効率的なパラメーター修正のためのシステム及び方法
【課題】データ処理システムを調節するためのシステムの提供。
【解決手段】データ検出器回路は、復号化出力によって誘導される第１のデータセットにデータ検出アルゴリズムを適用して検出出力を得。データ復号化器回路は、データ復号化アルゴリズムを第２のデータセットに適用して復号化出力を得る。信頼性モニター回路は、エラーレートを計算する。パラメーター修正回路は、パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応するエラーレートの第１のインスタンスを格納し、該パラメーターの第２の値を選択して該第２の値に対応するエラーカウントの第２のインスタンスを格納し、エラーレートの第１のインスタンスとエラーレートの第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいて第１の値及び第２の値のうちの一方を選択する。
【解決手段】データ検出器回路は、復号化出力によって誘導される第１のデータセットにデータ検出アルゴリズムを適用して検出出力を得。データ復号化器回路は、データ復号化アルゴリズムを第２のデータセットに適用して復号化出力を得る。信頼性モニター回路は、エラーレートを計算する。パラメーター修正回路は、パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応するエラーレートの第１のインスタンスを格納し、該パラメーターの第２の値を選択して該第２の値に対応するエラーカウントの第２のインスタンスを格納し、エラーレートの第１のインスタンスとエラーレートの第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいて第１の値及び第２の値のうちの一方を選択する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、システム特徴付けのためのシステム及び方法に関し、より詳細には、データ処理システムを調節するためのシステム及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
様々なストレージシステムが、処理性能を改善するために調節することができる１つ又は複数の修正可能な変数を用いて実施されるデータ処理回路部を備える。幾つかの場合には、既知データパターンがデータ処理回路部に与えられ、修正可能な変数のうちの１つ又は複数が変更されている間、データ処理回路部のエラーレートが監視される。このプロセスは、修正可能な変数の許容可能な値が特定されるまで続けられる。そのような手法は、ストレージエリアを既知パターンに利用し、したがって、使用可能なストレージエリアを減少させ、意味のあるエラーレートを取得するには、かなりの時間を要する可能性があり、これによって、ストレージシステムの製造コストが増大する。
【０００３】
したがって、少なくとも上述した理由により、データ処理のための先進的なシステム及び方法が当該技術分野において必要とされている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、システム特徴付けのためのシステム及び方法に関し、より詳細には、データ処理システムを調節するためのシステム及び方法に関する。
【０００６】
本発明の１つ又は複数の実施の形態は、データ検出器回路と、データ復号化器回路と、信頼性モニター回路と、パラメーター修正制御回路とを備えるデータ処理システムを提供する。データ検出器回路は、復号化出力によって誘導される（guided）第１のデータセットにデータ検出アルゴリズムを適用して、検出出力を得るように動作可能である。データ復号化器回路は、第２のデータセットにデータ復号化アルゴリズムを適用して、復号化出力を得るように動作可能である。第２のデータセットは、第１のデータセットから取り出される。信頼性モニター回路は、エラーレートを計算するように動作可能である。エラーレートは、復号化出力又は第１のデータセットから取り出された第３のデータセットに少なくとも部分的に基づいて計算することができる。パラメーター修正回路は、パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応するエラーレートの第１のインスタンスを格納し、パラメーターの第２の値を選択して該第２の値に対応するエラーカウントの第２のインスタンスを格納し、エラーレートの第１のインスタンスとエラーレートの第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいて、第１の値及び第２の値のうちの一方を選択するように動作可能である。第２の値を選択することは、第１の値に少なくとも部分的に基づいて検索方向を確定することと、検索値とステップサイズとを用いることであって、第２の値を計算する、用いることとを含む。幾つかの場合には、ステップサイズはプログラマブルである。実施の形態は、複数の異なるエンドデバイス又はエンドシステムにおいて実施することができる。例えば、実施の形態は、ストレージデバイス又は受信デバイスにおいて実施することができる。さらに、幾つかの場合には、データ処理システムは、集積回路の一部として実施することができる。
【０００７】
上述した実施の形態の幾つかの場合には、エラーレートを計算することは、第３のデータセットを既知データセットと比較することを含む。そのような幾つかの場合には、第３のデータセットは硬判定出力のセットである。データ検出アルゴリズムは、最大事後データ検出アルゴリズム又はビタビ検出アルゴリズムとすることができるが、これらに限定されるものではない。幾つかの場合には、データ復号化アルゴリズムは低密度パリティチェックアルゴリズムである。特定の場合には、出力は、復号化出力から取り出された第３のデータセットである。そのような場合には、信頼性モニター回路は、第３のデータセットのインスタンスを既知データセットと比較するように動作可能な比較器回路と、第３のデータセットのインスタンスが既知データセットの対応するインスタンスと等しくない場合には、インクリメントしてエラーレートを得るように動作可能なカウンター回路とを備えることができる。幾つかの場合には、出力は、軟データを含む第１のデータセットである。そのような場合には、信頼性モニター回路は、軟データのインスタンスをしきい値と比較するように動作可能な比較器回路と、軟データのインスタンスがしきい値未満である場合には、インクリメントしてエラーレートを得るように動作可能なカウンター回路とを備えることができる。特定の場合には、しきい値はプログラマブルである。
【０００８】
本発明の幾つかの実施の形態は、データ処理のための方法を提供する。本方法は、データ検出器回路を用いてデータ検出アルゴリズムを第１のデータセットに対して実行することであって、検出出力を得る、実行することと、データ復号化器回路を用いてデータ復号化アルゴリズムを、第１のデータセットから取り出された第２のデータセットに対して実行することであって、復号化出力を得る、実行することと、該復号化出力から取り出された第３のデータセット又は第１のデータセットのうちの一方に少なくとも部分的に基づいてエラーレートを計算することと、パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応する該エラーレートの第１のインスタンスを格納することと、パラメーターの第２の値を選択して該第２の値に対応するエラーカウントの第２のインスタンスを格納することと、エラーレートの第１のインスタンスとエラーレートの第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいて、第１の値及び第２の値のうちの一方を選択することとを含む。第２の値を選択することは、第１の値に少なくとも部分的に基づいて検索方向を確定することと、検索値とステップサイズとを用いることであって、第２の値を計算する、用いることとを含む。幾つかの場合には、第３のデータセットは、ハード判定出力のセットである。様々な場合には、ステップサイズはプログラマブルである。
【０００９】
幾つかの場合には、出力は、復号化出力から取り出された第３のデータセットである。そのような幾つかの場合には、エラーレートを計算することは、第３のデータセットのインスタンスを既知データセットと比較することと、該既知データセットの対応するインスタンスと等しくない該第３のデータセットのインスタンスの数をカウントすることであって、エラーレートを得る、カウントすることとを含む。他の場合には、出力は、軟データを含む第１のデータセットである。そのような幾つかの場合には、エラーレートを計算することは、軟データのインスタンスをしきい値と比較することと、しきい値未満の軟データのインスタンスの数をカウントすることであって、エラーレートを得る、カウントすることとを含む。特定の場合には、しきい値はプログラマブルである。
【００１０】
本発明の様々な実施の形態は、データ検出器回路と信頼性モニター回路とを備えるデータ処理システムを提供する。データ検出器回路は、データセットにデータ検出アルゴリズムを適用して、軟データを含む検出出力を得るように動作可能である。信頼性モニター回路は、軟データに少なくとも部分的に基づいてプロキシエラーカウントを確定し、該プロキシエラーカウントに少なくとも部分的に基づいてデータ処理システムの動作を統御するパラメーターを修正するように動作可能である。幾つかの場合には、本発明の上述した実施の形態は、ストレージデバイス又は受信デバイスの一部として実施される。幾つかの場合には、本発明の上述した実施の形態は、集積回路の一部として実施される。
【００１１】
上述した実施の形態の幾つかの場合には、データ検出アルゴリズムは最大事後データ検出アルゴリズムである。他の場合には、データ検出アルゴリズムはビタビ検出アルゴリズムである。幾つかの場合には、データ処理システムは、検出出力から取り出されたものにデータ復号化アルゴリズムを適用して、復号化出力を得るように動作可能なデータ復号化器回路を更に備える。幾つかの場合には、データ復号化アルゴリズムは低密度パリティチェックアルゴリズムである。
【００１２】
幾つかの場合には、信頼性モニター回路は、軟データのインスタンスをしきい値と比較するように動作可能な比較器回路と、軟データのインスタンスがしきい値未満である場合には、インクリメントしてプロキシエラーカウントを得るように動作可能なカウンター回路とを備える。そのような幾つかの場合には、しきい値はプログラマブルである。そのような場合の変形形態では、信頼性モニター回路は、パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応するプロキシエラーカウントの第１のインスタンスを格納し、パラメーターの第２の値を選択して第１の値に対応するプロキシエラーカウントの第２のインスタンスを格納し、プロキシエラーカウントの第１のインスタンスとプロキシエラーカウントの第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいての第１の値及び第２の値のうちの一方を選択するように動作可能なパラメーター修正制御回路を更に備える。幾つかの特定の場合には、パラメーターの第２の値を選択することは、第１の値に少なくとも部分的に基づいて検索方向を確定することと、検索値とステップサイズとを用いることであって、第２の値を計算する、用いることとを含む。幾つかの場合には、ステップサイズはプログラマブルである。他の場合には、パラメーターの第１の値を選択することは、検索される複数の値のうちの１つを選択することを含み、パラメーターの第２の値を選択することは、検索される複数の値のうちの別のものを選択することを含む。
【００１３】
本発明の他の実施の形態は、データ処理のための方法であって、データ検出器回路を用いてデータ検出アルゴリズムをデータセットに対して実行することであって、軟データを含む検出出力を得る、実行することと、軟データのインスタンスをしきい値と比較することと、該軟データのインスタンスとしきい値との比較に少なくとも部分的に基づいてプロキシエラーカウント値を修正することと、プロキシエラーカウントに少なくとも部分的に基づいてパラメーター値を選択することであって、該パラメーター値は、データ処理回路の動作を統御する、選択することと、を含む、データ処理のための方法を提供する。上述した実施の形態の幾つかの場合には、データセットは、既知データパターン又は未知データパターンとすることができるデータのパターンを含む。
【００１４】
上述した実施の形態の幾つかの場合には、検出出力は第１の検出出力であり、軟データは第１の軟データであり、パラメーター値は第１のパラメーター値であり、プロキシエラーカウントは第１のプロキシエラーカウントであり、データセットは第１のデータセットである。そのような場合には、本方法は、データ検出アルゴリズムを第２のデータセットに対して実行することであって、第２の軟データを含む第２の検出出力を得る、実行することと、第２の軟データのインスタンスをしきい値と比較することと、第２の軟データのインスタンスとしきい値との比較に少なくとも部分的に基づいて第２のプロキシエラーカウント値を修正することと、第１のプロキシエラーカウントを第２のプロキシエラーカウントと比較することとを更に含むことができる。そのような場合には、第１のパラメーター値を選択することは、第１のプロキシエラーカウントと第２のプロキシエラーカウントとの比較に基づく。幾つかの場合には、第１のパラメーター値は、データ処理回路に適用される一方、データ検出器回路は、データ検出アルゴリズムを第１のデータセットに適用し、第２のパラメーター値は、データ処理回路に適用される一方、データ検出器回路は、データ検出アルゴリズムを第２のデータセットに適用する。
【００１５】
この概要は、本発明の幾つかの実施の形態の概略のみを提供するものである。本発明の多くの他の目的、特徴、利点及び他の実施の形態は、以下の詳細な説明、添付の特許請求の範囲及び添付の図面からより完全に明らかとなるであろう。
【００１６】
図面を参照することにより、本発明の様々な実施形態の更なる理解を実現することができ、これらの実施形態については明細書の残りの部分で説明する。図面において、同様の参照符号がいくつかの図面の全てにわたって類似の構成要素を指すのに用いられている。幾つかの場合には、小文字からなるサブラベルが、複数の類似の構成要素のうちの１つを表すように参照符号に関連付けられている。存在するサブラベルを指定することなく参照符号が参照されるとき、そのような複数の類似の構成要素全てを指すことが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の１つ又は複数の実施形態による信頼性データに基づく調節回路部を備えるデータ処理回路を示す図である。
【図２】本発明の幾つかの実施形態による信頼性に基づく調節回路の１つの実施態様を示す図である。
【図３】本発明の１つ又は複数の実施形態による軟データに基づく調節回路部を有する読取りチャネルを備えるストレージデバイスを示す図である。
【図４】本発明の幾つかの実施形態による軟データに基づく調節回路部を有する受信機を備えるデータ伝送システムを示す図である。
【図５】本発明の様々な実施形態による信頼性に基づくパラメーター調節のための方法を示す流れ図である。
【図６】本発明の様々な実施形態による信頼性に基づくパラメーター調節のための方法を示す流れ図である。
【図７】本発明の幾つかの実施形態による信頼性に基づくパラメーター調節のための別の方法を示す流れ図である。
【図８】本発明の１つ又は複数の実施形態によるストリームライン検索を有する既知データに基づく調節回路部を備えるデータ処理回路を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
本発明は、システム特徴付けのためのシステム及び方法に関し、より詳細には、データ処理システムを調節するためのシステム及び方法に関する。
【００１９】
本発明の様々な実施形態は、任意の利用可能なデータセットから生成された信頼性データを用いてデータ処理回路を調節及び／又はテストするためのシステム及び方法を提供する。信頼性データは、規定された既知データセット又は未知のユーザーデータセットを含む任意の利用可能なデータセットから取り出すことができる。幾つかの場合には、調節は、データ処理回路を調節するのに用いられる時間が削減されるように様々なチャネルパラメーターを調節するメトリックの使用を考慮に入れる。本発明の１つ又は複数の実施形態は、既知データパターンを維持するのに必要とされるストレージエリアを削減するという利点を提供し、かつ／又はテスト時間及び／若しくは調節時間の削減を可能にする。
【００２０】
図１を参照すると、データ処理回路１００が示されている。データ処理回路１００は、検出器出力１９５の一部として含まれる軟データを監視して、監視した軟データに基づいて１つ又は複数のパラメーターを修正するように動作可能な信頼性モニター回路１６０を備える。データ処理回路１００はアナログ処理回路１０８を備える。アナログ処理回路１０８は、アナログフロントエンド回路１１０と、タイミング及び制御をアナログフロントエンド回路１１０に与えるように動作可能なフロントエンド処理ループ１１１と、ターゲットに基づくフィルタリングフィードバックをアナログフロントエンド回路１１０に与えるように動作可能なターゲット回路１０９とを備える。アナログフロントエンド回路１１０には、当該技術分野において知られているようなアナログフィルター及び増幅器回路が含まれ得るが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、アナログフロントエンド回路１１０の一部として含めることができる種々の回路部を認識するであろう。幾つかの場合には、アナログフロント回路１１０の一部として含まれる可変利得増幅器の利得を修正可能とすることができ、アナログフロントエンド回路１１０に含まれるアナログフィルターの遮断周波数及びブーストを修正可能とすることができる。フロントエンド処理ループ１１１は、当該技術分野において知られているアナログフロントエンド回路１１０のタイミングを与えるように動作可能な任意の処理ループとすることができる。幾つかの場合には、そのようなフロントエンド処理ループ１１１は、修正可能とすることができるＤＣループオフセットを含む。ターゲット回路１０９は、当該技術分野において知られている任意の、ターゲットに基づくフィルター回路とすることができる。様々な場合において、ターゲット回路１０９によって用いられるターゲットは修正可能とすることができる。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々の、ターゲットに基づくフィルター回路及びフロントエンド処理ループを認識するであろう。
【００２１】
アナログフロントエンド回路１１０は、アナログ信号１０５を受信する。アナログフロントエンド回路１１０は、アナログ信号１０５を処理し、処理済みのアナログ信号１１２をアナログ／デジタル変換器回路１１４に与える。幾つかの場合には、アナログ信号１０５は、ストレージ媒体（図示せず）に対して配置される読取り／書込みヘッドアセンブリ（図示せず）から取り出される。他の場合には、アナログ信号１０５は、伝送媒体（図示せず）からの信号を受信するように動作可能な受信機回路（図示せず）から取り出される。伝送媒体は、有線又は無線とすることができる。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、アナログ入力１０５を取り出すことができる種々の信号源を認識するであろう。
【００２２】
アナログ／デジタル変換器回路１１４は、処理済みのアナログ信号１１２を対応する一連のデジタルサンプル１１６に変換する。アナログ／デジタル変換器回路１１４は、アナログ入力信号に対応するデジタルサンプルを生成することが可能な、当該技術分野において知られている任意の回路とすることができる。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々のアナログ／デジタル変換器回路を認識するであろう。デジタルサンプル１１６は等化器回路１２０に与えられる。等化器回路１２０は、デジタルサンプル１１６に等化アルゴリズムを適用して等化出力１２５を得る。本発明の幾つかの実施形態では、等化器回路１２０は、当該技術分野において知られているようなデジタル有限インパルス応答フィルター回路である。等化出力１２５は、データ検出器回路１３０に与えられる。幾つかの場合には、等化器１２０は、データ検出器回路１３０が処理に利用可能になるまで１つ又は複数の符号語を保持するのに十分なメモリを備える。
【００２３】
