光ファイバ分布型測定装置
【課題】比較的安価な構成で光ファイバの線路損失を測定でき、常に正確な温度分布を測定できる装置を提供すること。
【解決手段】光ファイバをセンサとして用い、ラマン後方散乱光を利用して前記光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された光ファイバ温度分布測定装置において、
波長λSTのストークス光が受ける光ファイバの線路損失と波長λASのアンチストークス光が受ける光ファイバの線路損失を測定するための出力波長λSTと出力波長λASを含む広帯域光源を設け、
これら光ファイバの線路損失測定結果に基づき、前記光ファイバに沿った温度分布の測定結果に含まれる前記光ファイバの線路損失の変動を補正することを特徴とするもの。
【解決手段】光ファイバをセンサとして用い、ラマン後方散乱光を利用して前記光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された光ファイバ温度分布測定装置において、
波長λSTのストークス光が受ける光ファイバの線路損失と波長λASのアンチストークス光が受ける光ファイバの線路損失を測定するための出力波長λSTと出力波長λASを含む広帯域光源を設け、
これら光ファイバの線路損失測定結果に基づき、前記光ファイバに沿った温度分布の測定結果に含まれる前記光ファイバの線路損失の変動を補正することを特徴とするもの。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバ分布型測定装置に関し、詳しくは、光ファイバの損失特性に起因する測定誤差の補正に関するものである。
【０００２】
光ファイバをセンサとして用いた分布型測定装置の一種に、光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された温度測定装置がある。この技術は光ファイバ内で発生する後方散乱光を利用している。
【０００３】
後方散乱光には、レイリー散乱光、ブリルアン散乱光、ラマン散乱光などがあるが、温度測定には温度依存性の高い後方ラマン散乱光が利用され、この後方ラマン散乱光を波長分波して測定を行う。後方ラマン散乱光には、入射光の波長に対して短い波長側に発生するアンチストークス光ＡＳと、長い波長側に発生するストークス光ＳＴがある。
【０００４】
光ファイバ温度分布測定装置は、これらアンチストークス光の強度ＩASとストークス光の強度ＩSTとを測定してその強度比から温度を算出し、光ファイバに沿った温度分布を表示するものであり、プラント設備の温度管理、防災関連、発電所や大型建設物の空調関連などの分野で利用されている。
【０００５】
図３は、従来の光ファイバ分布型測定装置の一例を示す説明図である。図３（Ａ）において、光源１から波長λ0の光パルスが送出され、方向性結合器２を介して被測定光ファイバ３に入力される。光ファイバ３の中で光パルスにより発生するラマン後方散乱光は、被測定光ファイバ３の入射端に向かって戻ってくる。
【０００６】
この散乱光は、再び方向性結合器２を介して光フィルタ４に入力され、波長λSTのストークス光成分と波長λASのアンチストークス光成分に分離される。分離されたストークス光成分は受光素子５に入力されて電気信号に変換され、アンチストークス光成分は受光素子６に入力されて電気信号に変換される。これら変換された電気信号は、処理部７に入力される。図３（Ｂ）は後方レーリー散乱光および後方ラマン散乱光のスペクトラムを示し、図３（Ｃ）は光フィルタ４の透過特性を示している。
【０００７】
これら二つの信号強度をIST、IASとすると、その強度比Ｒ（Ｔ）は（１）式で表される。この（１）式より、光ファイバ３の温度を求めることができる。ただし、光ファイバ３中のどこか一区間（数メートル）の温度は何らかの方法（たとえば白金温度センサ）で測定し得るものとし、絶対温度校正はこの値から求める。
【０００８】
【０００９】
ところが、実際に測定されるストークス光成分およびアンチストークス光成分は、測定対象とする温度による強度変化のみではなく、光ファイバ３の損失による変化も含んでいる。このため、温度に換算するのにあたっては、図４に示すように、光ファイバ３の損失を補正して演算を行う必要がある。さらに、測定されるストークス光とアンチストークス光は波長が異なるため、損失差を考慮した補正も必要になる。
【００１０】
図４において、（Ａ）はストークス後方散乱光強度を示すものであり、実線ＣＨ１は得られるストークス強度波形を表し、破線ＣＨ２は光ファイバ３の損失を表している。光ファイバ３の損失は、往路における光源１の出力波長λ0の損失と復路における波長λSTのストークス光成分の損失を含んでいる。
【００１１】
（Ｂ）はアンチストークス後方散乱光強度を示すものであって、実線ＣＨ３は得られるアンチストークス強度波形を表し、破線ＣＨ４は光ファイバ３の損失を表している。光ファイバ３の損失は、往路における光源１の出力波長λ0の損失と復路における波長λASのアンチストークス光成分の損失を含んでいる。
【００１２】
（Ｃ）は温度測定例を示している。この温度データは、（Ａ）および（Ｂ）の各データに基づいて光ファイバ３の損失を補正した後、温度へ換算することにより求められる。
【００１３】
ところで、図４に示す手法は、ストークス光およびアンチストークス光による光ファイバの損失分布が変化しない場合には問題ないが、光ファイバ３が配置される環境によっては、その損失特性は一定にはならずに変化することがある。光ファイバ３の損失特性が変化すると、損失特性が一定であるとすると、図４に基づく補正は不適切となり、得られる温度データは誤差を含むことになる。
