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国際特許分類[G01Q60/28]の内容

国際特許分類[G01Q60/28]に分類される特許

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【課題】部材表面の汚染状態を精度良く検知できる部材表面汚染状態検知方法、及び、その部材表面汚染状態検知方法を用いた画像形成装置を提供する。
【解決手段】感光体2や現像ローラ50や帯電ローラ3や転写ベルト6などの部材の表面とカンチレバー60の探針61との間で生じる付着力を測定し、その測定した付着力から、予め求めた部材の表面とカンチレバーの探針との間で生じる付着力と、部材の表面の汚染状態との関係に基づいて、部材の表面の汚染状態を検知する。 (もっと読む)


【課題】部材上の粉体の付着力を精度良く測定することができる付着力測定方法及びその付着力測定方法を用いた付着力測定装置を提供することである。
【解決手段】原子間力顕微鏡を用い、探針で保持した粉体を部材上から引き離すときの探針のたわみ量をたわみ量検出手段で検出し、そのたわみ量に基づいて部材と粉体との間の付着力を求める付着力測定方法において、前記探針が開閉可能なピンセット構造であり、部材上の粉体を探針で掴んだ後、部材上から粉体を引き離すときの探針のたわみ量をたわみ量検出手段で検出する。 (もっと読む)


【課題】材料の重心が検知用の板ばねの中心からずれたり、板ばねが変形した場合にも測定を可能とする。
【解決手段】本発明の走査型プローブ顕微鏡は、第1試料1が先端部に設置された板ばね3と、板ばね3の端部を固定する固定部材14と、第2試料2が固定される試料台15と、光源16からの検出光が板ばね3に当てられ、その反射光を光検出器17で検出する板ばね3の変位検出光学系18と、試料台15又は板ばね3を動かして、第1・第2試料1、2を接近・離隔させるための試料間隔調整機構19と、第1・第2試料1、2間の摩擦を測定する水平走査機構20と、第1・第2試料1、2間の吸着、凝着、反発のうち少なくとも一つを測定するための垂直走査機構21とを備える走査型プローブ顕微鏡S1であって、検出光r11の光軸が当てられた板ばね3の傾きを、試料台15に対して任意の角度で変化させる固定部材14を回転させる回転機構22を備える。 (もっと読む)


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