データ検出器回路１３０は、受信した符号語又はデータセットにデータ検出アルゴリズムを適用するように動作可能であり、幾つかの場合には、データ検出器回路１３０は、２つ以上の符号語を並列に処理することができる。本発明の幾つかの実施形態では、データ検出器回路１３０は、当該技術分野において知られているようなビタビアルゴリズムデータ検出器回路である。本発明の他の実施形態では、データ検出器回路１３０は、当該技術分野において知られているような最大事後データ検出器回路である。一般的なフレーズ「ビタビデータ検出アルゴリズム」又は「ビタビアルゴリズムデータ検出器回路」は、任意のビタビ検出アルゴリズム若しくはビタビアルゴリズム検出器回路又はそれらの変形を意味するように、それらの最も広い意味で用いられることに留意されたい。それらの変形には、双方向ビタビ検出アルゴリズム又は双方向ビタビアルゴリズム検出器回路が含まれるが、これらに限定されるものではない。また、一般的なフレーズ「最大事後データ検出アルゴリズム」又は「最大事後データ検出器回路」は、任意の最大事後検出アルゴリズム若しくは最大事後検出器回路又はそれらの変形を意味するようにそれらの最も広い意味で用いられる。それらの変形には、単純化された最大事後データ検出アルゴリズム及び最大対数最大事後データ検出アルゴリズム、又は対応する検出器回路が含まれるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々のデータ検出器回路を認識するであろう。データ検出器回路１３０は、等化器回路１２０又は中央メモリ回路１５０からのデータセットが利用可能であることに基づいて始動される。
【００２４】
完了すると、データ検出器回路１３０は検出器出力１９５を与える。検出器出力１９５は軟データを含む。フレーズ「軟データ」は、本明細書において用いられるとき、信頼性データを意味するようにその最も広い意味で用いられ、該信頼性データの各インスタンスは、対応するビット位置又はビット位置群が正しく検出されている尤度を示す。本発明の幾つかの実施形態では、軟データ又は信頼性データは当該技術分野において知られているような対数尤度比データである。検出出力１９５は局所インターリーバー回路１４２及び信頼性モニター回路１６０に与えられる。局所インターリーバー回路１４２は、検出出力として含まれるデータセットの副部分（sub-portion）（すなわち局所チャンク）をシャッフルするように動作可能であり、インターリーブされた符号語１４６を与え、該インターリーブされた符号語１４６は中央メモリ回路１５０に格納される。インターリーバー回路１４２は、データセットをシャッフルして再配列されたデータセットを得ることが可能な、当該技術分野において知られている任意の回路とすることができる。インターリーブされた符号語１４６は中央メモリ回路１５０に格納される。
【００２５】
データ復号化器回路１７０が利用可能になると、以前に格納されたインターリーブされた符号語１４６が、復号化器入力１５２として中央メモリ回路１５０からアクセスされ、当該技術分野において知られているように大域的にインターリーブされ、データ復号化アルゴリズムが適用される。本発明の幾つかの実施形態では、データ復号化アルゴリズムは当該技術分野において知られているような低密度パリティチェックアルゴリズムである。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる他の復号化アルゴリズムを認識するであろう。データ復号化アルゴリズムが所与のデータセットに対して完了すると、復号化アルゴリズムが収束した（すなわち、結果のデータセットが、パリティエラーがないことによって示されるように、最初に書き込まれたデータと一致する）か否かが判断される。復号化アルゴリズムが収束したと判断された場合、その結果の復号化データセットは硬判定出力１７２としてデインターリーバー回路１８０に与えられる。デインターリーバー回路１８０は、データを再配列して、データに適用された大域インターリーブ及び局所インターリーブの双方を逆に行い、デインターリーブされた出力１８２を得る。デインターリーブされた出力１８２は硬判定出力回路１９０に与えられる。硬判定出力回路１９０は、順序がばらばらで完了する可能性があるデータセットを再順序付けし、該データセットの元の順序に戻すように動作可能である。次に、元の順序のデータセットは硬判定出力１９２として与えられる。
【００２６】
代替的に、データ復号化アルゴリズムが収束しなかったと判断された（すなわち、パリティエラーが残っている）場合、完了したデータセットは、当該技術分野において知られているように大域的にデインターリーブされ、復号化器出力１５４として中央メモリ回路１５０に再び書き込まれる。データ検出器回路１３０が利用可能になると、以前に格納された復号化器出力１４８が、中央メモリ回路１５０からアクセスされ、デインターリーバー回路１４４によって局所的にデインターリーブされる。デインターリーバー回路１４４は、インターリーバー回路１４２によって最初に実行されたシャフルを逆にするように復号化器出力１４８を再配列する。その結果のデインターリーブされた出力１９７は、データ検出器回路１３０に与えられる。
【００２７】
幾つかの場合には、信頼性モニター回路１６０は、テスト／調節期間中にのみ動作する。他の場合には、信頼性モニター回路１６０は連続的に動作される。信頼性モニター回路１６０は、検出器出力１９５を受信し、データ処理回路１００の動作を統御するのに用いられる１つ又は複数のパラメーターを修正する。パラメーターは、入出力１６４を介してアナログ処理回路１０８に通信することができ、入出力１６２を介してデータ検出器回路１３０に通信することができ、かつ／又は入出力１６６を介してデータ復号化器回路１７０に通信することができる。パラメーターは、アナログフロントエンド回路１１０に含まれる可変利得増幅器の利得、アナログフロントエンド回路１１０に含まれるアナログフィルターの遮断周波数及び／若しくはブースト、フロントエンド処理ループ１１１のＤＣループオフセット、ターゲット回路１０９によって用いられるターゲット、データ検出器回路１３０によって用いられる検出器パラメーター、並びに／又はデータ復号化器回路１７０によって用いられる復号化器パラメーターとすることができるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態による信頼性モニター回路１６０によって調整することができる種々のパラメーターを認識するであろう。
【００２８】
信頼性モニター回路１６０は、検出器出力１９５の一部として受信された軟データを比較し、その軟データを信頼性しきい値１６８と比較する。幾つかの場合には、信頼性しきい値１６８はユーザープログラマブルである。他の場合には、信頼性しきい値１６８は固定値である。データが処理されているとき、信頼性モニター回路１６０は、入出力１６２、入出力１６４及び入出力１６６を介してそれぞれの回路に与えられる１つ又は複数のパラメーターの値（複数の場合もあり）を選択する。次に、データは、選択されたパラメーター値を用いて或る時間期間にわたってデータ処理回路１００を通じて処理される。信頼性モニター回路１６０が、検出出力１９５からの軟データが信頼性しきい値１６８未満であると判断した場合、エラーが示される。このエラーはエラーレートに組み込まれる。１つ又は複数のパラメーターの１つ又は複数の新たな値が選択され、少なくとも信頼性モニター回路１６０が、対応するエラーレートが許容可能であると判断するまで、再テストのプロセスが続く。幾つかの場合には、軟データの移動平均又は他の累算値が、信頼性しきい値１６８と比較するのに用いられる。そのような場合には、リセット入力１６９を用いて、パラメーター値が信頼性モニター回路１６０によって変更されるごとに、累算値又は移動平均をリセットすることができる。様々な場合には、リセット入力１６９は、信頼性モニター回路１６０の内部の信号である。
【００２９】
図２を参照すると、本発明の幾つかの実施形態による信頼性に基づく調節回路２００の１つの実施態様が示されている。信頼性に基づく調節回路２００は、データ処理回路１００の信頼性モニター回路１６０の代わりに用いることができる。信頼性に基づく調節回路２００は、検出出力（図示せず）の一部として受信された軟データ２０３を信頼性しきい値２０５と比較するように動作可能な比較器回路２１０を備える。幾つかの場合には、信頼性しきい値２０５はユーザープログラマブルである。他の場合には、信頼性しきい値２０５は固定値である。軟データ２０３のインスタンスが信頼性しきい値２０５未満である場合、比較器出力２２０はハイにアサートされる。対照的に、軟データ２０３のインスタンスが信頼性しきい値２０５以上である場合、比較器出力２２０はローにアサートされる。比較器出力２２０がハイにアサートされる（軟データ２０３のインスタンスに対応する）各クロック周期において、プロキシエラーカウンター回路２３０がインクリメントする。プロキシエラーカウンター回路２３０からのカウントは、パラメーター修正制御回路２５０に与えられるプロキシエラーカウント２２５である。
【００３０】
パラメーター修正制御回路２５０は、更新済みパラメーター２６０として最初に与えられる初期パラメーター値２４０を受信する。更新済みパラメーター２６０は、データ処理回路内の１つ又は複数の機能の動作を統御するパラメーターとして与えられる。幾つかの例として、更新済みパラメーター２６０は、可変利得増幅器の利得、アナログフィルターの遮断周波数及び／若しくはブースト、ＤＣループオフセット、ターゲット、データ検出器回路によって用いられる検出器パラメーター、並びに／又はデータ復号化器回路によって用いられる復号化器パラメーターとすることができるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、パラメーター修正制御回路２５０によって調整することができる種々のパラメーターを認識するであろう。
【００３１】
本発明の１つの特定の実施形態では、パラメーター修正制御回路２５０は、規定されたデータ処理期間数の間、初期パラメーター２４０を更新済みパラメーター２６０として用い続けることを可能にする。初期パラメーター２４０は、事前にプログラムされたデフォルト値とすることができる。その期間が完了すると、プロキシエラーカウント２２５が格納され、パラメーター修正回路２５０は、更新済みパラメーター２６０として与えられる新たな値を選択し、プロキシエラーカウンター回路２３０は、リセット信号２２３のアサートによってリセットされる。データ処理は、再び、更新パラメーター２６０の新たに選択された値を用いて規定された期間数の間、実行できるようになる。このプロセスは、更新済みパラメーター２６０の全ての可能な値がテストされると完了する。最後に、更新済みパラメーター２６０がいかなる回路を制御していようとも、最小のプロキシエラーカウント２２５を与えた更新済みパラメーター２６０の値が、その回路の調節されたパラメーターとして選択される。このプロセスは、以下の疑似コードに示されている。
／＊ 初期パラメーター値をテストする
初期パラメーター２４０を更新済みパラメーター２６０として選択する；
リセット２２５をアサートする；
リセット２２５をデアサートする；
Ｆｏｒ（ｉ＝０〜テスト期間の終了）
｛
Ｉｆ（軟データ［ｉ］２０３＜信頼性しきい値２０５）
｛
プロキシエラーカウント２２５＋＝１
｝
｝
パラメーターエラーカウント＝プロキシエラーカウント２２５；
パラメーター値＝初期パラメーター２４０；
／＊ 全ての他のパラメーター値をテストする ＊／
リセット２２５をアサートする；
リセット２２５をデアサートする；
Ｆｏｒ（更新済みパラメーター２６０の各値）
｛
更新済みパラメーター２６０の次の値を選択する；
Ｆｏｒ（ｉ＝０〜テスト期間の終了）
｛
Ｉｆ（軟データ［ｉ］２０３＜信頼性しきい値２０５）
｛
プロキシエラーカウント２２５＋＝１
｝
｝
Ｉｆ（プロキシエラーカウント２２５＜パラメーターエラーカウント）
｛
パラメーターエラーカウント＝プロキシエラーカウント２２５；
パラメーター値＝選択された次の値；
｝
｝
パラメーター値を選択する
【００３２】
更に他の場合には、パラメーター修正制御回路２５０は、プロキシエラーカウント２２５が、規定しきい値未満になるまで検索を制限することによってパラメーター検索を制限するように修正することができる。規定しきい値未満のプロキシエラーカウント２２５を与えるパラメーター値が見つかると、そのパラメーター値が選択され、パラメーター検索プロセスは完了する。そのような場合、規定しきい値は、値をプログラマブル又は固定とすることができる。このプロセスは、以下の疑似コードで示される。
／＊ 初期パラメーター値をテストする
初期パラメーター２４０を更新済みパラメーター２６０として選択する；
リセット２２５をアサートする；
リセット２２５をデアサートする;
Ｆｏｒ（ｉ＝０〜テスト期間の終了）
｛
Ｉｆ（軟データ［ｉ］２０３＜信頼性しきい値２０５）
｛
プロキシエラーカウント２２５＋＝１
｝
｝
Ｉｆ（プロキシエラーカウント＜規定しきい値）
｛
更新済みパラメーター２６０＝初期パラメーター２４０；
プロセスを終了する
Ｅｌｓｅ
｛
パラメーターエラーカウント＝プロキシエラーカウント２２５；
パラメーター値＝初期パラメーター２４０；
｝
／＊ 規定しきい値が達成されるまで他のパラメーター値をテストする ＊／
リセット２２５をアサートする；
リセット２２５をデアサートする;
Ｆｏｒ（更新済みパラメーター２６０の各値）
｛
更新済みパラメーター２６０の次の値を選択する；
Ｆｏｒ（ｉ＝０〜テスト期間の終了）
｛
Ｉｆ（軟データ［ｉ］２０３＜信頼性しきい値２０５）
｛
プロキシエラーカウント２２５＋＝１
｝
｝
Ｉｆ（プロキシエラーカウント＜規定しきい値）
｛
更新済みパラメーター２６０＝選択された次の値；
プロセスを終了
｝
Ｅｌｓｅ Ｉｆ（プロキシエラーカウント２２５＜パラメーターエラーカウント）
｛
パラメーターエラーカウント＝プロキシエラーカウント２２５；
パラメーター値＝選択された次の値;
｝
｝
【００３３】
更に他の場合には、更新済みパラメーター２６０の全て値をテストする必要がないようなより高機能な（sophiscated）テストプロセスを用いることができる。そのようなストリームラインテストプロセスは、以下の図５及び図６に関して以下で論述するものと一致して行うことができる。そのような場合には、パラメーター修正制御回路２５０の動作は、更新済みパラメーター２６０の許容可能な値を特定するストリームライン手法を用いるように修正することができる。図５及び図６に関して以下で論述する方法は、既知データセットから取り出された実際のエラーカウントに基づく種々のパラメーター値を検索するように修正することができることに留意されたい。そのような手法は、図８〜図１０に関して以下で論述される。
【００３４】
図３を参照すると、本発明の１つ又は複数の実施形態による信頼性データに基づく調節回路部を有する読取りチャネル回路３１０を備えるストレージデバイス３００が示されている。ストレージシステム３００は、例えば、ハードディスクドライブとすることができる。ストレージシステム３００はまた、前置増幅器３７０と、インターフェースコントローラー３２０と、ハードディスクコントローラー３６６と、モーターコントローラー３６８と、スピンドルモーター３７２と、ディスクプラッター３７８と、読取り／書込みヘッドアセンブリ３７６とを備える。インターフェースコントローラー３２０は、ディスクプラッター３７８へ／からのデータのアドレス指定及びタイミングを制御する。ディスクプラッター３７８上のデータは、読取り／書込みヘッドアセンブリ３７６がディスクプラッター３７８の上方で適切に位置決めされたときに該アセンブリが検出することができる磁気信号の群からなる。１つの実施形態では、ディスクプラッター３７８は、水平記録方式又は垂直記録方式のいずれかに従って記録された磁気信号を含む。
【００３５】
通常の読取り動作では、読取り／書込みヘッドアセンブリ３７６は、モーターコントローラー３６８によってディスクプラッター３７８上の所望のデータトラックの上方に正確に位置決めされる。モーターコントローラー３６８は、ディスクプラッター３７８に対して読取り／書込みヘッドアセンブリ３７６の位置決めも行うし、ハードディスクコントローラー３６６の指示のもとでディスクプラッター３７８上の適切なデータトラックに読取り／書込みヘッドアセンブリを移動させることによってスピンドルモーター３７２の駆動も行う。スピンドルモーター３７２は、定められたスピン速度（ＲＰＭ）でディスクプラッター３７８をスピンさせる。読取り／書込みヘッドアセンブリ３７８が適切なデータトラックに隣接して位置決めされると、ディスクプラッター３７８がスピンドルモーター３７２によって回転されながら、ディスクプラッター３７８上のデータを表す磁気信号が読取り／書込みヘッドアセンブリ３７６によって検知される。検知された磁気信号は、ディスクプラッター３７８上の磁気データを表す連続した微小アナログ信号として与えられる。この微小アナログ信号は、読取り／書込みヘッドアセンブリ３７６から前置増幅器３７０を介して読取りチャネル回路３１０に転送される。前置増幅器３７０は、ディスクプラッター３７８からアクセスされた微小アナログ信号を増幅するように動作可能である。次に、読取りチャネル回路３１０は、受信したアナログ信号を復号化及びデジタル化して、ディスクプラッター３７８に元々書き込まれていた情報を再生する。このデータは、読取りデータ３０３として受信回路に与えられる。書込み動作は、先行する読取り動作の実質的に逆であり、書込みデータ３０１が読取りチャネル回路３１０に与えられる。このデータは、その後、符号化され、ディスクプラッター３７８に書き込まれる。
【００３６】
テスト動作中、又は幾つかの場合には標準的なデータ読取り動作中、信頼性データに基づく調節制御回路部は、読取りチャネル回路３１０の動作を統御する１つ又は複数のパラメーターを修正し、信頼性しきい値が満たされるか否かを監視し続ける。このように、読取りチャネル回路３１０内のパラメーターを修正して、読取りチャネル回路３１０の性能を改善することができる。信頼性データに基づく調節制御回路部を備える処理回路は、図１及び図２に関して上記で論述したものと同様に実施することができ、かつ／又は図５、図６、及び／若しくは図７に関して以下で論述するものと同様に動作することができる。他の場合には、信頼性データに基づく調節制御回路部は、図５及び図６に関して以下で論述するものと同様のストリームライン検索を用いる図８に関して以下で論述するものと同様の既知データに基づく調節制御回路部によって置き換えることができる。
【００３７】
ストレージシステムは、ＳＡＴＡ、ＳＡＳ又は当該技術分野において知られている他のストレージ技術を利用することができることに留意すべきである。また、ストレージシステム３００は、例えばＲＡＩＤ（低価格ディスク冗長アレイ又は独立ディスク冗長アレイ）に基づくストレージシステム等のより大きなストレージシステムに統合することができることにも留意すべきである。ストレージシステム３００の様々な機能又はブロックをソフトウェア又はファームウェアのいずれかに実装することができる一方、他の機能又はブロックはハードウェアに実装されることにも留意すべきである。
【００３８】
図４を参照すると、本発明の幾つかの実施形態による信頼性データに基づく調節回路部を有する受信機４２０を備えるデータ伝送システム４００が示されている。データ伝送システム４００は、当該技術分野において知られているような転送媒体４３０を介して符号化された情報を送信するように動作可能な送信機４１０を備える。符号化されたデータは、受信機４２０によって転送媒体４３０から受信される。受信機４２０は、信頼性データに基づく調節回路部を組み込んでいる。受信されたデータを処理している間、受信されたデータは、アナログ信号から一連の対応するデジタルサンプルに変換され、デジタルサンプルは等化されて、等化出力が得られる。等化出力は、次に、データ検出器回路とデータ復号化器回路との双方を備えるデータ処理回路に与えられる。データは、異なるデータセットに適用される処理反復回数間の変動を許容する中央メモリを介してデータ復号化器とデータ検出器回路との間で伝達される。転送媒体４３０は、当該技術分野において知られているような任意の転送媒体とすることができることに留意すべきである。任意の転送媒体には、無線媒体、光媒体、又は有線媒体が含まれるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々の転送媒体を認識するであろう。
【００３９】
テスト動作中、又は幾つかの場合には標準的なデータ読取り動作中、信頼性データに基づく調節制御回路部は、受信機４２０の動作を統御する１つ又は複数のパラメーターを修正し、信頼性しきい値が満たされるか否かを監視し続ける。このように、受信機４２０内のパラメーターを修正して受信機４２０の性能を改善することができる。信頼性データに基づく調節制御回路部を備える処理回路は、図１及び図２に関して上記で論述したものと同様に実施することができ、かつ／又は図５、図６及び／若しくは図７に関して以下で論述するものと同様に動作することができる。他の場合には、信頼性データに基づく調節制御回路部は、図５及び図６に関して以下で論述するものと同様のストリームライン検索を用いる図８に関して以下で論述するものと同様の既知データに基づく調節制御回路部によって置き換えることができる。
【００４０】