【００１４】
このような光ファイバ３の損失特性の変化に伴う不都合を回避するために、以下に説明するようないくつかの方法が提案されている。
【００１５】
図５は、ダブルエンド方法を用いた光ファイバ分布型測定装置の構成説明図であり、図３（Ａ）と共通する部分には同一の符号を付けている。図５において、光ファイバ３はループ状になるようにその両端が折り返され、光スイッチ８を介して方向性結合器２に接続されている。そして、光スイッチ８を切り換えて近端側および遠端側からそれぞれ測定を行うことにより、光ファイバ３の損失の変化を打ち消すことができる。
【００１６】
図６は、図５の動作説明図である。（Ａ）はストークス光による近端側からの測定結果例を示し、（Ｂ）はストークス光による遠端側からの測定結果例を示している。これらの測定結果（Ａ）と（Ｂ）を加算することにより、（Ｃ）に示すように温度に起因するストークス光の特性変動分のみを得ることができる。
【００１７】
（Ｄ）はアンチストークス光による近端側からの測定結果例を示し、（Ｅ）はアンチストークス光による遠端側からの測定結果例を示している。これらの測定結果（Ｄ）と（Ｅ）を加算することにより、（Ｆ）に示すように温度に起因するアンチストークス光の特性変動分のみを得ることができる。
【００１８】
これら（Ｃ）のストークス光の特性変動分と（Ｆ）のアンチストークス光の特性変動分に基づき、（Ｇ）に示すように温度に変換する。
【００１９】
図５の構成によれば、光ファイバ３の損失の変化を打ち消すことができるが、光ファイバ３の長さが２倍必要になることから、シングルエンド方式に比べると、温度測定精度や測定所要時間などで劣ってしまう。
【００２０】
図７は、２種類（２波長）の光源を実装してレイリー光を使用する光ファイバ分布型測定装置の説明図であり、図３（Ａ）と共通する部分には同一の符号を付けている。図７（Ａ）において、出力波長λ0Aを有する光源９と出力波長λ0Bを有する光源１０が光スイッチ１１を介して方向性結合器２に接続されている。光フィルタ４は、これら光源９および光源１０のレイリー光を分離して受光素子５に入力するとともに、波長λST_Aを有する光源９のストークス光および波長λAS_Bを有する光源１０のアンチストークス光を分離して受光素子６に入力する。
【００２１】
図７（Ｂ）は出力波長λ0Aを有する光源９を使用する時の後方レーリー散乱および光後方ラマン散乱光のスペクトラムを示し、図７（Ｃ）は出力波長λ0Bを有する光源１０を使用する時の後方レーリー散乱および後方ラマン散乱光のスペクトラムを示している。
【００２２】
出力波長λ0Aを有する光源９を使用する時にストークス光が受ける光ファイバ３の損失に注目すると、往路は光源９の出力波長λ0Aによる損失になり、復路は波長λST_Aのストークス光による損失となる。また、出力波長λ0Bを有する光源１０を使用する時にアンチストークス光が受ける光ファイバ３の損失は、往路は光源１０の出力波長λ0Bによる損失になり、復路は波長λAS_Bのアンチストークス光による損失となる。
【００２３】
したがって、ストークス光の波長λST_Aとアンチストークス光の波長λAS_Bが等しくなるように光源９の出力波長λ0Aおよび光源１０の出力波長λ0Bを設定するとともに、これら波長λ0Aおよび波長λ0Bによるレイリー光を測定できるように構成することで光ファイバ３の損失補正が可能になるが、ラマン散乱光測定用に高価な高出力光源が２つ必要となり、測定時間も２倍になってしまう。
【００２４】
図８は、２種類（２波長）の光源を実装してレイリー光を使用しない光ファイバ分布型測定装置の説明図であり、図７（Ａ）と共通する部分には同一の符号を付けている。図８（Ａ）において、出力波長λ0Cを有する光源１２と出力波長λ0Dを有する光源１３が光スイッチ１１を介して方向性結合器２に接続されている。光フィルタ４は、光源１２の出力光に基づく波長λST_Cのストークス光を分離して受光素子５に入力するとともに、光源１３の出力光に基づく波長λAS_Dのアンチストークス光を分離して受光素子６に入力する。
【００２５】
図８（Ｂ）は出力波長λ0Cを有する光源１２を使用する時の後方レーリー散乱および後方ラマン散乱光のスペクトラムを示し、図８（Ｃ）は出力波長λ0Dを有する光源１３を使用する時の後方レーリー散乱および後方ラマン散乱光のスペクトラムを示している。
【００２６】
出力波長λ0Cを有する光源１２を使用する時の光ファイバ３における損失は、往路は出力波長λ0Cの光源１２の出力光による損失となり、復路は波長λST_Cのストークス光による損失となる。そして、出力波長λ0Dの光源１３を使用する時の光ファイバ３における損失は、往路は出力波長λ0Dの光源１３の出力光による損失となり、復路は波長λAS_Dのアンチストークス光による損失となる。
【００２７】
ここで、光源１２の出力波長λ0Cと光源１３の出力光に基づくアンチストークス光の波長λAS_Dが同一になり、また、光源１２の出力光に基づくストークス光の波長λST_Cおよび光源１３の出力波長λ0Dが同一になるように設定されていて、これらストークス光とアンチストークス光の比をとることにより、線路損失の変動をキャンセルできる。しかし、この場合も、ラマン散乱光測定用に高価な高出力光源が２つ必要となり、測定時間も２倍になってしまう。
【００２８】
