パンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法及び装置
【課題】 ブラシテーブルのブラシの摩耗を自動的に測定できるパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法及び装置の提供。
【解決手段】 ブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、打撃子の下面と、ダミーダイの上面とに接触可能な接触子を内蔵する測定用パンチ組立体を用いて、接触子がダミーダイに接触したときの打撃子の下降距離(Ｌ１)とブラシテーブル上に載置した測定用ゲージ板に接触子が接触したときの打撃子の下降距離Ｌ２を検出し、この検出された前記打撃子の下降距離（Ｌ１、Ｌ２）及び前記測定用ゲージ板の板厚（Ｔ）を基にして前記ブラシテーブルの被加工材支持平面と前記測定用ダミーダイ上面との間隙（Ｓ）を演算して求めることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法。
【解決手段】 ブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、打撃子の下面と、ダミーダイの上面とに接触可能な接触子を内蔵する測定用パンチ組立体を用いて、接触子がダミーダイに接触したときの打撃子の下降距離(Ｌ１)とブラシテーブル上に載置した測定用ゲージ板に接触子が接触したときの打撃子の下降距離Ｌ２を検出し、この検出された前記打撃子の下降距離（Ｌ１、Ｌ２）及び前記測定用ゲージ板の板厚（Ｔ）を基にして前記ブラシテーブルの被加工材支持平面と前記測定用ダミーダイ上面との間隙（Ｓ）を演算して求めることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、パンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
固定テーブルと移動テーブルからなるパンチプレスの材料支持テーブルには、板材の移動位置決めを行う時に生じる騒音を少なくすると共に板材裏面に擦り傷が着くことを押さえるため、材料支持テーブル上面に多数のブラシを植えた謂わゆるブラシテーブルが使用されている（例えば、特許文献１）。
【０００３】
しかしながら、パンチプレス機において多数の板材の加工を行うと当然ながらブラシの先端部に磨耗を生じ、板材の搬送水準であるパスラインが下降して、板材の移動位置決め時に板材裏面がダイ上面に接触した状態で移動位置決めが行われることになり、製品の裏傷発生の大きな要因となっている。
【０００４】
また、ブラシテーブルの一部分のブラシのみが多く磨耗すると、ブラシテーブル上に材料を水平に支持することが出来なくなり、加工精度が悪くなるという問題もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平７−２５６３６８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従来は、加工後の製品に裏傷が発生したのを見て、初めてブラシが摩耗していることを知り、パスラインの調整や摩耗したブラシの交換を行っている。すなわち、裏傷による製品不良が発生してからパスラインの調整や摩耗したブラシの交換を行なっているという問題がある。
【０００７】
また、パスラインの調整は、ブラシテーブル上に小さな板材を滑らせて、その板材とダイとが接触しているか否か、すなわち、ダイ上面との間に間隙Ｓが有るかか否かを作業者が感覚的に判断してパスラインの調整を実施しているので、ダイ上面とブラシの被加工材支持平面との間隙の初期値Ｓ０（例えば、Ｓ０＝０．５ｍｍ）に迅速かつ正確に調整することが難しい。
【０００８】
本発明は上述の如き問題を解決するためになされたものであり、本発明の課題は、ブラシテーブルのブラシの摩耗を自動的に測定できるパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法及び装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述の課題を解決する手段として請求項１に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法は、パスライン直下のダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に、前記ダイの周囲に被加工材を前記パスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、前記パンチを上方から押圧する昇降位置決め自在の打撃子の下面と、測定用ダミーダイの上面とに接触可能な接触子を内蔵する測定用パンチ組立体を前記パンチ装着孔に昇降可能に装着し、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させて、前記接触子が前記測定用ダミーダイの上面に接触したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離（Ｌ１）を検出し、前記ブラシテーブルに板厚Ｔの測定用ゲージ板を載置した状態において、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させて、前記接触子が前記測定用ゲージ板の上面に接触したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離（Ｌ２）を検出し、この検出された前記打撃子の下降距離（Ｌ１、Ｌ２）及び前記測定用ゲージ板の板厚（Ｔ）を基にして前記ブラシテーブルの被加工材支持平面と前記測定用ダミーダイ上面との間隙（Ｓ）を演算して求めることを要旨とするものである。
【００１０】
請求項２に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法は、請求項１に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法において、前記下降距離（Ｌ１）は、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させたとき、前記打撃子と前記測定用ダミーダイとの間が前記接触子を介して電気的に導通したときの前記打撃子の上死点からの下降距離であり、前記下降距離（Ｌ２）は、前記打撃子と前記測定用ゲージ板との間が前記接触子を介して電気的に導通したときの前記打撃子の上死点からの下降距離であることを要旨とするものである。
【００１１】
請求項３に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置は、パスライン直下のダイ基準位置へダイを昇降自在のダイホルダと、ダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に、前記ダイの周囲に被加工材を前記パスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、打撃子の下面と測定用ダミーダイの上面とに接触可能な接触子を前記パンチ装着孔に昇降可能に装着した測定用パンチ組立体と、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させて、前記接触子が前記測定用ダミーダイの上面に接触したとき又は前記接触子が前記測定用ゲージ板の上面に接触したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離（Ｌ１）又は（Ｌ２）を検出する打撃子移動距離測定手段と、前記測定用ゲージ板の板厚（Ｔ）を記憶したメモリと前記打撃子移動距離測定手段で検出した下降距離（Ｌ１、Ｌ２）と前記メモリに記憶した板厚（Ｔ）に基づき間隙（Ｓ）を演算する演算手段を備えることを要旨とするものである。
【００１２】
請求項４に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置は、請求項３に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、前記打撃子移動距離測定手段は、前記打撃子と前記測定用ダミーダイとの間の前記接触子を介した導通又は、前記打撃子と前記測定用ゲージ板との間の前記接触子を介した導通により検出することをを要旨とするものである。
【００１３】
請求項５に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法は、Ｘ、Ｙ軸方向に移動位置決め自在の被加工材クランプ装置を備えた被加工材位置決め手段と、ダイをＺ軸方向の任意の位置へ昇降位置決め自在のダイ昇降手段と、前記ダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に前記ダイの周囲に被加工材をパスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、ダイを装着し、前記被加工材クランプ装置に被加工材をクランプして前記ダイ上方を移動させ、前記ダイを階段的に昇降位置決めさせ、これを繰り返し、上方を移動する前記被加工材の裏面に前記ダイが当接したときの、ダイ移動量を検出し、該ダイ移動量に基づいた前記ブラシテーブルの被加工材支持平面と前記ダイ上面との間隙（Ｓ）を検出することを要旨とするものである。
【００１４】
請求項６に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法は、請求項５に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法において、前記ダイの被加工材の裏面への当接は、このダイ上を移動する前記被加工材の振動特性の変化を振動センサにより検出して該被加工材の裏面への前記ダイの当接を検知することを要旨とするものである。
