国際特許分類[G01Q60/40]の内容
物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 走査プローブ技術または装置;走査プローブ技術の応用,例.走査プローブ型顕微鏡[SPM] (274) | 特定の型のSPM[走査プローブ型顕微鏡]またはそのための装置;その基本的な構成部品 (135) | AFM[原子間力顕微鏡法]またはそのための装置,例.AFM用のプローブ (79) | プローブまたはその製造または関連する器具類,例.プローブホルダー (14) | 導電性プローブ (1)
国際特許分類[G01Q60/40]に分類される特許
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描画物製造方法、描画部材及び描画装置
【課題】描画部材の尖鋭部先端の先鋭度の低下を抑制し、描画距離を従来よりも伸長させるとともに、描画線幅の均一化を図ることができる描画物製造方法を提供し、更に、先鋭度の低下を抑えた描画部材及び当該描画部材を備えた描画装置を提供する。
【解決手段】基板Kが載置される基台2、基台2を移動させる基台移動機構3、内層としての金層と外層としての白金層が形成された尖鋭部を有する描画部材10、描画部材10を支持する支持部材4、支持部材4を介して描画部材10を移動させる描画部材移動機構5、基板Kと描画部材10に電圧を印加する電圧印加機構6など備えた描画装置1を用いて、電子線レジスト上にフッ素含有化合物を含む被膜を形成させた基板Kに描画処理を施す。
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