バイオセンサー試験ストリップ上の、コード情報のためのシステムおよび方法
本発明は、生体液中の検査対象の検体濃度を測定するためのテストストリップを提供する。テストストリップは、テストストリップが挿入されるテスト計測器によって読み取られる情報に符号化され得る。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
[関連明細書に対する参照]
本明細書はまた、そのすべてが参考文献によって本明細書に組み込まれている、発明の名称「検体センサーに関連する器具および方法」(2003年6月20日に出願された、米国特許出願第60/480,397号)、および「バイオセンサーおよび作製方法(現在出願中のされている弁護士ドケット番号7404−480号)にも関する。本明細書は、参考文献が組み込まれた内容である、2003年6月20日に出願された、米国仮出願第60/480,199号の利点を請求している。
[技術分野]
本発明は、生物学的流体中の検体の濃度を測定することにおける使用のための器具に関する。本発明は、よりとりわけ、バイオセンサー試験ストリップ上のコード情報のためのシステムおよび方法に関する。
【背景技術】
【0002】
生物学的流体中の基板の濃度を測定することは、多くの医療状態の診断および処置のための重要なツールである。たとえば、液体のような体液中のグルコースの測定は、糖尿病の効果的な処置に対して重要である。
【0003】
糖尿病治療は、典型的には、2つの種類のインスリン処置、基準および食事時間を必要とする。基準インスリンは、就寝前にしばしば取られる、連続的な、たとえば徐放インスリンに関連する。食事時間インスリン処置によって、糖および炭水化物の代謝を含む、種々の因子によって引き起こされる血中糖尿病中の変動を調節するために、追加用量の即効性インスリンが提供される。血中グルコース変動の適切な調節は、血中のグルコース濃度の的確な測定を必要とする。失敗をすると、彼または彼女の指、手、脚などの使用を完全に奪う糖尿病でありうる、失明および極度の循環の欠損を含む、極度の合併症を生み出しうる。
【0004】
多数の方法が、たとえばグルコースのような、血液試料中の検体の濃度を決定するために知られている。そのような方法は、典型的には、2つのカテゴリー、光学法および電気化学的方法、のうちの1つである。光学法は一般的に、典型的には、検体と結合したときに、公知の色を産出する試薬との組み合わせで、検体の濃度によって引き起こされる流体中のスペクトルシフトを観察するために、顕微鏡を使用する。電気化学的方法は一般的に、典型的には、検体と結合したときに、電荷−担体を産出する試薬との組み合わせで、電流(Amperonmetry)、電位(Potentiometry)または累積荷電(Coulometry)と、検体の濃度のあいだの相関に依存する。たとえば、それら全てが本明細書で組み込まれている、カランバス(Columbus)に付与された、米国特許第4233029号明細書、ペイス(Pace)に付与された米国特許第4225410号明細書、カランバス(Columbus)に付与された米国特許第4323536号明細書、マグリ(Muggli)に付与された米国特許第4008448号明細書、ライルジャら(Lilja et al.)に付与された米国特許第4654197号明細書、スジュミンキーら(Szuminsky et al.)に付与され米国特許第5108564号明細書、ナンカイら(Nankai et al.)に付与された米国特許第5120420号明細書、スジュミンキーら(Szuminsky et al.)に付与された米国特許第5128015号明細書、ホワイト(White)に付与された米国特許第5243516号明細書、ディーボルドら(Diebold et al.)に付与された米国特許第5437999号明細書、ポールマンら(Pollmann et al.)に付与された米国特許第5288636号明細書、カーターら(Carter et al.)に付与された米国特許第5628890号明細書、ヒルら(Hill et al.)に付与された米国特許第5682884号明細書、ヒルら(Hill et al.)に付与された米国特許第5727548号明細書、クリスマーら(Crismore et al.)に付与された米国特許第5997817号明細書、フジワラら(Fujiwara et al.)に付与された米国特許第6004441号明細書、プリーデルら(Priedel, et al.)に付与された米国特許第4919770号明細書、およびシー(Shieh)に付与された米国特許第6054039号明細書を参照のこと。試験を実施するためのバイオセンサーは、典型的には、生物学的流体中の検体の検体と、化学的に反応する、試薬をその上に含む、使い捨て試験ストリップである。試験ストリップは、試験メーターが、検体の濃度を決定し、使用者に表示するために、検体と試薬間の反応を、測定可能なように、非使い捨て試験メーターと一緒になる。
【0005】
そのような試験メーター/試験ストリップシステムにおいて、適切な試験結果を保証するために、試験ストリップの適切な同定を保証することが、一般的に実質的である。たとえば、単一の試験メーターを、多数の異なる型の試験ストリップを解析可能であり得、そこで、各型の試験ストリップは、生物学的流体中の、異なる検体の存在に関して試験するために設計される。試験を、適切に実施するために、試験メーターは、どの試験の型が、現在の使用している、試験ストリップに関して実施されるべきであると、知られなければならない。
【0006】
また、試験ストリップにおけるロット−ロット間の変数が、正確な試験結果を保証するために、試験メーター内に負荷されるべき、補正情報を必要とする。そのような補正情報を、試験メーター内にダウンロードするための共通の実施は、試験メーターのソケット内に挿入される、電気的読み出し専用メモリーキー(ROMキー)の使用である。この補正データが、試験ストリップの特定の製品ロットに対して、正確であるだけであり得るために、使用者は通常、現在使用している試験ストリップのロット番号が、ROMキーがプログラムされたロット番号と一致するか、通常確認する。
【0007】
試験ストリップに関する情報をもつことが望ましい多くの他の例が、当業者に公知である。先行技術によって、試験メーターによる読み込みのために、試験ストリップが、コード可能である情報量の重度の制限、および情報コード機能のための、比較的広い試験ストリップ表面積の使用を含む、多くの問題に悩まされてきている、情報をその上にコードすることを試みている。
【0008】
したがって、システムおよび方法は、情報を、試験メーターによる情報の読み取りのための、バイオセンサー上にコードされるようにする必要がある。本発明は、この要求にあわせることを指向している。
【発明の開示】
【0009】
本発明は、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するための、試験ストリップを提供し、そこで、前記試験ストリップは、試験ストリップが挿入される試験メーターによって、読むことが可能な情報でエンコードされうる。
【0010】
本発明の1つの形態において、生物学的流体中の検体の濃度を測定するための、試験ストリップを形成するための方法が開示され、本方法には、表面、およびその上に形成された、少なくとも1つの測定電極をもつ基板、少なくとも1つの情報コンタクトパッド、および少なくとも1つの測定コンタクトパッドを含む、前記基板表面上で形成された、多数の伝導性コンタクトパッド、および多数のコンタクトパッドの種々の1つと、伝導的に結合した多数の電位伝導性リンクを含む基礎試験ストリップ設計を提供することで、少なくとも1つの情報コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の多数の電位伝導性リンクを除く、任意の少なくとも1つの測定電極に連結せず、少なくとも1つの測定コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の多数の電位伝導性リンク以外のパスによって、少なくとも1つの測定電極の1つに結合する、一組の有効な試験ストリップ設計を定義することで、各1つの有効な試験ストリップ設計の組が、多数の電位伝導性リンクを組み込まないか、1つ、または1つ以上を組み込み、少なくとも1つの、多数の電位伝導性リンクが、第一の情報コンタクトパッドを、第一の測定コンタクトパッドに、第一の有効な試験ストリップ設計中で結合し、少なくとも1つの多数の電位伝導性リンクが、第一の情報コンタクトパッドが、第二の測定コンタクトパッドに、第二の有効な試験ストリップ設計中に結合する、有効な試験ストリップ設計の組から、1つの設計を選択すること、および前記選択した1つの設計あたり、1つの試験ストリップを形成することの段階が含まれる。
【0011】
本発明の他の形態において、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために、多数の試験ストリップが開示され、各多数の試験ストリップは、多数の電位伝導性リンクの存在または不在を除いて、お互いに本質的に同一であり、少なくとも1つの試験ストリップが、1つの表面と、その上に形成される、少なくとも1つの測定電極、少なくとも1つの情報コンタクトパッド、および少なくとも1つの測定コンタクトパッドを含む、基板表面上に形成された多数の伝導性コンタクトパッド、および多数の電位伝導リンクから選択された、多数の伝導リンクを含み、多数の伝導性リンクは、伝導的に、少なくとも3つのパッドを一緒に連結し、少なくとも1つの情報コンタクトパッドは、1つまたはそれ以上の多数の電位伝導性リンクを除いて、少なくとも1つの情報コンタクトパッドの任意に結合せず、少なくとも1つの測定コンタクトパッドは、1つまたはそれ以上の、多数の電位伝導性リンク以外のパスによって、少なくとも1つの測定電極の1つに結合する。
【0012】
本発明の他の形態において、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために、多数の試験ストリップが開示され、本方法には、表面、およびその上に形成された、少なくとも1つの測定電極をもつ基板、少なくとも1つの情報コンタクトパッド、および少なくとも1つの測定コンタクトパッドを含む、前記基板表面上で形成された、多数の伝導性コンタクトパッド、および多数のコンタクトパッドの種々の1つと、伝導的に結合した、多数の電位伝導性リンク、を含む基礎試験ストリップ設計を提供することで、そこで、少なくとも1つの情報コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の多数の電位伝導性リンクを除く、任意の少なくとも1つの測定電極に連結せず、少なくとも1つの測定コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の多数の電位伝導性リンク以外のパスによって、少なくとも1つの測定電極の1つに結合する、一組の有効な試験ストリップ設計を定義することで、そこで、各1つの、有効な試験ストリップ設計の組が、多数の電位伝導性リンクを組み込まないか、1つ、または1つ以上を組み込み、少なくとも1つの、有効な試験ストリップ設計の組が、少なくとも3つのコンタクトパッドにて一緒に、伝導性に連結する、伝導性リンクを含む、有効な試験ストリップ設計の組から、1つの設計を選択すること、および前記選択した1つの設計あたり、1つの試験ストリップを形成すること、の段階が含まれる。
【0013】
本発明の他の形態において、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために、多数の試験ストリップが開示され、前記試験ストリップは、表面と、その上に形成された少なくとも1つの測定電極をもつ基板、少なくとも1つの情報コンタクトパッド、および少なくとも1つの測定コンタクトパッドを含む、前記基板表面上で形成された、多数の伝導性コンタクトパッド、および少なくとも3つのコンタクトパッドを伝導的に結合している、少なくとも1つの伝導性リンクを含み、そこで、少なくとも1つの情報コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の少なくとも1つの伝導性リンクを除く、任意の少なくとも1つの測定電極に連結せず、少なくとも1つの測定コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の、少なくとも1つの伝導性リンク以外のパスによって、少なくとも1つの測定電極の1つに連結する。
【0014】
本発明の他の形態において、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために、多数の試験ストリップが開示され、前記試験ストリップは、表面と、その上に形成された少なくとも1つの測定電極をもつ基板、少なくとも1つの情報コンタクトパッド、および少なくとも1つの測定コンタクトパッドを含む、前記基板表面上で形成された、多数の伝導性コンタクトパッド、および少なくとも3つのコンタクトパッドを伝導的に結合している、少なくとも1つの伝導性リンクを含み、少なくとも1つの情報コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の少なくとも1つの伝導性リンクを除く、任意の少なくとも1つの測定電極に連結せず、少なくとも1つの測定コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の、少なくとも1つの伝導性リンク以外のパスによって、少なくとも1つの測定電極の1つに連結する。
【0015】
本発明の他の形態において、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために、多数の試験ストリップが開示され、前記試験ストリップは、挿入された試験スリップに接触する、少なくとも1つのコネクターコンタクト、基板最上表面の少なくとも一部上に形成された伝導性層、および基板最上表面上に定義された、少なくとも1つの先に決定されたコンタクトパッド位置をもつ、試験メーター内に挿入することに適合し、そこで、少なくとも1つのコンタクトパッド位置のそれぞれが、少なくとも1つのコネクターコンタクトが、試験ストリップに接触するときに、少なくとも1つのコネクターコンタクトのそれぞれの1つによって接触され、それぞれ1つのコンタクトパッド位置における、伝導性層の存在が、試験メーターに対して、バイナリービットの第一状態を示唆するために作用し、そしてそれぞれの1つのコンタクトパッド位置において、伝導性層がないことが、試験メーターにバイナリービットの第二状態を示唆するために作用する。
【0016】
本発明の他の形態において、挿入された試験ストリップに接触している少なくとも1つのコネクターコンタクトをもつ試験メーターを提供すること、試験メーター内に挿入されることに適合した試験ストリップを提供することで、最上表面をもつ基板、基板最上表面の少なくとも一部分上に形成された、伝導性層、および基板最上表面上に定義された、少なくとも1つの先に決定されたコンタクトパッドを含み、各すくなくとも1つの先に決定されたコンタクトパッド位置を、少なくとも1つのコネクターコンタクトのそれぞれ1つと接触させること、それぞれの1つのコンタクトパッド位置中で、伝導性層の存在に対する応答にて、試験メーター内に、バイナリービットの第一状態を示唆すること、および、それぞれの1つのコンタクトパッド位置中で、伝導性層が存在しないことに対する応答にて、試験メーター内に、バイナリービットの第二状態を示唆することを含む、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するための方法。
【0017】
本発明の他の形態において、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するための、試験ストリップが開示され、前記試験ストリップは、表面、その表面上に形成された第一測定電極、表面上に形成された第二測定電極、表面上に形成される第三電位電極、表面上に形成された第四電位電極、表面上に形成し、第一測定電極に伝導性に結合した、第一コンタクトパッド、表面上に形成し、第二測定電極に伝導性に結合した、第二コンタクトパッド、表面上に形成し、第三測定電極に伝導性に結合した、第三コンタクトパッド、表面上に形成し、第四測定電極に伝導性に結合した、第四コンタクトパッド、および第一測定電極に、第三および第四電位電極の1つを連結している、伝導性リンクを含み、それによって第三および第四電位電極の他の1つが、実際の電極になる。
【0018】
本発明の他の形態において、a)その上に形成された少なくとも第一、第二および第三コンタクトパッドをもつ基板を含む試験ストリップを提供すること、b)試験ストリップが試験メーター内に挿入される場合、第一、第二および第三コンタクトパッドとの、伝導性コンタクトを作製するために、配置されたコネクターを含む、試験メーターを提供すること、c)第一および第二コンタクトパッド間に伝導性が存在するかどうかを決定するために、試験メーターを動作させること、d)第一および第三コンタクトパッド間に伝導性が存在するかどうかを決定するために、試験メーターを動作させること、e)試験メーターが、第一および第二コンタクトパッド間に伝導性が存在し、第一と第三コンタクトパッド間には伝導性が存在しないと測定した場合、第二コンタクトパッドが、第一機能をもつように、そして第三コンタクトパッドが、第二機能をもつように、設計すること、およびf)試験メーターが、第一および第二コンタクトパッド間に伝導性が存在せず、第一と第三コンタクトパッド間に伝導性が存在すると測定した場合、第二コンタクトパッドが第二機能をもつように、そして第三コンタクトパッドが第一機能をもつように設計すること、の段階を含む、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するための試験メーターと、連結した試験ストリップを用いる方法が提供される。
【0019】
本発明の他の形態にて、a)その上に形成された少なくとも第一、第二および第三コンタクトパッドをもつ基板を含む試験ストリップを提供すること、b)試験ストリップが試験メーター内に挿入される場合、第一、第二および第三コンタクトパッドとの、伝導性コンタクトを作製するために、配置されたコネクターを含む、試験メーターを提供すること、c)第一および第二コンタクトパッド間に伝導性が存在するかどうかを決定するために、試験メーターを動作させること、d)試験メーターが、第一および第二コンタクトパッド間に伝導性が存在すると測定した場合、第二コンタクトパッドが、第一機能をもつように、そして第三コンタクトパッドが、第二機能をもつように、設計すること、およびe)試験メーターが、第一および第二コンタクトパッド間に伝導性が存在と測定した場合、第二コンタクトパッドが、第二機能をもつように、そして第三コンタクトパッドが、第一機能をもつように、設計すること、の段階を含む、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するための、試験メーターと、連結した試験ストリップを用いる方法が提供される。
【0020】
本発明の他の形態において、試験ストリップ上に位置する生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために適合された、試験メーターを用いる方法が開示されており、本方法には、a)試験メーターが、試験ストリップとの電気的コンタクトをつくるように、試験ストリップを試験メーター内に挿入すること、b)前記試験ストリップ上にエンコードされた情報を読むために、メーターを動作させること、およびc)試験メーターが試験ストリップからの情報読み取りに基づいて、ユーザー動作説明書を表示している言語を選択すること、の段階を含む。
【0021】
本発明の他の形態において、試験ストリップ上に位置する生物学的流体中の検体の濃度を測定するために適合された、試験メーターを用いる方法が開示されており、本方法には、a)試験メーターが、試験ストリップとの電気的コンタクトをつくるように、試験ストリップを試験メーター内に挿入すること、b)前記試験ストリップ上にエンコードされた情報を読むために、メーターを動作させること、およびc)試験メーターおよび試験ストリップが、前記試験ストリップからの情報読み取りに基づく、同様の地域マーケットにて販売されたかどうかを決定することの段階を含む。
【0022】
本発明の他の形態において、試験ストリップ上に配置された、生物学的流体中の検体の濃度を測定するために適合した試験メーターを用いる方法が開示されており、そこで、前記試験メーターは、定期使用の基準で売れた、定期使用試験ストリップと共に使用することを意図しておらず、a)試験メーターが、試験ストリップとの電気的コンタクトをつくるように、試験ストリップを試験メーター内に挿入すること、b)前記試験ストリップ上にエンコードされた情報を読むために、メーターを動作させること、c)試験ストリップが、試験ストリップからの情報読み取りに基づく、定期使用試験ストリップであるかどうか決定すること、およびd)試験ストリップが、定期使用試験ストリップであるかどうか、メーターによって試験ストリップの使用を防止すること、が含まれる。
【0023】
本発明の他の形態において、試験ストリップ上に位置する生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために適合された、試験メーターを用いる方法が開示されており、本方法には、a)試験メーターが、試験ストリップとの電気的コンタクトをつくるように、試験ストリップを試験メーター内に挿入すること、b)前記試験ストリップ上にエンコードされた情報を読むために、メーターを動作させること、およびc)試験ストリップからの情報読み取りに基づいて、試験メーターの潜在的な特徴を活性化すること、の段階を含む。