【００１５】
請求項７に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗量検出方法は、請求項１又は請求項５記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法において、前記間隙（Ｓ）と予め設定した間隙の警告閾値を比較し、前記間隙（Ｓ）が該間隙（Ｓ）の警告閾値を越えた場合は警告することを要旨とするものである。
【００１６】
請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗量検出装置は、Ｘ、Ｙ軸方向に移動位置決め自在の被加工材クランプ装置を備えた被加工材位置決め手段と、ダイをＺ軸方向の任意の位置へ昇降位置決め自在のダイ昇降手段と、前記ダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に、前記ダイの周囲に被加工材をパスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、前記被加工材クランプ装置に被加工材をクランプして前記ダイ上方を移動させ、上方を移動する前記被加工材の裏面に前記ダイに当接したことを検出する検出手段と、この検出手段が検出したときの、前記ダイ移動量を測定するダイ移動量測定手段を備えることを要旨とするものである。
【００１７】
請求項９に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置は、請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、前記ダイが被加工材の裏面に当接した際に、前記被加工材の振動特性の変化を振動センサにより検出して該被加工材の裏面へのダイの当接を検知して該ダイの移動量を検出することを要旨とするものである。
【００１８】
請求項１０に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置は、請求項３又は請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、予め設定した警告閾値を記憶するメモリと前記間隙（Ｓ）又は前記ダイ移動量測定手段で測定したダイ移動量に基づく間隙と、予め設定した警告閾値とを比較する警告閾値比較手段と、この比較手段で比較した結果、前記間隙が前記警告閾値を越えた場合は警告する警告手段を備えることを要旨とするものである。
【００１９】
請求項１１に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置は、請求項３又は請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、ブラシテーブルの沈み込み量を板厚毎に記憶したメモリを備えることを要旨とするものである。
【発明の効果】
【００２０】
本願発明のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法及び装置によれば、測定用のダミーダイと測定用パンチ組立体とを使用してブラシテーブルにおけるブラシの摩耗を自動的に検出することができる。
【００２１】
また、本願発明のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法及び装置によれば、パスラインの調整や摩耗したブラシの交換を製品に裏傷が発生する前に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本願発明のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置を備えたパンチプレスの正面図。
【図２】図１の平面図。
【図３】本願発明に係るブラシ摩耗量検出装置の第１の実施形態の説明図。
【図４】第１の実施形態において、ダイ基準位置に位置決めされた測定用ダミーダイの上面の検出状況を説明する図。
【図５】第１の実施形態において、ブラシテーブルの被加工材支持平面の位置の検出状況を説明する図。
【図６】ブラシ摩耗量の測定結果及び警告メッセージ等を表示装置に表示した図。
【図７】第２の実施形態のブラシ摩耗量検出装置の平面図。
【図８】本願発明に係るブラシ摩耗量検出装置の第２の実施形態の測定過程の説明図。
【図９】本願発明に係るパンチプレスを制御する数値制御装置のブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、本発明の実施の形態を図面によって説明する。なお、本願発明の説明において使用するパスラインなる用語は、被加工材をブラシテーブル上に載置したときの被加工材支持平面を表すものとして使用している。したがって、被加工材の重量（板厚）によっては、パスラインが下降してダイ上面との間隙は変化するものである。
【００２４】
図１は、本願発明のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置を備えた公知のタレットパンチプレスの概略の説明図である。
【００２５】
図１および図２を参照するに、タレットパンチプレス１は、門型フレーム２を備えており、門型フレーム２は下部フレーム４と、左右コラム６、８と上部フレーム１０からなっている。
【００２６】
上部フレーム１０には、上部タレットディスク３が設けてあり、下部フレーム４には下部タレットディスク５が設けてある。この上下のタレットディスク３、５には、それぞれ多数のパンチ７とダイ９からなる金型セットが装着してあり、前記上下のタレットディスク３、５を回転させることにより、任意の金型セットが、例えば油圧シリンダの如き打撃子駆動手段１４により昇降駆動される打撃子１１の直下へ位置決めできる様に設けてある。
【００２７】
被加工材Ｗは、被加工材位置決め手段１２によりＸ軸方向とＹ軸方向に移動位置決め自在に設けてある。すなわち、被加工材位置決め手段１２は、Ｘ軸キャリッジ１３に一対の被加工材クランプ装置１５を有しており、このＸ軸キャリッジ１３は、Ｘ軸サーボモータ１７にＸ軸サーボモータ１７に駆動されるＸ軸送りねじ１９によってＸ軸方向に移動位置決め自在に設けてある。また、Ｘ軸キャリッジ１３が設けてあるキャリッジベース２１は、Ｙ軸サーボモータ２３によりＹ軸送りねじ（図示省略）を介してＹ軸方向に移動位置決め自在に設けてある。
【００２８】
したがって、被加工材クランプ装置１５に把持された被加工材Ｗの任意な加工位置を前記打撃子１１の直下に位置決めされたパンチ７とダイ９からなる金型セットの間へ位置決めし、打ち抜き加工を行うことができる。
【００２９】
図２に示す如く、前記下部フレーム４の上部には、固定ブラシテーブル２５ａが設けてあり、下部タレットディスク５の周囲にも固定ブラシテーブル２５ｂが設けてある。
【００３０】
また、前記キャリッジベース２１には、前記固定ブラシテーブル２５ａの両側をキャリッジベース２１と共にＹ軸方向に移動する移動ブラシテーブル２５ｃが設けてある。
【００３１】
上述の固定または移動ブラシテーブル２５(a,b,c)には、被加工材Ｗをダイ上面と適宜な間隔をもって支持するブラシ２７がテーブル表面に適宜な間隔で植設してある。
【００３２】
図３〜図５には、本願発明に係るブラシテーブルブラシ摩耗検出装置の第１の実施形態を示してある。
【００３３】
図３を参照するに、前記上部タレットディスク３に設けられたガイド孔２９には、測定用パンチ組立体３１が昇降可能に装着してある。
【００３４】
上記測定用パンチ組立体３１は、前記ガイド孔２９に摺動自在に嵌合するガイド本体３３と、後述の測定用ダミーダイ９ｄと前記打撃子１１との間を電気的に導通させる棒状の接触子３７と、この接触子と前記ガイド本体３３とを電気的に絶縁する上、中、下部絶縁部材３９、４０、４２等からなっている。
【００３５】
前記ガイド孔２９に摺動自在に嵌合する前記ガイド本体３３の摺動部３３ｇの上部にはフランジ部３３ｆが設けてあり、このフランジ部３３ｆの上面に前記ガイド本体３３と同軸のパンチヘッド３５が一体的に設けてある。
【００３６】
前記ガイド本体３３の内部、すなわち、ガイド本体３３の摺動部３３ｇ及びパンチヘッド３５の内部には、前記接触子３７を昇降可能にガイドする上部絶縁部材３９と、中、下部絶縁部材４０、４２とが設けてある。
【００３７】
前記接触子３７は、前記上部絶縁部材３９に昇降自在にガイドされるガイド軸部３７ｊを有し、このガイド軸部３７ｊの上端部には、上部絶縁部材３９の頭部３９ｈに設けた座繰り穴４１に係合して、前記ガイド軸部３７ｊの下方向への移動を規制する係止部４３が設けてある。なお、係止部４３の上面は座繰り穴４１の上面よりαｍｍ下に位置する様に設定してある。例えば、α＝１ｍｍでも可。
【００３８】
また、前記ガイド軸部３７ｊの下部には、検出ピン保持部４５がガイド軸部３７ｊに一体的に設けてある。
【００３９】
前記上部絶縁部材３９の下部には、下方に開放した円筒状の空間４７を有する中部絶縁部材４０が設けてある。この中部絶縁部材４０の下部に下部絶縁部材４２が設けてある。
【００４０】
前記検出ピン保持部４５は、前記ガイド本体３３の下部絶縁部材４２に昇降可能に保持されているが、前記空間４７に設けたスプリング４４により常時下方に押圧付勢されており、検出ピン保持部４５に設けたフランジ部４５ｆが前記下部絶縁部材４２の上面に係合することにより、検出ピン保持部４５の下方への移動が規制されている。
【００４１】
また、前記検出ピン保持部４５には、後述の測定用ダミーダイ９ｄに係合可能な検出ピン４９が出没自在に設けてある。この検出ピン４９は検出ピン保持部４５内部に設けたスプリング５１により常時下方へ押圧付勢されている。
【００４２】
