る変位計の検出ヘッド11の被測定部の近傍に金属のみに感知する渦電流型変位計20を配置することにより、金属製のロール１上に被測定のシート５が配置された状態で検出ヘッド11とロール１の表面までの距離を測定する。検出ヘッド11と渦電流型変位計20との出力差を求めることにより、熱変形などによるロール１等の変形、ロール１の偏心による測定誤差の生じないシート５の厚み測定ができる。 （もっと読む）

【目的】 表面に被覆が施された線状体の被覆状態を連続的に正確に測定する。
【構成】 線状体１００の側面に平行光を照射し、特定方向への表面反射光Ａと境界面反射光Ｂとを集光レンズ１２１及びピンホール部材１２２を用いて選択してイメージセンサ１２４で検出して、その反射光間の特定方向に直交する方向の距離ｄ₂ 及び該反射光を形成する入射光Ａ′，Ｂ′間の距離ｄ₁を測定し、これらｄ₁ ，ｄ₂ から被覆状態を推定する。 （もっと読む）

【目的】この発明は、正確なギャップ測定が可能な液晶セルのセル厚測定方法を目的にしている。
【構成】内面に透明電極４０を有する一対のガラス基板１０をシール材５０で接着すると共に、該一対のガラス基板１０間には誘電率異方性が正の液晶６０を注入し、液晶セルのギャップ測定時に、該液晶セルにしきい電圧の５０倍以上の高電圧若しくはしきい磁界の５０倍以上の高磁界をかけながら測定して成る。 （もっと読む）

半導体薄膜(10)の成長中に得られた偏光解析データから誘電率を求め、求めた誘電率を利用して成長環境を調整することにより、成長膜の組成を制御する装置およびその方法。三相モデルでの薄膜の厚さに関する疑似誘導関数の導関数の式を使用し、その式は膜の厚さの最初の位数に対して完全である。式は、均一薄膜の誘電関数に関して二次であり、さらに薄膜の下層にある均一基板(12)の誘電関数に依存する。測定された疑似誘電関数値は、基板の誘電関数に代入すると、式は薄膜の誘電関数を解く。 （もっと読む）