【0024】
本発明の他の形態において、試験ストリップ上に位置する生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために適合された、試験メーターを用いる方法が開示されており、本方法には、a)試験メーターが、試験ストリップとの電気的コンタクトをつくるように、試験ストリップを試験メーター内に挿入すること、b)前記試験ストリップ上にエンコードされた情報を読むために、メーターを動作させること、およびc)試験ストリップからの情報読み取りに基づいて、使用者に提示された、使用者操作取扱説明書を変更することの段階を含む。
【0025】
本発明の他の形態において、試験ストリップ上に位置する生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために適合された、試験メーターを用いる方法が開示されており、本方法には、a)試験メーターが、試験ストリップとの電気的コンタクトをつくるように、試験ストリップを試験メーター内に挿入すること、b)前記試験ストリップ上にエンコードされた情報を読むために、メーターを動作させること、およびc)試験メーターが、試験ストリップからの情報読み取りに基づいて、ユーザー動作説明書を表示している言語を選択することの段階を含む。
【0026】
本発明の他の形態にて、生物学的流体中の検体の濃度を測定するための試験システムが開示されており、前記試験システムは、少なくとも10のコンタクトをもつコネクターからなる試験メーター、および試験メーターコネクション内に挿入されるように適合した試験ストリップを含み、前記試験ストリップは、表面をもつ基板、表面上に形成された、少なくとも10のコンタクトパッドを含み、少なくとも10のコンタクトパッドは、試験ストリップが、試験メーターコネクション内に挿入された場合に、少なくとも10のコンタクトパッドそれぞれとの接触を作り出す。
【発明を実施するための最良の形態】
【0027】
本発明の原理の理解を促進する目的のために、参考として、ここで、図面で例示した実施様態を作製し、特定の言語を、実施様態を記述するために使用する。本発明の目的の制限を意図はしていないことが理解されるであろう。本発明が関連する技術分野の当業者に、通常理解されるであろうように、例示した器具における変更および改変、そこで例示したような本発明の原理のさらなる適用が、望ましく保護される。とりわけ、本発明が、血中グルコースメーターに関して議論されるけれども、本発明が、他の検体および他の試料型を測定するための器具と共に使用可能である。そのような他の実施様態は、当業者に自明であり得る、本明細書で議論した実施様態に対する、特定の適合を要求する。
【0028】
本発明のシステムおよび方法を、広い範囲の設計をもち、広い範囲の構築技術および工程で作製された、試験ストリップとともに使用して良いけれども、典型的な電気化学試験ストリップを、図1にて例示し、一般的に10にて指し示す。図1を参照して、試験ストリップ10は、その表面を、(たとえば、スパッタリングまたは蒸発沈殿によって)50mmの伝導性(金)層でコートした、(デュポン社(DuPont)から入手可能なMelinex329(商品名)のような)350μm厚のポリエステルの不透明から形成された、底基板12を含む。電極、それに対する接続トレースおよびコンタクトパッドが、ついでレーザー切断工程によって、伝導性層中にパターン化される。レーザー切断工程は、石英上クロムマスクを通過する、エキシマーレーザーの方法によって実施する。マスクパターンによって、反射されるべきレーザー領域の部分を引き起こし、一方で、領域の他の部分が、レーザー光によって接触された部分で切断される、金上のパターンを作製可能である。レーザー切断工程は、本明細書以下で、より詳細に記述されている。たとえば、ワーキング20、カウンター22、容量十分なワーキング24、および容量十分なカウンター26電極が、示したように形成され、それぞれ、測定コンタクトパッドW、C、DWおよびDCに連結されうる。これらのコンタクトパッドにより、いったん、試験ストリップ10が試験メーター内に挿入されたならば、試験メーターのコネクターコンタクトによって、接触される、試験ストリップ10上に伝導性領域が提供される。
【0029】
ついで底基板12が、連続した、非常に薄い試薬フィルムとして、試薬層14を含む電極上に広がる面積中でコートされる。試薬層14は、図1上で、「試薬層(Reagent Layer)」と標識された領域中の基板12にわたり、およそ6ミリメートルの広さのストリップである。たとえば、この領域は、コートされた表面平方面積あたり、重量50グラムのウェットコートで、コートされうる。試薬ストリップを、公称空気温度110℃のインライン乾燥システムにて、従来のように乾燥させる。処理の速度は、公称速度30〜38メーター/分であり、試薬のレオロジーに依存する。
【0030】
基板12の場合、電極パターンが、リールの長さに対して直角であるように、物質を、連続リール中で処理する。いったん基板12が試薬によってコートされたならば、スペーサー16をスリットし、基板12上への、リールからリールへの工程中に配置する。背面および腹面表面両方上で、25μm PSA(疎水性接着)にてコートされた、(たとえばデュポン社(DuPont)から入手可能なMelinex329(商品名)のような)100μmポリエステルから形成された、2つのスペーサー16を、スペーサー16が、1.5mmで分離され、ワーキング、カウンターおよび容量十分な電極を、このギャップの中心に添えるように、底基板12に適用する。(米国特許第5997817号明細書に記載された工程を用いて)その腹表面上で、親水性フィルムによってコートされた、100μmポリエステルから形成される最上ホイール層18を、スペーサー16の上におく。親水性フィルムは、10ミクロンの名目厚にて、バイテル(Vitel(登録商標))およびローダペックス(Rhodapex(登録商標))界面活性剤の混合物によってコートされる。最上ホイール層18は、リールからリールの工程を用いて、ラミネート加工される。ついで試験ストリップが、スリッティングおよび切断の方法によって、物質からの得られたリールより産出可能である。
【0031】
図1にて例示された、基礎試験ストリップ10が、全血液試料中の血中グルコースの正確な測定を提供可能であるけれども、試験ストリップに関してなにかを同定するために、その中に挿入される、試験メーターに関する方法は提供されない。本発明は、試験ストリップに関する情報が、直接試験ストリップそれ自身にコード可能であり、この情報が、試験ストリップが挿入された試験メーターに対して伝達される、いくつかのシステムを提示している。
【0032】
本発明の第一実施様態において、試験ストリップに関する情報は、そのようなコードされた情報の読み取りに費やされる、2つまたはそれ以上のコンタクトパッドを添加することによって、試験ストリップ上に直接コード可能である。図2で例示したように、追加情報コンタクトパッドB1およびB2の組を、試験ストリップの隣接末端に加える。さらに、情報コンタクトパッドB1およびB2間、およびそれらと、試験ストリップ測定電極に連結した、測定コンタクトパッド間の電位伝導性リンクが、28、30、32、34および36として同定される。これらのリンクは、これらが、試験ストリップ上へコードされるべき情報に依存して、最終試験ストリップ内に存在するか、しないかいずれかであり得るので、電位伝導性リンクとして命名される。したがって、「電気伝導性リンク(potential conductive link)」は、完全に試験ストリップの測定電極に伝導性に結合しないか、または電位伝導性リンクによってのみ連結しているか、いずれかである、試験ストリップ上のコンタクトパッドとして定義されている。本明細書で使用するところの、語句「測定コンタクトパッド(measurement contact pad)」は、電位伝導性リンクが存在する、またはしないに関わらず、いつも、試験ストリップの測定電極に伝導性に連結している、試験ストリップ上のコンタクトパッドとして定義される。
【0033】
とりわけ、電位伝導性リンク28は、DCコンタクトパッドおよびB1コンタクトパッドに連結する。電位伝導性リンク30は、B1コンタクトパッドおよびB2コンタクトパッドに連結する。電位伝導性リンク32は、B2コンタクトパッドおよびCコンタクトパッドに連結する。電位伝導性リンク34は、DCコンタクトパッドおよびB2コンタクトパッドに連結する。電位伝導性リンク36は、B1コンタクトパッドおよびCコンタクトパッドに連結する。本発明の第一実施様態が、例の方法としてのみ、情報コンタクトパッドB1とB2、および測定コンタクトパッドDCとC間の電位伝導性リンクを例示していること、および情報コンタクトパッドが、試験ストリップ上の任意の望む測定コンタクトパッド(類)に、伝導性に連結しうることに、注意すべきである。
【0034】
図3は、第一実施様態の任意の1つの試験ストリップ上に形成された、電位伝導性リンク28〜36に対する、可能性のある組み合わせを示している表を例示している。この表の最初の5つのカラムは、それぞれC1〜C5と標識された、電位伝導性リンク28〜36のそれぞれを示している。0〜8と番号づけられた表の9つの行のそれぞれが、電位伝導性リンク28〜36を用いてエンコード可能である、異なる数字を表す。表の位置中「0」は、その行の番号をエンコードしている時に、電位伝導性リンクが、形成はされないことを表し、表位置中の「1」は、その行の番号がエンコードされている時に、電位伝導性リンクが形成されることを示している。DCコンタクトパッドとCコンタクトパッドは、試験ストリップ測定電極の測定機能性に悪影響を与えることなしに、伝導的に連結不可能であるので、いくつかの電位伝導性リンクの組み合わせが許容されないことに注意すべきである。たとえば、電位伝導性リンク34および36は、互いが架橋し、したがって、DCコンタクトパッドを、Cコンタクトパッドに、伝導的に連結しうるので、同時に使用できない可能性がある。同様に、電位伝導性リンク28、30および32は、同時に使用出来ない。
【0035】
図3の表の最後の2つのカラムは、それぞれB1およびB2と標識され、その行の番号を、試験ストリップ上にエンコードする場合に、その他のコンタクトパッドに、標識したコンタクトパッドを連結することを示唆している。たとえば、数字(6)が、試験ストリップ上にエンコードされた場合(すなわち、電位伝導性リンク28および32が、試験ストリップ上に形成される場合)、B1コンタクトパッドが、DCコンタクトパッドに伝導性に連結し、B2コンタクトパッドが、Cコンタクトパッドに伝導性に連結するが、B1およびB2は、(お互いを含めて)他の任意のコンタクトパッドに伝導性に結合しない。したがって、各コンタクトパッドDC、B1、B2およびC間の(直接的または間接的いずれかの)抵抗性の試験メーターによる測定が、(8)個の可能性のある数字のどれが、試験ストリップ上にエンコードされたかを示唆する。本発明はまた、抵抗性または伝導度の測定による以外の、試験ストリップ上の電位伝導性リンクの存在または存在しないことを決定するための、他の方法も含む。非限定例の方法にて、電位伝導性リンクはまた、容量性の方法によって、光学スキャニング技術によって、または当業者に理解されるであろう他の方法によって、電磁気場を用いる、渦電流を誘導し、方向付けることによって、非コンタクト様式にて、方向付けることも可能である。
【0036】
すべての電位伝導性リンク28〜36がない状態は、好ましくは、電位伝導性リンク28〜36を含む試験ストリップの領域を消し去る、局在的欠格によって引き起こされうるので、有効な状態であるとは考えられないが、この状態は、他の好ましくない実施様態において、有効な状態であると考え得ることに注意するべきである。図3の表中の有効な組み合わせとして示唆されていない、コンタクトパッドの組み合わせ間の伝導の読み取りが、意図しない短さで、不良なストリップとして、試験メーターより解釈されうることも、理解されるべきである。
【0037】
本発明の専用情報コンタクトパッドとの組み合わせでの、測定コンタクトパッドの利用、および1つ以上の測定コンタクトパッドへ、各情報コンタクトパッドを電位的に連結する可能性は、試験ストリップ上へエンコードされうる総数を増加させる。比較のために、本発明の第一実施様態の2つの情報コンタクトパッドが、8個のコーディングを伝導的に許容する。日本国特許第JP2000352034号に開示された設計は、2つの情報コンタクトパッドでの、2つの可能性のある状態を許容するのみであり、一方で、欧州特許出願公開第1152239号明細書は、2つの情報コンタクトパッドでの、4つの可能性のある状態を許容するのみである。
【0038】
本明細書で記述したような情報でエンコードされた試験ストリップを調製する1つの方法は、レーザー切断技術を使用するものである。バイオセンサーのための電極を調節することにおける、これらの技術の使用の例は、いずれも参考文献にて、本明細書に組み込まれている2001年5月25日に出願された、米国特許出願第09/866,030号の「連続カバーレイチャネルでの、レーザー切断電極をもつバイオセンサー(Biosensors with Laser Ablation Electrodes with a Continuous Coverlay Channel)」、および1999年10月4日に出願された、米国特許出願第09/411,940号の「レーザー・ディフィンド・フィーチャー・フォオ・パターンド・ラミネイツ・アンド・エレクトロード(Laser Defined Feature for Patterned Laminates and Electrode)」に記載されている。
【0039】
本発明において、全てのバイオセンサーに対して、電気的成分の実際の配置に関して提供することが望ましい。好ましい実施様態において、成分の相対配置が、少なくとも部分的に、電気的成分に関する正確なパターンをもつ、マスクまたは他の器具を通して実施される、広範囲の領域のレーザー切断の利用によって、達成される。このことによって、隣接エッジの正確な配置が可能になり、これはさらに、エッジの平滑度に関する、密接な許容によって、増強される。
【0040】
図4は、それぞれ、第一電極組404および第二電極組405、および相当するトレース406、407、およびコンタクトパッド408、409を含む、電極システムを定義している、導電性材料403上に形成された、基板402を含む、本発明のレーザー切断工程を例示するために有用な、単純なバイオセンサーを例示している。導電性材料403は、純粋な金属または合金、または金属導体である他の物質を含んで良い。好ましくは、導電性材料は、電極を形成するために使用するレーザーの波長、そして迅速で正確な処理に従順な厚さにて吸収性である。非限定的な例として、アルミニウム、炭素、銅、クロミウム、金、酸化インジウム鉛(ITO)、パラジウム、白金、銀、酸化鉛/金、チタニウム、これらの混合物、およびこれらの要素の合金または金属製化合物が含まれる。好ましくは、伝導性金属は、貴金属または合金またはその酸化物が含まれる。より好ましくは、伝導性金属には、金、パラジウム、アルミニウム、チタニウム、白金、ITOおよびクロミウムが含まれる。導電性材料は、厚さにして、10nm〜80nm、より好ましくは、30nm〜70nm、もっとも好ましくは50nmの範囲である。導電性材料の厚さは、物質の透過性特性、およびバイオセンサーの利用に関連した他の因子に依存することが理解される。
【0041】
例示していないが、得られたパターン化導電性材料を、さらなる金属層でコートまたはプレート可能である。たとえば、導電性材料は、銅であり得、ついで、電極パターン内にレーザーにて切断され、続いて、銅が、チタニウム/タングステン層、ついで金層でプレートされ得、望む電極が形成される。好ましくは、導電性材料の単独層が使用され、基体402上に重ね合わされる。一般的には必要はないけれども、当業者によく知られているように、ニッケルクロムまたはチタニウムのような、種または補助層を用いることによって、基体に導電性材料の接着を増強することが可能である。好ましい実施様態において、バイオセンサー401は、金、パラジウム、白金またはITOの単独層をもつ。
【0042】
バイオセンサー401は、それぞれ、図4、6および7で示した、2つの器具10、10’を用いて、例示的に製造する。他に記述しない限り、器具410、410’は、同様の様式にて動作することが好ましい。図5にまず関連して、バイオセンサー401を、幅約40mmの、80nm金ラミネートをもつリボン420のロールを、カスタムフィット広範囲領域レーザー切断器具410内に供給することによって製造する。器具410には、レーザー光412のビームを産出しているレーザー供給源411、クロミウム−プレート石英マスク414、および光学416が含まれる。例示した光学416が単一のレンズである一方で、光学416は好ましくは、先に決定した形態で、光412を作製するために共同する種々のレンズである。
【0043】
好適な切断器具410の非限定例(図5〜6)は、ドイツ連邦共和国、ゲッチンゲンのラムブダ フィジーク アクチェン ゲゼルシャフト(Lambda Physik AG)より販売されている、LPX−400(商品名)、LPX−300(商品名)またはLPX−200(商品名)レーザーシステム、およびコロラド州、コロラド スプリングスのインターナショナル フォトツール カンパニー(International Phototool Company)より販売されており、ドイツ連邦共和国、ガルプゼンのエルペーカーエフ レーザー エレクトロニック ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング(LPKF Laser Electronic GmbH)よりクロミウム−プレート石英マスクを組み込んで市販されている特注のマイクロランレーザー(MicrolineLaser)200−4レーザーシステム(商品名)である。
【0044】
マイクロランレーザー(MicrolineLaser)200−4レーザーシステム(商品名)(図5〜6)に関して、レーザー供給源411は、LPX−200(商品名)KrF−UV−レーザである。しかしながら、より長い波長のUVレーザーが、本開示物にしたがって使用可能であることが理解される。レーザー供給源411は、600mJのパルスエネルギー、および50Hzのパルス繰り返し振動数で、248nmにて働く。レーザービーム412の強度は、誘電ビームアテニュエーターによって、3%〜92%のあいだで非常に適合可能である(図示していない。ビームプロファイルは、27×15mm2(0.62sq.インチ)およびパルス期間25nsである。マスク414上のレイアウトは、光学要素ビームエクスパンダー、ホモジナイザーおよび視野レンズによって均質的に投影される(図示していない)。ホモジナイザーの性能は、エネルギープロファイルを測定することによって決定されてきた。イメージング光学416は、リボン420上に、マスク414の構造をうつす。イメージング比は、一方で移動しうる大きな面積を許容するが、他方で、適用したクロミウムマスクの切断点以下のエネルギー密度を維持するために、2:1である。2:1のイメージングを例示している一方で、任意の数の異なる比が、望む設計要求に依存して、本開示物にしたがって可能であることが理解される。リボン420は、多数のレイアウト区画を、連続して切断するように、矢印425によって示されたように移動する。
【0045】
マスク414のポジショニング、リボン420の移動、およびレーザーエネルギーは、コンピュータで制御される。図5で示したように、レーザービーム412が、切断されるべきリボン420上に投影される。きれいな面積を介して、またはマスク414の窓418を通過する光412が、リボン420から金属を切断する。マスク414のクロミウムコート面積424が、レーザー光412をブロックし、これらの面積にて、切断が防止され、結果として、リボン420表面上の金属化構造となる。ここで、図6を参考に、電気的成分の完全な構造は、第二マスク414’を介した、さらなる切断段階を要求しうる。光学、および切断されるべき、電気的成分の大きさに依存して、単一の切断段階のみ、または2つ以上の切断段階が、本開示物にしたがって、必要であり得ることが理解される。さらに、多重マスク以外に、本開示物にしたがって、多重の領域が、同様のマスク上に形成されうることが理解される。
【0046】
とりわけ、好適な切断器具410’の第二の非限定例(図7)が、ドイツ連邦共和国、ゲッチンゲンのラムブダ フィジーク アクチェン ゲゼルシャフト(Lambda Physik AG)より販売されている、ランブダ スチール社(Lambda STEEL)(安定エネルギーエキシマーレーザー)のレーザーシステム、およびコロラド州、コロラドスプリングスのインターナショナル フォトツール カンパニー(International Phototool Company)より販売されており、ドイツ連邦共和国、ガルプゼンのエルペーカーエフ レーザー エレクトロニック ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング(LPKF Laser Electronic GmbH)よりクロミウム−プレート石英マスクを組み込んで市販されている特注のレーザーシステムである。本レーザーシステムは、308nmの波長にて、100mJパルスエネルギーまでを特徴とする。さらに、本レーザーシステムは、100Hzの振動数をもつ。器具410’は、図5および6で示したように、2つのパスをもつ、バイオセンサーを産出するために形成され得るが、好ましくは、25nsの単独パス中で、10×40mmパターンの形成を許可する。