前記上部タレットディスク３のガイド孔２９の上部には、座繰り穴５３が設けてある。そして、この座繰り穴５３と前記ガイド本体３３のフランジ部３３ｆとの間には、複数個の圧縮スプリングからなるリフトスプリング５５が設けてあって、前記測定用パンチ組立体３１がほぼ一定の高さに保持されるように設けてある。
【００４３】
前記打撃子１１の直下へ位置決めされた前記測定用パンチ組立体３１に対向する位置にあるダイホルダ５７には、測定用ダミーダイ９ｄが装着してある。
【００４４】
前記打撃子１１と下部タレットディスク５の間には、導通回路５９が設けてある。この導通回路５９は、例えば、電磁コイル６１と、ａ接点６１ａ、直流電源６３により構成してあり、打撃子１１と下部タレットディスク５の間の電気的導通の有無を表す信号６２（ＳＧ１、ＳＧ２）をタレットパンチプレス１を制御する数値制御装置６４に送信するようになっている。
【００４５】
また、前記打撃子１１の移動距離（Ｚ軸座標）を検出する打撃子移動距離測定手段６６として、例えば、パルスエンコーダ、リニアスケール等の公知の位置検出手段（図示省略）が設けてあり、前記打撃子１１と下部タレットディスク５間が電気的に導通した瞬間の打撃子１１の移動距離を検知することができる様になっている。
【００４６】
なお、測定用パンチ組立体３１のパンチハイトＰＨは、通常のパンチ組立体のパンチハイトと同一に設定してある。
【００４７】
次に、上記構成のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、ブラシの摩耗を検出する方法を説明する。
【００４８】
前記測定用パンチ組立体３１とダミーダイ９ｄが打撃子１１の直下に位置決めされた図３の状態において、打撃子１１の下端面は停止基準位置６７にあって、打撃子１１の下端面と測定用パンチ組立体３１の上部絶縁部材３９の頭部３９ｈとは離隔している。
【００４９】
なお、通常、打撃子１１の停止位置はメカニカルプレスでは上死点に位置し、油圧プレスの場合にはピストンストロークの上限位置である。しかしながら、必ずしも上死点または上限位置にある必要はない。
【００５０】
前記測定用パンチ組立体３１とダミーダイ９ｄが打撃子１１の下に位置決めされた図３の状態から、打撃子１１を下降させると打撃子１１の下端部が、先ず上部絶縁部材３９の頭部３９ｈに当接する。
【００５１】
さらに、打撃子１１が下降すると、上部絶縁部材３９と共にガイド本体３３がリフトスプリング５５に抗して下降する。そして、検出ピン４９の先端が前記測定用ダミーダイ９ｄに当接すると、検出ピン保持部４５に内蔵されたスプリング５１を介して、検出ピン保持部４５がスプリング４４の押圧力に抗して上昇する。すなわち、検出ピン保持部４５と一体的な接触子３７がスプリング４４の押圧付勢力に抗して上昇することになる。
【００５２】
その結果、図４に示すように、接触子３７が上部絶縁部材３９に対して上昇して、接触子３７の係止部４３が打撃子１１に接触し、打撃子１１と測定用ダミーダイ９ｄとの間が電気的に導通した状態となる。
【００５３】
打撃子１１と測定用ダミーダイ９ｄとの間が電気的に導通すると、導通回路５９のａ接点６１が閉じて、数値制御装置６４に電気的導通を示す信号が送信され、数値制御装置６４では、この電気的導通信号を受信した際の打撃子１１の停止基準位置６７からの下降距離Ｌ１を検出する。
【００５４】
次いで、図５に示す如く、測定用ダミーダイ９ｄの周囲のブラシテーブル２５ｂの上面に厚さＴの測定用ゲージ板６９を載置して、前記下降距離Ｌ１の検出場合と同様にして、打撃子１１と測定用ゲージ板６９との間の電気的導通を検出して、その際の打撃子１１の停止基準位置６７からの下降距離Ｌ２を検出する。
【００５５】
この際には、打撃子１１と測定用ゲージ板６９との間に前記導通回路５９が入る様に設けてある。なお、測定用ゲージ板６９を前記被加工材クランプ装置１５にクランプすれば、測定用ゲージ板６９は、被加工材クランプ装置１５を介して前記導通回路５９に電気的に接続された状態となる。
【００５６】
上述の如くして、検出された前記打撃子の下降距離（Ｌ１、Ｌ２）及び前記測定用ゲージ板の板厚Ｔを基に、前記ブラシテーブルの被加工材支持平面ＰＬと前記測定用ダミーダイ上面との間隙Ｓを演算して求めることができる。
【００５７】
なお、被加工材Ｗをブラシ上に載置していないときの間隙Ｓは、被加工材の重量（板厚）により、ブラシの被加工材支持平面ＰＬが下がるので、被加工材の重量（板厚）に応じたブラシの沈み量を補正をする必要がある。
【００５８】
上述のブラシの沈み補正値ΔＳとすれば、前記間隙Ｓは次式（１）より求められる。なお、被加工材の板厚が薄くて被加工材が軽い場合には、上述の補正値ΔＳがゼロとして計算する。
（数１）
Ｓ＝Ｌ１−（Ｌ２＋Ｔ）＋ΔＳ・・・（１）
【００５９】
前記被加工材Ｗの板厚によるブラシの沈み補正値ΔＳおよびブラシの再調整または、交換時期を警告する際の警告閾値は、例えば、次の（表１）に示す様に板厚毎に適宜な警告閾値が設定してある。
【００６０】
【表１】
【００６１】
かくして間隙（Ｓ）が求められ、その間隙Ｓと板厚毎に予め設定された警告閾値とを比較して間隙（Ｓ）が警告閾値を越えた場合には、前記数値制御装置６４の表示装置６５に間隙（Ｓ）の測定値とブラシ再調整又は交換時期等を警告メッセージと共に表示する。なお、前記（表１）において、補正値ΔＳを考慮した警告閾値を設定すれば、補正値ΔＳは不要となる。また間隙Ｓと間隙の初期値Ｓ０との差からブラシ摩耗量（Ｓ０−Ｓ）が求められる。
【００６２】
図６は、前記数値制御装置６４の表示装置６５に表示するブラシ診断画面の表示例であり、間隙Ｓの測定値Ｓとブラシ再調整又は交換時期等を警告メッセージと共に表示した例である。この表示例は、板厚が１．６の場合で、間隙Ｓの測定値Ｓが０．１８５であり、板厚が１．６の場合における警告閾値の設定値が０．２０であって警告閾値より間隙Ｓが小さいため、このような警告表示がなされたものである。
【００６３】
図７、図８は、本願発明に係るブラシテーブルブラシ摩耗検出装置の第２の実施形態を説明する図である。
【００６４】
図７は、前記図２における被加工材クランプ装置１５と、下部タレットディスク５の近傍を示したものであり、被加工材クランプ装置１５のひとつには振動センサ７１が設けてある。
【００６５】
図８（ａ）は、測定用ダミーダイ９ｄがパスライン直下のダイ基準位置Ｄ０に位置し、被加工材Ｗの裏面との間隙がＳ（Ｓ≦Ｓ０）の状態を示してある。
【００６６】
上記状態において、ブラシの摩耗量を検出する際には、前記被加工材クランプ装置１５に被加工材Ｗをクランプして、前記測定用ダミーダイ９ｄの上方をＸ軸又はＹ軸方向に移動させると同時に、測定用ダミーダイ９ｄを前記ダイ基準位置Ｄ０から、少なくとも前記ブラシテーブル２５ｂの被加工材支持平面であるパスラインＰＬとの間隙Ｓの初期値Ｓ０より大きい距離をダイ昇降手段（図示省略）により、測定用ダミーダイ９ｄが被加工材Ｗをに接触するまでの間を細かく階段的に昇降位置決めさせる。
【００６７】
図８（ａ）に示すように、被加工材Ｗと測定用ダミーダイ９ｄとが未だ接触していない状態において、被加工材Ｗを移動させた場合には被加工材Ｗとブラシテーブル２５ｂのブラシ２７との摩擦により発生する振動波形７３が振動センサ７１により検出される。
【００６８】
図８（ｂ）は、ダイ基準位置Ｄ０からΔｄ１だけ測定用ダミーダイ９ｄを上昇させた場合で、前記振動波形７３が振動センサ７１により検出されば、測定用ダミーダイ９ｄと被加工材Ｗとが当接しておらず、このときの間隙Ｓは、Ｓ１＝Δｄ１となる。
【００６９】
図８（ｃ）は、前記Δｄ１より大きいΔｄ２（Δｄ２≧Ｓ０）を上昇させた場合で、前記振動センサ７１により、被加工材Ｗと測定用ダミーダイ９ｄとの摩擦によって発生する振動波形７５が振動センサ７１により検出された場合には、測定用ダミーダイ９ｄと被加工材Ｗとが当接（Ｓ２≦０）したしたものと判断される。
【００７０】
被加工材Ｗをブラシ上に載置していないときの間隙Ｓは、被加工材の重量（板厚）により、ブラシの被加工材支持平面ＰＬが下がるので、被加工材の重量（板厚）に応じたブラシの沈み量を補正した次式（２）より求められる。
をする必要がある。
（数２）
Ｓ＝Δｄ２＋ΔＳ・・・（２）
【００７１】
なお、被加工材の板厚が薄くて軽い場合には、上述の補正値ΔＳはゼロとして計算すればよい。また、数式（２）で求めた間隙Ｓと間隙の初期値Ｓ０との差から前記ブラシテーブルにおけるブラシ摩耗量（Ｓ０−Ｓ）を求めることができる。
【００７２】
図９に示すように、数値制御装置６４は、ＣＰＵ８１に連なるデータバス８３にＲＡＭ８５及びＲＯＭ８７を備え、このデータバス８３には、キーボードの如き入力手段８９、ＣＲＴの如き出力手段６５が接続してある。また、このデータバス８３には、プログラムを記憶するプログラムメモリ９３、後述する初期設定値を記憶する初期設定値メモリ９５、検出データを記憶する検出データメモリ９７が接続してある。
【００７３】
前記初期設定メモリ９５には、ブラシ摩耗量検出時に用いる測定用ゲージ板６９の板厚（Ｔ）、ブラシテーブル２５の被加工材支持面であるパスラインＰＬと前記測定用ダミーダイ９ｄの上面との間隙Ｓの初期値Ｓ０、測定用ダミーダイ９ｄのＺ軸基準位置（Ｄ０）、板厚毎のブラシの沈み補正値ΔＳ及び警告閾値等が設定記憶してある。
【００７４】
また、前記検出データメモリ９７には、打撃子の所定の停止基準位置６７からの下降距離（Ｌ１、Ｌ２）、前記測定用ダミーダイ９ｄがダイ基準位置Ｄ０から上昇して被加工材の裏面に当接したときのＺ軸移動量（Δｄ２）、測定された間隙（Ｓ）等が記憶される。
【００７５】
前記数値制御装置６４には、間隙値Ｓ並びにこの間隙値Ｓと初期値Ｓ０からブラシ摩耗量（Ｓ０−Ｓ）を演算して求める演算手段９９、被加工材Ｗと測定用ダミーダイ９ｄとが当接した状態で被加工材が移動する際に発生する振動波形と被加工材Ｗがブラシテーブル２５上を移動する際に発生する振動波形とを比較する振動波形比較手段１０１、間隙値Ｓと警告閾値とを比較する警告閾値比較手段１０３が前記データバス８３を介して接続してある。