図９は、３種類（３波長）の光源を実装した光ファイバ分布型測定装置の構成説明図であり、図３（Ａ）と共通する部分には同一の符号を付けている。図９（Ａ）において、出力波長λ0を有する光源１と出力波長λaを有する光源１４と出力波長λbを有する光源１５とが光スイッチ１６を介して方向性結合器２に接続されている。光フィルタ４は、光源１のストークス光λSTを分離して受光素子５に入力するとともに、アンチストークス光λASを分離して受光素子６に入力する。
【００２９】
図９（Ｂ）は出力波長λ0を有する光源１を使用する時の後方レーリー散乱および後方ラマン散乱光のスペクトラムを示し、図９（Ｃ）は線路損失測定用光源として用いる出力波長λaを有する光源１４と出力波長λbを有する光源１５の波長関係を示している。
【００３０】
前述のように、ストークス光での光ファイバ３の損失は、往路は出力波長λ0の光源１の出力光による損失で復路は波長λSTのストークス光による損失であり、アンチストークス光での光ファイバの損失は、往路は波長λ0の光源１の出力光による損失で復路は波長λASのアンチストークス光による損失であって、これらが変化すると温度測定上のエラーになる。
【００３１】
そこで、アンチストークス光λASと同一の出力波長λaを有する光源１４の光源およびストークス光λSTと同一の出力波長λbを有する光源１５で線路損失を測定することで、補正が可能となる。この場合、光源は３つ必要になるが、出力波長λaの光源１４および出力波長λbの光源１５はレーリー光を測定することからパワーは弱くてもよい。しかし、これら出力波長λaの光源１４および出力波長λbの光源１５は波長が特殊なため、入手が困難である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００３２】
特許文献１には、３種類（３波長）の光源を使用して温度を測定する方法および温度測定値を較正する方法が開示されている。
【００３３】
【特許文献１】特開２００４−６９６８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３４】
上記の説明から明らかなように、光ファイバ３の損失が時間とともに変動した場合、変動に対応した何らかの損失補正を行わないと測定データに誤差を生じる。そこで、これまで多くの提案がなされているが、コスト面から必ずしも満足できるものはなかった。
【００３５】
本発明は、このような課題を解決するものであり、その目的は、比較的安価な構成で光ファイバの線路損失を測定でき、常に正確な温度分布を測定できる装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００３６】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
光ファイバをセンサとして用い、ラマン後方散乱光を利用して前記光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された光ファイバ温度分布測定装置において、
波長λSTのストークス光が受ける光ファイバの線路損失と波長λASのアンチストークス光が受ける光ファイバの線路損失を測定するための出力波長λSTと出力波長λASを含む広帯域光源を設け、
これら光ファイバの線路損失測定結果に基づき、前記光ファイバに沿った温度分布の測定結果に含まれる前記光ファイバの線路損失の変動を補正することを特徴とする。
【００３７】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の光ファイバ分布型測定装置において、
前記広帯域光源は、複数の広帯域光源モジュールの出力光を合波したものであることを特徴とする。
【００３８】
請求項３記載の発明は、請求項１または請求項２に記載の光ファイバ分布型測定装置において、
前記広帯域光源は、ＬＥＤ光源であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００３９】
これらにより、光ファイバにおける線路損失を測定でき、常に光ファイバに沿った正確な温度分布を測定できる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明の一実施例を示す説明図である。
【図２】本発明の他の実施例を示す説明図である。
【図３】従来の光ファイバ分布型測定装置の一例を示す説明図である。
【図４】光ファイバ分布型測定装置における温度校正処理説明図である。
【図５】ダブルエンド方法を用いた光ファイバ分布型測定装置の構成説明図である。
【図６】図５の動作説明図である。
【図７】２種類（２波長）の光源を実装してレイリー光を使用する光ファイバ分布型測定装置の説明図である。
【図８】２種類（２波長）の光源を実装してレイリー光を使用しない光ファイバ分布型測定装置の説明図である。
【図９】３種類（３波長）の光源を実装した光ファイバ分布型測定装置の構成説明図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４１】
以下、本発明について、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示す説明図であり、図９（Ａ）と共通する部分には同一の符号を付けている。図１（Ａ）と図９（Ａ）の相違点は、図１（Ａ）では、図９（Ａ）の線路損失測定用光源として用いる出力波長λaを有する光源１４と出力波長λbを有する光源１５に代えて、安価で比較的容易に入手できる広帯域光源１７を用いていることにある。
【００４２】
