データ記録方法
【課題】温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性が低下させないことができ、磁気ヘッドの記録磁界は変化させず、かつ温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性を維持することが可能なデータ記録方法を提供すること。
【解決手段】データ記録が可能な複数の記録地点を含むデータ記録媒体の保磁力分布を測定する保磁力分布測定ステップと、現在の周辺温度を測定する周辺温度測定ステップと、周辺温度が常温より高ければ、保磁力の強度が相対的に高い記録地点を優先的に選択してデータを記録し、周辺温度が常温より低ければ、保磁力の強度が相対的に低い記録地点を優先的に選択してデータを記録するデータ記録ステップとを含むことを特徴とする。
【解決手段】データ記録が可能な複数の記録地点を含むデータ記録媒体の保磁力分布を測定する保磁力分布測定ステップと、現在の周辺温度を測定する周辺温度測定ステップと、周辺温度が常温より高ければ、保磁力の強度が相対的に高い記録地点を優先的に選択してデータを記録し、周辺温度が常温より低ければ、保磁力の強度が相対的に低い記録地点を優先的に選択してデータを記録するデータ記録ステップとを含むことを特徴とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データ記録方法に関し、ハードディスクドライブに適用して好適であり、特にデータ記録媒体の保磁力分布を利用してデータ記録媒体にデータを記録する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ハードディスクドライブは、コンピュータ、ＭＰ３プレーヤー、モバイルフォンなどに採用されるデータ記録装置である。通常的に、データは、ハードディスクドライブ内のデータ記録媒体であるディスクの表面に設けられた同心トラックに記録される。ディスクは、スピンドルモータに高速回転可能に装着され、データは、磁気ヘッドにより再生または記録される。
【０００３】
ハードディスクドライブのデータ記録媒体であるディスクは、磁気異方性を有する特性を利用してデータが保存される磁性体層を備える。ディスクの保磁力、さらに具体的に、磁性体層の保磁力は、ディスクに記録されるデータの記録信頼性と密接な連関性を有する。保磁力は、磁化された磁性体に逆磁場をかけて、その磁性体の磁化を０にする磁場の強度を意味する。ディスクの保磁力の強度が高ければ、データの記録に強い記録磁界が要求されるが、記録されたデータの保存性は向上する。逆に、ディスクの保磁力の強度が低ければ、弱い記録磁界でデータを記録できるが、記録されたデータの保存性は低下する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
一方、保磁力の強度は、温度によって変化する。温度が１℃下降するにつれて、ディスクの保磁力の強度Ｈｃは１５ないし１６Ｏｅ上昇し、温度が上昇すれば、逆にディスクの保磁力の強度は低下する。したがって、常温でデータ記録に最適化された記録磁界を適用して常温より低い温度のディスクにデータを記録すれば、データが識別可能な強度でディスクに記録されない、いわゆるウィークライトが発生しうる。また、常温でデータ記録に最適化された記録磁界を適用して常温より高い温度のディスクにデータを記録すれば、データが記録されると指定された地点の周囲地域までデータが記録されて、既に記録されたデータを除去する、いわゆるＡＴＷ（Adjacent Track Write）及びＡＴＥ（Adjacent Track Erase）が発生しうる。かかるウィークライト及びＡＴＷ（あるいは、ＡＴＥ）は、ＢＥＲ（Bit Error Rate）及びＣＳＭ（Channel Statistic Measurement）特性を悪化させて、ハードディスクドライブのデータ処理性能を低下させるという問題点がある。
【０００５】
そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性が低下させないことができ、磁気ヘッドの記録磁界は変化させず、かつ温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性を維持することが可能な、新規かつ改良されたデータ記録方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、データ記録が可能な複数の記録地点を含むデータ記録媒体の保磁力分布を測定する保磁力分布測定ステップと、現在の周辺温度を測定する周辺温度測定ステップと、前記周辺温度が常温より高ければ、保磁力の強度が相対的に高い記録地点を優先的に選択してデータを記録し、前記周辺温度が常温より低ければ、保磁力の強度が相対的に低い記録地点を優先的に選択してデータを記録するデータ記録ステップとを含むことを特徴とするデータ記録方法が提供される。
【０００７】
上記データ記録ステップで、常温での記録信号パラメータの最適値に基づいた記録信号を利用して、前記選択された記録地点にデータを記録するものであってもよい。
【０００８】
上記データ記録媒体の保磁力分布は、保磁力の強度によって複数のクラスに分類され、前記周辺温度も、周辺温度の高低によって前記保磁力分布クラスと対応する同数の周辺温度クラスに分類されて、前記データ記録ステップで、測定された周辺温度が属する周辺温度クラスに対応する保磁力分布クラスに属する記録地点に優先的にデータが記録されるものであってもよい。
【０００９】
上記保磁力分布測定ステップは、常温での記録信号パラメータの最適値を探すステップと、前記最適パラメータ値より小さいリファレンスパラメータ値を設定するステップと、前記リファレンスパラメータ値に基づいた記録信号を利用して、データ記録媒体の各記録地点にテストデータを記録するステップと、前記各記録地点に記録されたテストデータを再生して、エラーがあれば、保磁力の強度が相対的に高い記録地点と判断し、エラーがなければ、保磁力の強度が相対的に低い記録地点と判断するステップとを含むものであってもよい。
【００１０】
上記記録信号パラメータには、Ｗｃ（Write Current）、ＯＳＡ（Overshoot Amplitude）及びＯＳＤ（Overshoot Duration）のうち少なくとも一つが含まれるものであってよい。
【００１１】
上記記録信号パラメータの最適値は、ＢＥＲまたはＣＳＭが最小である時の記録信号パラメータの値であってもよい。
【００１２】
上記リファレンスパラメータ値は、大きさの異なる複数個が設定され、前記データ記録媒体の保磁力分布は、前記リファレンスパラメータ値の個数より一つさらに多い数のクラスに分類されるものであってもよい。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性が低下させないことができ、磁気ヘッドの記録磁界は変化させず、かつ温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性を維持することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００１５】