図５を参照すると、流れ図５００が、本発明の様々な実施形態による信頼性に基づくパラメーター調節のための方法を示している。流れ図５００に従って、初期パラメーターが検索のために選択される（ブロック５０５）。選択されたパラメーターは、データ処理回路の或る部分の動作を統御する任意のパラメーターとすることができる。幾つかの例として、パラメーターは、可変利得増幅器の利得、アナログフィルターの遮断周波数及び／若しくはブースト、ＤＣループオフセット、ターゲット、データ検出器回路によって用いられる検出器パラメーター、並びに／又はデータ復号化器回路によって用いられる復号化器パラメーターとすることができるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、図５の方法によって調整することができる種々のパラメーターを認識するであろう。選択されたパラメーターの現在の値が読み取られ、変数ＰＡＲＡＭとして格納される（ブロック５１０）。更新済みパラメーター（すなわち、データ処理回路に適用されるパラメーター）は、現在の値と等しく設定され、該更新済みパラメーターは、データ処理回路に適用される（ブロック５１５）。更新済みパラメーターを処理回路に適用することは、更新済みパラメーターを用いて或る期間の間、処理回路を動作させることを含む。この処理が行われるとき、データ検出器回路からの軟データの幾つのインスタンスが、規定しきい値未満であるのかのカウントが行われ、プロキシエラーカウントが得られる。この処理が行われると、プロキシエラーカウントが読み取られ、変数ＣＯＵＮＴとして格納される（ブロック５２０）。その後、プロキシエラーカウント値はリセットされる。
【００４１】
次に、選択されたパラメーターの別の値がテストされずに残っているか否かが判断される（ブロック５３０）。別の値がテストされずに残っている場合（ブロック５３０）、検索方向が計算される（ブロック６００）。検索方向を選択するこのプロセスは、図６に関して以下でより詳細に論述される。検索方向が特定されると（ブロック６００）、更新済みパラメーターの値が検索方向及びステップサイズに基づいて計算される（ブロック５３５）。幾つかの場合には、ステップサイズはユーザープログラマブルとすることができる一方、他の場合には、ステップサイズは固定とすることができる。本発明の幾つかの実施形態では、更新済みパラメーターの値は、以下の疑似コードに従って計算される。
Ｉｆ（検索方向は正である）
｛
更新済みパラメーター＝更新済みパラメーター＋ステップサイズ
｝
Ｅｌｓｅ
｛
更新済みパラメーター＝更新済みパラメーター−ステップサイズ
｝
次に、この新たな更新済みパラメーターは、データ処理回路に適用される（ブロック５４０）。更新済みパラメーターを処理回路に適用することは、更新済みパラメーターを用いて或る期間の間、処理回路を動作させることを含む。この処理が行われるとき、データ検出器回路からの軟データの幾つのインスタンスが規定しきい値未満であるのかのカウントが行われ、プロキシエラーカウントが得られる。処理が行われると、プロキシエラーカウントが読み取られ、変数ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴとして格納される（ブロック５４５）。その後、プロキシエラーカウント値はリセットされる。
【００４２】
ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値がＣＯＵＮＴの値以下であるか否かが判断される（ブロック５５０）。ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値がＣＯＵＮＴの値以下である場合（ブロック５５０）、変数ＣＯＵＮＴは、ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値と等しく設定され、ＰＡＲＡＭの値は、更新済みパラメーターの値と等しく設定される（ブロック５５５）。ブロック５３０、６００、５３５、５４０、５４５、５５０、５５５のプロセスは、選択されたパラメーターの全ての値がテストされるまで繰り返す。
【００４３】
テストされる、選択されたパラメーターの値がなくなると（ブロック５３０）、又はＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値がＣＯＵＮＴの値よりも大きい場合（ブロック５５０）、選択されたパラメーターの許容可能な値が変数ＰＡＲＡＭに格納済みであり、その値は、データ処理回路に適用される（ブロック５６０）。次に、データ処理回路の別のパラメーターがテストされずに残っているか否かが判断される（ブロック５６５）。別のパラメーターがテストされずに残っている場合（ブロック５６５）、テストされる次のパラメーターが選択され（ブロック５７５）、ブロック５１０〜５６５（ブロック６００を含む）のプロセスが、新たに選択されたパラメーターに対して繰り返される。そうではなく、テストされずに残っている他のパラメーターがない場合（ブロック５６５）、テストプロセスは終了する（ブロック５７０）。
【００４４】
図６を参照すると、流れ図６００が、検索方向を確定するための、本発明の幾つかの実施形態による方法を示している。流れ図６００は、図５からの同じ番号のブロックの方法を概説している。流れ図６００に従って、更新済みパラメーターが流れ図５００のプロセスから受信される（ブロック６０２）。更新済みパラメーターの次の値（すなわち、規定量だけ増加された更新済みパラメーターの値）が選択される（ブロック６０５）。更新済みパラメーターの次の値は、データ処理回路に適用される（ブロック６１０）。更新済みパラメーターの次の値を処理回路に適用することは、更新済みパラメーターを用いて或る期間の間、処理回路を動作させることを含む。この処理が行われるとき、データ検出器回路からの軟データの幾つのインスタンスが規定しきい値未満であるのかのカウントが行われ、プロキシエラーカウントが得られる。この処理が行われると、プロキシエラーカウントが読み取られ、変数ＰＬＵＳ＿ＣＯＵＮＴとして格納される（ブロック５２０）。その後、プロキシエラーカウント値はリセットされる。
【００４５】
次に、更新済みパラメーターの前の値（すなわち、規定量だけ減少された更新済みパラメーターの値）が選択される（ブロック６２０）。更新済みパラメーターの前の値がデータ処理回路に適用される（ブロック６２５）。更新済みパラメーターの前の値を処理回路に適用することは、更新済みパラメーターを用いて或る期間の間、処理回路を動作させることを含む。この処理が行われるとき、データ検出器回路からの軟データの幾つのインスタンスが規定しきい値未満であるのかのカウントが行われ、プロキシエラーカウントが得られる。処理が行われると、プロキシエラーカウントが読み取られ、変数ＭＩＮＵＳ＿ＣＯＵＮＴとして格納される（ブロック６３０）。その後、プロキシエラーカウント値はリセットされる。
【００４６】
次に、ＰＬＵＳ＿ＣＯＵＮＴの値がＭＩＮＵＳ＿ＣＯＵＮＴの値よりも大きいか否かが判断される（ブロック６３５）。ＰＬＵＳ＿ＣＯＵＮＴの値がＭＩＮＵＳ＿ＣＯＵＮＴの値よりも大きい場合（ブロック６３５）、検索方向は、負と等しく設定される（ブロック６５０）。そうでない場合、検索方向は正と等しく設定される（ブロック６４０）。次に、検索方向は、図５のプロセスについて用いるために返される（ブロック６６０）。
【００４７】
図７を参照すると、流れ図７００が本発明の幾つかの実施形態による信頼性に基づくパラメーター調節のための別の方法を示している。流れ図７００に従って、初期パラメーターが検索のために選択される（ブロック７０５）。選択されたパラメーターは、データ処理回路の或る部分の動作を統御する任意のパラメーターとすることができる。幾つかの例として、パラメーターは、可変利得増幅器の利得、アナログフィルターの遮断周波数及び／若しくはブースト、ＤＣループオフセット、ターゲット、データ検出器回路によって用いられる検出器パラメーター、並びに／又はデータ復号化器回路によって用いられる復号化器パラメーターとすることができるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、図７の方法によって調整することができる種々のパラメーターを認識するであろう。選択されたパラメーターの現在の値が読み取られ、変数ＰＡＲＡＭとして格納される（ブロック７１０）。更新済みパラメーター（すなわち、データ処理回路に適用されるパラメーター）は、現在の値と等しく設定され（ブロック７１５）、該更新済みパラメーターは、データ処理回路に適用される（ブロック７２０）。更新済みパラメーターを処理回路に適用することは、更新済みパラメーターを用いて或る期間の間、処理回路を動作させることを含む。この処理が行われるとき、データ検出器回路からの軟データの幾つのインスタンスが規定しきい値未満であるのかのカウントが行われ、プロキシエラーカウントが得られる。この処理が行われると、プロキシエラーカウントが読み取られ、変数ＣＯＵＮＴとして格納される（ブロック７２５）。その後、プロキシエラーカウント値はリセットされる。
【００４８】
次に、選択されたパラメーターの別の値がテストされずに残っているか否かが判断される（ブロック７３０）。別の値がテストされずに残っている場合（ブロック７３０）、更新済みパラメーターの次の値が選択される（ブロック７３５）。次に、この新たな更新済みパラメーターは、データ処理回路に適用される（ブロック７４０）。更新済みパラメーターを処理回路に適用することは、更新済みパラメーターを用いて或る期間の間、処理回路を動作させることを含む。この処理が行われるとき、データ検出器回路からの軟データの幾つのインスタンスが規定しきい値未満であるのかのカウントが行われ、プロキシエラーカウントが得られる。この処理が行われると、プロキシエラーカウントが読み取られ、変数ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴとして格納される（ブロック７４５）。その後、プロキシエラーカウント値はリセットされる。
【００４９】
ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値がＣＯＵＮＴの値以下であるか否かが判断される（ブロック７５０）。ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値がＣＯＵＮＴの値以下である場合（ブロック７５０）、変数ＣＯＵＮＴは、ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値と等しく設定され、ＰＡＲＡＭの値は、更新済みパラメーターの値と等しく設定される（ブロック７５５）。ブロック７３０〜７５５のプロセスは、選択されたパラメーターの全ての値がテストされるまで繰り返す。
【００５０】
選択されたパラメーターの値の全てがテストされると（ブロック７３０）、選択されたパラメーターの最良の利用可能な値が変数ＰＡＲＡＭに格納され、その値は、データ処理回路に適用される（ブロック７６０）。次に、データ処理回路の別のパラメーターがテストされずに残っているか否かが判断される（ブロック７６５）。別のパラメーターがテストされずに残っている場合（ブロック７６５）、テストされる次のパラメーターが選択され（ブロック７７５）、ブロック７１０〜７６５のプロセスが、新たに選択されたパラメーターに対して繰り返される。そうではなく、テストされずに残っている他のパラメーターがない場合（ブロック７６５）、テストプロセスは終了する（ブロック７７０）。
【００５１】
図８は、本発明の１つ又は複数の実施形態によるストリームライン検索を有する既知データに基づくモニター回路８６０を備えるデータ処理回路８００を示している。データ処理回路８００は、アナログ処理回路８０８を備える。アナログ処理回路８０８は、アナログフロントエンド回路８１０と、タイミング及び制御をアナログフロントエンド回路８１０に提供するように動作可能なフロントエンド処理ループ８１１と、ターゲットに基づくフィルタリングフィードバックをアナログフロントエンド回路８１０に提供するように動作可能なターゲット回路８０９とを備える。アナログフロントエンド回路８１０は、当該技術分野において知られているようなアナログフィルター及び増幅器回路を含むことができるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、アナログフロントエンド回路８１０の一部として含めることができる種々の回路部を認識するであろう。幾つかの場合には、アナログフロント回路８１０の一部として含まれる可変利得増幅器の利得を修正可能とすることができ、アナログフロントエンド回路８１０に含まれるアナログフィルターの遮断周波数及びブーストを修正可能とすることができる。フロントエンド処理ループ８１１は、当該技術分野において知られているアナログフロントエンド回路８１０にタイミングを提供するように動作可能な任意の処理ループとすることができる。幾つかの場合には、そのようなフロントエンド処理ループ８１１は、修正可能とすることができるＤＣループオフセットを含む。ターゲット回路８０９は、当該技術分野において知られている任意の、ターゲットに基づくフィルター回路とすることができる。様々な場合において、ターゲット回路８０９によって用いられるターゲットは修正可能とすることができる。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々の、ターゲットに基づくフィルター回路及びフロントエンド処理ループを認識するであろう。
【００５２】
アナログフロントエンド回路８１０は、アナログ信号８０５を受信する。アナログフロントエンド回路８１０は、アナログ信号８０５を処理し、処理済みのアナログ信号８１２(112)をアナログ／デジタル変換器回路８１４に提供する。幾つかの場合には、アナログ信号８０５は、ストレージ媒体（図示せず）に対して配置される読取り／書込みヘッドアセンブリ（図示せず）から取り出される。他の場合には、アナログ信号８０５は、伝送媒体（図示せず）からの信号を受信するように動作可能な受信機回路（図示せず）から取り出される。伝送媒体は、有線又は無線とすることができる。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、アナログ入力８０５を取り出すことができる種々の信号源を認識するであろう。
【００５３】
アナログ／デジタル変換器回路８１４は、処理済みのアナログ信号８１２を対応する一連のデジタルサンプル８１６に変換する。アナログ／デジタル変換器回路８１４は、アナログ入力信号に対応するデジタルサンプルを生成することが可能な、当該技術分野において知られている任意の回路とすることができる。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々のアナログ／デジタル変換器回路を認識するであろう。デジタルサンプル８１６は等化器回路８２０に与えられる。等化器回路８２０は、デジタルサンプル８１６に等化アルゴリズムを適用して、等化出力８２５を得る。本発明の幾つかの実施形態では、等化器回路８２０は、当該技術分野において知られているようなデジタル有限インパルス応答フィルター回路である。等化出力８２５は、データ検出器回路８３０に与えられる。幾つかの場合には、等化器８２０は、データ検出器回路８３０が処理に利用可能になるまで１つ又は複数の符号語を保持するのに十分なメモリを備える。
【００５４】
データ検出器回路８３０は、受信した符号語又はデータセットにデータ検出アルゴリズムを適用するように動作可能であり、幾つかの場合には、データ検出器回路８３０は、２つ以上の符号語を並列に処理することができる。本発明の幾つかの実施形態では、データ検出器回路８３０は、当該技術分野において知られているようなビタビアルゴリズムデータ検出器回路である。本発明の他の実施形態では、データ検出器回路８３０は、当該技術分野において知られているような最大事後データ検出器回路である。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々のデータ検出器回路を認識するであろう。データ検出器回路８３０は、等化器回路８２０又は中央メモリ回路８５０からのデータセットが利用可能であることに基づいて始動される。
【００５５】
完了すると、データ検出器回路８３０は検出器出力８９５を与える。検出出力８９５は局所インターリーバー回路８４２及び既知データに基づくモニター回路８６０に与えられる。局所インターリーバー回路８４２は、検出出力として含まれるデータセットの副部分（すなわち局所チャンク）をシャッフルするように動作可能であり、インターリーブされた符号語８４６を与え、該インターリーブされた符号語８４６は中央メモリ回路８５０に格納される。インターリーバー回路８４２は、データセットをシャッフルして再配列されたデータセットを得ることが可能な、当該技術分野において知られている任意の回路とすることができる。インターリーブされた符号語８４６は中央メモリ回路８５０に格納される。
【００５６】
データ復号化器回路８７０が利用可能になると、以前に格納されたインターリーブされた符号語８４６が、復号化器入力８５２として中央メモリ回路８５０からアクセスされ、当該技術分野において知られているように大域的にインターリーブされ、データ復号化アルゴリズムが適用される。本発明の幾つかの実施形態では、データ復号化アルゴリズムは当該技術分野において知られているような低密度パリティチェックアルゴリズムである。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる他の復号化アルゴリズムを認識するであろう。データ復号化アルゴリズムが所与のデータセットに対して完了すると、復号化アルゴリズムが収束した（すなわち、結果のデータセットが、パリティエラーがないことによって示されるように、最初に書き込まれたデータと一致する）か否かが判断される。復号化アルゴリズムが収束したと判断された場合、その結果の復号化データセットは硬判定出力８７２としてデインターリーバー回路８８０に与えられる。デインターリーバー回路８８０は、データを再配列して、データに適用された大域インターリーブ及び局所インターリーブの双方を逆に行い、デインターリーブされた出力８８２を得る。デインターリーブされた出力８８２は硬判定出力回路８９０に与えられる。硬判定出力回路８９０は、順序がばらばらで完了する場合があるデータセットを再順序付けし、該データセットの元の順序に戻すように動作可能である。次に、元の順序付けされたデータセットは硬判定出力８９２として与えられる。
【００５７】
代替的に、データ復号化アルゴリズムが収束しなかったと判断された（すなわち、パリティエラーが残っている）場合、完了したデータセットは、当該技術分野において知られているように大域的にデインターリーブされ、復号化器出力８５４として中央メモリ回路８５０に再び書き込まれる。データ検出器回路８３０が利用可能になると、以前に格納され復号化器出力８４８が、中央メモリ回路８５０からアクセスされ、デインターリーバー回路８４４によって局所的にデインターリーブされる。デインターリーバー回路８４４は、インターリーバー回路８４２によって最初に実行されたシャフルを逆に行うように復号化器出力８４８を再配列する。その結果のデインターリーブされた出力８９７は、データ検出器回路８３０に与えられる。
【００５８】
幾つかの場合には、既知データに基づくモニター回路８６０は、テスト／調節期間中にのみ動作する。他の場合には、既知データに基づくモニター回路８６０は、連続的に動作される。既知データに基づくモニター回路８６０は、検出器出力８９５を受信し、データ処理回路８００の動作を統御するのに用いられる１つ又は複数のパラメーターを修正する。パラメーターは、入出力８６４を介してアナログ処理回路８０８に通信することができ、入出力８６２を介してデータ検出器回路８３０に通信することができ、かつ／又は入出力８６６を介してデータ復号化器回路８７０に通信することができる。パラメーターは、アナログフロントエンド回路８１０に含まれる可変利得増幅器の利得、アナログフロントエンド回路８１０に含まれるアナログフィルターの遮断周波数及び／若しくはブースト、フロントエンド処理ループ８１１のＤＣループオフセット、ターゲット回路８０９によって用いられるターゲット、データ検出器回路８３０によって用いられる検出器パラメーター、並びに／又はデータ復号化器回路８７０によって用いられる復号化器パラメーターとすることができるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態による既知データに基づくモニター回路８６０によって調整することができる種々のパラメーターを認識するであろう。
【００５９】
既知データに基づくモニター回路８６０は、硬判定出力８９２を既知データセット８６８と比較する。データが処理されているとき、既知データに基づくモニター回路８６０は、入出力８６２、入出力８６４及び入出力８６６を介してそれぞれの回路に与えられる１つ又は複数のパラメーターの値（複数の場合もあり）を選択する。次に、データが、或る時間期間にわたって、選択されたパラメーター値を用いてデータ処理回路８００を通じて処理される。硬判定出力８９２のインスタンスが既知データセット８６８の対応するインスタンスと等しくないと、既知データに基づくモニター回路８６０が判断した場合、エラーが示される。このエラーはエラーレートに組み込まれる。エラーレートが規定しきい値を超えた場合、１つ又は複数のパラメーターの１つ又は複数の新たな値が選択され、許容可能なパラメーターが特定されるまで、再テストプロセスが続く。図２に関して上記で論述したものと同様の回路を用いて、既知データに基づくモニター回路を実装することができる。異なる点は、図２の回路の比較器２１０が、軟データ２０３及び信頼性しきい値２０５の代わりに既知データセット８６８及び硬判定出力８９２を受信するということである。既知データに基づくモニター回路８６０は、図５及び図６に関して上記で論述したようなストリームラインパラメーター値検索プロセスを組み込む。
【００６０】