図１（Ｂ）は出力波長λ0を有する光源１を使用する時の後方レーリー散乱および後方ラマン散乱光のスペクトラムを示し、図１（Ｃ）は広帯域光源１７のスペクトラムを示し、図１（Ｄ）は光フィルタ４の透過特性を示している。
【００４３】
図１（Ａ）において、広帯域光源１７としては、たとえばＬＥＤ光源を用いる。一般的に、ＬＥＤ光源の出力光は、５０〜１００ｎｍの帯域幅を有する。このような広帯域光源１７を用いて、波長λSTにおけるストークス光の光ファイバ３の線路損失と、波長λASにおけるアンチストークス光の光ファイバ３の線路損失を測定する。
【００４４】
光ファイバ３の線路損失測定にあたっては、光強度がラマン散乱光と比べて１０００倍程度高いレーリー散乱光を用いるため、相対的に低出力の光源を用いることができる。光出力が不足して十分なＳ／Ｎ比が得られない場合には、出力光のパルス幅を拡げることでＳ／Ｎ比を改善向上させることができる。たとえば、ラマン散乱測定用の光源の出力を１Ｗ、パルス幅を１０ｎｓｅｃとすると、同一強度のレーリー散乱光を得るためには、光源の出力を１０μＷ、パルス幅を１０００ｎｓｅｃにすればよく、ほぼ実現可能な範囲である。
【００４５】
一方、ラマン散乱光であるストークス光とアンチストークス光を抽出受光するために、波長分離用の光フィルタとして帯域通過フィルタ（バンドパスフィルタ）を用いる。したがって、波長λSTでのストークス光の線路損失および波長λASでのアンチストークス光の線路損失を測定する際の光源は、出力帯域幅が１００ｎｍを超える程度の広帯域であってもよい。この帯域が、ストークス光の波長λSTおよびアンチストークス光の波長λASをカバーするものであれば、１つの光源で波長λSTにおけるストークス光の光ファイバ３の線路損失と、波長λASにおけるアンチストークス光の光ファイバ３の線路損失を測定することができる。
【００４６】
すなわち、図１（Ａ）の構成で、ラマン散乱光を得る際に、ストークス光が復路で波長λSTで受ける線路損失と、アンチストークス光が復路で波長λASで受ける線路損失を知ることにより、線路損失をキャンセルすることができ、温度測定上の誤差を低減できる。
【００４７】
図９（Ａ）に示す従来の構成では、線路損失測定用光源として波長λSTの成分と波長λASの成分を含む２つが必要であったが、本発明では、これら波長λSTおよびλASの成分を含む１つの広帯域光源を用い、波長分離用の光フィルタとして帯域通過フィルタ（バンドパスフィルタ）を用いる。このような広帯域光源としては、出力に波長λSTおよびλASの成分を含めばよいので、容易に入手できる安価なＬＥＤ光源を用いることができる。
【００４８】
広帯域光源の出力が弱くてＳ／Ｎ比が不足している場合には、線路損失分布の測定には空間分解能は緩和されるので、出力光のパルス幅を拡げることで対応できる。
【００４９】
なお、図１の１つの広帯域光源１７だけでは帯域が不足したり出力が弱い場合には、図２（Ａ）や（Ｂ）に示すように、光出力が比較的小さく中心波長などの制約は極めて緩くて安価に入手できる複数の広帯域光源を組み合わせて、波長λSTおよびλASの成分を含む合波広帯域光源を構成してもよい。（Ｃ）は（Ａ）または（Ｂ）で合波された出力光のスペクトラムを示し、（Ｄ）は光フィルタ４の透過特性を示している。
【００５０】
図２（Ａ）は一体型合波モジュール１８の例である。出力光に波長λASの成分を含む第１の広帯域光源１８ａと波長λSTの成分を含む第２の広帯域光源１８ｂが互いの出力光軸が直交するように配置されるとともに、これら出力光軸の直交位置にはハーフミラー１８ｃが４５度の傾斜角度で配置されている。２個の広帯域光源１８ａと１８ｂの出力光はこのハーフミラー１８ｃで合波され、レンズ１８ｄを介して光ファイバ３に出力される。
【００５１】
図２（Ｂ）は光合波器を用いる例である。出力光に波長λASの成分を含む第１の広帯域光源モジュール１９と波長λSTの成分を含む第２の広帯域光源モジュール２０は、それぞれの出力端が光ファイバカプラよりなる光合波器２１に接続されている。
【００５２】
このように複数の広帯域光源を組み合わせることにより、１つの広帯域光源では帯域が不足したり出力が弱い場合に、比較的安価な構成で対応できる。
【００５３】
以上説明したように、本発明によれば、比較的安価な構成で光ファイバの線路損失を測定でき、常に正確な温度分布を測定できる光ファイバ分布型測定装置が実現でき、光ファイバに沿った各種の温度分布測定に好適である。
【符号の説明】
【００５４】
１ 光源
２ 方向性結合器
３ 光ファイバ
４ 光フィルタ
５、６ 受光素子
７ 処理部
１７ 広帯域光源
１８ 一体型合波モジュール
１９、２０ 広帯域光源モジュール
２１ 光合波器（光ファイバカプラ）
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバ分布型測定装置に関し、詳しくは、光ファイバの損失特性に起因する測定誤差の補正に関するものである。
【０００２】
光ファイバをセンサとして用いた分布型測定装置の一種に、光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された温度測定装置がある。この技術は光ファイバ内で発生する後方散乱光を利用している。
【０００３】
後方散乱光には、レイリー散乱光、ブリルアン散乱光、ラマン散乱光などがあるが、温度測定には温度依存性の高い後方ラマン散乱光が利用され、この後方ラマン散乱光を波長分波して測定を行う。後方ラマン散乱光には、入射光の波長に対して短い波長側に発生するアンチストークス光ＡＳと、長い波長側に発生するストークス光ＳＴがある。
【０００４】