以下、本発明の望ましい実施形態によるデータ記録方法を説明するに先立って、ハードディスクドライブの構造を概略的に説明する。図１は、ハードディスクドライブの構造を示す平面図であり、図２は、データ記録媒体であるディスクを示す断面図である。
【００１６】
図１に示すように、ハードディスクドライブ１００は、ベース部材１０１及びそれに結合されたカバー部材（図示せず。）からなるハウジング内にスピンドルモータ１０５、データ記録媒体であるディスク１１０及びアクチュエータ１２０を備える。
【００１７】
スピンドルモータ１０５は、ディスク１１０を回転させるためのものであって、ベース部材１０１に固設される。ディスク１１０は、スピンドルモータ１０５に結合されて高速回転するものであって、ハードディスクドライブ１００の作動停止時にＨＳＡ（Head Stack Assembly）１２１の先端部のヘッドスライダー１２８がパーキングされるパーキング領域１１１と、データが保存されるデータ領域１１２とを備える。
【００１８】
図２に示すように、データ記録媒体であるディスク１１０は、ガラスまたはアルミニウム系の基板１１６、基板１１６上に順次に積層された磁性体層１１７、保護層１１８及び潤滑剤層１１９を備える。磁性体層１１７は、磁気異方性を有する特性を利用してデータが記録される層であり、保護層１１８は、磁性体層１１７を保護し、磁性体層１１７の酸化を防止する層であり、潤滑剤層１１９は、ヘッドスライダー１２８（図１参照）との接触によるディスク１１０及び磁気ヘッドの損傷を抑制する層である。
【００１９】
再び図１に示すように、アクチュエータ１２０は、ヘッドスライダー１２８を先端部に搭載し、ベース部材１０１に回動可能に装着されたＨＳＡ１２１と、ＨＳＡ１２１を回動させるための回動力を提供するボイスコイルモータ１３０とを備える。
【００２０】
ＨＳＡ１２１は、ピボット軸受１２２を介在し、ベース部材１０１に回動可能に装着されたスイングアーム１２４と、スイングアーム１２４の先端部に結合されたサスペンション１２６と、サスペンション１２６の先端部に搭載されたヘッドスライダー１２８とを備える。ヘッドスライダー１２８には、ディスク１１０にデータを記録し、ディスク１１０からデータを判読する磁気ヘッド（図示せず。）が形成されている。
【００２１】
ディスク１１０が高速回転すれば、ヘッドスライダー１２８には揚力が作用する。揚力と、ヘッドスライダー１２８をディスク１１０に向かうように加圧するサスペンション１２６の弾性加圧力とが平衡をなす高さで、ヘッドスライダー１２８は浮上状態を維持する。かかる浮上状態で、磁気ヘッドは、ディスク１１０の特定のトラックにデータを記録し、特定のトラックからデータを判読する機能を行う。
【００２２】
ボイスコイルモータ１３０は、ピボット軸受１２２を基準としてサスペンション１２６の逆方向に突出したオーバーモールド（図示せず。）に設けられたボイスコイル（図示せず。）と、ボイスコイルの上側及び下側に配置されるマグネット（図示せず。）と、マグネットを支持するヨーク（図示せず。）とを備える。ＨＳＡ１２１は、ボイスコイルに入力される電流信号とマグネットにより形成された磁場との相互作用により、フレミングの左手法則による方向に回動する。
【００２３】
スピンドルモータ１０５、ヘッドスライダー１２８に形成された磁気ヘッド、及びボイスコイルモータ１３０のボイスコイルは、印刷回路ボード１４０に搭載された電子回路１４５と連結される。電子回路１４５は、スピンドルモータ１０５、磁気ヘッド及びボイスコイルモータ１３０を制御するコントローラとして機能する。
【００２４】
以下、本発明の望ましい実施形態によるデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を詳細に説明する。
【００２５】
（第１の実施形態）
まず、本発明の第１実施形態に係るデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を説明する。図３は、本発明の第１実施形態によるデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を示すフローチャートであり、図４は、図３でデータ記録媒体の保磁力分布を測定する方法を詳細に示すフローチャートであり、図５は、データ記録媒体の保磁力分布を測定する方法を説明するためのグラフである。
【００２６】
図３及び図４に示すように、本発明の第１実施形態によるデータ記録方法は、まず、データ記録媒体、すなわちディスク１１０（図１参照）の保磁力分布を測定する保磁力分布測定ステップＳ１１０を含む。ディスク１１０を製造するとき、磁性体層１１７（図２参照）、保護層１１８（図２参照）及び潤滑剤層１１９（図２参照）を積層する方法や前記各層の成分、厚さなどの微細な差により、ディスク１１０のデータ領域１１２内の各記録地点は、許容公差以内で保磁力の差が存在し、これにより、ディスク１１０に保磁力分布が形成される。かかるディスク１１０の保磁力分布をディスク１１０の製造ステップでデザインし難いため、製造されたディスク１１０に対して保磁力分布を測定する。
【００２７】
ディスク１１０の保磁力分布測定（Ｓ１１０）のために、まず、ＲＣＯ（Read Channel Optimization）実行を通じて常温で記録信号パラメータの最適値を探すステップＳ１１１が行われる。バーンインテストで行われるＲＣＯは、ディスクにデータを記録する時に適用されるパラメータの最適値、またはディスクに記録されたデータを再生する時に適用されるパラメータの最適値を探す過程である。データの記録に適用される記録信号パラメータには、例えばＷｃ、ＯＳＡ、ＯＳＤなどが含まれる。
【００２８】
図５に示したように、ＢＥＲまたはＣＳＭの結果グラフは、共通的に減少後に増加する趨勢を有する。したがって、常温条件で記録信号パラメータのスイーピングを通じてＢＥＲまたはＣＳＭが最小となる記録信号パラメータの最適値Ｐ０を探すことができる（Ｓ１１１）。保磁力分布測定（Ｓ１１０）のために採用される記録信号パラメータには、Ｗｃ、ＯＳＡ、ＯＳＤのうち少なくとも一つが含まれる。そして、ＢＥＲ結果グラフを利用して記録信号パラメータの最適値を探してもよく、ＣＳＭ結果グラフを利用して記録信号パラメータの最適値を探してもよい。
【００２９】
次いで、最適パラメータ値Ｐ０より小さいリファレンスパラメータ値Ｒ０を設定する（Ｓ１１２）。設定されたリファレンスパラメータ値Ｒ０の適正性如何は、結果により判断される。すなわち、一定なリファレンスパラメータ値Ｒ０を設定し、本発明によるデータ記録方法によってディスク１１０にデータを記録した後、ＢＥＲまたはＣＳＭ特性が従来の場合より向上したとすれば、結果的に設定されたリファレンスパラメータ値Ｒ０は適正な値であったと判断される。
【００３０】
次いで、リファレンスパラメータ値Ｒ０に基づいた記録信号を利用して、ディスク１１０の各記録地点にテストデータを記録する（Ｓ１１３）。これは、リファレンスパラメータ値Ｒ０を有する特定のパラメータ（例えば、Ｗｃ、ＯＳＡ、ＯＳＤなど）成分を記録信号に含めて磁気ヘッドに入力することを意味する。記録地点は、ディスク１１０のデータ領域１１２に備えられたビットセルでありうる。