【0047】
特定の説によることを希望しないけれど、マスク414、414’、414”を通過する、レーザーパルスまたはビーム412が、リボン420上の表面402の1μm以下で吸収されると信じられている。ビーム412の光子は、金属/ポリマー表面における、光−分解、および化学結合の迅速な分解を引き起こすのに十分なエネルギーをもつ。この迅速な化学結合分解が、切断領域内の突然の圧力増加を引き起こし、物質(金属フィルム403)を、ポリマー基体表面から押し出すことを強要する。典型的なパルス期間は、訳20〜25ナノ秒であり、金属との相互作用は、導電性材料403のエッジに対する、非常に迅速に、そして温度障害をおこし、周辺の構造が最小化される。電気的成分の得られるエッジは、本発明によって意図されるように、高いエッジ性質および正確な配置をもつ。
【0048】
リボン420から金属を除去するか、または切断するために使用されるフルエンスエネルギーは、それよりリボン420が形成される金属、金属フィルムの基体物質への接着、金属フィルムの厚さ、および基体金属上にフィルムを配置するために使用する工程、すなわち、支持および蒸発沈殿、に依存する。KALADEX(登録商標)上の金に関するフルエンスレベルは、約50〜約90mJ/cm2の範囲であり、ポリイミド上、約100〜約120mJ/cm2であり、MELINEX(登録商標)上、約60〜約120mJ/cm2である。以上で言及したもの以下、または以上のフルエンスレベルが、本開示物にしたがって、他の基体物質のために適切であり得ることが理解される。
【0049】
リボン420の面積のパターニングは、マスク414、414’を用いることによって実施される。それぞれのマスク414、414’は、例示的に、形成されるべき電極成分パターンの、先に決定された部分の、実際の二次元例示を含む、マスク領域422を含む。図5は、コンタクトパッドおよびトレースの一部分を含む、マスク領域422を例示している。図6で示したように、第二マスク414’には、トレースの第二の相当する部分と、フィンガーを含む電極パターンが含まれる。先に記述したように、切断されるべき面積の大きさに依存して、マスク414は、本開示物にしたがって、電極パターンの完全な例示(図7)、または図5および6で例示したものからは異なるパターンの部分を含みうる。好ましくは、発明の1つの観点において、試験ストリップ上の電気的成分の全パターンが、一度にレーザー切断され、すなわち、広い領域が、試験ストリップの全体の大きさを含むことが意図される(図7)。あるいは、図5および6で例示したように、全バイオセンサーの部分が、成功する。
【0050】
マスク414を本明細書以下で議論するが、他に示さない限り、議論は、マスク414’、414”にも同様に適用されうる。図5を参照して、クロムによって保護された、マスク領域422の面積424が、リボン420への、レーザービーム412の投影をブロックしうる。マスク領域422の透明な面積または窓418によって、レーザービーム412が、マスク414を通過し、リボン420の先に決定された面積に激突することとなる。図5で示すように、マスク領域422の透明な面積418は、それより導電性材料403が除去されるべきである、リボン420の面積に相当する。
【0051】
さらに、マスク領域422は、線430によって示された長さ、および線432によって示された幅をもつ。LPX−200の2:1のイメージング比を考えると、マスクの長さ30は、得られるパターンの長さ434の2倍の長さであり、マスクの幅432は、リボン420上で得られるパターンの幅436の2倍の幅である。光学416は、リボン420を直撃するレーザービーム412のサイズを減少させる。マスク領域422の相対寸法、および得られるパターンは、本開示物にしたがって、変化可能であることが理解される。マスク414’(図6)が、電気的成分の二次元例示を完全にするために使用される。
【0052】
図5の参照を続け、レーザー切断器具410中、エキシマーレーザー供給源411が、ビーム412を放射し、これが、石英上クロムマスク414を通過する。マスク領域422は、他の部分のビームを可能にする一方で、反射されるべきレーザービーム412の部分を引き起こし、レーザービーム412によって衝突した場合に、金フィルム上のパターンを作製する。リボン420が、器具410に関連して、静止するか、または、器具410を介して、ロール上で連続して移動することが理解される。したがって、リボン420の移動の非限定速度は、約0m/分〜約100m/分でありえ、好ましくは約30m/分〜約60m/分であり得る。リボン420の移動の速度は、選択された器具410によってのみ制限され、本開示物にしたがって、レーザー供給源411のパルス期間に依存して、100m/分を良く越えうる。
【0053】
いったん、マスク414のパターンが、リボン420上で作製されたらば、リボンを巻き戻し、再びマスク414’と共に、器具410を介して与える(図6)。あるいは、レーザー器具410を、本開示物にしたがって、連続して配置可能であることが理解される。したがって、マスク414、414’を用いることによって、リボン420の大きな面積を、基体の基板上の、複雑な電極パターンと、他の電気的成分の経済的な作製、電極成分の正確なエッジ、および基体物質からのより多量の金属フィルムの脱離を可能にするために、同一マスク面積中の、多重マスク領域422を含む工程と、これを繰り返す工程を用いてパターン化可能である。
【0054】
情報を直接試験ストリップ上にコードする能力は、試験ストリップの性能を劇的に増加させ、試験メーターとのその相互作用を増強することが可能である。たとえば、試験ストリップの任意の該製造ロットに適用可能な、較正データで、試験メーターを供給することが、本技術分野でよく知られている。典型的には、このことは、各試験ストリップのバイアルで、読み取り専用メモリーキー(ROMキー)を提供することによって実施され、そこで、ROMキーは、その上に、バイアル中の試験ストリップに適用可能な、較正データを、エンコードした。バイアルからの試験ストリップを用いる前に、試験ストリップを用いて、試験を実施する一方で、試験メーターが、このデータにアクセス可能であるように、試験メーター中のポート内に、利用者がROMキーを挿入する。測定結果の性質を、先行技術で示されたように、試験ストリップ上の、バーコード情報を読むために、光学リーダーを必要とせずに、メーター内に現在挿入されている、試験ストリップに対する、ROMキーデータの適用性を、メーターが電気的に査定することを許容することによって確認可能である。
【0055】
現在市販されている製品は、正確なROMキーが、現在使用されている試験ストリップのために、試験メーターに挿入されたかどうかを確認することに、使用者が関与することを要求する。たとえば、図8は、ROMキーデータと、試験ストリップロット識別(ID)番号間の適合を確認するための、典型的な先行工程を例示している。この工程を実施する前に、ROMデータを試験メーター中にロードし、試験メーターを止める。試験ストリップ(段階100)を、試験メーター内に挿入することによって、工程が開始され、試験メーターが、自動的にスイッチがはいる(段階102)。試験メーターは、このロット識別番号が、試験メーター内に挿入されている試験ストリップと同様の製品ロットからの、多数の試験ストリップを含む(たとえば)、バイアル/パッケージ上に印刷されたロット識別番号と一致することを確認する機会を、使用者に与えるために、現在ロードされた較正データ(段階104)を提示している。
【0056】
工程が、このチェックを実施するために、使用者に依存するので、実施された、または実施されたならば実際に実施されたのか、を保証する方法はない。したがって、図8の工程は、試験メーター表示上のロット識別番号を、試験ストリップバイアル上のロット識別番号(段階106)と比較し、一致するかどうかを決定する(段階108)するために、使用者に最適な段階を示唆している。もし2つのロット識別番号が一致しない場合、使用者は、試験ストリップを除去し(段階110)、適切な較正コードが試験メーター内にロード可能であるように、試験メーター中の試験ストリップバイアルと一致するROMキーを挿入(段階112)すべきである。ついで、工程が、試験ストリップの挿入において、段階100にて開始される。いったん、試験メーターの較正コードロット識別番号が、試験ストリップのロット識別番号と一致することが決定されたならば(段階108)、測定配列が、血液を試験ストリップ(段階114)に適用し、血中グルコース測定周期を開始する(段階116)ことによって続けることが可能である。
【0057】
測定較正データの精度の確認の義務は、図8の先行工程では、完全に使用者の手にあったことが理解されるであろう。しばしば、使用者は、試験ストリップと、提供された、規定された取扱説明書を無視することがある。そのような1つの例は、ロットXにて製造された第一バイアルからの試験ストリップの除去と、これらの試験ストリップの、ロットYにて製造された試験ストリップを含む第二バイアル中への統合である。したがって、ロット特異的較正情報を、先行技術で行われたような、バイアルレベルの代わりに、個々の試験ストリップレベルにもち込むことが望ましい。
【0058】
工程からのヒトのエラーおよび無視の可能性を排除し、それによって、測定の精度を改善するために、本発明の情報コンタクトパッドによって、試験メーターそれ自身が、現在挿入されている試験ストリップに対する、現在ロードされている較正データの適用性のような、チェックを実施可能になる。そのような確認に、試験メーターが積極的に関与することを可能にする、本発明の第一実施様態工程が、図9で例示されている。図8での相当する段階と同一である、図9の工程の段階を、同一の参照指定で番号付けする。
【0059】
本工程を実施する前に、ROMキーを、試験メーターに挿入し、ROMデータを、試験メーター内にロードし、試験メーターのスイッチを止めた。本工程は、試験メーター内へ、試験ストリップを挿入すること(段階100)によって開始され、これによって、試験メーターが自動的にスイッチが入る(段階102)。ついで、試験メーターが、試験ストリップのロットおよびファミリー識別を確かにするために、種々の情報と、試験ストリップ上のコード情報に関して指定された、試験ストリップ上の測定コンタクトパッド間の伝導性を測定する(段階200)。試験ストリップ上でエンコードされうる情報の精度に依存して、試験ストリップ上へ、固有の製品ロット番号をコードする可能性があり得るか、またはありえない。エンコードされるべき、固有の製品ロット識別番号に対して、十分な空間がない場合、試験ストリップ上に、較正ファミリー情報をエンコードすることも可能である。たとえば、試験メーター中で有用な試験ストリップは、ファミリー試験ストリップ指定間で、有意な差が存在する、2つまたはそれ以上のファミリーのものでありうる。たとえば、2つのファミリーが、試験ストリップ上の異なる試薬を使用しうる。そのような状態において、試験メーターはまだ、試験ストリップの実際の製品ロットを確認することが不可能である場合でも、ロードされた較正データが、試験ストリップ上にエンコードされた、試験ストリップファミリーに一致することを確認可能である。したがって、本明細書で使用するところの語句、「ロット識別番号(lotID)」は、群が、試験ストリップの製品ロットと同様に小さくはない場合でも、試験ストリップまたは較正データが属している群を同定する任意の情報を含むことを意図する。
【0060】
図9の工程にもどって、試験メーターは、メーター内に挿入されているROMキー内に保存された較正データのロット識別番号(または試験メーター内部メモリー内に先にロードされた較正データ)を、試験ストリップからのロット識別番号読み取りと比較する(段階202)。もし一致しないならば、使用者に、正確な試験ストリップを挿入すること、および試験メーター内に、異なるROMキーを挿入することの機会を与えるために、試験メーターが、現在ロードされている較正データのロット識別番号(段階204)と、警告を表示する。あるいは、試験メーターが、使用者に、単にエラーメッセージを提示する。ロット識別番号が一致しないという事実が、得られた測定結果が、ロット識別番号中の不一致の観点から、疑わしい、メモリー208中の記録が存在するように、試験メーターの結果メモリー208中に警告が与えられる(段階206)。あるいは、使用者が、試験を走らせることを禁止されうるか、工程が中断されうる。
【0061】
いくつかの実施様態において、ロット識別番号が一致しない場合に、試験メーターが完全に使用不可にはならないことが望ましいので、図9の工程は、試験メーター表示上のロット識別番号を、試験ストリップバイアル上のロット識別番号と比較し(段階106)、一致するなら決定する(段階108)ことが、利用者にとって最適な段階であることを示唆している。2つのロット識別番号が一致しない場合、使用者が、適切な較正コードを、試験メーター内にロード可能であるように、試験ストリップを除去し(段階110)、試験メーター内に、試験ストリップバイアルと一致するROMキーを、挿入すべきである(段階112)。
【0062】
また任意に、試験メーターが、メーターの内部メモリー内に1つ以上の較正データセットを保存する能力をもち、ついで、メーターが、試験メーター内に保存されうる較正データの多重ロット識別番号を決定し、自動的に、メーター内に現在挿入された試験ストリップと一致する、較正データセットを選択しうる。メーターは、ここで、段階113にもどる。
【0063】
いったん、試験メーターの較正コードロット識別番号が、試験ストリップのロット識別番号と一致したことが決定されたらば(段階108)、ついで、測定配列が、血液を、試験ストリップに適用し(段階114)、血中グルコース測定周期を開始する(段階116)。図9の工程が、試験ストリップのロット識別番号が、現在選択された較正データセットのロット識別番号と一致しない時に、使用者が、自動的に警告される、図8の先行技術工程の改善を示していることが理解されるであろう。さらにもし、試験が、この一致しない組み合わせで実施されるならば、試験メーター内の結果メモリーが、結果が、正確な較正データセットを使用した場合に、できるだけ正確ではない可能性があることを示唆するように警告が与えられる。
【0064】
試験ストリップ上に直接エンコードされている情報の利用性のさらなる例として、本発明によって、試験ストリップが、試験メーター内にプログラムされた特定の特徴を活性化、または不活性化可能になる。たとえば、単一の試験メーターが、異なる言語が互いの市場で話されている、いくつかの異なる地理的マーカー中で使用されるように設計されうる。試験ストリップを、その市場で試験ストリップが売られていることを示唆している情報で、エンコードすることによって、エンコードされた情報によって、試験メーターが、取扱説明書、およびデータを、市場に適切な言語で提示されることが可能である。また、メーターは、特定の地理的な市場での売り上げのために設計され、異なる地理的市場で得られる試験ストリップでは、メーターが使用されないことが望ましい(たとえば、政府の規則が、1つの地理的市場で売られる試験ストリップが、他の地理的市場で売られているものよりも異なる特徴をもつことを要求する場合)。この状態では、試験ストリップ上でコードされた情報は、試験ストリップが、指定された地理的市場で起源とはならず、したがって、規則によって要求された特徴を提供し得ないことを決定するために、試験メーターによって使用され、その場合、試験は、中止されるか、または警告が与えられる。
【0065】
さらに、ビジネスモデル(定期使用ビジネスモデル)を、試験ストリップの、他のセールスチャネルへの拡大が望ましくない場合に、試験ストリップの配布に対して適用しうる。たとえば、使用者は、定期使用参加者によって、使用のために指定された試験メーターを提供される、定期使用プログラムに登録され、定期使用参加者が、定期的に、定期使用試験ストリップを提供されうる(たとえば、手紙、または任意の他の便利な伝達形態によって)。本発明の技術を用いて、語句「定期使用試験ストリップ(subscription test strips)」は、定期使用参加者に提供されることを示唆するためにエンコードされうる。種々の理由のために、定期使用試験ストリップの製造業者は、他の取引チャネルで売られるべき、定期使用試験ストリップを欲しがらないであろう。このことを防止する1つの方法は、定期使用試験ストリップで、作業を行わないであろう、定期使用参加者ではない、利用者に提供された、試験メーターを設計することである。したがって、本発明は、定期使用に基づく利用者に伝達されることを示唆するためにエンコードされた、定期使用試験ストリップを許容するようにプログラムされた、定期使用ビジネスモデル中の定期使用参加者に、試験メーターを提供するために使用可能であり、一方で、そのようにエンコードされた、他の試験メーターが、定期使用試験ストリップを許容しないようにプログラムされる。
【0066】
さらなる例として、試験メーターは、試験メーターが最初に販売された時には、不活性である、メーターに設計された、特定の機能をもちうる(ソフトウェアおよび/またはハードウェア組み込み)。ついで試験メーターの性能が、これらの潜在的特徴を活性化するための説明書として、メーターによって認識されうる、後の時点で売られる試験ストリップ上にエンコードされた情報を含むことによって、後の時点でアップグレード可能である。本明細書で使用するところの語句「試験メーターの潜在的特徴を活性化すること(activating a latent feature of the test meter)」は、試験メーターがその後、機能的に、無期限に(すなわち、現在の試験ストリップでの現在の試験が終了した後に)活性化されたままであるように、先には活性化されていなかった、試験メーターの機能のスイッチを入れることを意味する。
【0067】
本発明の用いる、試験ストリップ上にエンコードされうる情報の他の例は、試験ストリップが、病院市場に対して売られたのか、または消費者市場に対して売られたのかの示唆である。この情報をもつことによって、試験メーターが、病院の専門家に対してよりも詳しくはない、使用取り扱い説明書を表示するような、それに応じた行動を起こすことが可能であり得る。試験ストリップと試験メーター間の、種々の型のコミュニケーションが、本発明によって提供された、情報エンコーディングによって促進されうることが、当業者によって理解されるであろう。
【0068】
情報を試験ストリップ上に直接エンコード可能にする、第二試験ストリップ配置を、図10にて例示し、一般的に300で指定している。試験ストリップ300は、好ましくは、一般的に、試験ストリップ10と401に関して、以上で記述したように形成され、ワーキング320、カウンター322、容量十分なワーキング324および容量十分なカウンター326電極が、それぞれ図示したように形成され、測定コンタクトパッドW、C、DWおよびDCに、連結しうる。これらのコンタクトパッドによって、いったん試験ストリップ300が試験メーターに挿入されたならば、試験メーターの電気的コネクターコンタクトによって接触される、試験ストリップ300上の伝導性面積が提供される。試験ストリップは、(図10にて示したように)試験ストリップの末端中の、試料注入口をともなって、または図1で示したような、試験ストリップの側面上の試料注入口をともなって、形成されうる。その情報エンコーディング部位の機能は、いずれの位置でも、測定電極のポジショニングによって影響を受けない。
【0069】
カウンター電極コンタクトパッドCの周辺の面積が、伝導性層の比較的広い広がりを提供するために形成され、情報コンタクトパッド位置B1〜B7に分けられることが、図10の例より留意される。本発明の第二実施例において、伝導性層が、どの数字が、試験ストリップ300上にエンコードされるべきであるかに依存して、伝導性層が、コンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれ内に存在するか、または存在しないか、いずれかであるように、試験ストリップの製造のあいだに、形成されうる。このコンタクトパッドがいつも、測定の作製のために必要であるので、カウンター電極コンタクトパッドCは、いつも、この面積中に存在する伝導性層を伴って形成される。
【0070】
コンタクトパッドC、W、DCおよびDWのそれぞれ、ならびにコンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれが、試験ストリップ300が、試験メーター内に挿入する場合に、試験メーター内に局在する、多重−ピン電気的コネクターの、個々のコンタクトによって接触される。多重−ピン電気的コネクターによって、電気的シグナルが、試験メーターから試験ストリップまで適用されるか、その逆で適用されることが可能である。試験メーターは、カウンター電極コンタクトパッドCと、コンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれのあいだの伝導性を測定するために、(本技術分野でよく知られている方法によって)プログラムされている。したがって、コンタクトパッドCが、コンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれにおいて、それぞれ、伝導性層が形成されるかどうかに依存して、コンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれが、選択的に伝導的に連結可能である。コンタクトパッドCと、コンタクトパッド位置B1〜B7間の伝導性を測定することによって、試験メーターが、コンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれにおいて、伝導性層の存在または不在を決定可能である。たとえば、伝導性層が、特定のコンタクトパッド位置中に存在する場合に、デジタル値「1」を、そして、特定のコンタクトパッド位置中に、伝導性層が存在しない場合に、デジタル値「0」を割り当てることによって、デジタル語句が、試験ストリップ300上にエンコードされうる。