光ファイバ温度分布測定装置は、これらアンチストークス光の強度ＩASとストークス光の強度ＩSTとを測定してその強度比から温度を算出し、光ファイバに沿った温度分布を表示するものであり、プラント設備の温度管理、防災関連、発電所や大型建設物の空調関連などの分野で利用されている。
【０００５】
図３は、従来の光ファイバ分布型測定装置の一例を示す説明図である。図３（Ａ）において、光源１から波長λ0の光パルスが送出され、方向性結合器２を介して被測定光ファイバ３に入力される。光ファイバ３の中で光パルスにより発生するラマン後方散乱光は、被測定光ファイバ３の入射端に向かって戻ってくる。
【０００６】
この散乱光は、再び方向性結合器２を介して光フィルタ４に入力され、波長λSTのストークス光成分と波長λASのアンチストークス光成分に分離される。分離されたストークス光成分は受光素子５に入力されて電気信号に変換され、アンチストークス光成分は受光素子６に入力されて電気信号に変換される。これら変換された電気信号は、処理部７に入力される。図３（Ｂ）は後方レーリー散乱光および後方ラマン散乱光のスペクトラムを示し、図３（Ｃ）は光フィルタ４の透過特性を示している。
【０００７】
これら二つの信号強度をIST、IASとすると、その強度比Ｒ（Ｔ）は（１）式で表される。この（１）式より、光ファイバ３の温度を求めることができる。ただし、光ファイバ３中のどこか一区間（数メートル）の温度は何らかの方法（たとえば白金温度センサ）で測定し得るものとし、絶対温度校正はこの値から求める。
【０００８】
【０００９】
ところが、実際に測定されるストークス光成分およびアンチストークス光成分は、測定対象とする温度による強度変化のみではなく、光ファイバ３の損失による変化も含んでいる。このため、温度に換算するのにあたっては、図４に示すように、光ファイバ３の損失を補正して演算を行う必要がある。さらに、測定されるストークス光とアンチストークス光は波長が異なるため、損失差を考慮した補正も必要になる。
【００１０】
図４において、（Ａ）はストークス後方散乱光強度を示すものであり、実線ＣＨ１は得られるストークス強度波形を表し、破線ＣＨ２は光ファイバ３の損失を表している。光ファイバ３の損失は、往路における光源１の出力波長λ0の損失と復路における波長λSTのストークス光成分の損失を含んでいる。
【００１１】
（Ｂ）はアンチストークス後方散乱光強度を示すものであって、実線ＣＨ３は得られるアンチストークス強度波形を表し、破線ＣＨ４は光ファイバ３の損失を表している。光ファイバ３の損失は、往路における光源１の出力波長λ0の損失と復路における波長λASのアンチストークス光成分の損失を含んでいる。
【００１２】
（Ｃ）は温度測定例を示している。この温度データは、（Ａ）および（Ｂ）の各データに基づいて光ファイバ３の損失を補正した後、温度へ換算することにより求められる。
【００１３】
ところで、図４に示す手法は、ストークス光およびアンチストークス光による光ファイバの損失分布が変化しない場合には問題ないが、光ファイバ３が配置される環境によっては、その損失特性は一定にはならずに変化することがある。光ファイバ３の損失特性が変化すると、損失特性が一定であるとすると、図４に基づく補正は不適切となり、得られる温度データは誤差を含むことになる。
【００１４】
このような光ファイバ３の損失特性の変化に伴う不都合を回避するために、以下に説明するようないくつかの方法が提案されている。
【００１５】
図５は、ダブルエンド方法を用いた光ファイバ分布型測定装置の構成説明図であり、図３（Ａ）と共通する部分には同一の符号を付けている。図５において、光ファイバ３はループ状になるようにその両端が折り返され、光スイッチ８を介して方向性結合器２に接続されている。そして、光スイッチ８を切り換えて近端側および遠端側からそれぞれ測定を行うことにより、光ファイバ３の損失の変化を打ち消すことができる。
【００１６】
図６は、図５の動作説明図である。（Ａ）はストークス光による近端側からの測定結果例を示し、（Ｂ）はストークス光による遠端側からの測定結果例を示している。これらの測定結果（Ａ）と（Ｂ）を加算することにより、（Ｃ）に示すように温度に起因するストークス光の特性変動分のみを得ることができる。
【００１７】
（Ｄ）はアンチストークス光による近端側からの測定結果例を示し、（Ｅ）はアンチストークス光による遠端側からの測定結果例を示している。これらの測定結果（Ｄ）と（Ｅ）を加算することにより、（Ｆ）に示すように温度に起因するアンチストークス光の特性変動分のみを得ることができる。
【００１８】
これら（Ｃ）のストークス光の特性変動分と（Ｆ）のアンチストークス光の特性変動分に基づき、（Ｇ）に示すように温度に変換する。
【００１９】
図５の構成によれば、光ファイバ３の損失の変化を打ち消すことができるが、光ファイバ３の長さが２倍必要になることから、シングルエンド方式に比べると、温度測定精度や測定所要時間などで劣ってしまう。
【００２０】
図７は、２種類（２波長）の光源を実装してレイリー光を使用する光ファイバ分布型測定装置の説明図であり、図３（Ａ）と共通する部分には同一の符号を付けている。図７（Ａ）において、出力波長λ0Aを有する光源９と出力波長λ0Bを有する光源１０が光スイッチ１１を介して方向性結合器２に接続されている。光フィルタ４は、これら光源９および光源１０のレイリー光を分離して受光素子５に入力するとともに、波長λST_Aを有する光源９のストークス光および波長λAS_Bを有する光源１０のアンチストークス光を分離して受光素子６に入力する。