【００３１】
次いで、各記録地点に記録されたテストデータを再生し（Ｓ１１４）、各記録地点に対して再生エラーがあるか否かを判別する（Ｓ１１５）。リファレンスパラメータ値Ｒ０は、最適パラメータ値Ｐ０より小さい値であるので、テストデータ再生ステップＳ１１４で発見された再生エラーは、ＡＴＷ（あるいは、ＡＴＥ）によるというよりウィークライトによる可能性が高い。したがって、再生エラーが発見された記録地点は、保磁力の強度が相対的に高い記録地点と判断され（Ｓ１１６）、再生エラーが発見されない記録地点は、保磁力の強度が相対的に低い記録地点と判断される（Ｓ１１７）。ディスク１１０の各記録地点に対して保磁力強度によって分類した結果は、ハードディスクドライブ１００（図１参照）の駆動に必要な重要情報が保存される場所であるメンテナンスシリンダー（図示せず。）に保存される（Ｓ１１８）。
【００３２】
上記の方法で得られたディスク１１０の保磁力分布を利用してデータを記録するために、現在の周辺温度を測定する（Ｓ１３０）。次いで、測定された周辺温度が常温と同じであるか否かを判断する（Ｓ１４０）。ステップＳ１１１での常温とステップＳ１４０での常温は、同じ温度に設定されねばならず、通常的に、常温は３０℃に設定される。
【００３３】
測定された周辺温度が常温と同じであれば、ランダムにディスク１１０上の記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ１４１）。測定された周辺温度が常温と同じでなければ、周辺温度が常温より高いか否かを判断する（Ｓ１５０）。もし、周辺温度が常温より高ければ、ディスク１１０の温度上昇により保磁力の強度が全体的に低下すると予想されるので、保磁力分布測定ステップＳ１１０を通じて保磁力の強度が相対的に高いと判断された記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ１５１）。一方、周辺温度が常温より低ければ、ディスク１１０の温度下降により保磁力の強度が全体的に増大すると予想されるので、保磁力分布測定ステップＳ１１０を通じて保磁力の強度が相対的に低いと判断された記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ１５２）。
【００３４】
磁気ヘッドを選択された記録地点上に移動させ、磁気ヘッドに記録信号を入力して記録磁界を形成することによって、記録地点にデータが記録される。データの記録ステップＳ１４１、Ｓ１５１、Ｓ１５２では、常温での記録信号パラメータの最適値Ｐ０（図５参照）に基づいた記録信号を利用してデータを記録する。「記録信号パラメータの最適値Ｐ０に基づいた記録信号」とは、記録信号パラメータの最適値Ｐ０を有する特定のパラメータ（例えば、Ｗｃ、ＯＳＡ、ＯＳＤなど）成分が記録信号に含まれていることを意味する。
【００３５】
第１実施形態によるデータ記録方法において、ディスク１１０の保磁力分布は、保磁力の強度によって２つのクラスに分類され、周辺温度も、常温を基準として２つのクラスに分類された。しかし、ディスク１１０の保磁力分布は、３つ以上のクラスに分類され、周辺温度も、保磁力分布クラスと対応する同数の周辺温度クラスに分類される。後述する第２実施形態によるデータ記録方法は、保磁力分布及び周辺温度が３つのクラスに分類される場合を示す。
【００３６】
（第２の実施形態）
まず、本発明の第２実施形態に係るデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を説明する。図６は、本発明の第２実施形態によるデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を示すフローチャートであり、図７は、図６でデータ記録媒体の保磁力分布を測定する方法を詳細に示すフローチャートである。
【００３７】
図６及び図７に示すように、本発明の第２実施形態によるデータ記録方法でも、データ記録媒体、すなわちディスク１１０（図１参照）の保磁力分布を測定する保磁力分布測定ステップＳ２１０が要求される。ディスク１１０の保磁力分布測定（Ｓ２１０）のために、まず、ＲＣＯ実行を通じて常温で記録信号パラメータの最適値を探すステップＳ２１１が行われる。
【００３８】
第１実施形態で前述したように、データの記録に適用される記録信号パラメータには、例えばＷｃ、ＯＳＡ、ＯＳＤなどが含まれ、常温条件で記録信号パラメータのスイーピングを通じてＢＥＲまたはＣＳＭが最小となる記録信号パラメータの最適値Ｐ０（図５参照）を探すことができる（Ｓ２１１）。
【００３９】
次いで、最適パラメータ値Ｐ０より小さい第１リファレンスパラメータ値Ｒ１（図５参照）を設定し（Ｓ２１２）、第１リファレンスパラメータ値Ｒ１に基づいた記録信号を利用して、ディスク１１０の各記録地点に第１テストデータを記録する（Ｓ２１３）。次いで、各記録地点に記録された第１テストデータを再生し（Ｓ２１４）、各記録地点に対して再生エラーがあるか否かを判別する（Ｓ２１５）。再生エラーが発見された記録地点は、保磁力の強度が高い第１保磁力分布クラスに属する記録地点と判断される（Ｓ２１６）。
【００４０】
一方、ステップＳ２１５を通じて再生エラーが発見されない記録地点に対しては、第１リファレンスパラメータ値Ｒ１より小さい第２リファレンスパラメータ値Ｒ２（図５参照）を設定し（Ｓ２１７）、第２リファレンスパラメータ値Ｒ２に基づいた記録信号を利用して第２テストデータを記録する（Ｓ２１８）。次いで、第２テストデータを再生して（Ｓ２１９）、再生エラーがあるか否かを判別する（Ｓ２２０）。ステップＳ２２０で再生エラーが発見された記録地点は、第１保磁力分布クラスよりは保磁力の強度が低い第２保磁力分布クラスに属する記録地点と判断される（Ｓ２２１）。ステップＳ２２０で再生エラーが発見されない記録地点は、第２保磁力分布クラスよりも保磁力の強度が低い第３保磁力分布クラスに属する記録地点と判断される（Ｓ２２２）。設定された第１及び第２リファレンスパラメータ値Ｒ１，Ｒ２の適正性如何も、第１実施形態のリファレンスパラメータＲ０と同様に結果により判断される。
【００４１】
ディスク１１０の各記録地点に対して第１、第２及び第３保磁力分布クラスに分類した結果は、メンテナンスシリンダー（図示せず。）に保存される（Ｓ２２４）。一方、本発明の第２実施形態と異なり、サイズの異なる３つ以上のリファレンスパラメータが設定されることもある。これにより、ディスクの保磁力分布は、リファレンスパラメータの個数より１つさらに多い数のクラスに分類される。
【００４２】
上記した方法で得られたディスク１１０の保磁力分布を利用してデータを記録するために、現在の周辺温度を測定する（Ｓ２３０）。次いで、測定された周辺温度が常温と同じであるか否かを判断する（Ｓ２４０）。ステップＳ２１１での常温とステップＳ２４０での常温は、同じ温度に設定されねばならず、通常的に、常温は３０℃に設定される。
【００４３】