【００７６】
さらに、前記数値制御装置６４のデータバス８３には、前記打撃子移動距離測定手段６６、電気的導通の有無を表す信号６２（ＳＧ１、ＳＧ２）、振動センサ７１及びダイ移動量測定手段（図示省略）等からの入力と、被加工材位置決め手段１２、打撃子駆動手段１４及びダイ昇降手段（図示省略）への出力が接続してある。
【符号の説明】
【００７７】
１ タレットパンチプレス
２ 門型フレーム
３ 上部タレットディスク
４ 下部フレーム
５ 下部タレットディスク
６ 左コラム
７ パンチ
８ 右コラム
９ ダイ
９ｄ 測定用ダミーダイ
１０ 上部フレーム
１１ 打撃子
１２ 被加工材位置決め手段
１３ Ｘ軸キャリッジ
１４ 打撃子駆動手段
１５ 被加工材クランプ装置
１７ Ｘ軸サーボモータ
１９ Ｘ軸送りねじ
２１ キャリッジベース
２３ Ｙ軸サーボモータ
２５（ａ、ｂ） 固定ブラシテーブル
２５ｃ 移動ブラシテーブル
２７ ブラシ
２９ ガイド孔
３１ 測定用パンチ組立体
３３ ガイド本体
３３ｆ フランジ部
３３ｇ 摺動部
３５ パンチヘッド
３７ 接触子
３７ｊ ガイド軸部
３９ 上部絶縁部材
３９ｈ 頭部
４０ 中部絶縁部材
４１、５３ 座繰り穴
４２ 下部の絶縁部材
４３ 頭部
４４、５１ スプリング
４５ 検出ピン保持部
４５ｆ フランジ部
４７ 空間
４９ 検出ピン
５５ リフトスプリング
５７ ダイホルダ
５９ 導通回路
６１ 電磁コイル
６１ａ ａ接点
６３ 直流電源
６４ 数値制御装置
６７ 停止基準位置
６９ 測定用ゲージ板
７１ 振動センサ
７３、７５ 振動波形
Ｄ０ ダイ基準位置
ＰＨ パンチハイト
ＰＬ パスライン
Ｓ０ 間隙Ｓの初期値
Ｗ 被加工材
【技術分野】
【０００１】
本発明は、パンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
固定テーブルと移動テーブルからなるパンチプレスの材料支持テーブルには、板材の移動位置決めを行う時に生じる騒音を少なくすると共に板材裏面に擦り傷が着くことを押さえるため、材料支持テーブル上面に多数のブラシを植えた謂わゆるブラシテーブルが使用されている（例えば、特許文献１）。
【０００３】
しかしながら、パンチプレス機において多数の板材の加工を行うと当然ながらブラシの先端部に磨耗を生じ、板材の搬送水準であるパスラインが下降して、板材の移動位置決め時に板材裏面がダイ上面に接触した状態で移動位置決めが行われることになり、製品の裏傷発生の大きな要因となっている。
【０００４】
また、ブラシテーブルの一部分のブラシのみが多く磨耗すると、ブラシテーブル上に材料を水平に支持することが出来なくなり、加工精度が悪くなるという問題もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平７−２５６３６８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従来は、加工後の製品に裏傷が発生したのを見て、初めてブラシが摩耗していることを知り、パスラインの調整や摩耗したブラシの交換を行っている。すなわち、裏傷による製品不良が発生してからパスラインの調整や摩耗したブラシの交換を行なっているという問題がある。
【０００７】
また、パスラインの調整は、ブラシテーブル上に小さな板材を滑らせて、その板材とダイとが接触しているか否か、すなわち、ダイ上面との間に間隙Ｓが有るかか否かを作業者が感覚的に判断してパスラインの調整を実施しているので、ダイ上面とブラシの被加工材支持平面との間隙の初期値Ｓ０（例えば、Ｓ０＝０．５ｍｍ）に迅速かつ正確に調整することが難しい。
【０００８】
本発明は上述の如き問題を解決するためになされたものであり、本発明の課題は、ブラシテーブルのブラシの摩耗を自動的に測定できるパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法及び装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述の課題を解決する手段として請求項１に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法は、パスライン直下のダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に、前記ダイの周囲に被加工材を前記パスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、前記パンチを上方から押圧する昇降位置決め自在の打撃子の下面と、測定用ダミーダイの上面とに接触可能な接触子を内蔵する測定用パンチ組立体を前記パンチ装着孔に昇降可能に装着し、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させて、前記接触子が前記測定用ダミーダイの上面に接触したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離（Ｌ１）を検出し、前記ブラシテーブルに板厚Ｔの測定用ゲージ板を載置した状態において、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させて、前記接触子が前記測定用ゲージ板の上面に接触したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離（Ｌ２）を検出し、この検出された前記打撃子の下降距離（Ｌ１、Ｌ２）及び前記測定用ゲージ板の板厚（Ｔ）を基にして前記ブラシテーブルの被加工材支持平面と前記測定用ダミーダイ上面との間隙（Ｓ）を演算して求めることを要旨とするものである。
【００１０】
請求項２に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法は、請求項１に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法において、前記下降距離（Ｌ１）は、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させたとき、前記打撃子と前記測定用ダミーダイとの間が前記接触子を介して電気的に導通したときの前記打撃子の上死点からの下降距離であり、前記下降距離（Ｌ２）は、前記打撃子と前記測定用ゲージ板との間が前記接触子を介して電気的に導通したときの前記打撃子の上死点からの下降距離であることを要旨とするものである。
【００１１】
請求項３に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置は、パスライン直下のダイ基準位置へダイを昇降自在のダイホルダと、ダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に、前記ダイの周囲に被加工材を前記パスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、打撃子の下面と測定用ダミーダイの上面とに接触可能な接触子を前記パンチ装着孔に昇降可能に装着した測定用パンチ組立体と、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させて、前記接触子が前記測定用ダミーダイの上面に接触したとき又は前記接触子が前記測定用ゲージ板の上面に接触したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離（Ｌ１）又は（Ｌ２）を検出する打撃子移動距離測定手段と、前記測定用ゲージ板の板厚（Ｔ）を記憶したメモリと前記打撃子移動距離測定手段で検出した下降距離（Ｌ１、Ｌ２）と前記メモリに記憶した板厚（Ｔ）に基づき間隙（Ｓ）を演算する演算手段を備えることを要旨とするものである。
【００１２】
請求項４に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置は、請求項３に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、前記打撃子移動距離測定手段は、前記打撃子と前記測定用ダミーダイとの間の前記接触子を介した導通又は、前記打撃子と前記測定用ゲージ板との間の前記接触子を介した導通により検出することをを要旨とするものである。
【００１３】
請求項５に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法は、Ｘ、Ｙ軸方向に移動位置決め自在の被加工材クランプ装置を備えた被加工材位置決め手段と、ダイをＺ軸方向の任意の位置へ昇降位置決め自在のダイ昇降手段と、前記ダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に前記ダイの周囲に被加工材をパスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、ダイを装着し、前記被加工材クランプ装置に被加工材をクランプして前記ダイ上方を移動させ、前記ダイを階段的に昇降位置決めさせ、これを繰り返し、上方を移動する前記被加工材の裏面に前記ダイが当接したときの、ダイ移動量を検出し、該ダイ移動量に基づいた前記ブラシテーブルの被加工材支持平面と前記ダイ上面との間隙（Ｓ）を検出することを要旨とするものである。
【００１４】
請求項６に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法は、請求項５に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法において、前記ダイの被加工材の裏面への当接は、このダイ上を移動する前記被加工材の振動特性の変化を振動センサにより検出して該被加工材の裏面への前記ダイの当接を検知することを要旨とするものである。