【0071】
本発明の第一実施様態に関して、本明細書以上で議論された、すべての望ましい利益の全てがまた、本発明の第二実施様態を用いて、実施されうる。第二実施例は、コンタクトパッド位置B1〜B7が、1つ以上の測定電極に伝導的に結合出来ないので、「禁制の(forbidden)」状態が存在せず、コンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれが、コンタクトパッドB1〜B7を用いて、試験ストリップ上にエンコードされるべき、任意の可能性のある7つのデジタル言語にて、「0」または「1」としてコードされうる。これによって、コンタクトパッドB1〜B7を用いて、試験ストリップ上にエンコードされうる、27または128の可能性のある固有の言語が提供される。そのような情報エンコーディングのために設計可能である、コンタクトパッド位置の数が、試験ストリップ表面上の、利用可能な空間、試験ストリップ上の伝導性の特徴を定義するために使用した工程の解決、電気的コネクターコンタクトスペーシング、およびをいったん試験ストリップを試験メーター中に挿入する場合に、コンタクトパッド位置上の、コネクターコンタクトの配置に関連する、耐性匹敵、によって限定されるだけである。
【0072】
さらに、本発明の第二実施様態における可能性のある状態の数を、さらに、コンタクトパッド位置B1〜B7の個々の組間の、伝導性パスを切断することによって、増加可能である。さらに、コネクター接触コンタクトパッドB1(たとえば)は、(すでに本明細書で述べたように)コンタクトパッドCで、電気的連続性に関してのみでなく、任意の他のコンタクトパッドB2〜B7で、電気的連続性に関しても確認可能である。
【0073】
すでに本明細書で述べたレーザー切断工程が、スクリーンプリンティングおよびフォトリソグラフィのような先行技術を用いて、先に達成可能ではなかった、試験ストリップ伝導性特徴の分解に関して許容する。このために、比較的多量のデータを、伝導性特徴が、レーザー切断工程を用いて形成される場合に、試験ストリップ上にコード可能である。たとえば、本発明の第三実施様態を、図11に例示し、一般的に500と示す。試験ストリップ500は、レーザー分解工程が、試験ストリップ上で形成されるべき、より多くのコンタクトパッドに関して許容することを除いて、図10の試験ストリップ300と同様である。図11の等価の構造は、図10で使用されるのと同様の参照指定が与えられる。合計16のコンタクトパッドが、試験ストリップ500上で形成され、B1〜B10が、ワーキング520、カウンター522、容量十分なワーキング524、および容量十分なカウンター526電極に連結した、測定コンタクトパッドW、WS、C、CS、DWおよびDCに加えて、情報コンタクトパッドとして指定される。これらのコンタクトパッドにより、いったん試験ストリップ500が試験メーター中に挿入される場合に、試験メーターの電気的コネクターコンタクトによって接触されるべき、試験ストリップ500上の伝導性面積が提供される。試験ストリップは、(図11で示したように)試験ストリップの末端中の、試料注入口をともなって、または図1で示したような、試験ストリップの側面上の試料注入口をともなって形成されうる。その情報エンコーディング部位の機能は、いずれの位置でも、測定電極のポジショニングによって影響を受けない。
【0074】
図10の第二実施様態でのように、カウンター電極コンタクトパッドCの周辺の面積が、伝導性層の比較的広い広がりを提供するために形成され、情報コンタクトパッド位置B1〜B10に分けられることが、図11の例より留意される。本発明の第二実施例において、伝導性層が、どの数字が、試験ストリップ500上にエンコードされるべきであるかに依存して、伝導性層が、コンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれ内に存在するか、または存在しないか、いずれかであるように、試験ストリップの製造のあいだに、形成されうる。このコンタクトパッドがいつも、測定の作製のために必要であるので、カウンター電極コンタクトパッドCは、いつも、この面積中に存在する伝導性層を伴って形成される。
【0075】
コンタクトパッドC、CS、W、WS、DCおよびDWのそれぞれ、ならびにコンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれが、試験ストリップ500が、試験メーター内に挿入される場合に、試験メーター内に局在する、多重−ピン電気的コネクターの、個々のコンタクトによって接触される。多重−ピン電気的コネクターによって、電気的シグナルが、試験メーターから試験ストリップまで適用されるか、その逆で適用されることが可能である。試験メーターは、カウンター電極コンタクトパッドCと、コンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれのあいだの伝導性を測定するために、プログラムされている。したがって、コンタクトパッドCが、コンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれにおいて、それぞれ、伝導性層が形成されるかどうかに依存して、コンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれが、選択的に伝導的に連結可能である。コンタクトパッドCと、コンタクトパッド位置B1〜B10間の伝導性を測定することによって、試験メーターが、コンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれにおいて、伝導性層の存在または不在を決定可能である。たとえば、伝導性層が、特定のコンタクトパッド位置中に存在する場合に、デジタル値「1」を、そして、特定のコンタクトパッド位置中に、伝導性層が存在しない場合に、デジタル値「0」を割り当てることによって、デジタル語句が、試験ストリップ500上にエンコードされうる。
【0076】
本発明の第一実施様態に関して、本明細書以上で議論された、すべての望ましい利益の全てがまた、本発明の第三実施様態を用いて、実施されうる。第三実施例は、コンタクトパッド位置B1〜B10が、1つ以上の測定電極に伝導的に結合出来ないので、「禁制の」状態が存在せず、コンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれが、コンタクトパッドB1〜B10を用いて、試験ストリップ上にエンコードされるべき、任意の可能性のある7つのデジタル言語にて、「0」または「1」としてコードされうる。これによって、コンタクトパッドB1〜B10を用いて、試験ストリップ上にエンコードされうる、210または1024の可能性のある固有の言語が提供される。
【0077】
さらに、第二実施様態試験ストリップ300でのように、本発明の第三実施様態試験ストリップ500における可能性のある状態の数を、さらに、コンタクトパッド位置B1〜B10の個々の組間の、伝導性パスを切断することによって、増加可能である。さらに、コネクター接触コンタクトパッドB1(たとえば)は、(本明細書以上で記述したように)コンタクトパッドCで、電気的連続性に関してのみでなく、任意の他のコンタクトパッドB2〜B10で、電気的連続性に関しても確認可能である。これは、試験ストリップ500上にエンコード可能である、固有のデジタル言語の数を非常に増加させる。
【0078】
レーザー切断工程の利用を通して、本発明で達成されたコンタクトパッド密度が、先行技術に対して、有意な発展を示していることが理解されるべきである。たとえば、発行された欧州特許出願公開第1024358号明細書は、単一試験ストリップ上の35までのコンタクトパッドを使用するシステムを開示しているが、特徴の密度は低く、本発明者が任意の一時点で、これらのコンパクトパッドの5つにのみ、接触することを強制させられる。これは、同数のコンタクトパッドを形成するために、本発明よりも、より大きな試験ストリップ表面積を必要とされるだけでなく、試験メーターが、任意の一時点で、5つ以上のコンタクトパッドに接触できないので、この試験メーターが、伝導性確認を実施することが不可能である。本発明のレーザー切断工程によって可能である、特徴寸法のきつい制御によって、本技術分野では以前には達成されていなかった、コンタクトパッド密度の利用が可能になる。たとえば、図10の実施様態によって、試験メーターコネクターによって、11のコンタクトパッドが同時に接触可能となる。図11の実施様態において、さらに大きな密度が達成され、そこでは、16のコンタクトパッドが、同時に試験メーターコネクターによって接触されうる。したがって、本発明のいくつかの実施様態は、好ましくは、少なくとも10の試験メーターコネクターコンタクトに連結した、少なくとも10の試験ストリップコンタクトパッドを含み、より好ましくは、少なくとも11の試験メーターコネクターコンタクトに連結した、少なくとも11の試験ストリップコンタクトパッドを含み、もっとも好ましくは、少なくとも15の試験メーターコネクターコンタクトに連結した、少なくとも15の試験ストリップコンタクトパッドを含む。
【0079】
図12〜14は、図11の第三実施様態試験ストリップ500と適合している、好ましい実施様態多重ピン電気的コネクターを例示している。電気的コネクターは、試験メーター中に配置され(図示していない)、試験ストリップ500が、試験メーター電気的コネクター内に挿入されたときに、試験ストリップ500上のそれぞれのコンタクトパットと適合した場合、コンタクトトレース502を産出する、多重コンタクトを含む。図13は、試験ストリップ500が、試験メーターに適合した場合に、各電気的コネクターコンタクトが、それぞれの試験ストリップ500コンタクトパッドのほぼ中心に位置する、名目上の場合を例示している。好ましい実施様態において、試験ストラップ500上の伝導性特徴の置換の耐性、ならびに、試験メーターの試験ストリップ適合部分に関する、電気的コネクターコンタクトの置換の耐性が、もっとも悪い場合、耐性匹敵が、各コネクターコンタクトと、それぞれのコンタクトパッド間の、確実な接触となりうるように、制御される。図12でみることが出来るように、すべての耐性が、そのそれぞれのコンタクトパッドに関して、コネクターコンタクトを左に動かすように、その最大の点である場合に、電気的コンタクトは、それぞれのコンタクトパッドと確実に電気的な接触を行うように配置され、全てのコンタクトパッドB1〜B10が、挿入のあいだ、試験ストリップとのコネクターコンタクトの物理的相互作用が、コンタクトトレース502の面積において、金属化を除去する場合でさえも、そのそれぞれの金属化があっても電気的にコンタクトパッドCに連結される。同様に、図14で見ることができるように、全ての耐性が、そのそれぞれのコンタクトパッドに関して、コネクターコンタクトを右に動かすように、その最大である場合に、電気的コンタクトは、それぞれのコンタクトパッドと確実に電気的な接触を行うように配置され、全てのコンタクトパッドB1〜B10が、挿入のあいだ、試験ストリップとのコネクターコンタクトの物理的相互作用が、コンタクトトレース502の面積において、金属化を除去する場合でさえも、そのそれぞれの金属化があっても電気的にコンタクトパッドCに連結される。
【0080】
本発明の第四実施様態試験ストリップが、図15にて略図的に示されており、600と指定されている。試験ストリップ600は、第四実施様態が、試験ストリップ上で、6つのコンタクトパッドのみを使用することを除いて、図10の試験ストリップ300と同様である。より少ない、またはより多いコンタクトパッドを用いる実施様態は、本発明によって意図されている。図15中の等価構造は、図10で使用されたのと同様の参照指定をされている。試験ストリップは、ワーキング電極320、カウンター電極322、容量十分なワーキング電極324、2つの電位容量十分なカウンター電極326Aと326Bが含まれる。それぞれの電極は、試験ストリップ600上に形成された、少なくとも1つのコンタクトパッドに連結する。
【0081】
ワーキング電極320は、WおよびWSコンタクトパッド両方に連結する。Cとして指定されたコンタクトパッドは、本明細書以下で言及したように、任意であるけれども、カウンター電極322は、CコンタクトパッドおよびCSコンタクトパッドと連結する。容量十分なワーキング電極324は、DWコンタクトパッドに連結している。DCとして指定されたコンタクトパッドは、本明細書以下で言及したように、任意であるけれども、容量十分なカウンター電極326A/326Bは、DCコンタクトパッドに連結する。
【0082】
試験ストリップ600によって、どの2つの電位伝導性リンク602および604が、試験ストリップ600上で形成されるかどうかに依存して、単一バイナリビットが、試験ストリップ600上にエンコードされる。少なくとも1つの電位伝導性リンク602/604が、好ましくは試験ストリップ600上で形成され、両方の電位伝導性リンク602/604が、第二の分離容量十分な電極機能性を失うことなしに、同時に形成はされなくて良い。
【0083】
電位伝導性リンク602が、試験ストリップ600上に形成され、電位伝導性リンク604が形成されない場合、(電位伝導性リンク602によって、カウンター電極322に連結しているので)、コンタクトパッド606が、Cコンタクトパッドとなる。電位伝導性リンク604の存在がない場合、実際の容量十分なカウンター電極として、電極326Bが機能し、コンタクトパッド608が、DCコンタクトパッドになる。
【0084】
同様に、電位伝導性リンク604が、試験ストリップ600上に形成され、電位伝導性リンク602が形成されない場合、(電位伝導性リンク604によって、カウンター電極322に連結しているので)、コンタクトパッド608が、Cコンタクトパッドとなる。電位伝導性リンク602の存在がない場合、実際の容量十分なカウンター電極として、電極326Aが機能し、コンタクトパッド606が、DCコンタクトパッドになる。
【0085】
いったん試験ストリップ600が、試験メーター中に挿入された場合、試験メーターが、CSコンタクトパッドとコンタクトパッド606間の伝導度を確認することによって、電位伝導性リンク602が存在するかどうかを簡単に決定可能である。これらの2つのコンタクトパッド間の伝導性は、電位伝導性リンク602の存在を示唆する。同様に、試験メーターは、CSコンタクトパッドとコンタクトパッド608間の伝導度を確認することによって、電位伝導性リンク604が存在するかどうかを簡単に決定可能である。これらの2つのコンタクトパッド間の伝導性は、電位伝導性リンク604の存在を示唆する。いったん試験メーターが、電位伝導性リンク602/604が存在するかを決定したならば、その後、どのコンタクトパッドが、Cコンタクトパッドとして処理され、どれがDCコンタクトパッドとして処理されるかがわかる。1つの実施様態において、試験メーターのみが、電位伝導性リンク602/604の1つが存在するか、またはしないかを確認し、他の電位伝導性リンク602/604がそれぞれ、存在するか、しないかを推測する。他の実施様態において、試験メーターは、両方の電位伝導性リンク602/604が存在するか、またはしないかを確認し、これは、ダメージを受けた試験ストリップを検出する可能性が高いので、より強固な方法論である。
【0086】
他の実施様態において、試験メーターに挿入されたコードキーが、2つの電位配座のどちらが予測されるかに関して、試験メーターに与える。ついで試験メーターが、予想されるコンタクトパッド606/608が、CSコンタクトパッドに連結するかどうかを見るために、確認する。予想された連結が存在しない場合、メーターは、他のコンタクトパッド606/608が、CSコンタクトパッドに連結するかどうかを確認する。あやまったコンタクトパッド606/608がCSコンタクトパッドに連結した場合、メーターはコードキーエラーを提示する(すなわち、コードキーは、試験メーター内に挿入された試験ストリップに適合しない、試験メーター内に挿入された)。コンタクトパッド606/608いずれもが、CSコンタクトパッドに連結しない場合、試験メーターは、ストリップエラーを示す(すなわち、試験ストリップは、不良品であるか、使用不可能である)。
【0087】
どの電位伝導性リンク602/604が存在するかを決定することによって、コンタクトパッド機能性を割り当てることよりもより重要に、試験メーターは、試験ストリップ600からの、情報の1ビットを提供する。この情報の単一ビットが、試験ストリップが、第一検体または第二検体に関する試験に対して設計されたかどうか、試験メーターが、どこで試験ストリップに関連する補正情報を探すべきであるか、など、重要な情報を試験メーターに伝達する。したがって、試験ストリップ上のコンタクトパッドのいくつかの機能を再割り当てすることによって、単一ビットの情報を提供することにより、重要な情報を、そこに挿入された試験ストリップに関して、試験メーターに簡単に提供可能である。
【0088】
全ての文献、先行明細書、および本明細書で引用された他の文書は、それぞれが、個々に参考文献にて組み込まれ、完全に列記されているように、その全てが参考文献によって、本明細書に組み込まれている。
【0089】
本発明は、図面および以上の記述によって例示され、詳細に記述されているけれども、この記述は、例示として理解されるべきであり、特徴の制限とは理解されるべきでない。好ましい実施様態のみ、および好ましい実施様態をどのように作製するか、または使用するかをさらに示すために有用であると考えられる、特定の他の実施様態が示されている。本発明の目的内に入る全ての変更および改変が、保護されることが望まれる。
【図面の簡単な説明】
【0090】
【図1】生物学的流体内の検体の濃度を測定することにおける使用のための、第一の典型的な試験ストリップの分解組み立て透視図である。
【図2】本発明にしたがった、第一実施様態試験ストリップ電極、およびコンタクトパッドアレンジメントの、概略プラン図である。
【図3】図2の試験ストリップに関する第一実施様態コード配列を示している表である。
【図4】生物学的流体中の検体の濃度を測定することにおける使用のための、第二の典型的な試験ストリップの、分解組み立て透視図である。
【図5】本発明での使用に好適な、切断器具の図を示している。
【図6】第二マスクを示している、図5のレーザー切断器具の図である。
【図7】本発明での使用のために好適な、切断器具の図である。
【図8】試験メーター中の検定データの、前記試験メーター中に現在挿入された試験ストリップへの適用可能性を確認するための、先行技術工程の、概略工程フローダイアグラムである。
【図9】試験メーター中の検定データの、前記試験メーター中に現在挿入された試験ストリップへの適用可能性を確認するための、第一実施様態工程の、概略工程フローダイアグラムである。
【図10】本発明にしたがった、第二実施様態試験ストリップ電極、およびコンタクトパッドアレンジメントの、概略平面図である。
【図11】本発明にしたがった、第三実施様態試験ストリップ電極、およびコンタクトパッドアレンジメントの、概略平面図である。
【図12】もっとも悪い場合の、左耐性に達したことを示している、電気コネクターから試験ストリップコンタクトパッドの界面の、概略平面図である。
【図13】正常の場合の、耐性に達したことを示している、図12の、電気コネクターから試験ストリップコンタクトパッドの界面の、概略平面図である。
【図14】もっとも悪い場合の、右耐性に達したことを示している、電気コネクターから試験ストリップコンタクトパッドの界面の、概略平面図である。
【図15】本発明にしたがった、第四実施様態試験ストリップ電極、およびコンタクトパッドアレンジメントの、概略平面図である。
【技術分野】
【0001】
[関連明細書に対する参照]
本明細書はまた、そのすべてが参考文献によって本明細書に組み込まれている、発明の名称「検体センサーに関連する器具および方法」(2003年6月20日に出願された、米国特許出願第60/480,397号)、および「バイオセンサーおよび作製方法(現在出願中のされている弁護士ドケット番号7404−480号)にも関する。本明細書は、参考文献が組み込まれた内容である、2003年6月20日に出願された、米国仮出願第60/480,199号の利点を請求している。
[技術分野]
本発明は、生物学的流体中の検体の濃度を測定することにおける使用のための器具に関する。本発明は、よりとりわけ、バイオセンサー試験ストリップ上のコード情報のためのシステムおよび方法に関する。
【背景技術】
【0002】
生物学的流体中の基板の濃度を測定することは、多くの医療状態の診断および処置のための重要なツールである。たとえば、液体のような体液中のグルコースの測定は、糖尿病の効果的な処置に対して重要である。
【0003】
糖尿病治療は、典型的には、2つの種類のインスリン処置、基準および食事時間を必要とする。基準インスリンは、就寝前にしばしば取られる、連続的な、たとえば徐放インスリンに関連する。食事時間インスリン処置によって、糖および炭水化物の代謝を含む、種々の因子によって引き起こされる血中糖尿病中の変動を調節するために、追加用量の即効性インスリンが提供される。血中グルコース変動の適切な調節は、血中のグルコース濃度の的確な測定を必要とする。失敗をすると、彼または彼女の指、手、脚などの使用を完全に奪う糖尿病でありうる、失明および極度の循環の欠損を含む、極度の合併症を生み出しうる。