測定された周辺温度が常温と同じであれば、ランダムにディスク１１０上の記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ２４１）。測定された周辺温度が常温と同じでなければ、周辺温度が常温より高いか否かを判断する（Ｓ２５０）。周辺温度が常温より高ければ、周辺温度が常温より高い温度に設定されたリファレンス温度より高いか否かを判断する（Ｓ２６０）。
【００４４】
もし、周辺温度がリファレンス温度より高ければ、ディスク１１０の温度上昇幅が比較的大きくて保磁力の強度が大幅低下すると予想されるので、３つの保磁力分布クラスのうち、保磁力の強度が最も高い第１保磁力分布クラスに属する記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ２６１）。もし、周辺温度がリファレンス温度より高くなければ、ディスク１１０の温度上昇幅が比較的小さくて保磁力の強度が小幅低下すると予想されるので、第１保磁力分布クラスより保磁力の強度が低い第２保磁力分布クラスに属する記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ２６２）。一方、ステップＳ２５０を通じて周辺温度が常温より低いと判断されれば、ディスク１１０の温度下降により保磁力の強度が増大すると予想されるので、３つの保磁力分布クラスのうち、保磁力の強度が最も低い第３保磁力分布クラスに属する記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ２５１）。
【００４５】
データの記録ステップＳ２４１，Ｓ２５１，Ｓ２６１，Ｓ２６２では、常温での記録信号パラメータの最適値Ｐ０（図５参照）に基づいた記録信号を利用してデータを記録する。「記録信号パラメータの最適値Ｐ０に基づいた記録信号」とは、記録信号パラメータの最適値Ｐ０を有する特定のパラメータ（例えば、Ｗｃ、ＯＳＡ、ＯＳＤなど）成分が記録信号に含まれていることを意味する。
【００４６】
本発明の実施形態によれば、温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性が低下しない。また、磁気ヘッドの記録磁界は変化させず、かつ温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性を維持できる。
【００４７】
すなわち、本発明の実施形態によれば、周辺温度の変化によって最適の記録地点にデータが記録されるので、データ記録の信頼性が向上する。また、常温で最適化された記録信号を利用してデータ記録媒体にデータを記録するにもかかわらず、データ記録の信頼性が低下しない。
【００４８】
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例又は修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【００４９】
例えば、複数枚のディスクを備えたハードディスクドライブについても本発明のデータ記録方法が適用されうる。
【産業上の利用可能性】
【００５０】
本発明は、ハードディスクドライブ関連の技術分野に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】ハードディスクドライブの構造を示す平面図である。
【図２】データ記録媒体であるディスクを示す断面図である。
【図３】本発明の第１実施形態によるデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を示すフローチャートである。
【図４】図３でデータ記録媒体の保磁力分布を測定する方法を詳細に示すフローチャートである。
【図５】データ記録媒体の保磁力分布を測定する方法を説明するためのグラフである。
【図６】本発明の第２実施形態によるデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を示すフローチャートである。
【図７】図６でデータ記録媒体の保磁力分布を測定する方法を詳細に示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５２】
１００ ハードディスクドライブ
１０１ ベース部材
１０５ スピンドルモータ
１１０ ディスク
１１１ パーキング領域
１１２ データ領域
１１６ 基板
１１７ 磁性体層
１１８ 保護層
１１９ 潤滑剤層
１２０ アクチュエータ
１２１ ＨＳＡ
１２２ ピボット軸受
１２４ スイングアーム
１２６ サスペンション
１２８ ヘッドスライダー
１３０ ボイスコイルモータ
１４０ 印刷回路ボード
１４５ 電子回路
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データ記録方法に関し、ハードディスクドライブに適用して好適であり、特にデータ記録媒体の保磁力分布を利用してデータ記録媒体にデータを記録する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ハードディスクドライブは、コンピュータ、ＭＰ３プレーヤー、モバイルフォンなどに採用されるデータ記録装置である。通常的に、データは、ハードディスクドライブ内のデータ記録媒体であるディスクの表面に設けられた同心トラックに記録される。ディスクは、スピンドルモータに高速回転可能に装着され、データは、磁気ヘッドにより再生または記録される。
【０００３】
ハードディスクドライブのデータ記録媒体であるディスクは、磁気異方性を有する特性を利用してデータが保存される磁性体層を備える。ディスクの保磁力、さらに具体的に、磁性体層の保磁力は、ディスクに記録されるデータの記録信頼性と密接な連関性を有する。保磁力は、磁化された磁性体に逆磁場をかけて、その磁性体の磁化を０にする磁場の強度を意味する。ディスクの保磁力の強度が高ければ、データの記録に強い記録磁界が要求されるが、記録されたデータの保存性は向上する。逆に、ディスクの保磁力の強度が低ければ、弱い記録磁界でデータを記録できるが、記録されたデータの保存性は低下する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
一方、保磁力の強度は、温度によって変化する。温度が１℃下降するにつれて、ディスクの保磁力の強度Ｈｃは１５ないし１６Ｏｅ上昇し、温度が上昇すれば、逆にディスクの保磁力の強度は低下する。したがって、常温でデータ記録に最適化された記録磁界を適用して常温より低い温度のディスクにデータを記録すれば、データが識別可能な強度でディスクに記録されない、いわゆるウィークライトが発生しうる。また、常温でデータ記録に最適化された記録磁界を適用して常温より高い温度のディスクにデータを記録すれば、データが記録されると指定された地点の周囲地域までデータが記録されて、既に記録されたデータを除去する、いわゆるＡＴＷ（Adjacent Track Write）及びＡＴＥ（Adjacent Track Erase）が発生しうる。かかるウィークライト及びＡＴＷ（あるいは、ＡＴＥ）は、ＢＥＲ（Bit Error Rate）及びＣＳＭ（Channel Statistic Measurement）特性を悪化させて、ハードディスクドライブのデータ処理性能を低下させるという問題点がある。