上記のアプリケーションにおいて論述した様々なブロックは、他の機能とともに集積回路に実装することができることに留意すべきである。そのような集積回路は、所与のブロック、システム若しくは回路の機能の全て、又はブロック、システム若しくは回路のサブセットのみを含むことができる。また、ブロック、システム又は回路の要素を複数の集積回路にわたって実装することができる。そのような集積回路は、モノリシック集積回路、フリップチップ集積回路、マルチチップモジュール集積回路及び／又は混合信号集積回路を含むが、これらに限定されるものではない、当該技術分野において知られている任意のタイプの集積回路とすることができる。本明細書において論述されたブロック、システム又は回路の様々な機能を、ソフトウェア又はファームウェアのいずれかにおいて実装することができることにも留意すべきである。そのような幾つかの場合には、システム全体、ブロック全体又は回路全体を、そのソフトウェア等価物又はファームウェア等価物を用いて実装することができる。他の場合には、所与のシステム、ブロック又は回路の一部分をソフトウェア又はファームウェアにおいて実装することもできる一方、他の部分はハードウェアにおいて実装される。
【００６１】
結論として、本発明はデータ処理のための新規なシステム、デバイス、方法及び構成を提供する。本発明の１つ又は複数の実施形態の詳細な説明が上記で与えられたが、本発明の趣旨から逸脱することなく、様々な代替形態、修正形態及び均等物が当業者には明らかであろう。したがって、上記の説明は本発明の範囲を限定するものとして解釈されるべきではなく、本発明の範囲は添付の特許請求の範囲によって画定される。
【符号の説明】
【００６２】
図１
１０５ Analog Input アナログ入力
１０９ Target ターゲット
１１０ Analog Front End Circuit アナログフロントエンド回路
１１１ Front End Processing Loops フロントエンド処理ループ
１１４ Analog to Digital Converter Circuit アナログ／デジタル変換器回路
１２０ DFIR Circuit ＤＦＩＲ回路
１３０ Data Detector Circuit データ検出器回路
１４２ Local Interleaver Circuit 局所インターリーバー回路
１４４ Local De-Interleaver Circuit 局所デインターリーバー回路
１５０ Central Memory Circuit 中央メモリ回路
１６０ Reliability Monitor Circuit 信頼性モニター回路
１６８ Reliability Threshold 信頼性しきい値
１６９ Reset リセット
１７０ Data Decoder Circuit Including Global Interleaving/De-InterleavingCircuitry 大域的インターリーブ／デインターリーブ回路部を備えるデータ復号化器回路
１８０ De-Interleaver Circuit デインターリーバー回路
１９０ Hard Decision Output Circuit 硬判定出力回路
１９２ Hard Decision Output 硬判定出力
図２
２０３ Soft Data 軟データ
２０５ Reliability Threshold 信頼性しきい値
２１０ Comparator Circuit 比較器回路
２２３ Reset リセット
２２５ Proxy Error Count プロキシエラーカウント
２３０ Proxy Error Counter Circuit プロキシエラーカウンター回路
２４０ Initial Parameter 初期パラメーター
２５０ Parameter Modification Control Circuit パラメーター修正制御回路
２６０ Updated Parameter 更新済みパラメーター
図３
３０１ Write Data 書込みデータ
３０３ Read Data 読取りデータ
３１０ Read Channel Including Soft Data Reliability Data Based TuningControl Circuitry 軟データ信頼性データに基づく調節制御回路部を備える読取りチャネル
３２０ Interface Controller インターフェースコントローラー
３６６ Hard Disk Controller ハードディスクコントローラー
３６８ Motor Controller モーターコントローラー
３７０ Preamp 前置増幅器
３７２ Spindle Motor スピンドルモーター
３７６ Read/Write Head 読取り／書込みヘッド
３７８ Disk Platter ディスクプラッター
図４
４１０ Transmitter 送信機
４２０ Receiver Including Reliability Data Based Tuning Control Circuitry 信頼性データに基づく調節制御回路部を備える受信機
４３０ Transfer Medium 転送媒体
図５
５０５ Select Initial Parameter to be Searched 検索される初期パラメーターを選択する
５１０ Read Current Value of the Selected Parameter and Store the CurrentValue as PARAM 選択されたパラメーターの現在の値を読み取り、現在の値をＰＡＲＡＭとして格納する
５１５ Set the Updated Parameter to the Current Value and Apply the UpdatedParameter to the Circuit 更新済みパラメーターを現在の値に設定し、更新済みパラメーターを回路に適用する
５２０ Read the Proxy Error Count and Store the Proxy Error Count as COUNT プロキシエラーカウントを読み取り、プロキシエラーカウントをＣＯＵＮＴとして格納する
５３０ Another Value of the Selected Parameter to be Tested? 選択されたパラメーターの、テストされる別の値はあるか？
５３５ Calculated Updated Parameter Based on the Search Direction and the Step Size 更新済みパラメーターを検索方向及びステップサイズに基づいて計算する
５４０ Apply the Updated Parameter to the Circuit 更新済みパラメーターを回路に適用する
５４５ Read the Proxy Error Count as NEXT_COUNT プロキシエラーカウントをＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴとして読み取る
５５５ Set COUNT = NEXT_COUNT and Set PARAM = Updated Parameter ＣＯＵＮＴ＝ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴに設定し、ＰＡＲＡＭ＝更新済みパラメーターに設定する
５６０ Apply PARAM to the Circuit ＰＡＲＡＭを回路に適用する
５６５ Another Parameter to be Tested? テストされる別のパラメーターはあるか？
５７０ End 終了
５７５ Select the Next Paramter 次のパラメーターを選択する
６００ Calculate the Search Direction 検索方向を計算する
図６
６０２ Receive the Updated Parameter 更新済みパラメーターを受信する
６０５ Select the Next Value of the Updated Parameter 更新済みパラメーターの次の値を選択する
６１０ Apply the Next Value of the Updated Parameter to the Circuit 更新済みパラメーターの次の値を回路に適用する
６１５ Read the Proxy Error Count as PLUS_COUNT プロキシエラーカウントをＰＬＵＳ＿ＣＯＵＮＴとして読み取る
６２０ Select the Prior Value of the Updated Parameter 更新済みパラメーターの前の値を選択する
６２５ Apply the Prior Value of the Updated Parameter to the Circuit 更新済みパラメーターの前の値を回路に適用する
６３０ Read the Proxy Error Count as MINUS_COUNT プロキシエラーカウントをＭＩＮＵＳ＿ＣＯＵＮＴとして読み取る
６４０ Search Direction = Positive 検索方向＝正
６５０ Search Direction = Negative 検索方向＝負
６６０ Return Search Direction 検索方向を返す
図７
７０５ Select Initial Parameter to be Searched 検索される初期パラメーターを選択する
７１０ Read Current Value of the Selected Parameter and Store the CurrentValue as PARAM 選択されたパラメーターの現在の値を読み取り、現在の値をＰＡＲＡＭとして格納する
７１５ Set the Updated Parameter to the Current Value 更新済みパラメーターを現在の値に設定する
７２０ Apply the Updated Parameter to the Circuit 更新済みパラメーターを回路に適用する
７２５ Read the Proxy Error Count and Store the Proxy Error Count as COUNT プロキシエラーカウントを読み取り、プロキシエラーカウントをＣＯＵＮＴとして格納する
７３０ Another Value of the Selected Parameter to be Tested? 選択されたパラメーターの、テストされる別の値はあるか？
７３５ Select the Next Value for the Updated Parameter 更新済みパラメーターの次の値を選択する
７４０ Apply the Updated Parameter to the Circuit 更新済みパラメーターを回路に適用する
７４５ Read the Proxy Error Count as NEXT_COUNT プロキシエラーカウントをＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴとして読み取る
７５５ Set COUNT = NEXT_COUNT and Set PARAM = Updated Parameter ＣＯＵＮＴ＝ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴに設定し、ＰＡＲＡＭ＝更新済みパラメーターに設定する
７６０ Apply PARAM to the Circuit ＰＡＲＡＭを回路に適用する
７６５ Another Parameter to be Tested? テストされる別のパラメーターはあるか？
７７０ End 終了
７７５ Select the Next Paramter 次のパラメーターを選択する
図８
８０５ Analog Input アナログ入力
８０９ Target ターゲット
８１０ Analog Front End Circuit アナログフロントエンド回路
８１１ Front End Processing Loops フロントエンド処理ループ
８１４ Analog to Digital Converter Circuit アナログ／デジタル変換器回路
８２０ DFIR Circuit ＤＦＩＲ回路
８３０ Data Detector Circuit データ検出器回路
８４２ Local Interleaver Circuit 局所インターリーバー回路
８４４ Local De-Interleaver Circuit 局所デインターリーバー回路
８５０ Central Memory Circuit 中央メモリ回路
８６０ Known Data Based Monitor Circuit 既知データに基づくモニター回路
８６８ Known Data 既知データ
８７０ Data Decoder Circuit Including Global Interleaving/De-InterleavingCircuitry 大域的インターリーブ／デインターリーブ回路部を備えるデータ復号化器回路
８８０ De-Interleaver Circuit デインターリーバー回路
８９０ Hard Decision Output Circuit 硬判定出力回路
８９２ Hard Decision Output 硬判定出力
【技術分野】
【０００１】
本発明は、システム特徴付けのためのシステム及び方法に関し、より詳細には、データ処理システムを調節するためのシステム及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
様々なストレージシステムが、処理性能を改善するために調節することができる１つ又は複数の修正可能な変数を用いて実施されるデータ処理回路部を備える。幾つかの場合には、既知データパターンがデータ処理回路部に与えられ、修正可能な変数のうちの１つ又は複数が変更されている間、データ処理回路部のエラーレートが監視される。このプロセスは、修正可能な変数の許容可能な値が特定されるまで続けられる。そのような手法は、ストレージエリアを既知パターンに利用し、したがって、使用可能なストレージエリアを減少させ、意味のあるエラーレートを取得するには、かなりの時間を要する可能性があり、これによって、ストレージシステムの製造コストが増大する。
【０００３】
したがって、少なくとも上述した理由により、データ処理のための先進的なシステム及び方法が当該技術分野において必要とされている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、システム特徴付けのためのシステム及び方法に関し、より詳細には、データ処理システムを調節するためのシステム及び方法に関する。
【０００６】
本発明の１つ又は複数の実施の形態は、データ検出器回路と、データ復号化器回路と、信頼性モニター回路と、パラメーター修正制御回路とを備えるデータ処理システムを提供する。データ検出器回路は、復号化出力によって誘導される（guided）第１のデータセットにデータ検出アルゴリズムを適用して、検出出力を得るように動作可能である。データ復号化器回路は、第２のデータセットにデータ復号化アルゴリズムを適用して、復号化出力を得るように動作可能である。第２のデータセットは、第１のデータセットから取り出される。信頼性モニター回路は、エラーレートを計算するように動作可能である。エラーレートは、復号化出力又は第１のデータセットから取り出された第３のデータセットに少なくとも部分的に基づいて計算することができる。パラメーター修正回路は、パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応するエラーレートの第１のインスタンスを格納し、パラメーターの第２の値を選択して該第２の値に対応するエラーカウントの第２のインスタンスを格納し、エラーレートの第１のインスタンスとエラーレートの第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいて、第１の値及び第２の値のうちの一方を選択するように動作可能である。第２の値を選択することは、第１の値に少なくとも部分的に基づいて検索方向を確定することと、検索値とステップサイズとを用いることであって、第２の値を計算する、用いることとを含む。幾つかの場合には、ステップサイズはプログラマブルである。実施の形態は、複数の異なるエンドデバイス又はエンドシステムにおいて実施することができる。例えば、実施の形態は、ストレージデバイス又は受信デバイスにおいて実施することができる。さらに、幾つかの場合には、データ処理システムは、集積回路の一部として実施することができる。
【０００７】
上述した実施の形態の幾つかの場合には、エラーレートを計算することは、第３のデータセットを既知データセットと比較することを含む。そのような幾つかの場合には、第３のデータセットは硬判定出力のセットである。データ検出アルゴリズムは、最大事後データ検出アルゴリズム又はビタビ検出アルゴリズムとすることができるが、これらに限定されるものではない。幾つかの場合には、データ復号化アルゴリズムは低密度パリティチェックアルゴリズムである。特定の場合には、出力は、復号化出力から取り出された第３のデータセットである。そのような場合には、信頼性モニター回路は、第３のデータセットのインスタンスを既知データセットと比較するように動作可能な比較器回路と、第３のデータセットのインスタンスが既知データセットの対応するインスタンスと等しくない場合には、インクリメントしてエラーレートを得るように動作可能なカウンター回路とを備えることができる。幾つかの場合には、出力は、軟データを含む第１のデータセットである。そのような場合には、信頼性モニター回路は、軟データのインスタンスをしきい値と比較するように動作可能な比較器回路と、軟データのインスタンスがしきい値未満である場合には、インクリメントしてエラーレートを得るように動作可能なカウンター回路とを備えることができる。特定の場合には、しきい値はプログラマブルである。
【０００８】
本発明の幾つかの実施の形態は、データ処理のための方法を提供する。本方法は、データ検出器回路を用いてデータ検出アルゴリズムを第１のデータセットに対して実行することであって、検出出力を得る、実行することと、データ復号化器回路を用いてデータ復号化アルゴリズムを、第１のデータセットから取り出された第２のデータセットに対して実行することであって、復号化出力を得る、実行することと、該復号化出力から取り出された第３のデータセット又は第１のデータセットのうちの一方に少なくとも部分的に基づいてエラーレートを計算することと、パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応する該エラーレートの第１のインスタンスを格納することと、パラメーターの第２の値を選択して該第２の値に対応するエラーカウントの第２のインスタンスを格納することと、エラーレートの第１のインスタンスとエラーレートの第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいて、第１の値及び第２の値のうちの一方を選択することとを含む。第２の値を選択することは、第１の値に少なくとも部分的に基づいて検索方向を確定することと、検索値とステップサイズとを用いることであって、第２の値を計算する、用いることとを含む。幾つかの場合には、第３のデータセットは、ハード判定出力のセットである。様々な場合には、ステップサイズはプログラマブルである。
【０００９】
幾つかの場合には、出力は、復号化出力から取り出された第３のデータセットである。そのような幾つかの場合には、エラーレートを計算することは、第３のデータセットのインスタンスを既知データセットと比較することと、該既知データセットの対応するインスタンスと等しくない該第３のデータセットのインスタンスの数をカウントすることであって、エラーレートを得る、カウントすることとを含む。他の場合には、出力は、軟データを含む第１のデータセットである。そのような幾つかの場合には、エラーレートを計算することは、軟データのインスタンスをしきい値と比較することと、しきい値未満の軟データのインスタンスの数をカウントすることであって、エラーレートを得る、カウントすることとを含む。特定の場合には、しきい値はプログラマブルである。
【００１０】
本発明の様々な実施の形態は、データ検出器回路と信頼性モニター回路とを備えるデータ処理システムを提供する。データ検出器回路は、データセットにデータ検出アルゴリズムを適用して、軟データを含む検出出力を得るように動作可能である。信頼性モニター回路は、軟データに少なくとも部分的に基づいてプロキシエラーカウントを確定し、該プロキシエラーカウントに少なくとも部分的に基づいてデータ処理システムの動作を統御するパラメーターを修正するように動作可能である。幾つかの場合には、本発明の上述した実施の形態は、ストレージデバイス又は受信デバイスの一部として実施される。幾つかの場合には、本発明の上述した実施の形態は、集積回路の一部として実施される。
【００１１】
上述した実施の形態の幾つかの場合には、データ検出アルゴリズムは最大事後データ検出アルゴリズムである。他の場合には、データ検出アルゴリズムはビタビ検出アルゴリズムである。幾つかの場合には、データ処理システムは、検出出力から取り出されたものにデータ復号化アルゴリズムを適用して、復号化出力を得るように動作可能なデータ復号化器回路を更に備える。幾つかの場合には、データ復号化アルゴリズムは低密度パリティチェックアルゴリズムである。