【0004】
多数の方法が、たとえばグルコースのような、血液試料中の検体の濃度を決定するために知られている。そのような方法は、典型的には、2つのカテゴリー、光学法および電気化学的方法、のうちの1つである。光学法は一般的に、典型的には、検体と結合したときに、公知の色を産出する試薬との組み合わせで、検体の濃度によって引き起こされる流体中のスペクトルシフトを観察するために、顕微鏡を使用する。電気化学的方法は一般的に、典型的には、検体と結合したときに、電荷−担体を産出する試薬との組み合わせで、電流(Amperonmetry)、電位(Potentiometry)または累積荷電(Coulometry)と、検体の濃度のあいだの相関に依存する。たとえば、それら全てが本明細書で組み込まれている、カランバス(Columbus)に付与された、米国特許第4233029号明細書、ペイス(Pace)に付与された米国特許第4225410号明細書、カランバス(Columbus)に付与された米国特許第4323536号明細書、マグリ(Muggli)に付与された米国特許第4008448号明細書、ライルジャら(Lilja et al.)に付与された米国特許第4654197号明細書、スジュミンキーら(Szuminsky et al.)に付与され米国特許第5108564号明細書、ナンカイら(Nankai et al.)に付与された米国特許第5120420号明細書、スジュミンキーら(Szuminsky et al.)に付与された米国特許第5128015号明細書、ホワイト(White)に付与された米国特許第5243516号明細書、ディーボルドら(Diebold et al.)に付与された米国特許第5437999号明細書、ポールマンら(Pollmann et al.)に付与された米国特許第5288636号明細書、カーターら(Carter et al.)に付与された米国特許第5628890号明細書、ヒルら(Hill et al.)に付与された米国特許第5682884号明細書、ヒルら(Hill et al.)に付与された米国特許第5727548号明細書、クリスマーら(Crismore et al.)に付与された米国特許第5997817号明細書、フジワラら(Fujiwara et al.)に付与された米国特許第6004441号明細書、プリーデルら(Priedel, et al.)に付与された米国特許第4919770号明細書、およびシー(Shieh)に付与された米国特許第6054039号明細書を参照のこと。試験を実施するためのバイオセンサーは、典型的には、生物学的流体中の検体の検体と、化学的に反応する、試薬をその上に含む、使い捨て試験ストリップである。試験ストリップは、試験メーターが、検体の濃度を決定し、使用者に表示するために、検体と試薬間の反応を、測定可能なように、非使い捨て試験メーターと一緒になる。
【0005】
そのような試験メーター/試験ストリップシステムにおいて、適切な試験結果を保証するために、試験ストリップの適切な同定を保証することが、一般的に実質的である。たとえば、単一の試験メーターを、多数の異なる型の試験ストリップを解析可能であり得、そこで、各型の試験ストリップは、生物学的流体中の、異なる検体の存在に関して試験するために設計される。試験を、適切に実施するために、試験メーターは、どの試験の型が、現在の使用している、試験ストリップに関して実施されるべきであると、知られなければならない。
【0006】
また、試験ストリップにおけるロット−ロット間の変数が、正確な試験結果を保証するために、試験メーター内に負荷されるべき、補正情報を必要とする。そのような補正情報を、試験メーター内にダウンロードするための共通の実施は、試験メーターのソケット内に挿入される、電気的読み出し専用メモリーキー(ROMキー)の使用である。この補正データが、試験ストリップの特定の製品ロットに対して、正確であるだけであり得るために、使用者は通常、現在使用している試験ストリップのロット番号が、ROMキーがプログラムされたロット番号と一致するか、通常確認する。
【0007】
試験ストリップに関する情報をもつことが望ましい多くの他の例が、当業者に公知である。先行技術によって、試験メーターによる読み込みのために、試験ストリップが、コード可能である情報量の重度の制限、および情報コード機能のための、比較的広い試験ストリップ表面積の使用を含む、多くの問題に悩まされてきている、情報をその上にコードすることを試みている。
【0008】
したがって、システムおよび方法は、情報を、試験メーターによる情報の読み取りのための、バイオセンサー上にコードされるようにする必要がある。本発明は、この要求にあわせることを指向している。
【発明の開示】
【0009】
本発明は、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するための、試験ストリップを提供し、そこで、前記試験ストリップは、試験ストリップが挿入される試験メーターによって、読むことが可能な情報でエンコードされうる。
【0010】
本発明の1つの形態において、生物学的流体中の検体の濃度を測定するための、試験ストリップを形成するための方法が開示され、本方法には、表面、およびその上に形成された、少なくとも1つの測定電極をもつ基板、少なくとも1つの情報コンタクトパッド、および少なくとも1つの測定コンタクトパッドを含む、前記基板表面上で形成された、多数の伝導性コンタクトパッド、および多数のコンタクトパッドの種々の1つと、伝導的に結合した多数の電位伝導性リンクを含む基礎試験ストリップ設計を提供することで、少なくとも1つの情報コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の多数の電位伝導性リンクを除く、任意の少なくとも1つの測定電極に連結せず、少なくとも1つの測定コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の多数の電位伝導性リンク以外のパスによって、少なくとも1つの測定電極の1つに結合する、一組の有効な試験ストリップ設計を定義することで、各1つの有効な試験ストリップ設計の組が、多数の電位伝導性リンクを組み込まないか、1つ、または1つ以上を組み込み、少なくとも1つの、多数の電位伝導性リンクが、第一の情報コンタクトパッドを、第一の測定コンタクトパッドに、第一の有効な試験ストリップ設計中で結合し、少なくとも1つの多数の電位伝導性リンクが、第一の情報コンタクトパッドが、第二の測定コンタクトパッドに、第二の有効な試験ストリップ設計中に結合する、有効な試験ストリップ設計の組から、1つの設計を選択すること、および前記選択した1つの設計あたり、1つの試験ストリップを形成することの段階が含まれる。
【0011】
本発明の他の形態において、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために、多数の試験ストリップが開示され、各多数の試験ストリップは、多数の電位伝導性リンクの存在または不在を除いて、お互いに本質的に同一であり、少なくとも1つの試験ストリップが、1つの表面と、その上に形成される、少なくとも1つの測定電極、少なくとも1つの情報コンタクトパッド、および少なくとも1つの測定コンタクトパッドを含む、基板表面上に形成された多数の伝導性コンタクトパッド、および多数の電位伝導リンクから選択された、多数の伝導リンクを含み、多数の伝導性リンクは、伝導的に、少なくとも3つのパッドを一緒に連結し、少なくとも1つの情報コンタクトパッドは、1つまたはそれ以上の多数の電位伝導性リンクを除いて、少なくとも1つの情報コンタクトパッドの任意に結合せず、少なくとも1つの測定コンタクトパッドは、1つまたはそれ以上の、多数の電位伝導性リンク以外のパスによって、少なくとも1つの測定電極の1つに結合する。
【0012】
本発明の他の形態において、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために、多数の試験ストリップが開示され、本方法には、表面、およびその上に形成された、少なくとも1つの測定電極をもつ基板、少なくとも1つの情報コンタクトパッド、および少なくとも1つの測定コンタクトパッドを含む、前記基板表面上で形成された、多数の伝導性コンタクトパッド、および多数のコンタクトパッドの種々の1つと、伝導的に結合した、多数の電位伝導性リンク、を含む基礎試験ストリップ設計を提供することで、そこで、少なくとも1つの情報コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の多数の電位伝導性リンクを除く、任意の少なくとも1つの測定電極に連結せず、少なくとも1つの測定コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の多数の電位伝導性リンク以外のパスによって、少なくとも1つの測定電極の1つに結合する、一組の有効な試験ストリップ設計を定義することで、そこで、各1つの、有効な試験ストリップ設計の組が、多数の電位伝導性リンクを組み込まないか、1つ、または1つ以上を組み込み、少なくとも1つの、有効な試験ストリップ設計の組が、少なくとも3つのコンタクトパッドにて一緒に、伝導性に連結する、伝導性リンクを含む、有効な試験ストリップ設計の組から、1つの設計を選択すること、および前記選択した1つの設計あたり、1つの試験ストリップを形成すること、の段階が含まれる。
【0013】
本発明の他の形態において、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために、多数の試験ストリップが開示され、前記試験ストリップは、表面と、その上に形成された少なくとも1つの測定電極をもつ基板、少なくとも1つの情報コンタクトパッド、および少なくとも1つの測定コンタクトパッドを含む、前記基板表面上で形成された、多数の伝導性コンタクトパッド、および少なくとも3つのコンタクトパッドを伝導的に結合している、少なくとも1つの伝導性リンクを含み、そこで、少なくとも1つの情報コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の少なくとも1つの伝導性リンクを除く、任意の少なくとも1つの測定電極に連結せず、少なくとも1つの測定コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の、少なくとも1つの伝導性リンク以外のパスによって、少なくとも1つの測定電極の1つに連結する。
【0014】
本発明の他の形態において、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために、多数の試験ストリップが開示され、前記試験ストリップは、表面と、その上に形成された少なくとも1つの測定電極をもつ基板、少なくとも1つの情報コンタクトパッド、および少なくとも1つの測定コンタクトパッドを含む、前記基板表面上で形成された、多数の伝導性コンタクトパッド、および少なくとも3つのコンタクトパッドを伝導的に結合している、少なくとも1つの伝導性リンクを含み、少なくとも1つの情報コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の少なくとも1つの伝導性リンクを除く、任意の少なくとも1つの測定電極に連結せず、少なくとも1つの測定コンタクトパッドが、1つまたはそれ以上の、少なくとも1つの伝導性リンク以外のパスによって、少なくとも1つの測定電極の1つに連結する。
【0015】
本発明の他の形態において、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために、多数の試験ストリップが開示され、前記試験ストリップは、挿入された試験スリップに接触する、少なくとも1つのコネクターコンタクト、基板最上表面の少なくとも一部上に形成された伝導性層、および基板最上表面上に定義された、少なくとも1つの先に決定されたコンタクトパッド位置をもつ、試験メーター内に挿入することに適合し、そこで、少なくとも1つのコンタクトパッド位置のそれぞれが、少なくとも1つのコネクターコンタクトが、試験ストリップに接触するときに、少なくとも1つのコネクターコンタクトのそれぞれの1つによって接触され、それぞれ1つのコンタクトパッド位置における、伝導性層の存在が、試験メーターに対して、バイナリービットの第一状態を示唆するために作用し、そしてそれぞれの1つのコンタクトパッド位置において、伝導性層がないことが、試験メーターにバイナリービットの第二状態を示唆するために作用する。
【0016】
本発明の他の形態において、挿入された試験ストリップに接触している少なくとも1つのコネクターコンタクトをもつ試験メーターを提供すること、試験メーター内に挿入されることに適合した試験ストリップを提供することで、最上表面をもつ基板、基板最上表面の少なくとも一部分上に形成された、伝導性層、および基板最上表面上に定義された、少なくとも1つの先に決定されたコンタクトパッドを含み、各すくなくとも1つの先に決定されたコンタクトパッド位置を、少なくとも1つのコネクターコンタクトのそれぞれ1つと接触させること、それぞれの1つのコンタクトパッド位置中で、伝導性層の存在に対する応答にて、試験メーター内に、バイナリービットの第一状態を示唆すること、および、それぞれの1つのコンタクトパッド位置中で、伝導性層が存在しないことに対する応答にて、試験メーター内に、バイナリービットの第二状態を示唆することを含む、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するための方法。
【0017】
本発明の他の形態において、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するための、試験ストリップが開示され、前記試験ストリップは、表面、その表面上に形成された第一測定電極、表面上に形成された第二測定電極、表面上に形成される第三電位電極、表面上に形成された第四電位電極、表面上に形成し、第一測定電極に伝導性に結合した、第一コンタクトパッド、表面上に形成し、第二測定電極に伝導性に結合した、第二コンタクトパッド、表面上に形成し、第三測定電極に伝導性に結合した、第三コンタクトパッド、表面上に形成し、第四測定電極に伝導性に結合した、第四コンタクトパッド、および第一測定電極に、第三および第四電位電極の1つを連結している、伝導性リンクを含み、それによって第三および第四電位電極の他の1つが、実際の電極になる。
【0018】
本発明の他の形態において、a)その上に形成された少なくとも第一、第二および第三コンタクトパッドをもつ基板を含む試験ストリップを提供すること、b)試験ストリップが試験メーター内に挿入される場合、第一、第二および第三コンタクトパッドとの、伝導性コンタクトを作製するために、配置されたコネクターを含む、試験メーターを提供すること、c)第一および第二コンタクトパッド間に伝導性が存在するかどうかを決定するために、試験メーターを動作させること、d)第一および第三コンタクトパッド間に伝導性が存在するかどうかを決定するために、試験メーターを動作させること、e)試験メーターが、第一および第二コンタクトパッド間に伝導性が存在し、第一と第三コンタクトパッド間には伝導性が存在しないと測定した場合、第二コンタクトパッドが、第一機能をもつように、そして第三コンタクトパッドが、第二機能をもつように、設計すること、およびf)試験メーターが、第一および第二コンタクトパッド間に伝導性が存在せず、第一と第三コンタクトパッド間に伝導性が存在すると測定した場合、第二コンタクトパッドが第二機能をもつように、そして第三コンタクトパッドが第一機能をもつように設計すること、の段階を含む、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するための試験メーターと、連結した試験ストリップを用いる方法が提供される。
【0019】
本発明の他の形態にて、a)その上に形成された少なくとも第一、第二および第三コンタクトパッドをもつ基板を含む試験ストリップを提供すること、b)試験ストリップが試験メーター内に挿入される場合、第一、第二および第三コンタクトパッドとの、伝導性コンタクトを作製するために、配置されたコネクターを含む、試験メーターを提供すること、c)第一および第二コンタクトパッド間に伝導性が存在するかどうかを決定するために、試験メーターを動作させること、d)試験メーターが、第一および第二コンタクトパッド間に伝導性が存在すると測定した場合、第二コンタクトパッドが、第一機能をもつように、そして第三コンタクトパッドが、第二機能をもつように、設計すること、およびe)試験メーターが、第一および第二コンタクトパッド間に伝導性が存在と測定した場合、第二コンタクトパッドが、第二機能をもつように、そして第三コンタクトパッドが、第一機能をもつように、設計すること、の段階を含む、生物学的流体中の、検体の濃度を測定するための、試験メーターと、連結した試験ストリップを用いる方法が提供される。
【0020】
本発明の他の形態において、試験ストリップ上に位置する生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために適合された、試験メーターを用いる方法が開示されており、本方法には、a)試験メーターが、試験ストリップとの電気的コンタクトをつくるように、試験ストリップを試験メーター内に挿入すること、b)前記試験ストリップ上にエンコードされた情報を読むために、メーターを動作させること、およびc)試験メーターが試験ストリップからの情報読み取りに基づいて、ユーザー動作説明書を表示している言語を選択すること、の段階を含む。
【0021】
本発明の他の形態において、試験ストリップ上に位置する生物学的流体中の検体の濃度を測定するために適合された、試験メーターを用いる方法が開示されており、本方法には、a)試験メーターが、試験ストリップとの電気的コンタクトをつくるように、試験ストリップを試験メーター内に挿入すること、b)前記試験ストリップ上にエンコードされた情報を読むために、メーターを動作させること、およびc)試験メーターおよび試験ストリップが、前記試験ストリップからの情報読み取りに基づく、同様の地域マーケットにて販売されたかどうかを決定することの段階を含む。
【0022】
本発明の他の形態において、試験ストリップ上に配置された、生物学的流体中の検体の濃度を測定するために適合した試験メーターを用いる方法が開示されており、そこで、前記試験メーターは、定期使用の基準で売れた、定期使用試験ストリップと共に使用することを意図しておらず、a)試験メーターが、試験ストリップとの電気的コンタクトをつくるように、試験ストリップを試験メーター内に挿入すること、b)前記試験ストリップ上にエンコードされた情報を読むために、メーターを動作させること、c)試験ストリップが、試験ストリップからの情報読み取りに基づく、定期使用試験ストリップであるかどうか決定すること、およびd)試験ストリップが、定期使用試験ストリップであるかどうか、メーターによって試験ストリップの使用を防止すること、が含まれる。
【0023】
本発明の他の形態において、試験ストリップ上に位置する生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために適合された、試験メーターを用いる方法が開示されており、本方法には、a)試験メーターが、試験ストリップとの電気的コンタクトをつくるように、試験ストリップを試験メーター内に挿入すること、b)前記試験ストリップ上にエンコードされた情報を読むために、メーターを動作させること、およびc)試験ストリップからの情報読み取りに基づいて、試験メーターの潜在的な特徴を活性化すること、の段階を含む。
【0024】
本発明の他の形態において、試験ストリップ上に位置する生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために適合された、試験メーターを用いる方法が開示されており、本方法には、a)試験メーターが、試験ストリップとの電気的コンタクトをつくるように、試験ストリップを試験メーター内に挿入すること、b)前記試験ストリップ上にエンコードされた情報を読むために、メーターを動作させること、およびc)試験ストリップからの情報読み取りに基づいて、使用者に提示された、使用者操作取扱説明書を変更することの段階を含む。
【0025】
本発明の他の形態において、試験ストリップ上に位置する生物学的流体中の、検体の濃度を測定するために適合された、試験メーターを用いる方法が開示されており、本方法には、a)試験メーターが、試験ストリップとの電気的コンタクトをつくるように、試験ストリップを試験メーター内に挿入すること、b)前記試験ストリップ上にエンコードされた情報を読むために、メーターを動作させること、およびc)試験メーターが、試験ストリップからの情報読み取りに基づいて、ユーザー動作説明書を表示している言語を選択することの段階を含む。
【0026】
本発明の他の形態にて、生物学的流体中の検体の濃度を測定するための試験システムが開示されており、前記試験システムは、少なくとも10のコンタクトをもつコネクターからなる試験メーター、および試験メーターコネクション内に挿入されるように適合した試験ストリップを含み、前記試験ストリップは、表面をもつ基板、表面上に形成された、少なくとも10のコンタクトパッドを含み、少なくとも10のコンタクトパッドは、試験ストリップが、試験メーターコネクション内に挿入された場合に、少なくとも10のコンタクトパッドそれぞれとの接触を作り出す。
【発明を実施するための最良の形態】
【0027】