【０００５】
そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性が低下させないことができ、磁気ヘッドの記録磁界は変化させず、かつ温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性を維持することが可能な、新規かつ改良されたデータ記録方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、データ記録が可能な複数の記録地点を含むデータ記録媒体の保磁力分布を測定する保磁力分布測定ステップと、現在の周辺温度を測定する周辺温度測定ステップと、前記周辺温度が常温より高ければ、保磁力の強度が相対的に高い記録地点を優先的に選択してデータを記録し、前記周辺温度が常温より低ければ、保磁力の強度が相対的に低い記録地点を優先的に選択してデータを記録するデータ記録ステップとを含むことを特徴とするデータ記録方法が提供される。
【０００７】
上記データ記録ステップで、常温での記録信号パラメータの最適値に基づいた記録信号を利用して、前記選択された記録地点にデータを記録するものであってもよい。
【０００８】
上記データ記録媒体の保磁力分布は、保磁力の強度によって複数のクラスに分類され、前記周辺温度も、周辺温度の高低によって前記保磁力分布クラスと対応する同数の周辺温度クラスに分類されて、前記データ記録ステップで、測定された周辺温度が属する周辺温度クラスに対応する保磁力分布クラスに属する記録地点に優先的にデータが記録されるものであってもよい。
【０００９】
上記保磁力分布測定ステップは、常温での記録信号パラメータの最適値を探すステップと、前記最適パラメータ値より小さいリファレンスパラメータ値を設定するステップと、前記リファレンスパラメータ値に基づいた記録信号を利用して、データ記録媒体の各記録地点にテストデータを記録するステップと、前記各記録地点に記録されたテストデータを再生して、エラーがあれば、保磁力の強度が相対的に高い記録地点と判断し、エラーがなければ、保磁力の強度が相対的に低い記録地点と判断するステップとを含むものであってもよい。
【００１０】
上記記録信号パラメータには、Ｗｃ（Write Current）、ＯＳＡ（Overshoot Amplitude）及びＯＳＤ（Overshoot Duration）のうち少なくとも一つが含まれるものであってよい。
【００１１】
上記記録信号パラメータの最適値は、ＢＥＲまたはＣＳＭが最小である時の記録信号パラメータの値であってもよい。
【００１２】
上記リファレンスパラメータ値は、大きさの異なる複数個が設定され、前記データ記録媒体の保磁力分布は、前記リファレンスパラメータ値の個数より一つさらに多い数のクラスに分類されるものであってもよい。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性が低下させないことができ、磁気ヘッドの記録磁界は変化させず、かつ温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性を維持することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００１５】
以下、本発明の望ましい実施形態によるデータ記録方法を説明するに先立って、ハードディスクドライブの構造を概略的に説明する。図１は、ハードディスクドライブの構造を示す平面図であり、図２は、データ記録媒体であるディスクを示す断面図である。
【００１６】
図１に示すように、ハードディスクドライブ１００は、ベース部材１０１及びそれに結合されたカバー部材（図示せず。）からなるハウジング内にスピンドルモータ１０５、データ記録媒体であるディスク１１０及びアクチュエータ１２０を備える。
【００１７】
スピンドルモータ１０５は、ディスク１１０を回転させるためのものであって、ベース部材１０１に固設される。ディスク１１０は、スピンドルモータ１０５に結合されて高速回転するものであって、ハードディスクドライブ１００の作動停止時にＨＳＡ（Head Stack Assembly）１２１の先端部のヘッドスライダー１２８がパーキングされるパーキング領域１１１と、データが保存されるデータ領域１１２とを備える。
【００１８】
図２に示すように、データ記録媒体であるディスク１１０は、ガラスまたはアルミニウム系の基板１１６、基板１１６上に順次に積層された磁性体層１１７、保護層１１８及び潤滑剤層１１９を備える。磁性体層１１７は、磁気異方性を有する特性を利用してデータが記録される層であり、保護層１１８は、磁性体層１１７を保護し、磁性体層１１７の酸化を防止する層であり、潤滑剤層１１９は、ヘッドスライダー１２８（図１参照）との接触によるディスク１１０及び磁気ヘッドの損傷を抑制する層である。
【００１９】
再び図１に示すように、アクチュエータ１２０は、ヘッドスライダー１２８を先端部に搭載し、ベース部材１０１に回動可能に装着されたＨＳＡ１２１と、ＨＳＡ１２１を回動させるための回動力を提供するボイスコイルモータ１３０とを備える。
【００２０】
ＨＳＡ１２１は、ピボット軸受１２２を介在し、ベース部材１０１に回動可能に装着されたスイングアーム１２４と、スイングアーム１２４の先端部に結合されたサスペンション１２６と、サスペンション１２６の先端部に搭載されたヘッドスライダー１２８とを備える。ヘッドスライダー１２８には、ディスク１１０にデータを記録し、ディスク１１０からデータを判読する磁気ヘッド（図示せず。）が形成されている。
【００２１】
ディスク１１０が高速回転すれば、ヘッドスライダー１２８には揚力が作用する。揚力と、ヘッドスライダー１２８をディスク１１０に向かうように加圧するサスペンション１２６の弾性加圧力とが平衡をなす高さで、ヘッドスライダー１２８は浮上状態を維持する。かかる浮上状態で、磁気ヘッドは、ディスク１１０の特定のトラックにデータを記録し、特定のトラックからデータを判読する機能を行う。
【００２２】
ボイスコイルモータ１３０は、ピボット軸受１２２を基準としてサスペンション１２６の逆方向に突出したオーバーモールド（図示せず。）に設けられたボイスコイル（図示せず。）と、ボイスコイルの上側及び下側に配置されるマグネット（図示せず。）と、マグネットを支持するヨーク（図示せず。）とを備える。ＨＳＡ１２１は、ボイスコイルに入力される電流信号とマグネットにより形成された磁場との相互作用により、フレミングの左手法則による方向に回動する。
【００２３】
スピンドルモータ１０５、ヘッドスライダー１２８に形成された磁気ヘッド、及びボイスコイルモータ１３０のボイスコイルは、印刷回路ボード１４０に搭載された電子回路１４５と連結される。電子回路１４５は、スピンドルモータ１０５、磁気ヘッド及びボイスコイルモータ１３０を制御するコントローラとして機能する。
【００２４】
以下、本発明の望ましい実施形態によるデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を詳細に説明する。
