国際特許分類[H01L21/306]の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 (183,847) | 半導体装置またはその部品の製造または処理 (125,986) | 少なくとも一つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合,空乏層,キャリア集中層,を有する装置 (97,574) | 不純物,例.ドーピング材料,を含むまたは含まない周期律表第IV族の元素またはA↓I↓I↓IB↓V化合物から成る半導体本体を有する装置 (83,040) | 21/20〜21/26に分類されない方法または装置を用いる半導体本体の処理 (43,387) | 表面の物理的性質または形状を変換するため,例.エッチング,ポリシング,切断 (21,268) | 化学的または電気的処理,例.電解エッチング (9,750)
国際特許分類[H01L21/306]の下位に属する分類
電解エッチング (92)
プラズマエッチング;反応性イオンエッチング (7,154)
マスクを用いるもの (427)
国際特許分類[H01L21/306]に分類される特許
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細線形成方法
【目的】 簡易で、再現性の良い細線形成方法を得る。
【構成】 半絶縁性GaAs基板を、第1の溶液でエッチングし、その後、第2の溶液で処理し、基板/エピ界面の不純物の偏析現象が変わることを利用して、1回のエピタキシャル成長を施すことにより、細線を形成する。
【効果】 細線形成を簡易に再現性良く実施できる。
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半導体装置の製造方法
【目的】 本発明は、半導体装置の製造方法に関し、被エッチング層となる保護膜パターンのパターン寸法精度を良好にすることができるとともに、下地の基板にダメージを入り難くすることができる半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
【構成】 下地の膜1上に被エッチング層2を形成する工程と、次いで、該被エッチング層2上にマスク層3を形成する工程と、次いで、該マスク層3を用い、該マスク層3下以外の領域の該下地の膜1上で該被エッチング層2が部分的に残るように該被エッチング層(2)をドライエッチングする工程と、次いで、該マスク層3を除去する工程と、次いで、該マスク層3下以外の領域の該下地の膜1上に残された該被エッチング層2をウェットエッチングする工程とを含むように構成する。
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半導体部材及び半導体部材の製造方法
半導体部材及び半導体部材の製造方法
【目的】 絶縁体上に結晶性が単結晶ウエハー並に優れた単結晶層を有する半導体部材を提供すること、及び該部材を得るうえで、生産性、均一性、制御性、経済性の面においても優れた方法を提供すること。
【構成】 多孔質単結晶半導体領域上に非多孔質単結晶半導体領域を配した部材を形成し、前記非多孔質単結晶半導体領域の表面に、表面が絶縁性物質で構成された部材の表面を貼り合わせた後、前記多孔質単結晶半導体領域をエッチングにより除去することを特徴とする半導体部材の製造方法。
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Siのエッチング方法
半導体製造装置
マイクロメカニカルのシリコン・オン・ガラス音叉ジャイロスコープの製造方法
マイクロメカニカル音叉ジャイロスコープであり、これは、溶解シリコンウェーハ・プロセスにより製造されるもので、このプロセスによって、エッチングされたガラス基板(12)、これにデポジットされた金属電極(202)、およびシリコン櫛型ドライブ音叉ジャイロスコープ(14)をハーメチックシールするアノードボンドンディングが形成される。溶解シリコンウェーハ・プロセスは、シリコン基板(100)のシングルサイド・プロセッシングを含み、このプロセッシングには、凹部(102)のエッチング工程、エッチレジスタントドーパント(104)のシリコン基板(100)への拡散工程および所望の部位(106)における拡散層(104)をエッチングしてシリコンジャイロスコープの種々のコンポーネンツをリリースする工程が含まれる。ガラス基板(12)もまたシングルサイド・プロセッシングを受け、このプロセッシングには、凹部エッチング工程、該凹部(200)にマルチメタル・システムをデポジットする工程および該マルチメタル・システム(202)の一部を選択的にエッチングする工程が含まれる。一方の基板(100)は他方の基板(12)の上で裏返しにされ、該二つの基板をアノードボンディングする前に、正合させる。 (もっと読む)
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