本発明の原理の理解を促進する目的のために、参考として、ここで、図面で例示した実施様態を作製し、特定の言語を、実施様態を記述するために使用する。本発明の目的の制限を意図はしていないことが理解されるであろう。本発明が関連する技術分野の当業者に、通常理解されるであろうように、例示した器具における変更および改変、そこで例示したような本発明の原理のさらなる適用が、望ましく保護される。とりわけ、本発明が、血中グルコースメーターに関して議論されるけれども、本発明が、他の検体および他の試料型を測定するための器具と共に使用可能である。そのような他の実施様態は、当業者に自明であり得る、本明細書で議論した実施様態に対する、特定の適合を要求する。
【0028】
本発明のシステムおよび方法を、広い範囲の設計をもち、広い範囲の構築技術および工程で作製された、試験ストリップとともに使用して良いけれども、典型的な電気化学試験ストリップを、図1にて例示し、一般的に10にて指し示す。図1を参照して、試験ストリップ10は、その表面を、(たとえば、スパッタリングまたは蒸発沈殿によって)50mmの伝導性(金)層でコートした、(デュポン社(DuPont)から入手可能なMelinex329(商品名)のような)350μm厚のポリエステルの不透明から形成された、底基板12を含む。電極、それに対する接続トレースおよびコンタクトパッドが、ついでレーザー切断工程によって、伝導性層中にパターン化される。レーザー切断工程は、石英上クロムマスクを通過する、エキシマーレーザーの方法によって実施する。マスクパターンによって、反射されるべきレーザー領域の部分を引き起こし、一方で、領域の他の部分が、レーザー光によって接触された部分で切断される、金上のパターンを作製可能である。レーザー切断工程は、本明細書以下で、より詳細に記述されている。たとえば、ワーキング20、カウンター22、容量十分なワーキング24、および容量十分なカウンター26電極が、示したように形成され、それぞれ、測定コンタクトパッドW、C、DWおよびDCに連結されうる。これらのコンタクトパッドにより、いったん、試験ストリップ10が試験メーター内に挿入されたならば、試験メーターのコネクターコンタクトによって、接触される、試験ストリップ10上に伝導性領域が提供される。
【0029】
ついで底基板12が、連続した、非常に薄い試薬フィルムとして、試薬層14を含む電極上に広がる面積中でコートされる。試薬層14は、図1上で、「試薬層(Reagent Layer)」と標識された領域中の基板12にわたり、およそ6ミリメートルの広さのストリップである。たとえば、この領域は、コートされた表面平方面積あたり、重量50グラムのウェットコートで、コートされうる。試薬ストリップを、公称空気温度110℃のインライン乾燥システムにて、従来のように乾燥させる。処理の速度は、公称速度30〜38メーター/分であり、試薬のレオロジーに依存する。
【0030】
基板12の場合、電極パターンが、リールの長さに対して直角であるように、物質を、連続リール中で処理する。いったん基板12が試薬によってコートされたならば、スペーサー16をスリットし、基板12上への、リールからリールへの工程中に配置する。背面および腹面表面両方上で、25μm PSA(疎水性接着)にてコートされた、(たとえばデュポン社(DuPont)から入手可能なMelinex329(商品名)のような)100μmポリエステルから形成された、2つのスペーサー16を、スペーサー16が、1.5mmで分離され、ワーキング、カウンターおよび容量十分な電極を、このギャップの中心に添えるように、底基板12に適用する。(米国特許第5997817号明細書に記載された工程を用いて)その腹表面上で、親水性フィルムによってコートされた、100μmポリエステルから形成される最上ホイール層18を、スペーサー16の上におく。親水性フィルムは、10ミクロンの名目厚にて、バイテル(Vitel(登録商標))およびローダペックス(Rhodapex(登録商標))界面活性剤の混合物によってコートされる。最上ホイール層18は、リールからリールの工程を用いて、ラミネート加工される。ついで試験ストリップが、スリッティングおよび切断の方法によって、物質からの得られたリールより産出可能である。
【0031】
図1にて例示された、基礎試験ストリップ10が、全血液試料中の血中グルコースの正確な測定を提供可能であるけれども、試験ストリップに関してなにかを同定するために、その中に挿入される、試験メーターに関する方法は提供されない。本発明は、試験ストリップに関する情報が、直接試験ストリップそれ自身にコード可能であり、この情報が、試験ストリップが挿入された試験メーターに対して伝達される、いくつかのシステムを提示している。
【0032】
本発明の第一実施様態において、試験ストリップに関する情報は、そのようなコードされた情報の読み取りに費やされる、2つまたはそれ以上のコンタクトパッドを添加することによって、試験ストリップ上に直接コード可能である。図2で例示したように、追加情報コンタクトパッドB1およびB2の組を、試験ストリップの隣接末端に加える。さらに、情報コンタクトパッドB1およびB2間、およびそれらと、試験ストリップ測定電極に連結した、測定コンタクトパッド間の電位伝導性リンクが、28、30、32、34および36として同定される。これらのリンクは、これらが、試験ストリップ上へコードされるべき情報に依存して、最終試験ストリップ内に存在するか、しないかいずれかであり得るので、電位伝導性リンクとして命名される。したがって、「電気伝導性リンク(potential conductive link)」は、完全に試験ストリップの測定電極に伝導性に結合しないか、または電位伝導性リンクによってのみ連結しているか、いずれかである、試験ストリップ上のコンタクトパッドとして定義されている。本明細書で使用するところの、語句「測定コンタクトパッド(measurement contact pad)」は、電位伝導性リンクが存在する、またはしないに関わらず、いつも、試験ストリップの測定電極に伝導性に連結している、試験ストリップ上のコンタクトパッドとして定義される。
【0033】
とりわけ、電位伝導性リンク28は、DCコンタクトパッドおよびB1コンタクトパッドに連結する。電位伝導性リンク30は、B1コンタクトパッドおよびB2コンタクトパッドに連結する。電位伝導性リンク32は、B2コンタクトパッドおよびCコンタクトパッドに連結する。電位伝導性リンク34は、DCコンタクトパッドおよびB2コンタクトパッドに連結する。電位伝導性リンク36は、B1コンタクトパッドおよびCコンタクトパッドに連結する。本発明の第一実施様態が、例の方法としてのみ、情報コンタクトパッドB1とB2、および測定コンタクトパッドDCとC間の電位伝導性リンクを例示していること、および情報コンタクトパッドが、試験ストリップ上の任意の望む測定コンタクトパッド(類)に、伝導性に連結しうることに、注意すべきである。
【0034】
図3は、第一実施様態の任意の1つの試験ストリップ上に形成された、電位伝導性リンク28〜36に対する、可能性のある組み合わせを示している表を例示している。この表の最初の5つのカラムは、それぞれC1〜C5と標識された、電位伝導性リンク28〜36のそれぞれを示している。0〜8と番号づけられた表の9つの行のそれぞれが、電位伝導性リンク28〜36を用いてエンコード可能である、異なる数字を表す。表の位置中「0」は、その行の番号をエンコードしている時に、電位伝導性リンクが、形成はされないことを表し、表位置中の「1」は、その行の番号がエンコードされている時に、電位伝導性リンクが形成されることを示している。DCコンタクトパッドとCコンタクトパッドは、試験ストリップ測定電極の測定機能性に悪影響を与えることなしに、伝導的に連結不可能であるので、いくつかの電位伝導性リンクの組み合わせが許容されないことに注意すべきである。たとえば、電位伝導性リンク34および36は、互いが架橋し、したがって、DCコンタクトパッドを、Cコンタクトパッドに、伝導的に連結しうるので、同時に使用できない可能性がある。同様に、電位伝導性リンク28、30および32は、同時に使用出来ない。
【0035】
図3の表の最後の2つのカラムは、それぞれB1およびB2と標識され、その行の番号を、試験ストリップ上にエンコードする場合に、その他のコンタクトパッドに、標識したコンタクトパッドを連結することを示唆している。たとえば、数字(6)が、試験ストリップ上にエンコードされた場合(すなわち、電位伝導性リンク28および32が、試験ストリップ上に形成される場合)、B1コンタクトパッドが、DCコンタクトパッドに伝導性に連結し、B2コンタクトパッドが、Cコンタクトパッドに伝導性に連結するが、B1およびB2は、(お互いを含めて)他の任意のコンタクトパッドに伝導性に結合しない。したがって、各コンタクトパッドDC、B1、B2およびC間の(直接的または間接的いずれかの)抵抗性の試験メーターによる測定が、(8)個の可能性のある数字のどれが、試験ストリップ上にエンコードされたかを示唆する。本発明はまた、抵抗性または伝導度の測定による以外の、試験ストリップ上の電位伝導性リンクの存在または存在しないことを決定するための、他の方法も含む。非限定例の方法にて、電位伝導性リンクはまた、容量性の方法によって、光学スキャニング技術によって、または当業者に理解されるであろう他の方法によって、電磁気場を用いる、渦電流を誘導し、方向付けることによって、非コンタクト様式にて、方向付けることも可能である。
【0036】
すべての電位伝導性リンク28〜36がない状態は、好ましくは、電位伝導性リンク28〜36を含む試験ストリップの領域を消し去る、局在的欠格によって引き起こされうるので、有効な状態であるとは考えられないが、この状態は、他の好ましくない実施様態において、有効な状態であると考え得ることに注意するべきである。図3の表中の有効な組み合わせとして示唆されていない、コンタクトパッドの組み合わせ間の伝導の読み取りが、意図しない短さで、不良なストリップとして、試験メーターより解釈されうることも、理解されるべきである。
【0037】
本発明の専用情報コンタクトパッドとの組み合わせでの、測定コンタクトパッドの利用、および1つ以上の測定コンタクトパッドへ、各情報コンタクトパッドを電位的に連結する可能性は、試験ストリップ上へエンコードされうる総数を増加させる。比較のために、本発明の第一実施様態の2つの情報コンタクトパッドが、8個のコーディングを伝導的に許容する。日本国特許第JP2000352034号に開示された設計は、2つの情報コンタクトパッドでの、2つの可能性のある状態を許容するのみであり、一方で、欧州特許出願公開第1152239号明細書は、2つの情報コンタクトパッドでの、4つの可能性のある状態を許容するのみである。
【0038】
本明細書で記述したような情報でエンコードされた試験ストリップを調製する1つの方法は、レーザー切断技術を使用するものである。バイオセンサーのための電極を調節することにおける、これらの技術の使用の例は、いずれも参考文献にて、本明細書に組み込まれている2001年5月25日に出願された、米国特許出願第09/866,030号の「連続カバーレイチャネルでの、レーザー切断電極をもつバイオセンサー(Biosensors with Laser Ablation Electrodes with a Continuous Coverlay Channel)」、および1999年10月4日に出願された、米国特許出願第09/411,940号の「レーザー・ディフィンド・フィーチャー・フォオ・パターンド・ラミネイツ・アンド・エレクトロード(Laser Defined Feature for Patterned Laminates and Electrode)」に記載されている。
【0039】
本発明において、全てのバイオセンサーに対して、電気的成分の実際の配置に関して提供することが望ましい。好ましい実施様態において、成分の相対配置が、少なくとも部分的に、電気的成分に関する正確なパターンをもつ、マスクまたは他の器具を通して実施される、広範囲の領域のレーザー切断の利用によって、達成される。このことによって、隣接エッジの正確な配置が可能になり、これはさらに、エッジの平滑度に関する、密接な許容によって、増強される。
【0040】
図4は、それぞれ、第一電極組404および第二電極組405、および相当するトレース406、407、およびコンタクトパッド408、409を含む、電極システムを定義している、導電性材料403上に形成された、基板402を含む、本発明のレーザー切断工程を例示するために有用な、単純なバイオセンサーを例示している。導電性材料403は、純粋な金属または合金、または金属導体である他の物質を含んで良い。好ましくは、導電性材料は、電極を形成するために使用するレーザーの波長、そして迅速で正確な処理に従順な厚さにて吸収性である。非限定的な例として、アルミニウム、炭素、銅、クロミウム、金、酸化インジウム鉛(ITO)、パラジウム、白金、銀、酸化鉛/金、チタニウム、これらの混合物、およびこれらの要素の合金または金属製化合物が含まれる。好ましくは、伝導性金属は、貴金属または合金またはその酸化物が含まれる。より好ましくは、伝導性金属には、金、パラジウム、アルミニウム、チタニウム、白金、ITOおよびクロミウムが含まれる。導電性材料は、厚さにして、10nm〜80nm、より好ましくは、30nm〜70nm、もっとも好ましくは50nmの範囲である。導電性材料の厚さは、物質の透過性特性、およびバイオセンサーの利用に関連した他の因子に依存することが理解される。
【0041】
例示していないが、得られたパターン化導電性材料を、さらなる金属層でコートまたはプレート可能である。たとえば、導電性材料は、銅であり得、ついで、電極パターン内にレーザーにて切断され、続いて、銅が、チタニウム/タングステン層、ついで金層でプレートされ得、望む電極が形成される。好ましくは、導電性材料の単独層が使用され、基体402上に重ね合わされる。一般的には必要はないけれども、当業者によく知られているように、ニッケルクロムまたはチタニウムのような、種または補助層を用いることによって、基体に導電性材料の接着を増強することが可能である。好ましい実施様態において、バイオセンサー401は、金、パラジウム、白金またはITOの単独層をもつ。
【0042】
バイオセンサー401は、それぞれ、図4、6および7で示した、2つの器具10、10’を用いて、例示的に製造する。他に記述しない限り、器具410、410’は、同様の様式にて動作することが好ましい。図5にまず関連して、バイオセンサー401を、幅約40mmの、80nm金ラミネートをもつリボン420のロールを、カスタムフィット広範囲領域レーザー切断器具410内に供給することによって製造する。器具410には、レーザー光412のビームを産出しているレーザー供給源411、クロミウム−プレート石英マスク414、および光学416が含まれる。例示した光学416が単一のレンズである一方で、光学416は好ましくは、先に決定した形態で、光412を作製するために共同する種々のレンズである。
【0043】
好適な切断器具410の非限定例(図5〜6)は、ドイツ連邦共和国、ゲッチンゲンのラムブダ フィジーク アクチェン ゲゼルシャフト(Lambda Physik AG)より販売されている、LPX−400(商品名)、LPX−300(商品名)またはLPX−200(商品名)レーザーシステム、およびコロラド州、コロラド スプリングスのインターナショナル フォトツール カンパニー(International Phototool Company)より販売されており、ドイツ連邦共和国、ガルプゼンのエルペーカーエフ レーザー エレクトロニック ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング(LPKF Laser Electronic GmbH)よりクロミウム−プレート石英マスクを組み込んで市販されている特注のマイクロランレーザー(MicrolineLaser)200−4レーザーシステム(商品名)である。
【0044】
マイクロランレーザー(MicrolineLaser)200−4レーザーシステム(商品名)(図5〜6)に関して、レーザー供給源411は、LPX−200(商品名)KrF−UV−レーザである。しかしながら、より長い波長のUVレーザーが、本開示物にしたがって使用可能であることが理解される。レーザー供給源411は、600mJのパルスエネルギー、および50Hzのパルス繰り返し振動数で、248nmにて働く。レーザービーム412の強度は、誘電ビームアテニュエーターによって、3%〜92%のあいだで非常に適合可能である(図示していない。ビームプロファイルは、27×15mm2(0.62sq.インチ)およびパルス期間25nsである。マスク414上のレイアウトは、光学要素ビームエクスパンダー、ホモジナイザーおよび視野レンズによって均質的に投影される(図示していない)。ホモジナイザーの性能は、エネルギープロファイルを測定することによって決定されてきた。イメージング光学416は、リボン420上に、マスク414の構造をうつす。イメージング比は、一方で移動しうる大きな面積を許容するが、他方で、適用したクロミウムマスクの切断点以下のエネルギー密度を維持するために、2:1である。2:1のイメージングを例示している一方で、任意の数の異なる比が、望む設計要求に依存して、本開示物にしたがって可能であることが理解される。リボン420は、多数のレイアウト区画を、連続して切断するように、矢印425によって示されたように移動する。
【0045】
マスク414のポジショニング、リボン420の移動、およびレーザーエネルギーは、コンピュータで制御される。図5で示したように、レーザービーム412が、切断されるべきリボン420上に投影される。きれいな面積を介して、またはマスク414の窓418を通過する光412が、リボン420から金属を切断する。マスク414のクロミウムコート面積424が、レーザー光412をブロックし、これらの面積にて、切断が防止され、結果として、リボン420表面上の金属化構造となる。ここで、図6を参考に、電気的成分の完全な構造は、第二マスク414’を介した、さらなる切断段階を要求しうる。光学、および切断されるべき、電気的成分の大きさに依存して、単一の切断段階のみ、または2つ以上の切断段階が、本開示物にしたがって、必要であり得ることが理解される。さらに、多重マスク以外に、本開示物にしたがって、多重の領域が、同様のマスク上に形成されうることが理解される。
【0046】
とりわけ、好適な切断器具410’の第二の非限定例(図7)が、ドイツ連邦共和国、ゲッチンゲンのラムブダ フィジーク アクチェン ゲゼルシャフト(Lambda Physik AG)より販売されている、ランブダ スチール社(Lambda STEEL)(安定エネルギーエキシマーレーザー)のレーザーシステム、およびコロラド州、コロラドスプリングスのインターナショナル フォトツール カンパニー(International Phototool Company)より販売されており、ドイツ連邦共和国、ガルプゼンのエルペーカーエフ レーザー エレクトロニック ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング(LPKF Laser Electronic GmbH)よりクロミウム−プレート石英マスクを組み込んで市販されている特注のレーザーシステムである。本レーザーシステムは、308nmの波長にて、100mJパルスエネルギーまでを特徴とする。さらに、本レーザーシステムは、100Hzの振動数をもつ。器具410’は、図5および6で示したように、2つのパスをもつ、バイオセンサーを産出するために形成され得るが、好ましくは、25nsの単独パス中で、10×40mmパターンの形成を許可する。
【0047】
特定の説によることを希望しないけれど、マスク414、414’、414”を通過する、レーザーパルスまたはビーム412が、リボン420上の表面402の1μm以下で吸収されると信じられている。ビーム412の光子は、金属/ポリマー表面における、光−分解、および化学結合の迅速な分解を引き起こすのに十分なエネルギーをもつ。この迅速な化学結合分解が、切断領域内の突然の圧力増加を引き起こし、物質(金属フィルム403)を、ポリマー基体表面から押し出すことを強要する。典型的なパルス期間は、訳20〜25ナノ秒であり、金属との相互作用は、導電性材料403のエッジに対する、非常に迅速に、そして温度障害をおこし、周辺の構造が最小化される。電気的成分の得られるエッジは、本発明によって意図されるように、高いエッジ性質および正確な配置をもつ。
【0048】
リボン420から金属を除去するか、または切断するために使用されるフルエンスエネルギーは、それよりリボン420が形成される金属、金属フィルムの基体物質への接着、金属フィルムの厚さ、および基体金属上にフィルムを配置するために使用する工程、すなわち、支持および蒸発沈殿、に依存する。KALADEX(登録商標)上の金に関するフルエンスレベルは、約50〜約90mJ/cm2の範囲であり、ポリイミド上、約100〜約120mJ/cm2であり、MELINEX(登録商標)上、約60〜約120mJ/cm2である。以上で言及したもの以下、または以上のフルエンスレベルが、本開示物にしたがって、他の基体物質のために適切であり得ることが理解される。
【0049】
リボン420の面積のパターニングは、マスク414、414’を用いることによって実施される。それぞれのマスク414、414’は、例示的に、形成されるべき電極成分パターンの、先に決定された部分の、実際の二次元例示を含む、マスク領域422を含む。図5は、コンタクトパッドおよびトレースの一部分を含む、マスク領域422を例示している。図6で示したように、第二マスク414’には、トレースの第二の相当する部分と、フィンガーを含む電極パターンが含まれる。先に記述したように、切断されるべき面積の大きさに依存して、マスク414は、本開示物にしたがって、電極パターンの完全な例示(図7)、または図5および6で例示したものからは異なるパターンの部分を含みうる。好ましくは、発明の1つの観点において、試験ストリップ上の電気的成分の全パターンが、一度にレーザー切断され、すなわち、広い領域が、試験ストリップの全体の大きさを含むことが意図される(図7)。あるいは、図5および6で例示したように、全バイオセンサーの部分が、成功する。