【００２５】
（第１の実施形態）
まず、本発明の第１実施形態に係るデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を説明する。図３は、本発明の第１実施形態によるデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を示すフローチャートであり、図４は、図３でデータ記録媒体の保磁力分布を測定する方法を詳細に示すフローチャートであり、図５は、データ記録媒体の保磁力分布を測定する方法を説明するためのグラフである。
【００２６】
図３及び図４に示すように、本発明の第１実施形態によるデータ記録方法は、まず、データ記録媒体、すなわちディスク１１０（図１参照）の保磁力分布を測定する保磁力分布測定ステップＳ１１０を含む。ディスク１１０を製造するとき、磁性体層１１７（図２参照）、保護層１１８（図２参照）及び潤滑剤層１１９（図２参照）を積層する方法や前記各層の成分、厚さなどの微細な差により、ディスク１１０のデータ領域１１２内の各記録地点は、許容公差以内で保磁力の差が存在し、これにより、ディスク１１０に保磁力分布が形成される。かかるディスク１１０の保磁力分布をディスク１１０の製造ステップでデザインし難いため、製造されたディスク１１０に対して保磁力分布を測定する。
【００２７】
ディスク１１０の保磁力分布測定（Ｓ１１０）のために、まず、ＲＣＯ（Read Channel Optimization）実行を通じて常温で記録信号パラメータの最適値を探すステップＳ１１１が行われる。バーンインテストで行われるＲＣＯは、ディスクにデータを記録する時に適用されるパラメータの最適値、またはディスクに記録されたデータを再生する時に適用されるパラメータの最適値を探す過程である。データの記録に適用される記録信号パラメータには、例えばＷｃ、ＯＳＡ、ＯＳＤなどが含まれる。
【００２８】
図５に示したように、ＢＥＲまたはＣＳＭの結果グラフは、共通的に減少後に増加する趨勢を有する。したがって、常温条件で記録信号パラメータのスイーピングを通じてＢＥＲまたはＣＳＭが最小となる記録信号パラメータの最適値Ｐ０を探すことができる（Ｓ１１１）。保磁力分布測定（Ｓ１１０）のために採用される記録信号パラメータには、Ｗｃ、ＯＳＡ、ＯＳＤのうち少なくとも一つが含まれる。そして、ＢＥＲ結果グラフを利用して記録信号パラメータの最適値を探してもよく、ＣＳＭ結果グラフを利用して記録信号パラメータの最適値を探してもよい。
【００２９】
次いで、最適パラメータ値Ｐ０より小さいリファレンスパラメータ値Ｒ０を設定する（Ｓ１１２）。設定されたリファレンスパラメータ値Ｒ０の適正性如何は、結果により判断される。すなわち、一定なリファレンスパラメータ値Ｒ０を設定し、本発明によるデータ記録方法によってディスク１１０にデータを記録した後、ＢＥＲまたはＣＳＭ特性が従来の場合より向上したとすれば、結果的に設定されたリファレンスパラメータ値Ｒ０は適正な値であったと判断される。
【００３０】
次いで、リファレンスパラメータ値Ｒ０に基づいた記録信号を利用して、ディスク１１０の各記録地点にテストデータを記録する（Ｓ１１３）。これは、リファレンスパラメータ値Ｒ０を有する特定のパラメータ（例えば、Ｗｃ、ＯＳＡ、ＯＳＤなど）成分を記録信号に含めて磁気ヘッドに入力することを意味する。記録地点は、ディスク１１０のデータ領域１１２に備えられたビットセルでありうる。
【００３１】
次いで、各記録地点に記録されたテストデータを再生し（Ｓ１１４）、各記録地点に対して再生エラーがあるか否かを判別する（Ｓ１１５）。リファレンスパラメータ値Ｒ０は、最適パラメータ値Ｐ０より小さい値であるので、テストデータ再生ステップＳ１１４で発見された再生エラーは、ＡＴＷ（あるいは、ＡＴＥ）によるというよりウィークライトによる可能性が高い。したがって、再生エラーが発見された記録地点は、保磁力の強度が相対的に高い記録地点と判断され（Ｓ１１６）、再生エラーが発見されない記録地点は、保磁力の強度が相対的に低い記録地点と判断される（Ｓ１１７）。ディスク１１０の各記録地点に対して保磁力強度によって分類した結果は、ハードディスクドライブ１００（図１参照）の駆動に必要な重要情報が保存される場所であるメンテナンスシリンダー（図示せず。）に保存される（Ｓ１１８）。
【００３２】
上記の方法で得られたディスク１１０の保磁力分布を利用してデータを記録するために、現在の周辺温度を測定する（Ｓ１３０）。次いで、測定された周辺温度が常温と同じであるか否かを判断する（Ｓ１４０）。ステップＳ１１１での常温とステップＳ１４０での常温は、同じ温度に設定されねばならず、通常的に、常温は３０℃に設定される。
【００３３】
測定された周辺温度が常温と同じであれば、ランダムにディスク１１０上の記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ１４１）。測定された周辺温度が常温と同じでなければ、周辺温度が常温より高いか否かを判断する（Ｓ１５０）。もし、周辺温度が常温より高ければ、ディスク１１０の温度上昇により保磁力の強度が全体的に低下すると予想されるので、保磁力分布測定ステップＳ１１０を通じて保磁力の強度が相対的に高いと判断された記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ１５１）。一方、周辺温度が常温より低ければ、ディスク１１０の温度下降により保磁力の強度が全体的に増大すると予想されるので、保磁力分布測定ステップＳ１１０を通じて保磁力の強度が相対的に低いと判断された記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ１５２）。
【００３４】
磁気ヘッドを選択された記録地点上に移動させ、磁気ヘッドに記録信号を入力して記録磁界を形成することによって、記録地点にデータが記録される。データの記録ステップＳ１４１、Ｓ１５１、Ｓ１５２では、常温での記録信号パラメータの最適値Ｐ０（図５参照）に基づいた記録信号を利用してデータを記録する。「記録信号パラメータの最適値Ｐ０に基づいた記録信号」とは、記録信号パラメータの最適値Ｐ０を有する特定のパラメータ（例えば、Ｗｃ、ＯＳＡ、ＯＳＤなど）成分が記録信号に含まれていることを意味する。
【００３５】
第１実施形態によるデータ記録方法において、ディスク１１０の保磁力分布は、保磁力の強度によって２つのクラスに分類され、周辺温度も、常温を基準として２つのクラスに分類された。しかし、ディスク１１０の保磁力分布は、３つ以上のクラスに分類され、周辺温度も、保磁力分布クラスと対応する同数の周辺温度クラスに分類される。後述する第２実施形態によるデータ記録方法は、保磁力分布及び周辺温度が３つのクラスに分類される場合を示す。
【００３６】
（第２の実施形態）
まず、本発明の第２実施形態に係るデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を説明する。図６は、本発明の第２実施形態によるデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を示すフローチャートであり、図７は、図６でデータ記録媒体の保磁力分布を測定する方法を詳細に示すフローチャートである。