【００１２】
幾つかの場合には、信頼性モニター回路は、軟データのインスタンスをしきい値と比較するように動作可能な比較器回路と、軟データのインスタンスがしきい値未満である場合には、インクリメントしてプロキシエラーカウントを得るように動作可能なカウンター回路とを備える。そのような幾つかの場合には、しきい値はプログラマブルである。そのような場合の変形形態では、信頼性モニター回路は、パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応するプロキシエラーカウントの第１のインスタンスを格納し、パラメーターの第２の値を選択して第１の値に対応するプロキシエラーカウントの第２のインスタンスを格納し、プロキシエラーカウントの第１のインスタンスとプロキシエラーカウントの第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいての第１の値及び第２の値のうちの一方を選択するように動作可能なパラメーター修正制御回路を更に備える。幾つかの特定の場合には、パラメーターの第２の値を選択することは、第１の値に少なくとも部分的に基づいて検索方向を確定することと、検索値とステップサイズとを用いることであって、第２の値を計算する、用いることとを含む。幾つかの場合には、ステップサイズはプログラマブルである。他の場合には、パラメーターの第１の値を選択することは、検索される複数の値のうちの１つを選択することを含み、パラメーターの第２の値を選択することは、検索される複数の値のうちの別のものを選択することを含む。
【００１３】
本発明の他の実施の形態は、データ処理のための方法であって、データ検出器回路を用いてデータ検出アルゴリズムをデータセットに対して実行することであって、軟データを含む検出出力を得る、実行することと、軟データのインスタンスをしきい値と比較することと、該軟データのインスタンスとしきい値との比較に少なくとも部分的に基づいてプロキシエラーカウント値を修正することと、プロキシエラーカウントに少なくとも部分的に基づいてパラメーター値を選択することであって、該パラメーター値は、データ処理回路の動作を統御する、選択することと、を含む、データ処理のための方法を提供する。上述した実施の形態の幾つかの場合には、データセットは、既知データパターン又は未知データパターンとすることができるデータのパターンを含む。
【００１４】
上述した実施の形態の幾つかの場合には、検出出力は第１の検出出力であり、軟データは第１の軟データであり、パラメーター値は第１のパラメーター値であり、プロキシエラーカウントは第１のプロキシエラーカウントであり、データセットは第１のデータセットである。そのような場合には、本方法は、データ検出アルゴリズムを第２のデータセットに対して実行することであって、第２の軟データを含む第２の検出出力を得る、実行することと、第２の軟データのインスタンスをしきい値と比較することと、第２の軟データのインスタンスとしきい値との比較に少なくとも部分的に基づいて第２のプロキシエラーカウント値を修正することと、第１のプロキシエラーカウントを第２のプロキシエラーカウントと比較することとを更に含むことができる。そのような場合には、第１のパラメーター値を選択することは、第１のプロキシエラーカウントと第２のプロキシエラーカウントとの比較に基づく。幾つかの場合には、第１のパラメーター値は、データ処理回路に適用される一方、データ検出器回路は、データ検出アルゴリズムを第１のデータセットに適用し、第２のパラメーター値は、データ処理回路に適用される一方、データ検出器回路は、データ検出アルゴリズムを第２のデータセットに適用する。
【００１５】
この概要は、本発明の幾つかの実施の形態の概略のみを提供するものである。本発明の多くの他の目的、特徴、利点及び他の実施の形態は、以下の詳細な説明、添付の特許請求の範囲及び添付の図面からより完全に明らかとなるであろう。
【００１６】
図面を参照することにより、本発明の様々な実施形態の更なる理解を実現することができ、これらの実施形態については明細書の残りの部分で説明する。図面において、同様の参照符号がいくつかの図面の全てにわたって類似の構成要素を指すのに用いられている。幾つかの場合には、小文字からなるサブラベルが、複数の類似の構成要素のうちの１つを表すように参照符号に関連付けられている。存在するサブラベルを指定することなく参照符号が参照されるとき、そのような複数の類似の構成要素全てを指すことが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の１つ又は複数の実施形態による信頼性データに基づく調節回路部を備えるデータ処理回路を示す図である。
【図２】本発明の幾つかの実施形態による信頼性に基づく調節回路の１つの実施態様を示す図である。
【図３】本発明の１つ又は複数の実施形態による軟データに基づく調節回路部を有する読取りチャネルを備えるストレージデバイスを示す図である。
【図４】本発明の幾つかの実施形態による軟データに基づく調節回路部を有する受信機を備えるデータ伝送システムを示す図である。
【図５】本発明の様々な実施形態による信頼性に基づくパラメーター調節のための方法を示す流れ図である。
【図６】本発明の様々な実施形態による信頼性に基づくパラメーター調節のための方法を示す流れ図である。
【図７】本発明の幾つかの実施形態による信頼性に基づくパラメーター調節のための別の方法を示す流れ図である。
【図８】本発明の１つ又は複数の実施形態によるストリームライン検索を有する既知データに基づく調節回路部を備えるデータ処理回路を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
本発明は、システム特徴付けのためのシステム及び方法に関し、より詳細には、データ処理システムを調節するためのシステム及び方法に関する。
【００１９】
本発明の様々な実施形態は、任意の利用可能なデータセットから生成された信頼性データを用いてデータ処理回路を調節及び／又はテストするためのシステム及び方法を提供する。信頼性データは、規定された既知データセット又は未知のユーザーデータセットを含む任意の利用可能なデータセットから取り出すことができる。幾つかの場合には、調節は、データ処理回路を調節するのに用いられる時間が削減されるように様々なチャネルパラメーターを調節するメトリックの使用を考慮に入れる。本発明の１つ又は複数の実施形態は、既知データパターンを維持するのに必要とされるストレージエリアを削減するという利点を提供し、かつ／又はテスト時間及び／若しくは調節時間の削減を可能にする。
【００２０】
図１を参照すると、データ処理回路１００が示されている。データ処理回路１００は、検出器出力１９５の一部として含まれる軟データを監視して、監視した軟データに基づいて１つ又は複数のパラメーターを修正するように動作可能な信頼性モニター回路１６０を備える。データ処理回路１００はアナログ処理回路１０８を備える。アナログ処理回路１０８は、アナログフロントエンド回路１１０と、タイミング及び制御をアナログフロントエンド回路１１０に与えるように動作可能なフロントエンド処理ループ１１１と、ターゲットに基づくフィルタリングフィードバックをアナログフロントエンド回路１１０に与えるように動作可能なターゲット回路１０９とを備える。アナログフロントエンド回路１１０には、当該技術分野において知られているようなアナログフィルター及び増幅器回路が含まれ得るが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、アナログフロントエンド回路１１０の一部として含めることができる種々の回路部を認識するであろう。幾つかの場合には、アナログフロント回路１１０の一部として含まれる可変利得増幅器の利得を修正可能とすることができ、アナログフロントエンド回路１１０に含まれるアナログフィルターの遮断周波数及びブーストを修正可能とすることができる。フロントエンド処理ループ１１１は、当該技術分野において知られているアナログフロントエンド回路１１０のタイミングを与えるように動作可能な任意の処理ループとすることができる。幾つかの場合には、そのようなフロントエンド処理ループ１１１は、修正可能とすることができるＤＣループオフセットを含む。ターゲット回路１０９は、当該技術分野において知られている任意の、ターゲットに基づくフィルター回路とすることができる。様々な場合において、ターゲット回路１０９によって用いられるターゲットは修正可能とすることができる。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々の、ターゲットに基づくフィルター回路及びフロントエンド処理ループを認識するであろう。
【００２１】
アナログフロントエンド回路１１０は、アナログ信号１０５を受信する。アナログフロントエンド回路１１０は、アナログ信号１０５を処理し、処理済みのアナログ信号１１２をアナログ／デジタル変換器回路１１４に与える。幾つかの場合には、アナログ信号１０５は、ストレージ媒体（図示せず）に対して配置される読取り／書込みヘッドアセンブリ（図示せず）から取り出される。他の場合には、アナログ信号１０５は、伝送媒体（図示せず）からの信号を受信するように動作可能な受信機回路（図示せず）から取り出される。伝送媒体は、有線又は無線とすることができる。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、アナログ入力１０５を取り出すことができる種々の信号源を認識するであろう。
【００２２】
アナログ／デジタル変換器回路１１４は、処理済みのアナログ信号１１２を対応する一連のデジタルサンプル１１６に変換する。アナログ／デジタル変換器回路１１４は、アナログ入力信号に対応するデジタルサンプルを生成することが可能な、当該技術分野において知られている任意の回路とすることができる。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々のアナログ／デジタル変換器回路を認識するであろう。デジタルサンプル１１６は等化器回路１２０に与えられる。等化器回路１２０は、デジタルサンプル１１６に等化アルゴリズムを適用して等化出力１２５を得る。本発明の幾つかの実施形態では、等化器回路１２０は、当該技術分野において知られているようなデジタル有限インパルス応答フィルター回路である。等化出力１２５は、データ検出器回路１３０に与えられる。幾つかの場合には、等化器１２０は、データ検出器回路１３０が処理に利用可能になるまで１つ又は複数の符号語を保持するのに十分なメモリを備える。
【００２３】
データ検出器回路１３０は、受信した符号語又はデータセットにデータ検出アルゴリズムを適用するように動作可能であり、幾つかの場合には、データ検出器回路１３０は、２つ以上の符号語を並列に処理することができる。本発明の幾つかの実施形態では、データ検出器回路１３０は、当該技術分野において知られているようなビタビアルゴリズムデータ検出器回路である。本発明の他の実施形態では、データ検出器回路１３０は、当該技術分野において知られているような最大事後データ検出器回路である。一般的なフレーズ「ビタビデータ検出アルゴリズム」又は「ビタビアルゴリズムデータ検出器回路」は、任意のビタビ検出アルゴリズム若しくはビタビアルゴリズム検出器回路又はそれらの変形を意味するように、それらの最も広い意味で用いられることに留意されたい。それらの変形には、双方向ビタビ検出アルゴリズム又は双方向ビタビアルゴリズム検出器回路が含まれるが、これらに限定されるものではない。また、一般的なフレーズ「最大事後データ検出アルゴリズム」又は「最大事後データ検出器回路」は、任意の最大事後検出アルゴリズム若しくは最大事後検出器回路又はそれらの変形を意味するようにそれらの最も広い意味で用いられる。それらの変形には、単純化された最大事後データ検出アルゴリズム及び最大対数最大事後データ検出アルゴリズム、又は対応する検出器回路が含まれるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々のデータ検出器回路を認識するであろう。データ検出器回路１３０は、等化器回路１２０又は中央メモリ回路１５０からのデータセットが利用可能であることに基づいて始動される。
【００２４】
完了すると、データ検出器回路１３０は検出器出力１９５を与える。検出器出力１９５は軟データを含む。フレーズ「軟データ」は、本明細書において用いられるとき、信頼性データを意味するようにその最も広い意味で用いられ、該信頼性データの各インスタンスは、対応するビット位置又はビット位置群が正しく検出されている尤度を示す。本発明の幾つかの実施形態では、軟データ又は信頼性データは当該技術分野において知られているような対数尤度比データである。検出出力１９５は局所インターリーバー回路１４２及び信頼性モニター回路１６０に与えられる。局所インターリーバー回路１４２は、検出出力として含まれるデータセットの副部分（sub-portion）（すなわち局所チャンク）をシャッフルするように動作可能であり、インターリーブされた符号語１４６を与え、該インターリーブされた符号語１４６は中央メモリ回路１５０に格納される。インターリーバー回路１４２は、データセットをシャッフルして再配列されたデータセットを得ることが可能な、当該技術分野において知られている任意の回路とすることができる。インターリーブされた符号語１４６は中央メモリ回路１５０に格納される。
【００２５】
データ復号化器回路１７０が利用可能になると、以前に格納されたインターリーブされた符号語１４６が、復号化器入力１５２として中央メモリ回路１５０からアクセスされ、当該技術分野において知られているように大域的にインターリーブされ、データ復号化アルゴリズムが適用される。本発明の幾つかの実施形態では、データ復号化アルゴリズムは当該技術分野において知られているような低密度パリティチェックアルゴリズムである。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる他の復号化アルゴリズムを認識するであろう。データ復号化アルゴリズムが所与のデータセットに対して完了すると、復号化アルゴリズムが収束した（すなわち、結果のデータセットが、パリティエラーがないことによって示されるように、最初に書き込まれたデータと一致する）か否かが判断される。復号化アルゴリズムが収束したと判断された場合、その結果の復号化データセットは硬判定出力１７２としてデインターリーバー回路１８０に与えられる。デインターリーバー回路１８０は、データを再配列して、データに適用された大域インターリーブ及び局所インターリーブの双方を逆に行い、デインターリーブされた出力１８２を得る。デインターリーブされた出力１８２は硬判定出力回路１９０に与えられる。硬判定出力回路１９０は、順序がばらばらで完了する可能性があるデータセットを再順序付けし、該データセットの元の順序に戻すように動作可能である。次に、元の順序のデータセットは硬判定出力１９２として与えられる。
【００２６】
代替的に、データ復号化アルゴリズムが収束しなかったと判断された（すなわち、パリティエラーが残っている）場合、完了したデータセットは、当該技術分野において知られているように大域的にデインターリーブされ、復号化器出力１５４として中央メモリ回路１５０に再び書き込まれる。データ検出器回路１３０が利用可能になると、以前に格納された復号化器出力１４８が、中央メモリ回路１５０からアクセスされ、デインターリーバー回路１４４によって局所的にデインターリーブされる。デインターリーバー回路１４４は、インターリーバー回路１４２によって最初に実行されたシャフルを逆にするように復号化器出力１４８を再配列する。その結果のデインターリーブされた出力１９７は、データ検出器回路１３０に与えられる。
【００２７】
幾つかの場合には、信頼性モニター回路１６０は、テスト／調節期間中にのみ動作する。他の場合には、信頼性モニター回路１６０は連続的に動作される。信頼性モニター回路１６０は、検出器出力１９５を受信し、データ処理回路１００の動作を統御するのに用いられる１つ又は複数のパラメーターを修正する。パラメーターは、入出力１６４を介してアナログ処理回路１０８に通信することができ、入出力１６２を介してデータ検出器回路１３０に通信することができ、かつ／又は入出力１６６を介してデータ復号化器回路１７０に通信することができる。パラメーターは、アナログフロントエンド回路１１０に含まれる可変利得増幅器の利得、アナログフロントエンド回路１１０に含まれるアナログフィルターの遮断周波数及び／若しくはブースト、フロントエンド処理ループ１１１のＤＣループオフセット、ターゲット回路１０９によって用いられるターゲット、データ検出器回路１３０によって用いられる検出器パラメーター、並びに／又はデータ復号化器回路１７０によって用いられる復号化器パラメーターとすることができるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態による信頼性モニター回路１６０によって調整することができる種々のパラメーターを認識するであろう。
【００２８】
信頼性モニター回路１６０は、検出器出力１９５の一部として受信された軟データを比較し、その軟データを信頼性しきい値１６８と比較する。幾つかの場合には、信頼性しきい値１６８はユーザープログラマブルである。他の場合には、信頼性しきい値１６８は固定値である。データが処理されているとき、信頼性モニター回路１６０は、入出力１６２、入出力１６４及び入出力１６６を介してそれぞれの回路に与えられる１つ又は複数のパラメーターの値（複数の場合もあり）を選択する。次に、データは、選択されたパラメーター値を用いて或る時間期間にわたってデータ処理回路１００を通じて処理される。信頼性モニター回路１６０が、検出出力１９５からの軟データが信頼性しきい値１６８未満であると判断した場合、エラーが示される。このエラーはエラーレートに組み込まれる。１つ又は複数のパラメーターの１つ又は複数の新たな値が選択され、少なくとも信頼性モニター回路１６０が、対応するエラーレートが許容可能であると判断するまで、再テストのプロセスが続く。幾つかの場合には、軟データの移動平均又は他の累算値が、信頼性しきい値１６８と比較するのに用いられる。そのような場合には、リセット入力１６９を用いて、パラメーター値が信頼性モニター回路１６０によって変更されるごとに、累算値又は移動平均をリセットすることができる。様々な場合には、リセット入力１６９は、信頼性モニター回路１６０の内部の信号である。
【００２９】
図２を参照すると、本発明の幾つかの実施形態による信頼性に基づく調節回路２００の１つの実施態様が示されている。信頼性に基づく調節回路２００は、データ処理回路１００の信頼性モニター回路１６０の代わりに用いることができる。信頼性に基づく調節回路２００は、検出出力（図示せず）の一部として受信された軟データ２０３を信頼性しきい値２０５と比較するように動作可能な比較器回路２１０を備える。幾つかの場合には、信頼性しきい値２０５はユーザープログラマブルである。他の場合には、信頼性しきい値２０５は固定値である。軟データ２０３のインスタンスが信頼性しきい値２０５未満である場合、比較器出力２２０はハイにアサートされる。対照的に、軟データ２０３のインスタンスが信頼性しきい値２０５以上である場合、比較器出力２２０はローにアサートされる。比較器出力２２０がハイにアサートされる（軟データ２０３のインスタンスに対応する）各クロック周期において、プロキシエラーカウンター回路２３０がインクリメントする。プロキシエラーカウンター回路２３０からのカウントは、パラメーター修正制御回路２５０に与えられるプロキシエラーカウント２２５である。
【００３０】
パラメーター修正制御回路２５０は、更新済みパラメーター２６０として最初に与えられる初期パラメーター値２４０を受信する。更新済みパラメーター２６０は、データ処理回路内の１つ又は複数の機能の動作を統御するパラメーターとして与えられる。幾つかの例として、更新済みパラメーター２６０は、可変利得増幅器の利得、アナログフィルターの遮断周波数及び／若しくはブースト、ＤＣループオフセット、ターゲット、データ検出器回路によって用いられる検出器パラメーター、並びに／又はデータ復号化器回路によって用いられる復号化器パラメーターとすることができるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、パラメーター修正制御回路２５０によって調整することができる種々のパラメーターを認識するであろう。
【００３１】
本発明の１つの特定の実施形態では、パラメーター修正制御回路２５０は、規定されたデータ処理期間数の間、初期パラメーター２４０を更新済みパラメーター２６０として用い続けることを可能にする。初期パラメーター２４０は、事前にプログラムされたデフォルト値とすることができる。その期間が完了すると、プロキシエラーカウント２２５が格納され、パラメーター修正回路２５０は、更新済みパラメーター２６０として与えられる新たな値を選択し、プロキシエラーカウンター回路２３０は、リセット信号２２３のアサートによってリセットされる。データ処理は、再び、更新パラメーター２６０の新たに選択された値を用いて規定された期間数の間、実行できるようになる。このプロセスは、更新済みパラメーター２６０の全ての可能な値がテストされると完了する。最後に、更新済みパラメーター２６０がいかなる回路を制御していようとも、最小のプロキシエラーカウント２２５を与えた更新済みパラメーター２６０の値が、その回路の調節されたパラメーターとして選択される。このプロセスは、以下の疑似コードに示されている。