【００１５】
請求項７に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗量検出方法は、請求項１又は請求項５記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法において、前記間隙（Ｓ）と予め設定した間隙の警告閾値を比較し、前記間隙（Ｓ）が該間隙（Ｓ）の警告閾値を越えた場合は警告することを要旨とするものである。
【００１６】
請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗量検出装置は、Ｘ、Ｙ軸方向に移動位置決め自在の被加工材クランプ装置を備えた被加工材位置決め手段と、ダイをＺ軸方向の任意の位置へ昇降位置決め自在のダイ昇降手段と、前記ダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に、前記ダイの周囲に被加工材をパスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、前記被加工材クランプ装置に被加工材をクランプして前記ダイ上方を移動させ、上方を移動する前記被加工材の裏面に前記ダイに当接したことを検出する検出手段と、この検出手段が検出したときの、前記ダイ移動量を測定するダイ移動量測定手段を備えることを要旨とするものである。
【００１７】
請求項９に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置は、請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、前記ダイが被加工材の裏面に当接した際に、前記被加工材の振動特性の変化を振動センサにより検出して該被加工材の裏面へのダイの当接を検知して該ダイの移動量を検出することを要旨とするものである。
【００１８】
請求項１０に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置は、請求項３又は請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、予め設定した警告閾値を記憶するメモリと前記間隙（Ｓ）又は前記ダイ移動量測定手段で測定したダイ移動量に基づく間隙と、予め設定した警告閾値とを比較する警告閾値比較手段と、この比較手段で比較した結果、前記間隙が前記警告閾値を越えた場合は警告する警告手段を備えることを要旨とするものである。
【００１９】
請求項１１に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置は、請求項３又は請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、ブラシテーブルの沈み込み量を板厚毎に記憶したメモリを備えることを要旨とするものである。
【発明の効果】
【００２０】
本願発明のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法及び装置によれば、測定用のダミーダイと測定用パンチ組立体とを使用してブラシテーブルにおけるブラシの摩耗を自動的に検出することができる。
【００２１】
また、本願発明のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法及び装置によれば、パスラインの調整や摩耗したブラシの交換を製品に裏傷が発生する前に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本願発明のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置を備えたパンチプレスの正面図。
【図２】図１の平面図。
【図３】本願発明に係るブラシ摩耗量検出装置の第１の実施形態の説明図。
【図４】第１の実施形態において、ダイ基準位置に位置決めされた測定用ダミーダイの上面の検出状況を説明する図。
【図５】第１の実施形態において、ブラシテーブルの被加工材支持平面の位置の検出状況を説明する図。
【図６】ブラシ摩耗量の測定結果及び警告メッセージ等を表示装置に表示した図。
【図７】第２の実施形態のブラシ摩耗量検出装置の平面図。
【図８】本願発明に係るブラシ摩耗量検出装置の第２の実施形態の測定過程の説明図。
【図９】本願発明に係るパンチプレスを制御する数値制御装置のブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、本発明の実施の形態を図面によって説明する。なお、本願発明の説明において使用するパスラインなる用語は、被加工材をブラシテーブル上に載置したときの被加工材支持平面を表すものとして使用している。したがって、被加工材の重量（板厚）によっては、パスラインが下降してダイ上面との間隙は変化するものである。
【００２４】
図１は、本願発明のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置を備えた公知のタレットパンチプレスの概略の説明図である。
【００２５】
図１および図２を参照するに、タレットパンチプレス１は、門型フレーム２を備えており、門型フレーム２は下部フレーム４と、左右コラム６、８と上部フレーム１０からなっている。
【００２６】
上部フレーム１０には、上部タレットディスク３が設けてあり、下部フレーム４には下部タレットディスク５が設けてある。この上下のタレットディスク３、５には、それぞれ多数のパンチ７とダイ９からなる金型セットが装着してあり、前記上下のタレットディスク３、５を回転させることにより、任意の金型セットが、例えば油圧シリンダの如き打撃子駆動手段１４により昇降駆動される打撃子１１の直下へ位置決めできる様に設けてある。
【００２７】
被加工材Ｗは、被加工材位置決め手段１２によりＸ軸方向とＹ軸方向に移動位置決め自在に設けてある。すなわち、被加工材位置決め手段１２は、Ｘ軸キャリッジ１３に一対の被加工材クランプ装置１５を有しており、このＸ軸キャリッジ１３は、Ｘ軸サーボモータ１７にＸ軸サーボモータ１７に駆動されるＸ軸送りねじ１９によってＸ軸方向に移動位置決め自在に設けてある。また、Ｘ軸キャリッジ１３が設けてあるキャリッジベース２１は、Ｙ軸サーボモータ２３によりＹ軸送りねじ（図示省略）を介してＹ軸方向に移動位置決め自在に設けてある。
【００２８】
したがって、被加工材クランプ装置１５に把持された被加工材Ｗの任意な加工位置を前記打撃子１１の直下に位置決めされたパンチ７とダイ９からなる金型セットの間へ位置決めし、打ち抜き加工を行うことができる。
【００２９】
図２に示す如く、前記下部フレーム４の上部には、固定ブラシテーブル２５ａが設けてあり、下部タレットディスク５の周囲にも固定ブラシテーブル２５ｂが設けてある。
【００３０】
また、前記キャリッジベース２１には、前記固定ブラシテーブル２５ａの両側をキャリッジベース２１と共にＹ軸方向に移動する移動ブラシテーブル２５ｃが設けてある。
【００３１】
上述の固定または移動ブラシテーブル２５(a,b,c)には、被加工材Ｗをダイ上面と適宜な間隔をもって支持するブラシ２７がテーブル表面に適宜な間隔で植設してある。
【００３２】
図３〜図５には、本願発明に係るブラシテーブルブラシ摩耗検出装置の第１の実施形態を示してある。
【００３３】
図３を参照するに、前記上部タレットディスク３に設けられたガイド孔２９には、測定用パンチ組立体３１が昇降可能に装着してある。
【００３４】
上記測定用パンチ組立体３１は、前記ガイド孔２９に摺動自在に嵌合するガイド本体３３と、後述の測定用ダミーダイ９ｄと前記打撃子１１との間を電気的に導通させる棒状の接触子３７と、この接触子と前記ガイド本体３３とを電気的に絶縁する上、中、下部絶縁部材３９、４０、４２等からなっている。
【００３５】
前記ガイド孔２９に摺動自在に嵌合する前記ガイド本体３３の摺動部３３ｇの上部にはフランジ部３３ｆが設けてあり、このフランジ部３３ｆの上面に前記ガイド本体３３と同軸のパンチヘッド３５が一体的に設けてある。
【００３６】
前記ガイド本体３３の内部、すなわち、ガイド本体３３の摺動部３３ｇ及びパンチヘッド３５の内部には、前記接触子３７を昇降可能にガイドする上部絶縁部材３９と、中、下部絶縁部材４０、４２とが設けてある。
【００３７】
前記接触子３７は、前記上部絶縁部材３９に昇降自在にガイドされるガイド軸部３７ｊを有し、このガイド軸部３７ｊの上端部には、上部絶縁部材３９の頭部３９ｈに設けた座繰り穴４１に係合して、前記ガイド軸部３７ｊの下方向への移動を規制する係止部４３が設けてある。なお、係止部４３の上面は座繰り穴４１の上面よりαｍｍ下に位置する様に設定してある。例えば、α＝１ｍｍでも可。
【００３８】
また、前記ガイド軸部３７ｊの下部には、検出ピン保持部４５がガイド軸部３７ｊに一体的に設けてある。
【００３９】
前記上部絶縁部材３９の下部には、下方に開放した円筒状の空間４７を有する中部絶縁部材４０が設けてある。この中部絶縁部材４０の下部に下部絶縁部材４２が設けてある。
【００４０】
前記検出ピン保持部４５は、前記ガイド本体３３の下部絶縁部材４２に昇降可能に保持されているが、前記空間４７に設けたスプリング４４により常時下方に押圧付勢されており、検出ピン保持部４５に設けたフランジ部４５ｆが前記下部絶縁部材４２の上面に係合することにより、検出ピン保持部４５の下方への移動が規制されている。
【００４１】
また、前記検出ピン保持部４５には、後述の測定用ダミーダイ９ｄに係合可能な検出ピン４９が出没自在に設けてある。この検出ピン４９は検出ピン保持部４５内部に設けたスプリング５１により常時下方へ押圧付勢されている。