【0050】
マスク414を本明細書以下で議論するが、他に示さない限り、議論は、マスク414’、414”にも同様に適用されうる。図5を参照して、クロムによって保護された、マスク領域422の面積424が、リボン420への、レーザービーム412の投影をブロックしうる。マスク領域422の透明な面積または窓418によって、レーザービーム412が、マスク414を通過し、リボン420の先に決定された面積に激突することとなる。図5で示すように、マスク領域422の透明な面積418は、それより導電性材料403が除去されるべきである、リボン420の面積に相当する。
【0051】
さらに、マスク領域422は、線430によって示された長さ、および線432によって示された幅をもつ。LPX−200の2:1のイメージング比を考えると、マスクの長さ30は、得られるパターンの長さ434の2倍の長さであり、マスクの幅432は、リボン420上で得られるパターンの幅436の2倍の幅である。光学416は、リボン420を直撃するレーザービーム412のサイズを減少させる。マスク領域422の相対寸法、および得られるパターンは、本開示物にしたがって、変化可能であることが理解される。マスク414’(図6)が、電気的成分の二次元例示を完全にするために使用される。
【0052】
図5の参照を続け、レーザー切断器具410中、エキシマーレーザー供給源411が、ビーム412を放射し、これが、石英上クロムマスク414を通過する。マスク領域422は、他の部分のビームを可能にする一方で、反射されるべきレーザービーム412の部分を引き起こし、レーザービーム412によって衝突した場合に、金フィルム上のパターンを作製する。リボン420が、器具410に関連して、静止するか、または、器具410を介して、ロール上で連続して移動することが理解される。したがって、リボン420の移動の非限定速度は、約0m/分〜約100m/分でありえ、好ましくは約30m/分〜約60m/分であり得る。リボン420の移動の速度は、選択された器具410によってのみ制限され、本開示物にしたがって、レーザー供給源411のパルス期間に依存して、100m/分を良く越えうる。
【0053】
いったん、マスク414のパターンが、リボン420上で作製されたらば、リボンを巻き戻し、再びマスク414’と共に、器具410を介して与える(図6)。あるいは、レーザー器具410を、本開示物にしたがって、連続して配置可能であることが理解される。したがって、マスク414、414’を用いることによって、リボン420の大きな面積を、基体の基板上の、複雑な電極パターンと、他の電気的成分の経済的な作製、電極成分の正確なエッジ、および基体物質からのより多量の金属フィルムの脱離を可能にするために、同一マスク面積中の、多重マスク領域422を含む工程と、これを繰り返す工程を用いてパターン化可能である。
【0054】
情報を直接試験ストリップ上にコードする能力は、試験ストリップの性能を劇的に増加させ、試験メーターとのその相互作用を増強することが可能である。たとえば、試験ストリップの任意の該製造ロットに適用可能な、較正データで、試験メーターを供給することが、本技術分野でよく知られている。典型的には、このことは、各試験ストリップのバイアルで、読み取り専用メモリーキー(ROMキー)を提供することによって実施され、そこで、ROMキーは、その上に、バイアル中の試験ストリップに適用可能な、較正データを、エンコードした。バイアルからの試験ストリップを用いる前に、試験ストリップを用いて、試験を実施する一方で、試験メーターが、このデータにアクセス可能であるように、試験メーター中のポート内に、利用者がROMキーを挿入する。測定結果の性質を、先行技術で示されたように、試験ストリップ上の、バーコード情報を読むために、光学リーダーを必要とせずに、メーター内に現在挿入されている、試験ストリップに対する、ROMキーデータの適用性を、メーターが電気的に査定することを許容することによって確認可能である。
【0055】
現在市販されている製品は、正確なROMキーが、現在使用されている試験ストリップのために、試験メーターに挿入されたかどうかを確認することに、使用者が関与することを要求する。たとえば、図8は、ROMキーデータと、試験ストリップロット識別(ID)番号間の適合を確認するための、典型的な先行工程を例示している。この工程を実施する前に、ROMデータを試験メーター中にロードし、試験メーターを止める。試験ストリップ(段階100)を、試験メーター内に挿入することによって、工程が開始され、試験メーターが、自動的にスイッチがはいる(段階102)。試験メーターは、このロット識別番号が、試験メーター内に挿入されている試験ストリップと同様の製品ロットからの、多数の試験ストリップを含む(たとえば)、バイアル/パッケージ上に印刷されたロット識別番号と一致することを確認する機会を、使用者に与えるために、現在ロードされた較正データ(段階104)を提示している。
【0056】
工程が、このチェックを実施するために、使用者に依存するので、実施された、または実施されたならば実際に実施されたのか、を保証する方法はない。したがって、図8の工程は、試験メーター表示上のロット識別番号を、試験ストリップバイアル上のロット識別番号(段階106)と比較し、一致するかどうかを決定する(段階108)するために、使用者に最適な段階を示唆している。もし2つのロット識別番号が一致しない場合、使用者は、試験ストリップを除去し(段階110)、適切な較正コードが試験メーター内にロード可能であるように、試験メーター中の試験ストリップバイアルと一致するROMキーを挿入(段階112)すべきである。ついで、工程が、試験ストリップの挿入において、段階100にて開始される。いったん、試験メーターの較正コードロット識別番号が、試験ストリップのロット識別番号と一致することが決定されたならば(段階108)、測定配列が、血液を試験ストリップ(段階114)に適用し、血中グルコース測定周期を開始する(段階116)ことによって続けることが可能である。
【0057】
測定較正データの精度の確認の義務は、図8の先行工程では、完全に使用者の手にあったことが理解されるであろう。しばしば、使用者は、試験ストリップと、提供された、規定された取扱説明書を無視することがある。そのような1つの例は、ロットXにて製造された第一バイアルからの試験ストリップの除去と、これらの試験ストリップの、ロットYにて製造された試験ストリップを含む第二バイアル中への統合である。したがって、ロット特異的較正情報を、先行技術で行われたような、バイアルレベルの代わりに、個々の試験ストリップレベルにもち込むことが望ましい。
【0058】
工程からのヒトのエラーおよび無視の可能性を排除し、それによって、測定の精度を改善するために、本発明の情報コンタクトパッドによって、試験メーターそれ自身が、現在挿入されている試験ストリップに対する、現在ロードされている較正データの適用性のような、チェックを実施可能になる。そのような確認に、試験メーターが積極的に関与することを可能にする、本発明の第一実施様態工程が、図9で例示されている。図8での相当する段階と同一である、図9の工程の段階を、同一の参照指定で番号付けする。
【0059】
本工程を実施する前に、ROMキーを、試験メーターに挿入し、ROMデータを、試験メーター内にロードし、試験メーターのスイッチを止めた。本工程は、試験メーター内へ、試験ストリップを挿入すること(段階100)によって開始され、これによって、試験メーターが自動的にスイッチが入る(段階102)。ついで、試験メーターが、試験ストリップのロットおよびファミリー識別を確かにするために、種々の情報と、試験ストリップ上のコード情報に関して指定された、試験ストリップ上の測定コンタクトパッド間の伝導性を測定する(段階200)。試験ストリップ上でエンコードされうる情報の精度に依存して、試験ストリップ上へ、固有の製品ロット番号をコードする可能性があり得るか、またはありえない。エンコードされるべき、固有の製品ロット識別番号に対して、十分な空間がない場合、試験ストリップ上に、較正ファミリー情報をエンコードすることも可能である。たとえば、試験メーター中で有用な試験ストリップは、ファミリー試験ストリップ指定間で、有意な差が存在する、2つまたはそれ以上のファミリーのものでありうる。たとえば、2つのファミリーが、試験ストリップ上の異なる試薬を使用しうる。そのような状態において、試験メーターはまだ、試験ストリップの実際の製品ロットを確認することが不可能である場合でも、ロードされた較正データが、試験ストリップ上にエンコードされた、試験ストリップファミリーに一致することを確認可能である。したがって、本明細書で使用するところの語句、「ロット識別番号(lotID)」は、群が、試験ストリップの製品ロットと同様に小さくはない場合でも、試験ストリップまたは較正データが属している群を同定する任意の情報を含むことを意図する。
【0060】
図9の工程にもどって、試験メーターは、メーター内に挿入されているROMキー内に保存された較正データのロット識別番号(または試験メーター内部メモリー内に先にロードされた較正データ)を、試験ストリップからのロット識別番号読み取りと比較する(段階202)。もし一致しないならば、使用者に、正確な試験ストリップを挿入すること、および試験メーター内に、異なるROMキーを挿入することの機会を与えるために、試験メーターが、現在ロードされている較正データのロット識別番号(段階204)と、警告を表示する。あるいは、試験メーターが、使用者に、単にエラーメッセージを提示する。ロット識別番号が一致しないという事実が、得られた測定結果が、ロット識別番号中の不一致の観点から、疑わしい、メモリー208中の記録が存在するように、試験メーターの結果メモリー208中に警告が与えられる(段階206)。あるいは、使用者が、試験を走らせることを禁止されうるか、工程が中断されうる。
【0061】
いくつかの実施様態において、ロット識別番号が一致しない場合に、試験メーターが完全に使用不可にはならないことが望ましいので、図9の工程は、試験メーター表示上のロット識別番号を、試験ストリップバイアル上のロット識別番号と比較し(段階106)、一致するなら決定する(段階108)ことが、利用者にとって最適な段階であることを示唆している。2つのロット識別番号が一致しない場合、使用者が、適切な較正コードを、試験メーター内にロード可能であるように、試験ストリップを除去し(段階110)、試験メーター内に、試験ストリップバイアルと一致するROMキーを、挿入すべきである(段階112)。
【0062】
また任意に、試験メーターが、メーターの内部メモリー内に1つ以上の較正データセットを保存する能力をもち、ついで、メーターが、試験メーター内に保存されうる較正データの多重ロット識別番号を決定し、自動的に、メーター内に現在挿入された試験ストリップと一致する、較正データセットを選択しうる。メーターは、ここで、段階113にもどる。
【0063】
いったん、試験メーターの較正コードロット識別番号が、試験ストリップのロット識別番号と一致したことが決定されたらば(段階108)、ついで、測定配列が、血液を、試験ストリップに適用し(段階114)、血中グルコース測定周期を開始する(段階116)。図9の工程が、試験ストリップのロット識別番号が、現在選択された較正データセットのロット識別番号と一致しない時に、使用者が、自動的に警告される、図8の先行技術工程の改善を示していることが理解されるであろう。さらにもし、試験が、この一致しない組み合わせで実施されるならば、試験メーター内の結果メモリーが、結果が、正確な較正データセットを使用した場合に、できるだけ正確ではない可能性があることを示唆するように警告が与えられる。
【0064】
試験ストリップ上に直接エンコードされている情報の利用性のさらなる例として、本発明によって、試験ストリップが、試験メーター内にプログラムされた特定の特徴を活性化、または不活性化可能になる。たとえば、単一の試験メーターが、異なる言語が互いの市場で話されている、いくつかの異なる地理的マーカー中で使用されるように設計されうる。試験ストリップを、その市場で試験ストリップが売られていることを示唆している情報で、エンコードすることによって、エンコードされた情報によって、試験メーターが、取扱説明書、およびデータを、市場に適切な言語で提示されることが可能である。また、メーターは、特定の地理的な市場での売り上げのために設計され、異なる地理的市場で得られる試験ストリップでは、メーターが使用されないことが望ましい(たとえば、政府の規則が、1つの地理的市場で売られる試験ストリップが、他の地理的市場で売られているものよりも異なる特徴をもつことを要求する場合)。この状態では、試験ストリップ上でコードされた情報は、試験ストリップが、指定された地理的市場で起源とはならず、したがって、規則によって要求された特徴を提供し得ないことを決定するために、試験メーターによって使用され、その場合、試験は、中止されるか、または警告が与えられる。
【0065】
さらに、ビジネスモデル(定期使用ビジネスモデル)を、試験ストリップの、他のセールスチャネルへの拡大が望ましくない場合に、試験ストリップの配布に対して適用しうる。たとえば、使用者は、定期使用参加者によって、使用のために指定された試験メーターを提供される、定期使用プログラムに登録され、定期使用参加者が、定期的に、定期使用試験ストリップを提供されうる(たとえば、手紙、または任意の他の便利な伝達形態によって)。本発明の技術を用いて、語句「定期使用試験ストリップ(subscription test strips)」は、定期使用参加者に提供されることを示唆するためにエンコードされうる。種々の理由のために、定期使用試験ストリップの製造業者は、他の取引チャネルで売られるべき、定期使用試験ストリップを欲しがらないであろう。このことを防止する1つの方法は、定期使用試験ストリップで、作業を行わないであろう、定期使用参加者ではない、利用者に提供された、試験メーターを設計することである。したがって、本発明は、定期使用に基づく利用者に伝達されることを示唆するためにエンコードされた、定期使用試験ストリップを許容するようにプログラムされた、定期使用ビジネスモデル中の定期使用参加者に、試験メーターを提供するために使用可能であり、一方で、そのようにエンコードされた、他の試験メーターが、定期使用試験ストリップを許容しないようにプログラムされる。
【0066】
さらなる例として、試験メーターは、試験メーターが最初に販売された時には、不活性である、メーターに設計された、特定の機能をもちうる(ソフトウェアおよび/またはハードウェア組み込み)。ついで試験メーターの性能が、これらの潜在的特徴を活性化するための説明書として、メーターによって認識されうる、後の時点で売られる試験ストリップ上にエンコードされた情報を含むことによって、後の時点でアップグレード可能である。本明細書で使用するところの語句「試験メーターの潜在的特徴を活性化すること(activating a latent feature of the test meter)」は、試験メーターがその後、機能的に、無期限に(すなわち、現在の試験ストリップでの現在の試験が終了した後に)活性化されたままであるように、先には活性化されていなかった、試験メーターの機能のスイッチを入れることを意味する。
【0067】
本発明の用いる、試験ストリップ上にエンコードされうる情報の他の例は、試験ストリップが、病院市場に対して売られたのか、または消費者市場に対して売られたのかの示唆である。この情報をもつことによって、試験メーターが、病院の専門家に対してよりも詳しくはない、使用取り扱い説明書を表示するような、それに応じた行動を起こすことが可能であり得る。試験ストリップと試験メーター間の、種々の型のコミュニケーションが、本発明によって提供された、情報エンコーディングによって促進されうることが、当業者によって理解されるであろう。
【0068】
情報を試験ストリップ上に直接エンコード可能にする、第二試験ストリップ配置を、図10にて例示し、一般的に300で指定している。試験ストリップ300は、好ましくは、一般的に、試験ストリップ10と401に関して、以上で記述したように形成され、ワーキング320、カウンター322、容量十分なワーキング324および容量十分なカウンター326電極が、それぞれ図示したように形成され、測定コンタクトパッドW、C、DWおよびDCに、連結しうる。これらのコンタクトパッドによって、いったん試験ストリップ300が試験メーターに挿入されたならば、試験メーターの電気的コネクターコンタクトによって接触される、試験ストリップ300上の伝導性面積が提供される。試験ストリップは、(図10にて示したように)試験ストリップの末端中の、試料注入口をともなって、または図1で示したような、試験ストリップの側面上の試料注入口をともなって、形成されうる。その情報エンコーディング部位の機能は、いずれの位置でも、測定電極のポジショニングによって影響を受けない。
【0069】
カウンター電極コンタクトパッドCの周辺の面積が、伝導性層の比較的広い広がりを提供するために形成され、情報コンタクトパッド位置B1〜B7に分けられることが、図10の例より留意される。本発明の第二実施例において、伝導性層が、どの数字が、試験ストリップ300上にエンコードされるべきであるかに依存して、伝導性層が、コンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれ内に存在するか、または存在しないか、いずれかであるように、試験ストリップの製造のあいだに、形成されうる。このコンタクトパッドがいつも、測定の作製のために必要であるので、カウンター電極コンタクトパッドCは、いつも、この面積中に存在する伝導性層を伴って形成される。
【0070】
コンタクトパッドC、W、DCおよびDWのそれぞれ、ならびにコンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれが、試験ストリップ300が、試験メーター内に挿入する場合に、試験メーター内に局在する、多重−ピン電気的コネクターの、個々のコンタクトによって接触される。多重−ピン電気的コネクターによって、電気的シグナルが、試験メーターから試験ストリップまで適用されるか、その逆で適用されることが可能である。試験メーターは、カウンター電極コンタクトパッドCと、コンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれのあいだの伝導性を測定するために、(本技術分野でよく知られている方法によって)プログラムされている。したがって、コンタクトパッドCが、コンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれにおいて、それぞれ、伝導性層が形成されるかどうかに依存して、コンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれが、選択的に伝導的に連結可能である。コンタクトパッドCと、コンタクトパッド位置B1〜B7間の伝導性を測定することによって、試験メーターが、コンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれにおいて、伝導性層の存在または不在を決定可能である。たとえば、伝導性層が、特定のコンタクトパッド位置中に存在する場合に、デジタル値「1」を、そして、特定のコンタクトパッド位置中に、伝導性層が存在しない場合に、デジタル値「0」を割り当てることによって、デジタル語句が、試験ストリップ300上にエンコードされうる。
【0071】
本発明の第一実施様態に関して、本明細書以上で議論された、すべての望ましい利益の全てがまた、本発明の第二実施様態を用いて、実施されうる。第二実施例は、コンタクトパッド位置B1〜B7が、1つ以上の測定電極に伝導的に結合出来ないので、「禁制の(forbidden)」状態が存在せず、コンタクトパッド位置B1〜B7のそれぞれが、コンタクトパッドB1〜B7を用いて、試験ストリップ上にエンコードされるべき、任意の可能性のある7つのデジタル言語にて、「0」または「1」としてコードされうる。これによって、コンタクトパッドB1〜B7を用いて、試験ストリップ上にエンコードされうる、27または128の可能性のある固有の言語が提供される。そのような情報エンコーディングのために設計可能である、コンタクトパッド位置の数が、試験ストリップ表面上の、利用可能な空間、試験ストリップ上の伝導性の特徴を定義するために使用した工程の解決、電気的コネクターコンタクトスペーシング、およびをいったん試験ストリップを試験メーター中に挿入する場合に、コンタクトパッド位置上の、コネクターコンタクトの配置に関連する、耐性匹敵、によって限定されるだけである。
【0072】
さらに、本発明の第二実施様態における可能性のある状態の数を、さらに、コンタクトパッド位置B1〜B7の個々の組間の、伝導性パスを切断することによって、増加可能である。さらに、コネクター接触コンタクトパッドB1(たとえば)は、(すでに本明細書で述べたように)コンタクトパッドCで、電気的連続性に関してのみでなく、任意の他のコンタクトパッドB2〜B7で、電気的連続性に関しても確認可能である。
【0073】