【００２１】
図７（Ｂ）は出力波長λ0Aを有する光源９を使用する時の後方レーリー散乱および光後方ラマン散乱光のスペクトラムを示し、図７（Ｃ）は出力波長λ0Bを有する光源１０を使用する時の後方レーリー散乱および後方ラマン散乱光のスペクトラムを示している。
【００２２】
出力波長λ0Aを有する光源９を使用する時にストークス光が受ける光ファイバ３の損失に注目すると、往路は光源９の出力波長λ0Aによる損失になり、復路は波長λST_Aのストークス光による損失となる。また、出力波長λ0Bを有する光源１０を使用する時にアンチストークス光が受ける光ファイバ３の損失は、往路は光源１０の出力波長λ0Bによる損失になり、復路は波長λAS_Bのアンチストークス光による損失となる。
【００２３】
したがって、ストークス光の波長λST_Aとアンチストークス光の波長λAS_Bが等しくなるように光源９の出力波長λ0Aおよび光源１０の出力波長λ0Bを設定するとともに、これら波長λ0Aおよび波長λ0Bによるレイリー光を測定できるように構成することで光ファイバ３の損失補正が可能になるが、ラマン散乱光測定用に高価な高出力光源が２つ必要となり、測定時間も２倍になってしまう。
【００２４】
図８は、２種類（２波長）の光源を実装してレイリー光を使用しない光ファイバ分布型測定装置の説明図であり、図７（Ａ）と共通する部分には同一の符号を付けている。図８（Ａ）において、出力波長λ0Cを有する光源１２と出力波長λ0Dを有する光源１３が光スイッチ１１を介して方向性結合器２に接続されている。光フィルタ４は、光源１２の出力光に基づく波長λST_Cのストークス光を分離して受光素子５に入力するとともに、光源１３の出力光に基づく波長λAS_Dのアンチストークス光を分離して受光素子６に入力する。
【００２５】
図８（Ｂ）は出力波長λ0Cを有する光源１２を使用する時の後方レーリー散乱および後方ラマン散乱光のスペクトラムを示し、図８（Ｃ）は出力波長λ0Dを有する光源１３を使用する時の後方レーリー散乱および後方ラマン散乱光のスペクトラムを示している。
【００２６】
出力波長λ0Cを有する光源１２を使用する時の光ファイバ３における損失は、往路は出力波長λ0Cの光源１２の出力光による損失となり、復路は波長λST_Cのストークス光による損失となる。そして、出力波長λ0Dの光源１３を使用する時の光ファイバ３における損失は、往路は出力波長λ0Dの光源１３の出力光による損失となり、復路は波長λAS_Dのアンチストークス光による損失となる。
【００２７】
ここで、光源１２の出力波長λ0Cと光源１３の出力光に基づくアンチストークス光の波長λAS_Dが同一になり、また、光源１２の出力光に基づくストークス光の波長λST_Cおよび光源１３の出力波長λ0Dが同一になるように設定されていて、これらストークス光とアンチストークス光の比をとることにより、線路損失の変動をキャンセルできる。しかし、この場合も、ラマン散乱光測定用に高価な高出力光源が２つ必要となり、測定時間も２倍になってしまう。
【００２８】
図９は、３種類（３波長）の光源を実装した光ファイバ分布型測定装置の構成説明図であり、図３（Ａ）と共通する部分には同一の符号を付けている。図９（Ａ）において、出力波長λ0を有する光源１と出力波長λaを有する光源１４と出力波長λbを有する光源１５とが光スイッチ１６を介して方向性結合器２に接続されている。光フィルタ４は、光源１のストークス光λSTを分離して受光素子５に入力するとともに、アンチストークス光λASを分離して受光素子６に入力する。
【００２９】
図９（Ｂ）は出力波長λ0を有する光源１を使用する時の後方レーリー散乱および後方ラマン散乱光のスペクトラムを示し、図９（Ｃ）は線路損失測定用光源として用いる出力波長λaを有する光源１４と出力波長λbを有する光源１５の波長関係を示している。
【００３０】
前述のように、ストークス光での光ファイバ３の損失は、往路は出力波長λ0の光源１の出力光による損失で復路は波長λSTのストークス光による損失であり、アンチストークス光での光ファイバの損失は、往路は波長λ0の光源１の出力光による損失で復路は波長λASのアンチストークス光による損失であって、これらが変化すると温度測定上のエラーになる。
【００３１】
そこで、アンチストークス光λASと同一の出力波長λaを有する光源１４の光源およびストークス光λSTと同一の出力波長λbを有する光源１５で線路損失を測定することで、補正が可能となる。この場合、光源は３つ必要になるが、出力波長λaの光源１４および出力波長λbの光源１５はレーリー光を測定することからパワーは弱くてもよい。しかし、これら出力波長λaの光源１４および出力波長λbの光源１５は波長が特殊なため、入手が困難である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００３２】
特許文献１には、３種類（３波長）の光源を使用して温度を測定する方法および温度測定値を較正する方法が開示されている。
【００３３】
【特許文献１】特開２００４−６９６８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３４】
上記の説明から明らかなように、光ファイバ３の損失が時間とともに変動した場合、変動に対応した何らかの損失補正を行わないと測定データに誤差を生じる。そこで、これまで多くの提案がなされているが、コスト面から必ずしも満足できるものはなかった。
【００３５】