【００４２】
前記上部タレットディスク３のガイド孔２９の上部には、座繰り穴５３が設けてある。そして、この座繰り穴５３と前記ガイド本体３３のフランジ部３３ｆとの間には、複数個の圧縮スプリングからなるリフトスプリング５５が設けてあって、前記測定用パンチ組立体３１がほぼ一定の高さに保持されるように設けてある。
【００４３】
前記打撃子１１の直下へ位置決めされた前記測定用パンチ組立体３１に対向する位置にあるダイホルダ５７には、測定用ダミーダイ９ｄが装着してある。
【００４４】
前記打撃子１１と下部タレットディスク５の間には、導通回路５９が設けてある。この導通回路５９は、例えば、電磁コイル６１と、ａ接点６１ａ、直流電源６３により構成してあり、打撃子１１と下部タレットディスク５の間の電気的導通の有無を表す信号６２（ＳＧ１、ＳＧ２）をタレットパンチプレス１を制御する数値制御装置６４に送信するようになっている。
【００４５】
また、前記打撃子１１の移動距離（Ｚ軸座標）を検出する打撃子移動距離測定手段６６として、例えば、パルスエンコーダ、リニアスケール等の公知の位置検出手段（図示省略）が設けてあり、前記打撃子１１と下部タレットディスク５間が電気的に導通した瞬間の打撃子１１の移動距離を検知することができる様になっている。
【００４６】
なお、測定用パンチ組立体３１のパンチハイトＰＨは、通常のパンチ組立体のパンチハイトと同一に設定してある。
【００４７】
次に、上記構成のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、ブラシの摩耗を検出する方法を説明する。
【００４８】
前記測定用パンチ組立体３１とダミーダイ９ｄが打撃子１１の直下に位置決めされた図３の状態において、打撃子１１の下端面は停止基準位置６７にあって、打撃子１１の下端面と測定用パンチ組立体３１の上部絶縁部材３９の頭部３９ｈとは離隔している。
【００４９】
なお、通常、打撃子１１の停止位置はメカニカルプレスでは上死点に位置し、油圧プレスの場合にはピストンストロークの上限位置である。しかしながら、必ずしも上死点または上限位置にある必要はない。
【００５０】
前記測定用パンチ組立体３１とダミーダイ９ｄが打撃子１１の下に位置決めされた図３の状態から、打撃子１１を下降させると打撃子１１の下端部が、先ず上部絶縁部材３９の頭部３９ｈに当接する。
【００５１】
さらに、打撃子１１が下降すると、上部絶縁部材３９と共にガイド本体３３がリフトスプリング５５に抗して下降する。そして、検出ピン４９の先端が前記測定用ダミーダイ９ｄに当接すると、検出ピン保持部４５に内蔵されたスプリング５１を介して、検出ピン保持部４５がスプリング４４の押圧力に抗して上昇する。すなわち、検出ピン保持部４５と一体的な接触子３７がスプリング４４の押圧付勢力に抗して上昇することになる。
【００５２】
その結果、図４に示すように、接触子３７が上部絶縁部材３９に対して上昇して、接触子３７の係止部４３が打撃子１１に接触し、打撃子１１と測定用ダミーダイ９ｄとの間が電気的に導通した状態となる。
【００５３】
打撃子１１と測定用ダミーダイ９ｄとの間が電気的に導通すると、導通回路５９のａ接点６１が閉じて、数値制御装置６４に電気的導通を示す信号が送信され、数値制御装置６４では、この電気的導通信号を受信した際の打撃子１１の停止基準位置６７からの下降距離Ｌ１を検出する。
【００５４】
次いで、図５に示す如く、測定用ダミーダイ９ｄの周囲のブラシテーブル２５ｂの上面に厚さＴの測定用ゲージ板６９を載置して、前記下降距離Ｌ１の検出場合と同様にして、打撃子１１と測定用ゲージ板６９との間の電気的導通を検出して、その際の打撃子１１の停止基準位置６７からの下降距離Ｌ２を検出する。
【００５５】
この際には、打撃子１１と測定用ゲージ板６９との間に前記導通回路５９が入る様に設けてある。なお、測定用ゲージ板６９を前記被加工材クランプ装置１５にクランプすれば、測定用ゲージ板６９は、被加工材クランプ装置１５を介して前記導通回路５９に電気的に接続された状態となる。
【００５６】
上述の如くして、検出された前記打撃子の下降距離（Ｌ１、Ｌ２）及び前記測定用ゲージ板の板厚Ｔを基に、前記ブラシテーブルの被加工材支持平面ＰＬと前記測定用ダミーダイ上面との間隙Ｓを演算して求めることができる。
【００５７】
なお、被加工材Ｗをブラシ上に載置していないときの間隙Ｓは、被加工材の重量（板厚）により、ブラシの被加工材支持平面ＰＬが下がるので、被加工材の重量（板厚）に応じたブラシの沈み量を補正をする必要がある。
【００５８】
上述のブラシの沈み補正値ΔＳとすれば、前記間隙Ｓは次式（１）より求められる。なお、被加工材の板厚が薄くて被加工材が軽い場合には、上述の補正値ΔＳがゼロとして計算する。
（数１）
Ｓ＝Ｌ１−（Ｌ２＋Ｔ）＋ΔＳ・・・（１）
【００５９】
前記被加工材Ｗの板厚によるブラシの沈み補正値ΔＳおよびブラシの再調整または、交換時期を警告する際の警告閾値は、例えば、次の（表１）に示す様に板厚毎に適宜な警告閾値が設定してある。
【００６０】
【表１】
【００６１】
かくして間隙（Ｓ）が求められ、その間隙Ｓと板厚毎に予め設定された警告閾値とを比較して間隙（Ｓ）が警告閾値を越えた場合には、前記数値制御装置６４の表示装置６５に間隙（Ｓ）の測定値とブラシ再調整又は交換時期等を警告メッセージと共に表示する。なお、前記（表１）において、補正値ΔＳを考慮した警告閾値を設定すれば、補正値ΔＳは不要となる。また間隙Ｓと間隙の初期値Ｓ０との差からブラシ摩耗量（Ｓ０−Ｓ）が求められる。
【００６２】
図６は、前記数値制御装置６４の表示装置６５に表示するブラシ診断画面の表示例であり、間隙Ｓの測定値Ｓとブラシ再調整又は交換時期等を警告メッセージと共に表示した例である。この表示例は、板厚が１．６の場合で、間隙Ｓの測定値Ｓが０．１８５であり、板厚が１．６の場合における警告閾値の設定値が０．２０であって警告閾値より間隙Ｓが小さいため、このような警告表示がなされたものである。
【００６３】
図７、図８は、本願発明に係るブラシテーブルブラシ摩耗検出装置の第２の実施形態を説明する図である。
【００６４】
図７は、前記図２における被加工材クランプ装置１５と、下部タレットディスク５の近傍を示したものであり、被加工材クランプ装置１５のひとつには振動センサ７１が設けてある。
【００６５】
図８（ａ）は、測定用ダミーダイ９ｄがパスライン直下のダイ基準位置Ｄ０に位置し、被加工材Ｗの裏面との間隙がＳ（Ｓ≦Ｓ０）の状態を示してある。
【００６６】
上記状態において、ブラシの摩耗量を検出する際には、前記被加工材クランプ装置１５に被加工材Ｗをクランプして、前記測定用ダミーダイ９ｄの上方をＸ軸又はＹ軸方向に移動させると同時に、測定用ダミーダイ９ｄを前記ダイ基準位置Ｄ０から、少なくとも前記ブラシテーブル２５ｂの被加工材支持平面であるパスラインＰＬとの間隙Ｓの初期値Ｓ０より大きい距離をダイ昇降手段（図示省略）により、測定用ダミーダイ９ｄが被加工材Ｗをに接触するまでの間を細かく階段的に昇降位置決めさせる。
【００６７】
図８（ａ）に示すように、被加工材Ｗと測定用ダミーダイ９ｄとが未だ接触していない状態において、被加工材Ｗを移動させた場合には被加工材Ｗとブラシテーブル２５ｂのブラシ２７との摩擦により発生する振動波形７３が振動センサ７１により検出される。
【００６８】
図８（ｂ）は、ダイ基準位置Ｄ０からΔｄ１だけ測定用ダミーダイ９ｄを上昇させた場合で、前記振動波形７３が振動センサ７１により検出されば、測定用ダミーダイ９ｄと被加工材Ｗとが当接しておらず、このときの間隙Ｓは、Ｓ１＝Δｄ１となる。
【００６９】
図８（ｃ）は、前記Δｄ１より大きいΔｄ２（Δｄ２≧Ｓ０）を上昇させた場合で、前記振動センサ７１により、被加工材Ｗと測定用ダミーダイ９ｄとの摩擦によって発生する振動波形７５が振動センサ７１により検出された場合には、測定用ダミーダイ９ｄと被加工材Ｗとが当接（Ｓ２≦０）したしたものと判断される。
【００７０】
被加工材Ｗをブラシ上に載置していないときの間隙Ｓは、被加工材の重量（板厚）により、ブラシの被加工材支持平面ＰＬが下がるので、被加工材の重量（板厚）に応じたブラシの沈み量を補正した次式（２）より求められる。
をする必要がある。
（数２）
Ｓ＝Δｄ２＋ΔＳ・・・（２）
【００７１】
なお、被加工材の板厚が薄くて軽い場合には、上述の補正値ΔＳはゼロとして計算すればよい。また、数式（２）で求めた間隙Ｓと間隙の初期値Ｓ０との差から前記ブラシテーブルにおけるブラシ摩耗量（Ｓ０−Ｓ）を求めることができる。
【００７２】
図９に示すように、数値制御装置６４は、ＣＰＵ８１に連なるデータバス８３にＲＡＭ８５及びＲＯＭ８７を備え、このデータバス８３には、キーボードの如き入力手段８９、ＣＲＴの如き出力手段６５が接続してある。また、このデータバス８３には、プログラムを記憶するプログラムメモリ９３、後述する初期設定値を記憶する初期設定値メモリ９５、検出データを記憶する検出データメモリ９７が接続してある。
【００７３】
前記初期設定メモリ９５には、ブラシ摩耗量検出時に用いる測定用ゲージ板６９の板厚（Ｔ）、ブラシテーブル２５の被加工材支持面であるパスラインＰＬと前記測定用ダミーダイ９ｄの上面との間隙Ｓの初期値Ｓ０、測定用ダミーダイ９ｄのＺ軸基準位置（Ｄ０）、板厚毎のブラシの沈み補正値ΔＳ及び警告閾値等が設定記憶してある。
【００７４】
また、前記検出データメモリ９７には、打撃子の所定の停止基準位置６７からの下降距離（Ｌ１、Ｌ２）、前記測定用ダミーダイ９ｄがダイ基準位置Ｄ０から上昇して被加工材の裏面に当接したときのＺ軸移動量（Δｄ２）、測定された間隙（Ｓ）等が記憶される。
【００７５】