／＊ 初期パラメーター値をテストする
初期パラメーター２４０を更新済みパラメーター２６０として選択する；
リセット２２５をアサートする；
リセット２２５をデアサートする；
Ｆｏｒ（ｉ＝０〜テスト期間の終了）
｛
Ｉｆ（軟データ［ｉ］２０３＜信頼性しきい値２０５）
｛
プロキシエラーカウント２２５＋＝１
｝
｝
パラメーターエラーカウント＝プロキシエラーカウント２２５；
パラメーター値＝初期パラメーター２４０；
／＊ 全ての他のパラメーター値をテストする ＊／
リセット２２５をアサートする；
リセット２２５をデアサートする；
Ｆｏｒ（更新済みパラメーター２６０の各値）
｛
更新済みパラメーター２６０の次の値を選択する；
Ｆｏｒ（ｉ＝０〜テスト期間の終了）
｛
Ｉｆ（軟データ［ｉ］２０３＜信頼性しきい値２０５）
｛
プロキシエラーカウント２２５＋＝１
｝
｝
Ｉｆ（プロキシエラーカウント２２５＜パラメーターエラーカウント）
｛
パラメーターエラーカウント＝プロキシエラーカウント２２５；
パラメーター値＝選択された次の値；
｝
｝
パラメーター値を選択する
【００３２】
更に他の場合には、パラメーター修正制御回路２５０は、プロキシエラーカウント２２５が、規定しきい値未満になるまで検索を制限することによってパラメーター検索を制限するように修正することができる。規定しきい値未満のプロキシエラーカウント２２５を与えるパラメーター値が見つかると、そのパラメーター値が選択され、パラメーター検索プロセスは完了する。そのような場合、規定しきい値は、値をプログラマブル又は固定とすることができる。このプロセスは、以下の疑似コードで示される。
／＊ 初期パラメーター値をテストする
初期パラメーター２４０を更新済みパラメーター２６０として選択する；
リセット２２５をアサートする；
リセット２２５をデアサートする;
Ｆｏｒ（ｉ＝０〜テスト期間の終了）
｛
Ｉｆ（軟データ［ｉ］２０３＜信頼性しきい値２０５）
｛
プロキシエラーカウント２２５＋＝１
｝
｝
Ｉｆ（プロキシエラーカウント＜規定しきい値）
｛
更新済みパラメーター２６０＝初期パラメーター２４０；
プロセスを終了する
Ｅｌｓｅ
｛
パラメーターエラーカウント＝プロキシエラーカウント２２５；
パラメーター値＝初期パラメーター２４０；
｝
／＊ 規定しきい値が達成されるまで他のパラメーター値をテストする ＊／
リセット２２５をアサートする；
リセット２２５をデアサートする;
Ｆｏｒ（更新済みパラメーター２６０の各値）
｛
更新済みパラメーター２６０の次の値を選択する；
Ｆｏｒ（ｉ＝０〜テスト期間の終了）
｛
Ｉｆ（軟データ［ｉ］２０３＜信頼性しきい値２０５）
｛
プロキシエラーカウント２２５＋＝１
｝
｝
Ｉｆ（プロキシエラーカウント＜規定しきい値）
｛
更新済みパラメーター２６０＝選択された次の値；
プロセスを終了
｝
Ｅｌｓｅ Ｉｆ（プロキシエラーカウント２２５＜パラメーターエラーカウント）
｛
パラメーターエラーカウント＝プロキシエラーカウント２２５；
パラメーター値＝選択された次の値;
｝
｝
【００３３】
更に他の場合には、更新済みパラメーター２６０の全て値をテストする必要がないようなより高機能な（sophiscated）テストプロセスを用いることができる。そのようなストリームラインテストプロセスは、以下の図５及び図６に関して以下で論述するものと一致して行うことができる。そのような場合には、パラメーター修正制御回路２５０の動作は、更新済みパラメーター２６０の許容可能な値を特定するストリームライン手法を用いるように修正することができる。図５及び図６に関して以下で論述する方法は、既知データセットから取り出された実際のエラーカウントに基づく種々のパラメーター値を検索するように修正することができることに留意されたい。そのような手法は、図８〜図１０に関して以下で論述される。
【００３４】
図３を参照すると、本発明の１つ又は複数の実施形態による信頼性データに基づく調節回路部を有する読取りチャネル回路３１０を備えるストレージデバイス３００が示されている。ストレージシステム３００は、例えば、ハードディスクドライブとすることができる。ストレージシステム３００はまた、前置増幅器３７０と、インターフェースコントローラー３２０と、ハードディスクコントローラー３６６と、モーターコントローラー３６８と、スピンドルモーター３７２と、ディスクプラッター３７８と、読取り／書込みヘッドアセンブリ３７６とを備える。インターフェースコントローラー３２０は、ディスクプラッター３７８へ／からのデータのアドレス指定及びタイミングを制御する。ディスクプラッター３７８上のデータは、読取り／書込みヘッドアセンブリ３７６がディスクプラッター３７８の上方で適切に位置決めされたときに該アセンブリが検出することができる磁気信号の群からなる。１つの実施形態では、ディスクプラッター３７８は、水平記録方式又は垂直記録方式のいずれかに従って記録された磁気信号を含む。
【００３５】
通常の読取り動作では、読取り／書込みヘッドアセンブリ３７６は、モーターコントローラー３６８によってディスクプラッター３７８上の所望のデータトラックの上方に正確に位置決めされる。モーターコントローラー３６８は、ディスクプラッター３７８に対して読取り／書込みヘッドアセンブリ３７６の位置決めも行うし、ハードディスクコントローラー３６６の指示のもとでディスクプラッター３７８上の適切なデータトラックに読取り／書込みヘッドアセンブリを移動させることによってスピンドルモーター３７２の駆動も行う。スピンドルモーター３７２は、定められたスピン速度（ＲＰＭ）でディスクプラッター３７８をスピンさせる。読取り／書込みヘッドアセンブリ３７８が適切なデータトラックに隣接して位置決めされると、ディスクプラッター３７８がスピンドルモーター３７２によって回転されながら、ディスクプラッター３７８上のデータを表す磁気信号が読取り／書込みヘッドアセンブリ３７６によって検知される。検知された磁気信号は、ディスクプラッター３７８上の磁気データを表す連続した微小アナログ信号として与えられる。この微小アナログ信号は、読取り／書込みヘッドアセンブリ３７６から前置増幅器３７０を介して読取りチャネル回路３１０に転送される。前置増幅器３７０は、ディスクプラッター３７８からアクセスされた微小アナログ信号を増幅するように動作可能である。次に、読取りチャネル回路３１０は、受信したアナログ信号を復号化及びデジタル化して、ディスクプラッター３７８に元々書き込まれていた情報を再生する。このデータは、読取りデータ３０３として受信回路に与えられる。書込み動作は、先行する読取り動作の実質的に逆であり、書込みデータ３０１が読取りチャネル回路３１０に与えられる。このデータは、その後、符号化され、ディスクプラッター３７８に書き込まれる。
【００３６】
テスト動作中、又は幾つかの場合には標準的なデータ読取り動作中、信頼性データに基づく調節制御回路部は、読取りチャネル回路３１０の動作を統御する１つ又は複数のパラメーターを修正し、信頼性しきい値が満たされるか否かを監視し続ける。このように、読取りチャネル回路３１０内のパラメーターを修正して、読取りチャネル回路３１０の性能を改善することができる。信頼性データに基づく調節制御回路部を備える処理回路は、図１及び図２に関して上記で論述したものと同様に実施することができ、かつ／又は図５、図６、及び／若しくは図７に関して以下で論述するものと同様に動作することができる。他の場合には、信頼性データに基づく調節制御回路部は、図５及び図６に関して以下で論述するものと同様のストリームライン検索を用いる図８に関して以下で論述するものと同様の既知データに基づく調節制御回路部によって置き換えることができる。
【００３７】
ストレージシステムは、ＳＡＴＡ、ＳＡＳ又は当該技術分野において知られている他のストレージ技術を利用することができることに留意すべきである。また、ストレージシステム３００は、例えばＲＡＩＤ（低価格ディスク冗長アレイ又は独立ディスク冗長アレイ）に基づくストレージシステム等のより大きなストレージシステムに統合することができることにも留意すべきである。ストレージシステム３００の様々な機能又はブロックをソフトウェア又はファームウェアのいずれかに実装することができる一方、他の機能又はブロックはハードウェアに実装されることにも留意すべきである。
【００３８】
図４を参照すると、本発明の幾つかの実施形態による信頼性データに基づく調節回路部を有する受信機４２０を備えるデータ伝送システム４００が示されている。データ伝送システム４００は、当該技術分野において知られているような転送媒体４３０を介して符号化された情報を送信するように動作可能な送信機４１０を備える。符号化されたデータは、受信機４２０によって転送媒体４３０から受信される。受信機４２０は、信頼性データに基づく調節回路部を組み込んでいる。受信されたデータを処理している間、受信されたデータは、アナログ信号から一連の対応するデジタルサンプルに変換され、デジタルサンプルは等化されて、等化出力が得られる。等化出力は、次に、データ検出器回路とデータ復号化器回路との双方を備えるデータ処理回路に与えられる。データは、異なるデータセットに適用される処理反復回数間の変動を許容する中央メモリを介してデータ復号化器とデータ検出器回路との間で伝達される。転送媒体４３０は、当該技術分野において知られているような任意の転送媒体とすることができることに留意すべきである。任意の転送媒体には、無線媒体、光媒体、又は有線媒体が含まれるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々の転送媒体を認識するであろう。
【００３９】
テスト動作中、又は幾つかの場合には標準的なデータ読取り動作中、信頼性データに基づく調節制御回路部は、受信機４２０の動作を統御する１つ又は複数のパラメーターを修正し、信頼性しきい値が満たされるか否かを監視し続ける。このように、受信機４２０内のパラメーターを修正して受信機４２０の性能を改善することができる。信頼性データに基づく調節制御回路部を備える処理回路は、図１及び図２に関して上記で論述したものと同様に実施することができ、かつ／又は図５、図６及び／若しくは図７に関して以下で論述するものと同様に動作することができる。他の場合には、信頼性データに基づく調節制御回路部は、図５及び図６に関して以下で論述するものと同様のストリームライン検索を用いる図８に関して以下で論述するものと同様の既知データに基づく調節制御回路部によって置き換えることができる。
【００４０】
図５を参照すると、流れ図５００が、本発明の様々な実施形態による信頼性に基づくパラメーター調節のための方法を示している。流れ図５００に従って、初期パラメーターが検索のために選択される（ブロック５０５）。選択されたパラメーターは、データ処理回路の或る部分の動作を統御する任意のパラメーターとすることができる。幾つかの例として、パラメーターは、可変利得増幅器の利得、アナログフィルターの遮断周波数及び／若しくはブースト、ＤＣループオフセット、ターゲット、データ検出器回路によって用いられる検出器パラメーター、並びに／又はデータ復号化器回路によって用いられる復号化器パラメーターとすることができるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、図５の方法によって調整することができる種々のパラメーターを認識するであろう。選択されたパラメーターの現在の値が読み取られ、変数ＰＡＲＡＭとして格納される（ブロック５１０）。更新済みパラメーター（すなわち、データ処理回路に適用されるパラメーター）は、現在の値と等しく設定され、該更新済みパラメーターは、データ処理回路に適用される（ブロック５１５）。更新済みパラメーターを処理回路に適用することは、更新済みパラメーターを用いて或る期間の間、処理回路を動作させることを含む。この処理が行われるとき、データ検出器回路からの軟データの幾つのインスタンスが、規定しきい値未満であるのかのカウントが行われ、プロキシエラーカウントが得られる。この処理が行われると、プロキシエラーカウントが読み取られ、変数ＣＯＵＮＴとして格納される（ブロック５２０）。その後、プロキシエラーカウント値はリセットされる。
【００４１】
次に、選択されたパラメーターの別の値がテストされずに残っているか否かが判断される（ブロック５３０）。別の値がテストされずに残っている場合（ブロック５３０）、検索方向が計算される（ブロック６００）。検索方向を選択するこのプロセスは、図６に関して以下でより詳細に論述される。検索方向が特定されると（ブロック６００）、更新済みパラメーターの値が検索方向及びステップサイズに基づいて計算される（ブロック５３５）。幾つかの場合には、ステップサイズはユーザープログラマブルとすることができる一方、他の場合には、ステップサイズは固定とすることができる。本発明の幾つかの実施形態では、更新済みパラメーターの値は、以下の疑似コードに従って計算される。
Ｉｆ（検索方向は正である）
｛
更新済みパラメーター＝更新済みパラメーター＋ステップサイズ
｝
Ｅｌｓｅ
｛
更新済みパラメーター＝更新済みパラメーター−ステップサイズ
｝
次に、この新たな更新済みパラメーターは、データ処理回路に適用される（ブロック５４０）。更新済みパラメーターを処理回路に適用することは、更新済みパラメーターを用いて或る期間の間、処理回路を動作させることを含む。この処理が行われるとき、データ検出器回路からの軟データの幾つのインスタンスが規定しきい値未満であるのかのカウントが行われ、プロキシエラーカウントが得られる。処理が行われると、プロキシエラーカウントが読み取られ、変数ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴとして格納される（ブロック５４５）。その後、プロキシエラーカウント値はリセットされる。
【００４２】
ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値がＣＯＵＮＴの値以下であるか否かが判断される（ブロック５５０）。ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値がＣＯＵＮＴの値以下である場合（ブロック５５０）、変数ＣＯＵＮＴは、ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値と等しく設定され、ＰＡＲＡＭの値は、更新済みパラメーターの値と等しく設定される（ブロック５５５）。ブロック５３０、６００、５３５、５４０、５４５、５５０、５５５のプロセスは、選択されたパラメーターの全ての値がテストされるまで繰り返す。
【００４３】
テストされる、選択されたパラメーターの値がなくなると（ブロック５３０）、又はＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値がＣＯＵＮＴの値よりも大きい場合（ブロック５５０）、選択されたパラメーターの許容可能な値が変数ＰＡＲＡＭに格納済みであり、その値は、データ処理回路に適用される（ブロック５６０）。次に、データ処理回路の別のパラメーターがテストされずに残っているか否かが判断される（ブロック５６５）。別のパラメーターがテストされずに残っている場合（ブロック５６５）、テストされる次のパラメーターが選択され（ブロック５７５）、ブロック５１０〜５６５（ブロック６００を含む）のプロセスが、新たに選択されたパラメーターに対して繰り返される。そうではなく、テストされずに残っている他のパラメーターがない場合（ブロック５６５）、テストプロセスは終了する（ブロック５７０）。
【００４４】
図６を参照すると、流れ図６００が、検索方向を確定するための、本発明の幾つかの実施形態による方法を示している。流れ図６００は、図５からの同じ番号のブロックの方法を概説している。流れ図６００に従って、更新済みパラメーターが流れ図５００のプロセスから受信される（ブロック６０２）。更新済みパラメーターの次の値（すなわち、規定量だけ増加された更新済みパラメーターの値）が選択される（ブロック６０５）。更新済みパラメーターの次の値は、データ処理回路に適用される（ブロック６１０）。更新済みパラメーターの次の値を処理回路に適用することは、更新済みパラメーターを用いて或る期間の間、処理回路を動作させることを含む。この処理が行われるとき、データ検出器回路からの軟データの幾つのインスタンスが規定しきい値未満であるのかのカウントが行われ、プロキシエラーカウントが得られる。この処理が行われると、プロキシエラーカウントが読み取られ、変数ＰＬＵＳ＿ＣＯＵＮＴとして格納される（ブロック５２０）。その後、プロキシエラーカウント値はリセットされる。
【００４５】
次に、更新済みパラメーターの前の値（すなわち、規定量だけ減少された更新済みパラメーターの値）が選択される（ブロック６２０）。更新済みパラメーターの前の値がデータ処理回路に適用される（ブロック６２５）。更新済みパラメーターの前の値を処理回路に適用することは、更新済みパラメーターを用いて或る期間の間、処理回路を動作させることを含む。この処理が行われるとき、データ検出器回路からの軟データの幾つのインスタンスが規定しきい値未満であるのかのカウントが行われ、プロキシエラーカウントが得られる。処理が行われると、プロキシエラーカウントが読み取られ、変数ＭＩＮＵＳ＿ＣＯＵＮＴとして格納される（ブロック６３０）。その後、プロキシエラーカウント値はリセットされる。
【００４６】
次に、ＰＬＵＳ＿ＣＯＵＮＴの値がＭＩＮＵＳ＿ＣＯＵＮＴの値よりも大きいか否かが判断される（ブロック６３５）。ＰＬＵＳ＿ＣＯＵＮＴの値がＭＩＮＵＳ＿ＣＯＵＮＴの値よりも大きい場合（ブロック６３５）、検索方向は、負と等しく設定される（ブロック６５０）。そうでない場合、検索方向は正と等しく設定される（ブロック６４０）。次に、検索方向は、図５のプロセスについて用いるために返される（ブロック６６０）。
【００４７】
図７を参照すると、流れ図７００が本発明の幾つかの実施形態による信頼性に基づくパラメーター調節のための別の方法を示している。流れ図７００に従って、初期パラメーターが検索のために選択される（ブロック７０５）。選択されたパラメーターは、データ処理回路の或る部分の動作を統御する任意のパラメーターとすることができる。幾つかの例として、パラメーターは、可変利得増幅器の利得、アナログフィルターの遮断周波数及び／若しくはブースト、ＤＣループオフセット、ターゲット、データ検出器回路によって用いられる検出器パラメーター、並びに／又はデータ復号化器回路によって用いられる復号化器パラメーターとすることができるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、図７の方法によって調整することができる種々のパラメーターを認識するであろう。選択されたパラメーターの現在の値が読み取られ、変数ＰＡＲＡＭとして格納される（ブロック７１０）。更新済みパラメーター（すなわち、データ処理回路に適用されるパラメーター）は、現在の値と等しく設定され（ブロック７１５）、該更新済みパラメーターは、データ処理回路に適用される（ブロック７２０）。更新済みパラメーターを処理回路に適用することは、更新済みパラメーターを用いて或る期間の間、処理回路を動作させることを含む。この処理が行われるとき、データ検出器回路からの軟データの幾つのインスタンスが規定しきい値未満であるのかのカウントが行われ、プロキシエラーカウントが得られる。この処理が行われると、プロキシエラーカウントが読み取られ、変数ＣＯＵＮＴとして格納される（ブロック７２５）。その後、プロキシエラーカウント値はリセットされる。
【００４８】
次に、選択されたパラメーターの別の値がテストされずに残っているか否かが判断される（ブロック７３０）。別の値がテストされずに残っている場合（ブロック７３０）、更新済みパラメーターの次の値が選択される（ブロック７３５）。次に、この新たな更新済みパラメーターは、データ処理回路に適用される（ブロック７４０）。更新済みパラメーターを処理回路に適用することは、更新済みパラメーターを用いて或る期間の間、処理回路を動作させることを含む。この処理が行われるとき、データ検出器回路からの軟データの幾つのインスタンスが規定しきい値未満であるのかのカウントが行われ、プロキシエラーカウントが得られる。この処理が行われると、プロキシエラーカウントが読み取られ、変数ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴとして格納される（ブロック７４５）。その後、プロキシエラーカウント値はリセットされる。
【００４９】
ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値がＣＯＵＮＴの値以下であるか否かが判断される（ブロック７５０）。ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値がＣＯＵＮＴの値以下である場合（ブロック７５０）、変数ＣＯＵＮＴは、ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴの値と等しく設定され、ＰＡＲＡＭの値は、更新済みパラメーターの値と等しく設定される（ブロック７５５）。ブロック７３０〜７５５のプロセスは、選択されたパラメーターの全ての値がテストされるまで繰り返す。