本発明は、このような課題を解決するものであり、その目的は、比較的安価な構成で光ファイバの線路損失を測定でき、常に正確な温度分布を測定できる装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００３６】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
光ファイバをセンサとして用い、ラマン後方散乱光を利用して前記光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された光ファイバ温度分布測定装置において、
波長λSTのストークス光が受ける光ファイバの線路損失と波長λASのアンチストークス光が受ける光ファイバの線路損失を測定するための出力波長λSTと出力波長λASを含む広帯域光源を設け、
これら光ファイバの線路損失測定結果に基づき、前記光ファイバに沿った温度分布の測定結果に含まれる前記光ファイバの線路損失の変動を補正することを特徴とする。
【００３７】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の光ファイバ分布型測定装置において、
前記広帯域光源は、複数の広帯域光源モジュールの出力光を合波したものであることを特徴とする。
【００３８】
請求項３記載の発明は、請求項１または請求項２に記載の光ファイバ分布型測定装置において、
前記広帯域光源は、ＬＥＤ光源であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００３９】
これらにより、光ファイバにおける線路損失を測定でき、常に光ファイバに沿った正確な温度分布を測定できる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明の一実施例を示す説明図である。
【図２】本発明の他の実施例を示す説明図である。
【図３】従来の光ファイバ分布型測定装置の一例を示す説明図である。
【図４】光ファイバ分布型測定装置における温度校正処理説明図である。
【図５】ダブルエンド方法を用いた光ファイバ分布型測定装置の構成説明図である。
【図６】図５の動作説明図である。
【図７】２種類（２波長）の光源を実装してレイリー光を使用する光ファイバ分布型測定装置の説明図である。
【図８】２種類（２波長）の光源を実装してレイリー光を使用しない光ファイバ分布型測定装置の説明図である。
【図９】３種類（３波長）の光源を実装した光ファイバ分布型測定装置の構成説明図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４１】
以下、本発明について、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示す説明図であり、図９（Ａ）と共通する部分には同一の符号を付けている。図１（Ａ）と図９（Ａ）の相違点は、図１（Ａ）では、図９（Ａ）の線路損失測定用光源として用いる出力波長λaを有する光源１４と出力波長λbを有する光源１５に代えて、安価で比較的容易に入手できる広帯域光源１７を用いていることにある。
【００４２】
図１（Ｂ）は出力波長λ0を有する光源１を使用する時の後方レーリー散乱および後方ラマン散乱光のスペクトラムを示し、図１（Ｃ）は広帯域光源１７のスペクトラムを示し、図１（Ｄ）は光フィルタ４の透過特性を示している。
【００４３】
図１（Ａ）において、広帯域光源１７としては、たとえばＬＥＤ光源を用いる。一般的に、ＬＥＤ光源の出力光は、５０〜１００ｎｍの帯域幅を有する。このような広帯域光源１７を用いて、波長λSTにおけるストークス光の光ファイバ３の線路損失と、波長λASにおけるアンチストークス光の光ファイバ３の線路損失を測定する。
【００４４】
光ファイバ３の線路損失測定にあたっては、光強度がラマン散乱光と比べて１０００倍程度高いレーリー散乱光を用いるため、相対的に低出力の光源を用いることができる。光出力が不足して十分なＳ／Ｎ比が得られない場合には、出力光のパルス幅を拡げることでＳ／Ｎ比を改善向上させることができる。たとえば、ラマン散乱測定用の光源の出力を１Ｗ、パルス幅を１０ｎｓｅｃとすると、同一強度のレーリー散乱光を得るためには、光源の出力を１０μＷ、パルス幅を１０００ｎｓｅｃにすればよく、ほぼ実現可能な範囲である。
【００４５】
一方、ラマン散乱光であるストークス光とアンチストークス光を抽出受光するために、波長分離用の光フィルタとして帯域通過フィルタ（バンドパスフィルタ）を用いる。したがって、波長λSTでのストークス光の線路損失および波長λASでのアンチストークス光の線路損失を測定する際の光源は、出力帯域幅が１００ｎｍを超える程度の広帯域であってもよい。この帯域が、ストークス光の波長λSTおよびアンチストークス光の波長λASをカバーするものであれば、１つの光源で波長λSTにおけるストークス光の光ファイバ３の線路損失と、波長λASにおけるアンチストークス光の光ファイバ３の線路損失を測定することができる。
【００４６】
すなわち、図１（Ａ）の構成で、ラマン散乱光を得る際に、ストークス光が復路で波長λSTで受ける線路損失と、アンチストークス光が復路で波長λASで受ける線路損失を知ることにより、線路損失をキャンセルすることができ、温度測定上の誤差を低減できる。
【００４７】
図９（Ａ）に示す従来の構成では、線路損失測定用光源として波長λSTの成分と波長λASの成分を含む２つが必要であったが、本発明では、これら波長λSTおよびλASの成分を含む１つの広帯域光源を用い、波長分離用の光フィルタとして帯域通過フィルタ（バンドパスフィルタ）を用いる。このような広帯域光源としては、出力に波長λSTおよびλASの成分を含めばよいので、容易に入手できる安価なＬＥＤ光源を用いることができる。