前記数値制御装置６４には、間隙値Ｓ並びにこの間隙値Ｓと初期値Ｓ０からブラシ摩耗量（Ｓ０−Ｓ）を演算して求める演算手段９９、被加工材Ｗと測定用ダミーダイ９ｄとが当接した状態で被加工材が移動する際に発生する振動波形と被加工材Ｗがブラシテーブル２５上を移動する際に発生する振動波形とを比較する振動波形比較手段１０１、間隙値Ｓと警告閾値とを比較する警告閾値比較手段１０３が前記データバス８３を介して接続してある。
【００７６】
さらに、前記数値制御装置６４のデータバス８３には、前記打撃子移動距離測定手段６６、電気的導通の有無を表す信号６２（ＳＧ１、ＳＧ２）、振動センサ７１及びダイ移動量測定手段（図示省略）等からの入力と、被加工材位置決め手段１２、打撃子駆動手段１４及びダイ昇降手段（図示省略）への出力が接続してある。
【符号の説明】
【００７７】
１ タレットパンチプレス
２ 門型フレーム
３ 上部タレットディスク
４ 下部フレーム
５ 下部タレットディスク
６ 左コラム
７ パンチ
８ 右コラム
９ ダイ
９ｄ 測定用ダミーダイ
１０ 上部フレーム
１１ 打撃子
１２ 被加工材位置決め手段
１３ Ｘ軸キャリッジ
１４ 打撃子駆動手段
１５ 被加工材クランプ装置
１７ Ｘ軸サーボモータ
１９ Ｘ軸送りねじ
２１ キャリッジベース
２３ Ｙ軸サーボモータ
２５（ａ、ｂ） 固定ブラシテーブル
２５ｃ 移動ブラシテーブル
２７ ブラシ
２９ ガイド孔
３１ 測定用パンチ組立体
３３ ガイド本体
３３ｆ フランジ部
３３ｇ 摺動部
３５ パンチヘッド
３７ 接触子
３７ｊ ガイド軸部
３９ 上部絶縁部材
３９ｈ 頭部
４０ 中部絶縁部材
４１、５３ 座繰り穴
４２ 下部の絶縁部材
４３ 頭部
４４、５１ スプリング
４５ 検出ピン保持部
４５ｆ フランジ部
４７ 空間
４９ 検出ピン
５５ リフトスプリング
５７ ダイホルダ
５９ 導通回路
６１ 電磁コイル
６１ａ ａ接点
６３ 直流電源
６４ 数値制御装置
６７ 停止基準位置
６９ 測定用ゲージ板
７１ 振動センサ
７３、７５ 振動波形
Ｄ０ ダイ基準位置
ＰＨ パンチハイト
ＰＬ パスライン
Ｓ０ 間隙Ｓの初期値
Ｗ 被加工材
【特許請求の範囲】
【請求項１】
パスライン直下のダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に、前記ダイの周囲に被加工材を前記パスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、前記パンチを上方から押圧する昇降位置決め自在の打撃子の下面と、測定用ダミーダイの上面とに接触可能な接触子を内蔵する測定用パンチ組立体を前記パンチ装着孔に昇降可能に装着し、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させて、前記接触子が前記測定用ダミーダイの上面に接触したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離（Ｌ１）を検出し、前記ブラシテーブルに板厚Ｔの測定用ゲージ板を載置した状態において、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させて、前記接触子が前記測定用ゲージ板の上面に接触したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離（Ｌ２）を検出し、この検出された前記打撃子の下降距離（Ｌ１、Ｌ２）及び前記測定用ゲージ板の板厚（Ｔ）を基にして前記ブラシテーブルの被加工材支持平面と前記測定用ダミーダイ上面との間隙（Ｓ）を演算して求めることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法。
【請求項２】
請求項１に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法において、前記下降距離（Ｌ１）は、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させたとき、前記打撃子と前記測定用ダミーダイとの間が前記接触子を介して電気的に導通したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離であり、前記下降距離（Ｌ２）は、前記打撃子と前記測定用ゲージ板との間が前記接触子を介して電気的に導通したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離であることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法。
【請求項３】
パスライン直下のダイ基準位置へダイを昇降自在のダイホルダと、ダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に、前記ダイの周囲に被加工材を前記パスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、打撃子の下面と測定用ダミーダイの上面とに接触可能な接触子を前記パンチ装着孔に昇降可能に装着した測定用パンチ組立体と、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させて、前記接触子が前記測定用ダミーダイの上面に接触したとき又は前記接触子が前記測定用ゲージ板の上面に接触したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離（Ｌ１）又は（Ｌ２）を検出する打撃子移動距離測定手段と、前記測定用ゲージ板の板厚（Ｔ）を記憶したメモリと前記打撃子移動距離測定手段で検出した下降距離（Ｌ１、Ｌ２）と前記メモリに記憶した板厚（Ｔ）に基づき間隙（Ｓ）を演算する演算手段を備えることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置。
【請求項４】
請求項３に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、前記打撃子移動距離測定手段は、前記打撃子と前記測定用ダミーダイとの間の前記接触子を介した導通又は、前記打撃子と前記測定用ゲージ板との間の前記接触子を介した導通により検出することを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置。
【請求項５】
Ｘ、Ｙ軸方向に移動位置決め自在の被加工材クランプ装置を備えた被加工材位置決め手段と、ダイをＺ軸方向の任意の位置へ昇降位置決め自在のダイ昇降手段と、前記ダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に前記ダイの周囲に被加工材をパスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、ダイを装着し、前記被加工材クランプ装置に被加工材をクランプして前記ダイ上方を移動させ、前記ダイを階段的に昇降位置決めさせ、これを繰り返し、上方を移動する前記被加工材の裏面に前記ダイが当接したときの、ダイ移動量を検出し、該ダイ移動量に基づいた前記ブラシテーブルの被加工材支持平面と前記ダイ上面との間隙（Ｓ）を検出することを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法。
【請求項６】
請求項５に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法において、前記ダイの被加工材の裏面への当接は、このダイ上を移動する前記被加工材の振動特性の変化を振動センサにより検出して該被加工材の裏面への前記ダイの当接を検知することを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗量検出方法。
【請求項７】
請求項１又は請求項５記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法において、前記間隙（Ｓ）と予め設定した間隙の警告閾値を比較し、前記間隙（Ｓ）が該間隙（Ｓ）の警告閾値を越えた場合は警告することを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法。
【請求項８】
Ｘ、Ｙ軸方向に移動位置決め自在の被加工材クランプ装置を備えた被加工材位置決め手段と、ダイをＺ軸方向の任意の位置へ昇降位置決め自在のダイ昇降手段と、前記ダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に、前記ダイの周囲に被加工材をパスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、前記被加工材クランプ装置に被加工材をクランプして前記ダイ上方を移動させ、上方を移動する前記被加工材の裏面に前記ダイに当接したことを検出する検出手段と、この検出手段が検出したときの、前記ダイ移動量を測定するダイ移動量測定手段を備えることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置。
【請求項９】
請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、前記ダイが被加工材の裏面に当接した際に、前記被加工材の振動特性の変化を振動センサにより検出して該被加工材の裏面へのダイの当接を検知して該ダイの移動量を検出することを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置。
【請求項１０】
請求項３又は請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、予め設定した警告閾値を記憶するメモリと前記間隙（Ｓ）又は前記ダイ移動量測定手段で測定したダイ移動量に基づく間隙と、予め設定した警告閾値とを比較する警告閾値比較手段と、この比較手段で比較した結果、前記間隙が前記警告閾値を越えた場合は警告する警告手段を備えることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置。