【００５０】
選択されたパラメーターの値の全てがテストされると（ブロック７３０）、選択されたパラメーターの最良の利用可能な値が変数ＰＡＲＡＭに格納され、その値は、データ処理回路に適用される（ブロック７６０）。次に、データ処理回路の別のパラメーターがテストされずに残っているか否かが判断される（ブロック７６５）。別のパラメーターがテストされずに残っている場合（ブロック７６５）、テストされる次のパラメーターが選択され（ブロック７７５）、ブロック７１０〜７６５のプロセスが、新たに選択されたパラメーターに対して繰り返される。そうではなく、テストされずに残っている他のパラメーターがない場合（ブロック７６５）、テストプロセスは終了する（ブロック７７０）。
【００５１】
図８は、本発明の１つ又は複数の実施形態によるストリームライン検索を有する既知データに基づくモニター回路８６０を備えるデータ処理回路８００を示している。データ処理回路８００は、アナログ処理回路８０８を備える。アナログ処理回路８０８は、アナログフロントエンド回路８１０と、タイミング及び制御をアナログフロントエンド回路８１０に提供するように動作可能なフロントエンド処理ループ８１１と、ターゲットに基づくフィルタリングフィードバックをアナログフロントエンド回路８１０に提供するように動作可能なターゲット回路８０９とを備える。アナログフロントエンド回路８１０は、当該技術分野において知られているようなアナログフィルター及び増幅器回路を含むことができるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、アナログフロントエンド回路８１０の一部として含めることができる種々の回路部を認識するであろう。幾つかの場合には、アナログフロント回路８１０の一部として含まれる可変利得増幅器の利得を修正可能とすることができ、アナログフロントエンド回路８１０に含まれるアナログフィルターの遮断周波数及びブーストを修正可能とすることができる。フロントエンド処理ループ８１１は、当該技術分野において知られているアナログフロントエンド回路８１０にタイミングを提供するように動作可能な任意の処理ループとすることができる。幾つかの場合には、そのようなフロントエンド処理ループ８１１は、修正可能とすることができるＤＣループオフセットを含む。ターゲット回路８０９は、当該技術分野において知られている任意の、ターゲットに基づくフィルター回路とすることができる。様々な場合において、ターゲット回路８０９によって用いられるターゲットは修正可能とすることができる。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々の、ターゲットに基づくフィルター回路及びフロントエンド処理ループを認識するであろう。
【００５２】
アナログフロントエンド回路８１０は、アナログ信号８０５を受信する。アナログフロントエンド回路８１０は、アナログ信号８０５を処理し、処理済みのアナログ信号８１２(112)をアナログ／デジタル変換器回路８１４に提供する。幾つかの場合には、アナログ信号８０５は、ストレージ媒体（図示せず）に対して配置される読取り／書込みヘッドアセンブリ（図示せず）から取り出される。他の場合には、アナログ信号８０５は、伝送媒体（図示せず）からの信号を受信するように動作可能な受信機回路（図示せず）から取り出される。伝送媒体は、有線又は無線とすることができる。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、アナログ入力８０５を取り出すことができる種々の信号源を認識するであろう。
【００５３】
アナログ／デジタル変換器回路８１４は、処理済みのアナログ信号８１２を対応する一連のデジタルサンプル８１６に変換する。アナログ／デジタル変換器回路８１４は、アナログ入力信号に対応するデジタルサンプルを生成することが可能な、当該技術分野において知られている任意の回路とすることができる。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々のアナログ／デジタル変換器回路を認識するであろう。デジタルサンプル８１６は等化器回路８２０に与えられる。等化器回路８２０は、デジタルサンプル８１６に等化アルゴリズムを適用して、等化出力８２５を得る。本発明の幾つかの実施形態では、等化器回路８２０は、当該技術分野において知られているようなデジタル有限インパルス応答フィルター回路である。等化出力８２５は、データ検出器回路８３０に与えられる。幾つかの場合には、等化器８２０は、データ検出器回路８３０が処理に利用可能になるまで１つ又は複数の符号語を保持するのに十分なメモリを備える。
【００５４】
データ検出器回路８３０は、受信した符号語又はデータセットにデータ検出アルゴリズムを適用するように動作可能であり、幾つかの場合には、データ検出器回路８３０は、２つ以上の符号語を並列に処理することができる。本発明の幾つかの実施形態では、データ検出器回路８３０は、当該技術分野において知られているようなビタビアルゴリズムデータ検出器回路である。本発明の他の実施形態では、データ検出器回路８３０は、当該技術分野において知られているような最大事後データ検出器回路である。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる種々のデータ検出器回路を認識するであろう。データ検出器回路８３０は、等化器回路８２０又は中央メモリ回路８５０からのデータセットが利用可能であることに基づいて始動される。
【００５５】
完了すると、データ検出器回路８３０は検出器出力８９５を与える。検出出力８９５は局所インターリーバー回路８４２及び既知データに基づくモニター回路８６０に与えられる。局所インターリーバー回路８４２は、検出出力として含まれるデータセットの副部分（すなわち局所チャンク）をシャッフルするように動作可能であり、インターリーブされた符号語８４６を与え、該インターリーブされた符号語８４６は中央メモリ回路８５０に格納される。インターリーバー回路８４２は、データセットをシャッフルして再配列されたデータセットを得ることが可能な、当該技術分野において知られている任意の回路とすることができる。インターリーブされた符号語８４６は中央メモリ回路８５０に格納される。
【００５６】
データ復号化器回路８７０が利用可能になると、以前に格納されたインターリーブされた符号語８４６が、復号化器入力８５２として中央メモリ回路８５０からアクセスされ、当該技術分野において知られているように大域的にインターリーブされ、データ復号化アルゴリズムが適用される。本発明の幾つかの実施形態では、データ復号化アルゴリズムは当該技術分野において知られているような低密度パリティチェックアルゴリズムである。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態に関して用いることができる他の復号化アルゴリズムを認識するであろう。データ復号化アルゴリズムが所与のデータセットに対して完了すると、復号化アルゴリズムが収束した（すなわち、結果のデータセットが、パリティエラーがないことによって示されるように、最初に書き込まれたデータと一致する）か否かが判断される。復号化アルゴリズムが収束したと判断された場合、その結果の復号化データセットは硬判定出力８７２としてデインターリーバー回路８８０に与えられる。デインターリーバー回路８８０は、データを再配列して、データに適用された大域インターリーブ及び局所インターリーブの双方を逆に行い、デインターリーブされた出力８８２を得る。デインターリーブされた出力８８２は硬判定出力回路８９０に与えられる。硬判定出力回路８９０は、順序がばらばらで完了する場合があるデータセットを再順序付けし、該データセットの元の順序に戻すように動作可能である。次に、元の順序付けされたデータセットは硬判定出力８９２として与えられる。
【００５７】
代替的に、データ復号化アルゴリズムが収束しなかったと判断された（すなわち、パリティエラーが残っている）場合、完了したデータセットは、当該技術分野において知られているように大域的にデインターリーブされ、復号化器出力８５４として中央メモリ回路８５０に再び書き込まれる。データ検出器回路８３０が利用可能になると、以前に格納され復号化器出力８４８が、中央メモリ回路８５０からアクセスされ、デインターリーバー回路８４４によって局所的にデインターリーブされる。デインターリーバー回路８４４は、インターリーバー回路８４２によって最初に実行されたシャフルを逆に行うように復号化器出力８４８を再配列する。その結果のデインターリーブされた出力８９７は、データ検出器回路８３０に与えられる。
【００５８】
幾つかの場合には、既知データに基づくモニター回路８６０は、テスト／調節期間中にのみ動作する。他の場合には、既知データに基づくモニター回路８６０は、連続的に動作される。既知データに基づくモニター回路８６０は、検出器出力８９５を受信し、データ処理回路８００の動作を統御するのに用いられる１つ又は複数のパラメーターを修正する。パラメーターは、入出力８６４を介してアナログ処理回路８０８に通信することができ、入出力８６２を介してデータ検出器回路８３０に通信することができ、かつ／又は入出力８６６を介してデータ復号化器回路８７０に通信することができる。パラメーターは、アナログフロントエンド回路８１０に含まれる可変利得増幅器の利得、アナログフロントエンド回路８１０に含まれるアナログフィルターの遮断周波数及び／若しくはブースト、フロントエンド処理ループ８１１のＤＣループオフセット、ターゲット回路８０９によって用いられるターゲット、データ検出器回路８３０によって用いられる検出器パラメーター、並びに／又はデータ復号化器回路８７０によって用いられる復号化器パラメーターとすることができるが、これらに限定されるものではない。本明細書において提供される開示に基づくと、当業者であれば、本発明の異なる実施形態による既知データに基づくモニター回路８６０によって調整することができる種々のパラメーターを認識するであろう。
【００５９】
既知データに基づくモニター回路８６０は、硬判定出力８９２を既知データセット８６８と比較する。データが処理されているとき、既知データに基づくモニター回路８６０は、入出力８６２、入出力８６４及び入出力８６６を介してそれぞれの回路に与えられる１つ又は複数のパラメーターの値（複数の場合もあり）を選択する。次に、データが、或る時間期間にわたって、選択されたパラメーター値を用いてデータ処理回路８００を通じて処理される。硬判定出力８９２のインスタンスが既知データセット８６８の対応するインスタンスと等しくないと、既知データに基づくモニター回路８６０が判断した場合、エラーが示される。このエラーはエラーレートに組み込まれる。エラーレートが規定しきい値を超えた場合、１つ又は複数のパラメーターの１つ又は複数の新たな値が選択され、許容可能なパラメーターが特定されるまで、再テストプロセスが続く。図２に関して上記で論述したものと同様の回路を用いて、既知データに基づくモニター回路を実装することができる。異なる点は、図２の回路の比較器２１０が、軟データ２０３及び信頼性しきい値２０５の代わりに既知データセット８６８及び硬判定出力８９２を受信するということである。既知データに基づくモニター回路８６０は、図５及び図６に関して上記で論述したようなストリームラインパラメーター値検索プロセスを組み込む。
【００６０】
上記のアプリケーションにおいて論述した様々なブロックは、他の機能とともに集積回路に実装することができることに留意すべきである。そのような集積回路は、所与のブロック、システム若しくは回路の機能の全て、又はブロック、システム若しくは回路のサブセットのみを含むことができる。また、ブロック、システム又は回路の要素を複数の集積回路にわたって実装することができる。そのような集積回路は、モノリシック集積回路、フリップチップ集積回路、マルチチップモジュール集積回路及び／又は混合信号集積回路を含むが、これらに限定されるものではない、当該技術分野において知られている任意のタイプの集積回路とすることができる。本明細書において論述されたブロック、システム又は回路の様々な機能を、ソフトウェア又はファームウェアのいずれかにおいて実装することができることにも留意すべきである。そのような幾つかの場合には、システム全体、ブロック全体又は回路全体を、そのソフトウェア等価物又はファームウェア等価物を用いて実装することができる。他の場合には、所与のシステム、ブロック又は回路の一部分をソフトウェア又はファームウェアにおいて実装することもできる一方、他の部分はハードウェアにおいて実装される。
【００６１】
結論として、本発明はデータ処理のための新規なシステム、デバイス、方法及び構成を提供する。本発明の１つ又は複数の実施形態の詳細な説明が上記で与えられたが、本発明の趣旨から逸脱することなく、様々な代替形態、修正形態及び均等物が当業者には明らかであろう。したがって、上記の説明は本発明の範囲を限定するものとして解釈されるべきではなく、本発明の範囲は添付の特許請求の範囲によって画定される。
【符号の説明】
【００６２】
図１
１０５ Analog Input アナログ入力
１０９ Target ターゲット
１１０ Analog Front End Circuit アナログフロントエンド回路
１１１ Front End Processing Loops フロントエンド処理ループ
１１４ Analog to Digital Converter Circuit アナログ／デジタル変換器回路
１２０ DFIR Circuit ＤＦＩＲ回路
１３０ Data Detector Circuit データ検出器回路
１４２ Local Interleaver Circuit 局所インターリーバー回路
１４４ Local De-Interleaver Circuit 局所デインターリーバー回路
１５０ Central Memory Circuit 中央メモリ回路
１６０ Reliability Monitor Circuit 信頼性モニター回路
１６８ Reliability Threshold 信頼性しきい値
１６９ Reset リセット
１７０ Data Decoder Circuit Including Global Interleaving/De-InterleavingCircuitry 大域的インターリーブ／デインターリーブ回路部を備えるデータ復号化器回路
１８０ De-Interleaver Circuit デインターリーバー回路
１９０ Hard Decision Output Circuit 硬判定出力回路
１９２ Hard Decision Output 硬判定出力
図２
２０３ Soft Data 軟データ
２０５ Reliability Threshold 信頼性しきい値
２１０ Comparator Circuit 比較器回路
２２３ Reset リセット
２２５ Proxy Error Count プロキシエラーカウント
２３０ Proxy Error Counter Circuit プロキシエラーカウンター回路
２４０ Initial Parameter 初期パラメーター
２５０ Parameter Modification Control Circuit パラメーター修正制御回路
２６０ Updated Parameter 更新済みパラメーター
図３
３０１ Write Data 書込みデータ
３０３ Read Data 読取りデータ
３１０ Read Channel Including Soft Data Reliability Data Based TuningControl Circuitry 軟データ信頼性データに基づく調節制御回路部を備える読取りチャネル
３２０ Interface Controller インターフェースコントローラー
３６６ Hard Disk Controller ハードディスクコントローラー
３６８ Motor Controller モーターコントローラー
３７０ Preamp 前置増幅器
３７２ Spindle Motor スピンドルモーター
３７６ Read/Write Head 読取り／書込みヘッド
３７８ Disk Platter ディスクプラッター
図４
４１０ Transmitter 送信機
４２０ Receiver Including Reliability Data Based Tuning Control Circuitry 信頼性データに基づく調節制御回路部を備える受信機
４３０ Transfer Medium 転送媒体
図５
５０５ Select Initial Parameter to be Searched 検索される初期パラメーターを選択する
５１０ Read Current Value of the Selected Parameter and Store the CurrentValue as PARAM 選択されたパラメーターの現在の値を読み取り、現在の値をＰＡＲＡＭとして格納する
５１５ Set the Updated Parameter to the Current Value and Apply the UpdatedParameter to the Circuit 更新済みパラメーターを現在の値に設定し、更新済みパラメーターを回路に適用する
５２０ Read the Proxy Error Count and Store the Proxy Error Count as COUNT プロキシエラーカウントを読み取り、プロキシエラーカウントをＣＯＵＮＴとして格納する
５３０ Another Value of the Selected Parameter to be Tested? 選択されたパラメーターの、テストされる別の値はあるか？
５３５ Calculated Updated Parameter Based on the Search Direction and the Step Size 更新済みパラメーターを検索方向及びステップサイズに基づいて計算する
５４０ Apply the Updated Parameter to the Circuit 更新済みパラメーターを回路に適用する
５４５ Read the Proxy Error Count as NEXT_COUNT プロキシエラーカウントをＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴとして読み取る
５５５ Set COUNT = NEXT_COUNT and Set PARAM = Updated Parameter ＣＯＵＮＴ＝ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴに設定し、ＰＡＲＡＭ＝更新済みパラメーターに設定する
５６０ Apply PARAM to the Circuit ＰＡＲＡＭを回路に適用する
５６５ Another Parameter to be Tested? テストされる別のパラメーターはあるか？
５７０ End 終了
５７５ Select the Next Paramter 次のパラメーターを選択する
６００ Calculate the Search Direction 検索方向を計算する
図６
６０２ Receive the Updated Parameter 更新済みパラメーターを受信する
６０５ Select the Next Value of the Updated Parameter 更新済みパラメーターの次の値を選択する
６１０ Apply the Next Value of the Updated Parameter to the Circuit 更新済みパラメーターの次の値を回路に適用する
６１５ Read the Proxy Error Count as PLUS_COUNT プロキシエラーカウントをＰＬＵＳ＿ＣＯＵＮＴとして読み取る
６２０ Select the Prior Value of the Updated Parameter 更新済みパラメーターの前の値を選択する
６２５ Apply the Prior Value of the Updated Parameter to the Circuit 更新済みパラメーターの前の値を回路に適用する
６３０ Read the Proxy Error Count as MINUS_COUNT プロキシエラーカウントをＭＩＮＵＳ＿ＣＯＵＮＴとして読み取る
６４０ Search Direction = Positive 検索方向＝正
６５０ Search Direction = Negative 検索方向＝負
６６０ Return Search Direction 検索方向を返す
図７
７０５ Select Initial Parameter to be Searched 検索される初期パラメーターを選択する
７１０ Read Current Value of the Selected Parameter and Store the CurrentValue as PARAM 選択されたパラメーターの現在の値を読み取り、現在の値をＰＡＲＡＭとして格納する
７１５ Set the Updated Parameter to the Current Value 更新済みパラメーターを現在の値に設定する
７２０ Apply the Updated Parameter to the Circuit 更新済みパラメーターを回路に適用する