【００４８】
広帯域光源の出力が弱くてＳ／Ｎ比が不足している場合には、線路損失分布の測定には空間分解能は緩和されるので、出力光のパルス幅を拡げることで対応できる。
【００４９】
なお、図１の１つの広帯域光源１７だけでは帯域が不足したり出力が弱い場合には、図２（Ａ）や（Ｂ）に示すように、光出力が比較的小さく中心波長などの制約は極めて緩くて安価に入手できる複数の広帯域光源を組み合わせて、波長λSTおよびλASの成分を含む合波広帯域光源を構成してもよい。（Ｃ）は（Ａ）または（Ｂ）で合波された出力光のスペクトラムを示し、（Ｄ）は光フィルタ４の透過特性を示している。
【００５０】
図２（Ａ）は一体型合波モジュール１８の例である。出力光に波長λASの成分を含む第１の広帯域光源１８ａと波長λSTの成分を含む第２の広帯域光源１８ｂが互いの出力光軸が直交するように配置されるとともに、これら出力光軸の直交位置にはハーフミラー１８ｃが４５度の傾斜角度で配置されている。２個の広帯域光源１８ａと１８ｂの出力光はこのハーフミラー１８ｃで合波され、レンズ１８ｄを介して光ファイバ３に出力される。
【００５１】
図２（Ｂ）は光合波器を用いる例である。出力光に波長λASの成分を含む第１の広帯域光源モジュール１９と波長λSTの成分を含む第２の広帯域光源モジュール２０は、それぞれの出力端が光ファイバカプラよりなる光合波器２１に接続されている。
【００５２】
このように複数の広帯域光源を組み合わせることにより、１つの広帯域光源では帯域が不足したり出力が弱い場合に、比較的安価な構成で対応できる。
【００５３】
以上説明したように、本発明によれば、比較的安価な構成で光ファイバの線路損失を測定でき、常に正確な温度分布を測定できる光ファイバ分布型測定装置が実現でき、光ファイバに沿った各種の温度分布測定に好適である。
【符号の説明】
【００５４】
１ 光源
２ 方向性結合器
３ 光ファイバ
４ 光フィルタ
５、６ 受光素子
７ 処理部
１７ 広帯域光源
１８ 一体型合波モジュール
１９、２０ 広帯域光源モジュール
２１ 光合波器（光ファイバカプラ）
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバをセンサとして用い、ラマン後方散乱光を利用して前記光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された光ファイバ温度分布測定装置において、
波長λSTのストークス光が受ける光ファイバの線路損失と波長λASのアンチストークス光が受ける光ファイバの線路損失を測定するための出力波長λSTと出力波長λASを含む広帯域光源を設け、
これら光ファイバの線路損失測定結果に基づき、前記光ファイバに沿った温度分布の測定結果に含まれる前記光ファイバの線路損失の変動を補正することを特徴とする光ファイバ分布型測定装置。
【請求項２】
前記広帯域光源は、複数の広帯域光源モジュールの出力光を合波したものであることを特徴とする請求項１記載の光ファイバ分布型測定装置。
【請求項３】
前記広帯域光源は、ＬＥＤ光源であることを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ファイバ分布型測定装置。
【請求項１】
光ファイバをセンサとして用い、ラマン後方散乱光を利用して前記光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された光ファイバ温度分布測定装置において、
波長λSTのストークス光が受ける光ファイバの線路損失と波長λASのアンチストークス光が受ける光ファイバの線路損失を測定するための出力波長λSTと出力波長λASを含む広帯域光源を設け、
これら光ファイバの線路損失測定結果に基づき、前記光ファイバに沿った温度分布の測定結果に含まれる前記光ファイバの線路損失の変動を補正することを特徴とする光ファイバ分布型測定装置。
【請求項２】
前記広帯域光源は、複数の広帯域光源モジュールの出力光を合波したものであることを特徴とする請求項１記載の光ファイバ分布型測定装置。
【請求項３】
前記広帯域光源は、ＬＥＤ光源であることを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ファイバ分布型測定装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【公開番号】特開２０１２−１２７７７９（Ｐ２０１２−１２７７７９Ａ）
【公開日】平成２４年７月５日（２０１２．７．５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−２７９０９９（Ｐ２０１０−２７９０９９）
【出願日】平成２２年１２月１５日（２０１０．１２．１５）
【出願人】（０００００６５０７）横河電機株式会社 (4,443)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年７月５日（２０１２．７．５）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年１２月１５日（２０１０．１２．１５）
【出願人】（０００００６５０７）横河電機株式会社 (4,443)
【Ｆターム（参考）】
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