【請求項１１】
請求項３又は請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、ブラシテーブルの沈み込み量を板厚毎に記憶したメモリを備えることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗量検出装置。
【請求項１】
パスライン直下のダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に、前記ダイの周囲に被加工材を前記パスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、前記パンチを上方から押圧する昇降位置決め自在の打撃子の下面と、測定用ダミーダイの上面とに接触可能な接触子を内蔵する測定用パンチ組立体を前記パンチ装着孔に昇降可能に装着し、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させて、前記接触子が前記測定用ダミーダイの上面に接触したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離（Ｌ１）を検出し、前記ブラシテーブルに板厚Ｔの測定用ゲージ板を載置した状態において、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させて、前記接触子が前記測定用ゲージ板の上面に接触したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離（Ｌ２）を検出し、この検出された前記打撃子の下降距離（Ｌ１、Ｌ２）及び前記測定用ゲージ板の板厚（Ｔ）を基にして前記ブラシテーブルの被加工材支持平面と前記測定用ダミーダイ上面との間隙（Ｓ）を演算して求めることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法。
【請求項２】
請求項１に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法において、前記下降距離（Ｌ１）は、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させたとき、前記打撃子と前記測定用ダミーダイとの間が前記接触子を介して電気的に導通したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離であり、前記下降距離（Ｌ２）は、前記打撃子と前記測定用ゲージ板との間が前記接触子を介して電気的に導通したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離であることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法。
【請求項３】
パスライン直下のダイ基準位置へダイを昇降自在のダイホルダと、ダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に、前記ダイの周囲に被加工材を前記パスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、打撃子の下面と測定用ダミーダイの上面とに接触可能な接触子を前記パンチ装着孔に昇降可能に装着した測定用パンチ組立体と、前記打撃子により前記測定用パンチ組立体を押圧下降させて、前記接触子が前記測定用ダミーダイの上面に接触したとき又は前記接触子が前記測定用ゲージ板の上面に接触したときの前記打撃子の所定位置からの下降距離（Ｌ１）又は（Ｌ２）を検出する打撃子移動距離測定手段と、前記測定用ゲージ板の板厚（Ｔ）を記憶したメモリと前記打撃子移動距離測定手段で検出した下降距離（Ｌ１、Ｌ２）と前記メモリに記憶した板厚（Ｔ）に基づき間隙（Ｓ）を演算する演算手段を備えることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置。
【請求項４】
請求項３に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、前記打撃子移動距離測定手段は、前記打撃子と前記測定用ダミーダイとの間の前記接触子を介した導通又は、前記打撃子と前記測定用ゲージ板との間の前記接触子を介した導通により検出することを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置。
【請求項５】
Ｘ、Ｙ軸方向に移動位置決め自在の被加工材クランプ装置を備えた被加工材位置決め手段と、ダイをＺ軸方向の任意の位置へ昇降位置決め自在のダイ昇降手段と、前記ダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に前記ダイの周囲に被加工材をパスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、ダイを装着し、前記被加工材クランプ装置に被加工材をクランプして前記ダイ上方を移動させ、前記ダイを階段的に昇降位置決めさせ、これを繰り返し、上方を移動する前記被加工材の裏面に前記ダイが当接したときの、ダイ移動量を検出し、該ダイ移動量に基づいた前記ブラシテーブルの被加工材支持平面と前記ダイ上面との間隙（Ｓ）を検出することを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法。
【請求項６】
請求項５に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法において、前記ダイの被加工材の裏面への当接は、このダイ上を移動する前記被加工材の振動特性の変化を振動センサにより検出して該被加工材の裏面への前記ダイの当接を検知することを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗量検出方法。
【請求項７】
請求項１又は請求項５記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法において、前記間隙（Ｓ）と予め設定した間隙の警告閾値を比較し、前記間隙（Ｓ）が該間隙（Ｓ）の警告閾値を越えた場合は警告することを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出方法。
【請求項８】
Ｘ、Ｙ軸方向に移動位置決め自在の被加工材クランプ装置を備えた被加工材位置決め手段と、ダイをＺ軸方向の任意の位置へ昇降位置決め自在のダイ昇降手段と、前記ダイに対向してパンチを昇降可能に保持するパンチ装着孔を備えると共に、前記ダイの周囲に被加工材をパスライン位置に支持するブラシテーブルを備えたパンチプレスにおいて、前記被加工材クランプ装置に被加工材をクランプして前記ダイ上方を移動させ、上方を移動する前記被加工材の裏面に前記ダイに当接したことを検出する検出手段と、この検出手段が検出したときの、前記ダイ移動量を測定するダイ移動量測定手段を備えることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置。
【請求項９】
請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、前記ダイが被加工材の裏面に当接した際に、前記被加工材の振動特性の変化を振動センサにより検出して該被加工材の裏面へのダイの当接を検知して該ダイの移動量を検出することを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置。
【請求項１０】
請求項３又は請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、予め設定した警告閾値を記憶するメモリと前記間隙（Ｓ）又は前記ダイ移動量測定手段で測定したダイ移動量に基づく間隙と、予め設定した警告閾値とを比較する警告閾値比較手段と、この比較手段で比較した結果、前記間隙が前記警告閾値を越えた場合は警告する警告手段を備えることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置。
【請求項１１】
請求項３又は請求項８に記載のパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗検出装置において、ブラシテーブルの沈み込み量を板厚毎に記憶したメモリを備えることを特徴とするパンチプレスのブラシテーブルブラシ摩耗量検出装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【公開番号】特開２０１３−６６９３０（Ｐ２０１３−６６９３０Ａ）
【公開日】平成２５年４月１８日（２０１３．４．１８）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２０９１９４（Ｐ２０１１−２０９１９４）
【出願日】平成２３年９月２６日（２０１１．９．２６）
【出願人】（３９００１４６７２）株式会社アマダ (548)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年４月１８日（２０１３．４．１８）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年９月２６日（２０１１．９．２６）
【出願人】（３９００１４６７２）株式会社アマダ (548)
【Ｆターム（参考）】
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