すでに本明細書で述べたレーザー切断工程が、スクリーンプリンティングおよびフォトリソグラフィのような先行技術を用いて、先に達成可能ではなかった、試験ストリップ伝導性特徴の分解に関して許容する。このために、比較的多量のデータを、伝導性特徴が、レーザー切断工程を用いて形成される場合に、試験ストリップ上にコード可能である。たとえば、本発明の第三実施様態を、図11に例示し、一般的に500と示す。試験ストリップ500は、レーザー分解工程が、試験ストリップ上で形成されるべき、より多くのコンタクトパッドに関して許容することを除いて、図10の試験ストリップ300と同様である。図11の等価の構造は、図10で使用されるのと同様の参照指定が与えられる。合計16のコンタクトパッドが、試験ストリップ500上で形成され、B1〜B10が、ワーキング520、カウンター522、容量十分なワーキング524、および容量十分なカウンター526電極に連結した、測定コンタクトパッドW、WS、C、CS、DWおよびDCに加えて、情報コンタクトパッドとして指定される。これらのコンタクトパッドにより、いったん試験ストリップ500が試験メーター中に挿入される場合に、試験メーターの電気的コネクターコンタクトによって接触されるべき、試験ストリップ500上の伝導性面積が提供される。試験ストリップは、(図11で示したように)試験ストリップの末端中の、試料注入口をともなって、または図1で示したような、試験ストリップの側面上の試料注入口をともなって形成されうる。その情報エンコーディング部位の機能は、いずれの位置でも、測定電極のポジショニングによって影響を受けない。
【0074】
図10の第二実施様態でのように、カウンター電極コンタクトパッドCの周辺の面積が、伝導性層の比較的広い広がりを提供するために形成され、情報コンタクトパッド位置B1〜B10に分けられることが、図11の例より留意される。本発明の第二実施例において、伝導性層が、どの数字が、試験ストリップ500上にエンコードされるべきであるかに依存して、伝導性層が、コンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれ内に存在するか、または存在しないか、いずれかであるように、試験ストリップの製造のあいだに、形成されうる。このコンタクトパッドがいつも、測定の作製のために必要であるので、カウンター電極コンタクトパッドCは、いつも、この面積中に存在する伝導性層を伴って形成される。
【0075】
コンタクトパッドC、CS、W、WS、DCおよびDWのそれぞれ、ならびにコンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれが、試験ストリップ500が、試験メーター内に挿入される場合に、試験メーター内に局在する、多重−ピン電気的コネクターの、個々のコンタクトによって接触される。多重−ピン電気的コネクターによって、電気的シグナルが、試験メーターから試験ストリップまで適用されるか、その逆で適用されることが可能である。試験メーターは、カウンター電極コンタクトパッドCと、コンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれのあいだの伝導性を測定するために、プログラムされている。したがって、コンタクトパッドCが、コンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれにおいて、それぞれ、伝導性層が形成されるかどうかに依存して、コンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれが、選択的に伝導的に連結可能である。コンタクトパッドCと、コンタクトパッド位置B1〜B10間の伝導性を測定することによって、試験メーターが、コンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれにおいて、伝導性層の存在または不在を決定可能である。たとえば、伝導性層が、特定のコンタクトパッド位置中に存在する場合に、デジタル値「1」を、そして、特定のコンタクトパッド位置中に、伝導性層が存在しない場合に、デジタル値「0」を割り当てることによって、デジタル語句が、試験ストリップ500上にエンコードされうる。
【0076】
本発明の第一実施様態に関して、本明細書以上で議論された、すべての望ましい利益の全てがまた、本発明の第三実施様態を用いて、実施されうる。第三実施例は、コンタクトパッド位置B1〜B10が、1つ以上の測定電極に伝導的に結合出来ないので、「禁制の」状態が存在せず、コンタクトパッド位置B1〜B10のそれぞれが、コンタクトパッドB1〜B10を用いて、試験ストリップ上にエンコードされるべき、任意の可能性のある7つのデジタル言語にて、「0」または「1」としてコードされうる。これによって、コンタクトパッドB1〜B10を用いて、試験ストリップ上にエンコードされうる、210または1024の可能性のある固有の言語が提供される。
【0077】
さらに、第二実施様態試験ストリップ300でのように、本発明の第三実施様態試験ストリップ500における可能性のある状態の数を、さらに、コンタクトパッド位置B1〜B10の個々の組間の、伝導性パスを切断することによって、増加可能である。さらに、コネクター接触コンタクトパッドB1(たとえば)は、(本明細書以上で記述したように)コンタクトパッドCで、電気的連続性に関してのみでなく、任意の他のコンタクトパッドB2〜B10で、電気的連続性に関しても確認可能である。これは、試験ストリップ500上にエンコード可能である、固有のデジタル言語の数を非常に増加させる。
【0078】
レーザー切断工程の利用を通して、本発明で達成されたコンタクトパッド密度が、先行技術に対して、有意な発展を示していることが理解されるべきである。たとえば、発行された欧州特許出願公開第1024358号明細書は、単一試験ストリップ上の35までのコンタクトパッドを使用するシステムを開示しているが、特徴の密度は低く、本発明者が任意の一時点で、これらのコンパクトパッドの5つにのみ、接触することを強制させられる。これは、同数のコンタクトパッドを形成するために、本発明よりも、より大きな試験ストリップ表面積を必要とされるだけでなく、試験メーターが、任意の一時点で、5つ以上のコンタクトパッドに接触できないので、この試験メーターが、伝導性確認を実施することが不可能である。本発明のレーザー切断工程によって可能である、特徴寸法のきつい制御によって、本技術分野では以前には達成されていなかった、コンタクトパッド密度の利用が可能になる。たとえば、図10の実施様態によって、試験メーターコネクターによって、11のコンタクトパッドが同時に接触可能となる。図11の実施様態において、さらに大きな密度が達成され、そこでは、16のコンタクトパッドが、同時に試験メーターコネクターによって接触されうる。したがって、本発明のいくつかの実施様態は、好ましくは、少なくとも10の試験メーターコネクターコンタクトに連結した、少なくとも10の試験ストリップコンタクトパッドを含み、より好ましくは、少なくとも11の試験メーターコネクターコンタクトに連結した、少なくとも11の試験ストリップコンタクトパッドを含み、もっとも好ましくは、少なくとも15の試験メーターコネクターコンタクトに連結した、少なくとも15の試験ストリップコンタクトパッドを含む。
【0079】
図12〜14は、図11の第三実施様態試験ストリップ500と適合している、好ましい実施様態多重ピン電気的コネクターを例示している。電気的コネクターは、試験メーター中に配置され(図示していない)、試験ストリップ500が、試験メーター電気的コネクター内に挿入されたときに、試験ストリップ500上のそれぞれのコンタクトパットと適合した場合、コンタクトトレース502を産出する、多重コンタクトを含む。図13は、試験ストリップ500が、試験メーターに適合した場合に、各電気的コネクターコンタクトが、それぞれの試験ストリップ500コンタクトパッドのほぼ中心に位置する、名目上の場合を例示している。好ましい実施様態において、試験ストラップ500上の伝導性特徴の置換の耐性、ならびに、試験メーターの試験ストリップ適合部分に関する、電気的コネクターコンタクトの置換の耐性が、もっとも悪い場合、耐性匹敵が、各コネクターコンタクトと、それぞれのコンタクトパッド間の、確実な接触となりうるように、制御される。図12でみることが出来るように、すべての耐性が、そのそれぞれのコンタクトパッドに関して、コネクターコンタクトを左に動かすように、その最大の点である場合に、電気的コンタクトは、それぞれのコンタクトパッドと確実に電気的な接触を行うように配置され、全てのコンタクトパッドB1〜B10が、挿入のあいだ、試験ストリップとのコネクターコンタクトの物理的相互作用が、コンタクトトレース502の面積において、金属化を除去する場合でさえも、そのそれぞれの金属化があっても電気的にコンタクトパッドCに連結される。同様に、図14で見ることができるように、全ての耐性が、そのそれぞれのコンタクトパッドに関して、コネクターコンタクトを右に動かすように、その最大である場合に、電気的コンタクトは、それぞれのコンタクトパッドと確実に電気的な接触を行うように配置され、全てのコンタクトパッドB1〜B10が、挿入のあいだ、試験ストリップとのコネクターコンタクトの物理的相互作用が、コンタクトトレース502の面積において、金属化を除去する場合でさえも、そのそれぞれの金属化があっても電気的にコンタクトパッドCに連結される。
【0080】
本発明の第四実施様態試験ストリップが、図15にて略図的に示されており、600と指定されている。試験ストリップ600は、第四実施様態が、試験ストリップ上で、6つのコンタクトパッドのみを使用することを除いて、図10の試験ストリップ300と同様である。より少ない、またはより多いコンタクトパッドを用いる実施様態は、本発明によって意図されている。図15中の等価構造は、図10で使用されたのと同様の参照指定をされている。試験ストリップは、ワーキング電極320、カウンター電極322、容量十分なワーキング電極324、2つの電位容量十分なカウンター電極326Aと326Bが含まれる。それぞれの電極は、試験ストリップ600上に形成された、少なくとも1つのコンタクトパッドに連結する。
【0081】
ワーキング電極320は、WおよびWSコンタクトパッド両方に連結する。Cとして指定されたコンタクトパッドは、本明細書以下で言及したように、任意であるけれども、カウンター電極322は、CコンタクトパッドおよびCSコンタクトパッドと連結する。容量十分なワーキング電極324は、DWコンタクトパッドに連結している。DCとして指定されたコンタクトパッドは、本明細書以下で言及したように、任意であるけれども、容量十分なカウンター電極326A/326Bは、DCコンタクトパッドに連結する。
【0082】
試験ストリップ600によって、どの2つの電位伝導性リンク602および604が、試験ストリップ600上で形成されるかどうかに依存して、単一バイナリビットが、試験ストリップ600上にエンコードされる。少なくとも1つの電位伝導性リンク602/604が、好ましくは試験ストリップ600上で形成され、両方の電位伝導性リンク602/604が、第二の分離容量十分な電極機能性を失うことなしに、同時に形成はされなくて良い。
【0083】
電位伝導性リンク602が、試験ストリップ600上に形成され、電位伝導性リンク604が形成されない場合、(電位伝導性リンク602によって、カウンター電極322に連結しているので)、コンタクトパッド606が、Cコンタクトパッドとなる。電位伝導性リンク604の存在がない場合、実際の容量十分なカウンター電極として、電極326Bが機能し、コンタクトパッド608が、DCコンタクトパッドになる。
【0084】
同様に、電位伝導性リンク604が、試験ストリップ600上に形成され、電位伝導性リンク602が形成されない場合、(電位伝導性リンク604によって、カウンター電極322に連結しているので)、コンタクトパッド608が、Cコンタクトパッドとなる。電位伝導性リンク602の存在がない場合、実際の容量十分なカウンター電極として、電極326Aが機能し、コンタクトパッド606が、DCコンタクトパッドになる。
【0085】
いったん試験ストリップ600が、試験メーター中に挿入された場合、試験メーターが、CSコンタクトパッドとコンタクトパッド606間の伝導度を確認することによって、電位伝導性リンク602が存在するかどうかを簡単に決定可能である。これらの2つのコンタクトパッド間の伝導性は、電位伝導性リンク602の存在を示唆する。同様に、試験メーターは、CSコンタクトパッドとコンタクトパッド608間の伝導度を確認することによって、電位伝導性リンク604が存在するかどうかを簡単に決定可能である。これらの2つのコンタクトパッド間の伝導性は、電位伝導性リンク604の存在を示唆する。いったん試験メーターが、電位伝導性リンク602/604が存在するかを決定したならば、その後、どのコンタクトパッドが、Cコンタクトパッドとして処理され、どれがDCコンタクトパッドとして処理されるかがわかる。1つの実施様態において、試験メーターのみが、電位伝導性リンク602/604の1つが存在するか、またはしないかを確認し、他の電位伝導性リンク602/604がそれぞれ、存在するか、しないかを推測する。他の実施様態において、試験メーターは、両方の電位伝導性リンク602/604が存在するか、またはしないかを確認し、これは、ダメージを受けた試験ストリップを検出する可能性が高いので、より強固な方法論である。
【0086】
他の実施様態において、試験メーターに挿入されたコードキーが、2つの電位配座のどちらが予測されるかに関して、試験メーターに与える。ついで試験メーターが、予想されるコンタクトパッド606/608が、CSコンタクトパッドに連結するかどうかを見るために、確認する。予想された連結が存在しない場合、メーターは、他のコンタクトパッド606/608が、CSコンタクトパッドに連結するかどうかを確認する。あやまったコンタクトパッド606/608がCSコンタクトパッドに連結した場合、メーターはコードキーエラーを提示する(すなわち、コードキーは、試験メーター内に挿入された試験ストリップに適合しない、試験メーター内に挿入された)。コンタクトパッド606/608いずれもが、CSコンタクトパッドに連結しない場合、試験メーターは、ストリップエラーを示す(すなわち、試験ストリップは、不良品であるか、使用不可能である)。
【0087】
どの電位伝導性リンク602/604が存在するかを決定することによって、コンタクトパッド機能性を割り当てることよりもより重要に、試験メーターは、試験ストリップ600からの、情報の1ビットを提供する。この情報の単一ビットが、試験ストリップが、第一検体または第二検体に関する試験に対して設計されたかどうか、試験メーターが、どこで試験ストリップに関連する補正情報を探すべきであるか、など、重要な情報を試験メーターに伝達する。したがって、試験ストリップ上のコンタクトパッドのいくつかの機能を再割り当てすることによって、単一ビットの情報を提供することにより、重要な情報を、そこに挿入された試験ストリップに関して、試験メーターに簡単に提供可能である。
【0088】
全ての文献、先行明細書、および本明細書で引用された他の文書は、それぞれが、個々に参考文献にて組み込まれ、完全に列記されているように、その全てが参考文献によって、本明細書に組み込まれている。
【0089】
本発明は、図面および以上の記述によって例示され、詳細に記述されているけれども、この記述は、例示として理解されるべきであり、特徴の制限とは理解されるべきでない。好ましい実施様態のみ、および好ましい実施様態をどのように作製するか、または使用するかをさらに示すために有用であると考えられる、特定の他の実施様態が示されている。本発明の目的内に入る全ての変更および改変が、保護されることが望まれる。
【図面の簡単な説明】
【0090】
【図1】生物学的流体内の検体の濃度を測定することにおける使用のための、第一の典型的な試験ストリップの分解組み立て透視図である。
【図2】本発明にしたがった、第一実施様態試験ストリップ電極、およびコンタクトパッドアレンジメントの、概略プラン図である。
【図3】図2の試験ストリップに関する第一実施様態コード配列を示している表である。
【図4】生物学的流体中の検体の濃度を測定することにおける使用のための、第二の典型的な試験ストリップの、分解組み立て透視図である。
【図5】本発明での使用に好適な、切断器具の図を示している。
【図6】第二マスクを示している、図5のレーザー切断器具の図である。
【図7】本発明での使用のために好適な、切断器具の図である。
【図8】試験メーター中の検定データの、前記試験メーター中に現在挿入された試験ストリップへの適用可能性を確認するための、先行技術工程の、概略工程フローダイアグラムである。
【図9】試験メーター中の検定データの、前記試験メーター中に現在挿入された試験ストリップへの適用可能性を確認するための、第一実施様態工程の、概略工程フローダイアグラムである。
【図10】本発明にしたがった、第二実施様態試験ストリップ電極、およびコンタクトパッドアレンジメントの、概略平面図である。
【図11】本発明にしたがった、第三実施様態試験ストリップ電極、およびコンタクトパッドアレンジメントの、概略平面図である。
【図12】もっとも悪い場合の、左耐性に達したことを示している、電気コネクターから試験ストリップコンタクトパッドの界面の、概略平面図である。
【図13】正常の場合の、耐性に達したことを示している、図12の、電気コネクターから試験ストリップコンタクトパッドの界面の、概略平面図である。
【図14】もっとも悪い場合の、右耐性に達したことを示している、電気コネクターから試験ストリップコンタクトパッドの界面の、概略平面図である。
【図15】本発明にしたがった、第四実施様態試験ストリップ電極、およびコンタクトパッドアレンジメントの、概略平面図である。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
少なくとも10のコンタクトをもつコネクターからなる試験メーターと、
前記試験メーターのコネクター内に挿入されるように適合した試験ストリップとからなる
生物学的流体中の検体の、濃度を測定するための試験システムであって、
前記試験ストリップが、
表面をもつ基板と、
前記表面上に形成された、少なくとも10のコンタクトパッドと
からなり、
前記試験ストリップが前記試験メーターコネクター内に挿入された場合に、前記少なくとも10のコンタクトパッドが少なくとも10のコンタクトパッドそれぞれと接触されてなる試験システム。
【請求項2】
前記少なくとも10のコンタクトが、少なくとも11のコンタクトを含み、そして
前記少なくとも10のコンタクトパッドが、少なくとも11のコンタクトパッドを含む請求項1記載の試験システム。
【請求項3】
前記少なくとも10のコンタクトが、少なくとも16のコンタクトを含み、そして
前記少なくとも10のコンタクトパッドが、少なくとも16のコンタクトパッドを含む請求項1記載の試験システム。
【請求項4】
すべての10のコンタクトパッドが、前記10のコンタクトそれぞれが、試験メーター内に試験ストリップを挿入するように、それぞれ接触下で、試験ストリップから、すべての導電性材料を除去しても機能を失わない請求項1記載の試験システム。
【請求項1】
少なくとも10のコンタクトをもつコネクターからなる試験メーターと、
前記試験メーターのコネクター内に挿入されるように適合した試験ストリップとからなる
生物学的流体中の検体の、濃度を測定するための試験システムであって、
前記試験ストリップが、
表面をもつ基板と、
前記表面上に形成された、少なくとも10のコンタクトパッドと
からなり、
前記試験ストリップが前記試験メーターコネクター内に挿入された場合に、前記少なくとも10のコンタクトパッドが少なくとも10のコンタクトパッドそれぞれと接触されてなる試験システム。
【請求項2】
前記少なくとも10のコンタクトが、少なくとも11のコンタクトを含み、そして
前記少なくとも10のコンタクトパッドが、少なくとも11のコンタクトパッドを含む請求項1記載の試験システム。
【請求項3】
前記少なくとも10のコンタクトが、少なくとも16のコンタクトを含み、そして
前記少なくとも10のコンタクトパッドが、少なくとも16のコンタクトパッドを含む請求項1記載の試験システム。
【請求項4】
すべての10のコンタクトパッドが、前記10のコンタクトそれぞれが、試験メーター内に試験ストリップを挿入するように、それぞれ接触下で、試験ストリップから、すべての導電性材料を除去しても機能を失わない請求項1記載の試験システム。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【公表番号】特表2007−524819(P2007−524819A)
【公表日】平成19年8月30日(2007.8.30)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−517451(P2006−517451)
【出願日】平成16年6月18日(2004.6.18)
【国際出願番号】PCT/US2004/019653
【国際公開番号】WO2004/113914
【国際公開日】平成16年12月29日(2004.12.29)
【出願人】(501205108)エフ ホフマン−ラ ロッシュ アクチェン ゲゼルシャフト (285)
【公表日】平成19年8月30日(2007.8.30)
【国際特許分類】
【出願日】平成16年6月18日(2004.6.18)
【国際出願番号】PCT/US2004/019653
【国際公開番号】WO2004/113914
【国際公開日】平成16年12月29日(2004.12.29)
【出願人】(501205108)エフ ホフマン−ラ ロッシュ アクチェン ゲゼルシャフト (285)
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