国際特許分類[G01R31/3181]の内容
物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 電気的変量の測定;磁気的変量の測定 (31,836) | 電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの (15,110) | 電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの (5,767) | デジタル回路の試験 (638) | 機能試験 (585)
国際特許分類[G01R31/3181]の下位に属する分類
試験入力,例.テストベクトル,パターンまたはシーケンス,の発生 (349)
試験のための構成変更,例.LSSD,回路分割 (58)
ビルトインテスト
テスターハードウエア,すなわち,出力処理回路 (178)
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