【００３７】
図６及び図７に示すように、本発明の第２実施形態によるデータ記録方法でも、データ記録媒体、すなわちディスク１１０（図１参照）の保磁力分布を測定する保磁力分布測定ステップＳ２１０が要求される。ディスク１１０の保磁力分布測定（Ｓ２１０）のために、まず、ＲＣＯ実行を通じて常温で記録信号パラメータの最適値を探すステップＳ２１１が行われる。
【００３８】
第１実施形態で前述したように、データの記録に適用される記録信号パラメータには、例えばＷｃ、ＯＳＡ、ＯＳＤなどが含まれ、常温条件で記録信号パラメータのスイーピングを通じてＢＥＲまたはＣＳＭが最小となる記録信号パラメータの最適値Ｐ０（図５参照）を探すことができる（Ｓ２１１）。
【００３９】
次いで、最適パラメータ値Ｐ０より小さい第１リファレンスパラメータ値Ｒ１（図５参照）を設定し（Ｓ２１２）、第１リファレンスパラメータ値Ｒ１に基づいた記録信号を利用して、ディスク１１０の各記録地点に第１テストデータを記録する（Ｓ２１３）。次いで、各記録地点に記録された第１テストデータを再生し（Ｓ２１４）、各記録地点に対して再生エラーがあるか否かを判別する（Ｓ２１５）。再生エラーが発見された記録地点は、保磁力の強度が高い第１保磁力分布クラスに属する記録地点と判断される（Ｓ２１６）。
【００４０】
一方、ステップＳ２１５を通じて再生エラーが発見されない記録地点に対しては、第１リファレンスパラメータ値Ｒ１より小さい第２リファレンスパラメータ値Ｒ２（図５参照）を設定し（Ｓ２１７）、第２リファレンスパラメータ値Ｒ２に基づいた記録信号を利用して第２テストデータを記録する（Ｓ２１８）。次いで、第２テストデータを再生して（Ｓ２１９）、再生エラーがあるか否かを判別する（Ｓ２２０）。ステップＳ２２０で再生エラーが発見された記録地点は、第１保磁力分布クラスよりは保磁力の強度が低い第２保磁力分布クラスに属する記録地点と判断される（Ｓ２２１）。ステップＳ２２０で再生エラーが発見されない記録地点は、第２保磁力分布クラスよりも保磁力の強度が低い第３保磁力分布クラスに属する記録地点と判断される（Ｓ２２２）。設定された第１及び第２リファレンスパラメータ値Ｒ１，Ｒ２の適正性如何も、第１実施形態のリファレンスパラメータＲ０と同様に結果により判断される。
【００４１】
ディスク１１０の各記録地点に対して第１、第２及び第３保磁力分布クラスに分類した結果は、メンテナンスシリンダー（図示せず。）に保存される（Ｓ２２４）。一方、本発明の第２実施形態と異なり、サイズの異なる３つ以上のリファレンスパラメータが設定されることもある。これにより、ディスクの保磁力分布は、リファレンスパラメータの個数より１つさらに多い数のクラスに分類される。
【００４２】
上記した方法で得られたディスク１１０の保磁力分布を利用してデータを記録するために、現在の周辺温度を測定する（Ｓ２３０）。次いで、測定された周辺温度が常温と同じであるか否かを判断する（Ｓ２４０）。ステップＳ２１１での常温とステップＳ２４０での常温は、同じ温度に設定されねばならず、通常的に、常温は３０℃に設定される。
【００４３】
測定された周辺温度が常温と同じであれば、ランダムにディスク１１０上の記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ２４１）。測定された周辺温度が常温と同じでなければ、周辺温度が常温より高いか否かを判断する（Ｓ２５０）。周辺温度が常温より高ければ、周辺温度が常温より高い温度に設定されたリファレンス温度より高いか否かを判断する（Ｓ２６０）。
【００４４】
もし、周辺温度がリファレンス温度より高ければ、ディスク１１０の温度上昇幅が比較的大きくて保磁力の強度が大幅低下すると予想されるので、３つの保磁力分布クラスのうち、保磁力の強度が最も高い第１保磁力分布クラスに属する記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ２６１）。もし、周辺温度がリファレンス温度より高くなければ、ディスク１１０の温度上昇幅が比較的小さくて保磁力の強度が小幅低下すると予想されるので、第１保磁力分布クラスより保磁力の強度が低い第２保磁力分布クラスに属する記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ２６２）。一方、ステップＳ２５０を通じて周辺温度が常温より低いと判断されれば、ディスク１１０の温度下降により保磁力の強度が増大すると予想されるので、３つの保磁力分布クラスのうち、保磁力の強度が最も低い第３保磁力分布クラスに属する記録地点を選択してデータを記録する（Ｓ２５１）。
【００４５】
データの記録ステップＳ２４１，Ｓ２５１，Ｓ２６１，Ｓ２６２では、常温での記録信号パラメータの最適値Ｐ０（図５参照）に基づいた記録信号を利用してデータを記録する。「記録信号パラメータの最適値Ｐ０に基づいた記録信号」とは、記録信号パラメータの最適値Ｐ０を有する特定のパラメータ（例えば、Ｗｃ、ＯＳＡ、ＯＳＤなど）成分が記録信号に含まれていることを意味する。
【００４６】
本発明の実施形態によれば、温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性が低下しない。また、磁気ヘッドの記録磁界は変化させず、かつ温度の変化にもかかわらず、データ記録の信頼性を維持できる。
【００４７】
すなわち、本発明の実施形態によれば、周辺温度の変化によって最適の記録地点にデータが記録されるので、データ記録の信頼性が向上する。また、常温で最適化された記録信号を利用してデータ記録媒体にデータを記録するにもかかわらず、データ記録の信頼性が低下しない。
【００４８】
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例又は修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【００４９】
例えば、複数枚のディスクを備えたハードディスクドライブについても本発明のデータ記録方法が適用されうる。
【産業上の利用可能性】
【００５０】
本発明は、ハードディスクドライブ関連の技術分野に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】ハードディスクドライブの構造を示す平面図である。
【図２】データ記録媒体であるディスクを示す断面図である。
【図３】本発明の第１実施形態によるデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を示すフローチャートである。
【図４】図３でデータ記録媒体の保磁力分布を測定する方法を詳細に示すフローチャートである。
【図５】データ記録媒体の保磁力分布を測定する方法を説明するためのグラフである。
【図６】本発明の第２実施形態によるデータ記録媒体の保磁力分布を利用したデータ記録方法を示すフローチャートである。
【図７】図６でデータ記録媒体の保磁力分布を測定する方法を詳細に示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５２】
１００ ハードディスクドライブ
１０１ ベース部材
１０５ スピンドルモータ
１１０ ディスク
１１１ パーキング領域
１１２ データ領域
１１６ 基板
１１７ 磁性体層
１１８ 保護層
１１９ 潤滑剤層
１２０ アクチュエータ
１２１ ＨＳＡ
１２２ ピボット軸受
１２４ スイングアーム
１２６ サスペンション
１２８ ヘッドスライダー
１３０ ボイスコイルモータ
１４０ 印刷回路ボード
１４５ 電子回路
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データ記録が可能な複数の記録地点を含むデータ記録媒体の保磁力分布を測定する保磁力分布測定ステップと、
現在の周辺温度を測定する周辺温度測定ステップと、
前記周辺温度が常温より高ければ、保磁力の強度が相対的に高い記録地点を優先的に選択してデータを記録し、前記周辺温度が常温より低ければ、保磁力の強度が相対的に低い記録地点を優先的に選択してデータを記録するデータ記録ステップと、
を含むことを特徴とする、データ記録方法。
【請求項２】
前記データ記録ステップで、常温での記録信号パラメータの最適値に基づいた記録信号を利用して、前記選択された記録地点にデータを記録することを特徴とする、請求項１に記載のデータ記録方法。
【請求項３】
前記データ記録媒体の保磁力分布は、保磁力の強度によって複数のクラスに分類され、前記周辺温度も、前記周辺温度の高低によって前記保磁力分布クラスと対応する同数の周辺温度クラスに分類されて、前記データ記録ステップで、測定された周辺温度が属する周辺温度クラスに対応する保磁力分布クラスに属する記録地点に優先的にデータが記録されることを特徴とする、請求項１に記載のデータ記録方法。
【請求項４】
前記保磁力分布測定ステップは、
常温での記録信号パラメータの最適値を探すステップと、
前記最適パラメータ値より小さいリファレンスパラメータ値を設定するステップと、
前記リファレンスパラメータ値に基づいた記録信号を利用して、データ記録媒体の各記録地点にテストデータを記録するステップと、
前記各記録地点に記録されたテストデータを再生して、エラーがあれば、保磁力の強度が相対的に高い記録地点と判断し、エラーがなければ、保磁力の強度が相対的に低い記録地点と判断するステップと、
を含むことを特徴とする、請求項１に記載のデータ記録方法。
【請求項５】
前記記録信号パラメータには、Ｗｃ（Write Current）、ＯＳＡ（Overshoot Amplitude）及びＯＳＤ（Overshoot Duration）のうち少なくとも１つが含まれることを特徴とする、請求項４に記載のデータ記録方法。
【請求項６】
前記記録信号パラメータの最適値は、ＢＥＲまたはＣＳＭが最小である時の記録信号パラメータの値であることを特徴とする、請求項４に記載のデータ記録方法。
【請求項７】
前記リファレンスパラメータ値は、大きさの異なる複数個が設定され、前記データ記録媒体の保磁力分布は、前記リファレンスパラメータ値の個数より１つさらに多い数のクラスに分類されることを特徴とする、請求項４に記載のデータ記録方法。
【請求項１】
データ記録が可能な複数の記録地点を含むデータ記録媒体の保磁力分布を測定する保磁力分布測定ステップと、
現在の周辺温度を測定する周辺温度測定ステップと、
前記周辺温度が常温より高ければ、保磁力の強度が相対的に高い記録地点を優先的に選択してデータを記録し、前記周辺温度が常温より低ければ、保磁力の強度が相対的に低い記録地点を優先的に選択してデータを記録するデータ記録ステップと、
を含むことを特徴とする、データ記録方法。
【請求項２】
前記データ記録ステップで、常温での記録信号パラメータの最適値に基づいた記録信号を利用して、前記選択された記録地点にデータを記録することを特徴とする、請求項１に記載のデータ記録方法。
【請求項３】
前記データ記録媒体の保磁力分布は、保磁力の強度によって複数のクラスに分類され、前記周辺温度も、前記周辺温度の高低によって前記保磁力分布クラスと対応する同数の周辺温度クラスに分類されて、前記データ記録ステップで、測定された周辺温度が属する周辺温度クラスに対応する保磁力分布クラスに属する記録地点に優先的にデータが記録されることを特徴とする、請求項１に記載のデータ記録方法。
【請求項４】
前記保磁力分布測定ステップは、
常温での記録信号パラメータの最適値を探すステップと、
前記最適パラメータ値より小さいリファレンスパラメータ値を設定するステップと、
前記リファレンスパラメータ値に基づいた記録信号を利用して、データ記録媒体の各記録地点にテストデータを記録するステップと、
前記各記録地点に記録されたテストデータを再生して、エラーがあれば、保磁力の強度が相対的に高い記録地点と判断し、エラーがなければ、保磁力の強度が相対的に低い記録地点と判断するステップと、
を含むことを特徴とする、請求項１に記載のデータ記録方法。
【請求項５】
前記記録信号パラメータには、Ｗｃ（Write Current）、ＯＳＡ（Overshoot Amplitude）及びＯＳＤ（Overshoot Duration）のうち少なくとも１つが含まれることを特徴とする、請求項４に記載のデータ記録方法。
【請求項６】
前記記録信号パラメータの最適値は、ＢＥＲまたはＣＳＭが最小である時の記録信号パラメータの値であることを特徴とする、請求項４に記載のデータ記録方法。
【請求項７】
前記リファレンスパラメータ値は、大きさの異なる複数個が設定され、前記データ記録媒体の保磁力分布は、前記リファレンスパラメータ値の個数より１つさらに多い数のクラスに分類されることを特徴とする、請求項４に記載のデータ記録方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２００８−４７２７７（Ｐ２００８−４７２７７Ａ）
【公開日】平成２０年２月２８日（２００８．２．２８）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００７−２０６７０８（Ｐ２００７−２０６７０８）
【出願日】平成１９年８月８日（２００７．８．８）
【出願人】（３９００１９８３９）三星電子株式会社 (8,520)
【氏名又は名称原語表記】Ｓａｍｓｕｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ Ｃｏ．，Ｌｔｄ．
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年２月２８日（２００８．２．２８）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年８月８日（２００７．８．８）
【出願人】（３９００１９８３９）三星電子株式会社 (8,520)
【氏名又は名称原語表記】Ｓａｍｓｕｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ Ｃｏ．，Ｌｔｄ．
【Ｆターム（参考）】
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