７２５ Read the Proxy Error Count and Store the Proxy Error Count as COUNT プロキシエラーカウントを読み取り、プロキシエラーカウントをＣＯＵＮＴとして格納する
７３０ Another Value of the Selected Parameter to be Tested? 選択されたパラメーターの、テストされる別の値はあるか？
７３５ Select the Next Value for the Updated Parameter 更新済みパラメーターの次の値を選択する
７４０ Apply the Updated Parameter to the Circuit 更新済みパラメーターを回路に適用する
７４５ Read the Proxy Error Count as NEXT_COUNT プロキシエラーカウントをＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴとして読み取る
７５５ Set COUNT = NEXT_COUNT and Set PARAM = Updated Parameter ＣＯＵＮＴ＝ＮＥＸＴ＿ＣＯＵＮＴに設定し、ＰＡＲＡＭ＝更新済みパラメーターに設定する
７６０ Apply PARAM to the Circuit ＰＡＲＡＭを回路に適用する
７６５ Another Parameter to be Tested? テストされる別のパラメーターはあるか？
７７０ End 終了
７７５ Select the Next Paramter 次のパラメーターを選択する
図８
８０５ Analog Input アナログ入力
８０９ Target ターゲット
８１０ Analog Front End Circuit アナログフロントエンド回路
８１１ Front End Processing Loops フロントエンド処理ループ
８１４ Analog to Digital Converter Circuit アナログ／デジタル変換器回路
８２０ DFIR Circuit ＤＦＩＲ回路
８３０ Data Detector Circuit データ検出器回路
８４２ Local Interleaver Circuit 局所インターリーバー回路
８４４ Local De-Interleaver Circuit 局所デインターリーバー回路
８５０ Central Memory Circuit 中央メモリ回路
８６０ Known Data Based Monitor Circuit 既知データに基づくモニター回路
８６８ Known Data 既知データ
８７０ Data Decoder Circuit Including Global Interleaving/De-InterleavingCircuitry 大域的インターリーブ／デインターリーブ回路部を備えるデータ復号化器回路
８８０ De-Interleaver Circuit デインターリーバー回路
８９０ Hard Decision Output Circuit 硬判定出力回路
８９２ Hard Decision Output 硬判定出力
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データ処理システムであって、
復号化出力によって誘導される第１のデータセットにデータ検出アルゴリズムを適用して、検出出力を得るように動作可能なデータ検出器回路と、
第２のデータセットにデータ復号化アルゴリズムを適用して、復号化出力を得るように動作可能なデータ復号化器回路であって、該第２のデータセットは該第１のデータセットから取り出される、データ復号化器回路と、
該復号化出力から取り出された第３のデータセットと該第１のデータセットとからなる群から選択された出力に少なくとも部分的に基づいてエラーレートを計算するように動作可能な信頼性モニター回路と、
パラメーター修正制御回路であって、
パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応する該エラーレートの第１のインスタンスを格納し、
該パラメーターの第２の値を選択して該第２の値に対応するエラーカウントの第２のインスタンスを格納し、なお、該第２の値を選択することは、該第１の値に少なくとも部分的に基づいて検索方向を確定することと、検索値とステップサイズとを用いることであって、該第２の値を計算する、用いることとを含み、
該エラーレートの該第１のインスタンスと該エラーレートの該第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいて、該第１の値及び該第２の値のうちの一方を選択する、
ように動作可能なパラメーター修正制御回路と、
を備える、データ処理システム。
【請求項２】
エラーレートを計算することは、該第３のデータセットを既知データセットと比較することを含む、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項３】
第３のデータセットは、硬判定出力のセットである、請求項２に記載のデータ処理システム。
【請求項４】
データ検出アルゴリズムは、最大事後データ検出アルゴリズムとビタビ検出アルゴリズムとからなる群から選択される、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項５】
データ復号化アルゴリズムは、低密度パリティチェックアルゴリズムである、請求項３に記載のデータ処理システム。
【請求項６】
出力は、該復号化出力から取り出された該第３のデータセットであり、該信頼性モニター回路は、
該第３のデータセットのインスタンスを既知データセットと比較するように動作可能な比較器回路と、
該第３のデータセットのインスタンスが該既知データセットの対応するインスタンスと等しくない場合には、インクリメントして該エラーレートを得るように動作可能なカウンター回路と、
を備える、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項７】
出力は該第１のデータセットであり、該第１のデータセットは軟データを含み、該信頼性モニター回路は、
該軟データのインスタンスをしきい値と比較するように動作可能な比較器回路と、
該軟データのインスタンスが該しきい値未満である場合には、インクリメントして該エラーレートを得るように動作可能なカウンター回路と、
を備える、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項８】
しきい値はプログラマブルである、請求項７に記載のデータ処理システム。
【請求項９】
ステップサイズはプログラマブルである、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項１０】
データ処理システムは、ストレージデバイスと受信デバイスとからなる群から選択されるデバイスの一部として実装される、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項１１】
データ処理システムは、集積回路の一部として実装される、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項１２】
データ処理のための方法であって、
データ検出器回路を用いてデータ検出アルゴリズムを第１のデータセットに対して実行することであって、検出出力を得る、実行することと、
データ復号化器回路を用いてデータ復号化アルゴリズムを、該第１のデータセットから取り出された第２のデータセットに対して実行することであって、復号化出力を得る、実行することと、
該復号化出力から取り出された第３のデータセットと該第１のデータセットとからなる群から選択された出力に少なくとも部分的に基づいてエラーレートを計算することと、
パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応する該エラーレートの第１のインスタンスを格納することと、
該パラメーターの第２の値を選択して該第２の値に対応するエラーカウントの第２のインスタンスを格納することであって、該第２の値を選択することは、該第１の値に少なくとも部分的に基づいて検索方向を確定することと、検索値とステップサイズとを用いることであって、該第２の値を計算する、用いることとを含む、選択し格納することと、
該エラーレートの該第１のインスタンスと該エラーレートの該第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいて、該第１の値及び該第２の値のうちの一方を選択することと、
を含む、データ処理のための方法。
【請求項１３】
出力は、該復号化出力から取り出された該第３のデータセットであり、該エラーレートを計算することは、
該第３のデータセットのインスタンスを既知データセットと比較することと、
該既知データセットの対応するインスタンスと等しくない該第３のデータセットのインスタンスの数をカウントすることであって、該エラーレートを得る、カウントすることと、
を含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
出力は該第１のデータセットであり、該第１のデータセットは軟データを含み、該エラーレートを計算することは、
該軟データのインスタンスをしきい値と比較することと、
該しきい値未満の該軟データのインスタンスの数をカウントすることであって、該エラーレートを得る、カウントすることと、
を含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１５】
しきい値はプログラマブルである、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
第３のデータセットは硬判定出力のセットである、請求項１２に記載の方法。
【請求項１７】
ステップサイズはプログラマブルである、請求項１２に記載の方法。
【請求項１８】
ストレージデバイスであって、
ストレージ媒体と、
該ストレージ媒体に対して配置され、該ストレージ媒体上の情報に対応する検知された信号を与えるように動作可能なヘッドアセンブリと、
読取りチャネル回路であって、
該検知された信号から取り出されたアナログ信号をサンプリングして一連のデジタルサンプルを得るように動作可能なアナログ／デジタル変換器回路と、
該デジタルサンプルを等化して第１のデータセットを得るように動作可能な等化器回路と、
データ検出アルゴリズムを該第１のデータセットに適用するように動作可能なデータ検出器回路と、
データ復号化アルゴリズムを第２のデータセットに適用して復号化出力を得るように動作可能なデータ復号化器回路であって、該第２のデータセットは、該第１のデータセットから取り出される、データ復号化器回路と、
該復号化出力から取り出された第３のデータセットと該第１のデータセットとからなる群から選択された出力に少なくとも部分的に基づいてエラーレートを計算するように動作可能な信頼性モニター回路と、
パラメーター修正制御回路であって、
パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応する該エラーレートの第１のインスタンスを格納し、
該パラメーターの第２の値を選択して該第２の値に対応するエラーカウントの第２のインスタンスを格納し、なお、該第２の値を選択することは、該第１の値に少なくとも部分的に基づいて検索方向を確定することと、検索値とステップサイズとを用いることであって、該第２の値を計算する、用いることとを含み、
該エラーレートの該第１のインスタンスと該エラーレートの該第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいて、該第１の値及び該第２の値のうちの一方を選択する、
ように動作可能なパラメーター修正制御回路と、
を備える、読取りチャネル回路と、
を備える、ストレージデバイス。
【請求項１９】
出力は、該復号化出力から取り出された該第３のデータセットであり、該信頼性モニター回路は、
該第３のデータセットのインスタンスを既知データセットと比較するように動作可能な比較器回路と、
該第３のデータセットのインスタンスが該既知データセットの対応するインスタンスと等しくない場合には、インクリメントして該エラーレートを得るように動作可能なカウンター回路と、
を備える、請求項１８に記載のストレージデバイス。
【請求項２０】
出力は該第１のデータセットであり、該第１のデータセットは軟データを含み、該信頼性モニター回路は、
該軟データのインスタンスをしきい値と比較するように動作可能な比較器回路と、
該軟データのインスタンスが該しきい値未満である場合には、インクリメントして該エラーレートを得るように動作可能なカウンター回路と、
を備える、請求項１８に記載のストレージデバイス。
【請求項１】
データ処理システムであって、
復号化出力によって誘導される第１のデータセットにデータ検出アルゴリズムを適用して、検出出力を得るように動作可能なデータ検出器回路と、
第２のデータセットにデータ復号化アルゴリズムを適用して、復号化出力を得るように動作可能なデータ復号化器回路であって、該第２のデータセットは該第１のデータセットから取り出される、データ復号化器回路と、
該復号化出力から取り出された第３のデータセットと該第１のデータセットとからなる群から選択された出力に少なくとも部分的に基づいてエラーレートを計算するように動作可能な信頼性モニター回路と、
パラメーター修正制御回路であって、
パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応する該エラーレートの第１のインスタンスを格納し、
該パラメーターの第２の値を選択して該第２の値に対応するエラーカウントの第２のインスタンスを格納し、なお、該第２の値を選択することは、該第１の値に少なくとも部分的に基づいて検索方向を確定することと、検索値とステップサイズとを用いることであって、該第２の値を計算する、用いることとを含み、
該エラーレートの該第１のインスタンスと該エラーレートの該第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいて、該第１の値及び該第２の値のうちの一方を選択する、
ように動作可能なパラメーター修正制御回路と、
を備える、データ処理システム。
【請求項２】
エラーレートを計算することは、該第３のデータセットを既知データセットと比較することを含む、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項３】
第３のデータセットは、硬判定出力のセットである、請求項２に記載のデータ処理システム。
【請求項４】
データ検出アルゴリズムは、最大事後データ検出アルゴリズムとビタビ検出アルゴリズムとからなる群から選択される、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項５】
データ復号化アルゴリズムは、低密度パリティチェックアルゴリズムである、請求項３に記載のデータ処理システム。
【請求項６】
出力は、該復号化出力から取り出された該第３のデータセットであり、該信頼性モニター回路は、
該第３のデータセットのインスタンスを既知データセットと比較するように動作可能な比較器回路と、
該第３のデータセットのインスタンスが該既知データセットの対応するインスタンスと等しくない場合には、インクリメントして該エラーレートを得るように動作可能なカウンター回路と、
を備える、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項７】
出力は該第１のデータセットであり、該第１のデータセットは軟データを含み、該信頼性モニター回路は、
該軟データのインスタンスをしきい値と比較するように動作可能な比較器回路と、
該軟データのインスタンスが該しきい値未満である場合には、インクリメントして該エラーレートを得るように動作可能なカウンター回路と、
を備える、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項８】
しきい値はプログラマブルである、請求項７に記載のデータ処理システム。
【請求項９】
ステップサイズはプログラマブルである、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項１０】
データ処理システムは、ストレージデバイスと受信デバイスとからなる群から選択されるデバイスの一部として実装される、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項１１】
データ処理システムは、集積回路の一部として実装される、請求項１に記載のデータ処理システム。
【請求項１２】
データ処理のための方法であって、
データ検出器回路を用いてデータ検出アルゴリズムを第１のデータセットに対して実行することであって、検出出力を得る、実行することと、
データ復号化器回路を用いてデータ復号化アルゴリズムを、該第１のデータセットから取り出された第２のデータセットに対して実行することであって、復号化出力を得る、実行することと、
該復号化出力から取り出された第３のデータセットと該第１のデータセットとからなる群から選択された出力に少なくとも部分的に基づいてエラーレートを計算することと、
パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応する該エラーレートの第１のインスタンスを格納することと、
該パラメーターの第２の値を選択して該第２の値に対応するエラーカウントの第２のインスタンスを格納することであって、該第２の値を選択することは、該第１の値に少なくとも部分的に基づいて検索方向を確定することと、検索値とステップサイズとを用いることであって、該第２の値を計算する、用いることとを含む、選択し格納することと、
該エラーレートの該第１のインスタンスと該エラーレートの該第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいて、該第１の値及び該第２の値のうちの一方を選択することと、
を含む、データ処理のための方法。
【請求項１３】
出力は、該復号化出力から取り出された該第３のデータセットであり、該エラーレートを計算することは、
該第３のデータセットのインスタンスを既知データセットと比較することと、
該既知データセットの対応するインスタンスと等しくない該第３のデータセットのインスタンスの数をカウントすることであって、該エラーレートを得る、カウントすることと、
を含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
出力は該第１のデータセットであり、該第１のデータセットは軟データを含み、該エラーレートを計算することは、
該軟データのインスタンスをしきい値と比較することと、
該しきい値未満の該軟データのインスタンスの数をカウントすることであって、該エラーレートを得る、カウントすることと、
を含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１５】
しきい値はプログラマブルである、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
第３のデータセットは硬判定出力のセットである、請求項１２に記載の方法。
【請求項１７】
ステップサイズはプログラマブルである、請求項１２に記載の方法。
【請求項１８】
ストレージデバイスであって、
ストレージ媒体と、
該ストレージ媒体に対して配置され、該ストレージ媒体上の情報に対応する検知された信号を与えるように動作可能なヘッドアセンブリと、
読取りチャネル回路であって、
該検知された信号から取り出されたアナログ信号をサンプリングして一連のデジタルサンプルを得るように動作可能なアナログ／デジタル変換器回路と、
該デジタルサンプルを等化して第１のデータセットを得るように動作可能な等化器回路と、
データ検出アルゴリズムを該第１のデータセットに適用するように動作可能なデータ検出器回路と、
データ復号化アルゴリズムを第２のデータセットに適用して復号化出力を得るように動作可能なデータ復号化器回路であって、該第２のデータセットは、該第１のデータセットから取り出される、データ復号化器回路と、
該復号化出力から取り出された第３のデータセットと該第１のデータセットとからなる群から選択された出力に少なくとも部分的に基づいてエラーレートを計算するように動作可能な信頼性モニター回路と、
パラメーター修正制御回路であって、
パラメーターの第１の値を選択して該第１の値に対応する該エラーレートの第１のインスタンスを格納し、
該パラメーターの第２の値を選択して該第２の値に対応するエラーカウントの第２のインスタンスを格納し、なお、該第２の値を選択することは、該第１の値に少なくとも部分的に基づいて検索方向を確定することと、検索値とステップサイズとを用いることであって、該第２の値を計算する、用いることとを含み、
該エラーレートの該第１のインスタンスと該エラーレートの該第２のインスタンスとの比較に少なくとも部分的に基づいて、該第１の値及び該第２の値のうちの一方を選択する、
ように動作可能なパラメーター修正制御回路と、
を備える、読取りチャネル回路と、
を備える、ストレージデバイス。
【請求項１９】
出力は、該復号化出力から取り出された該第３のデータセットであり、該信頼性モニター回路は、
該第３のデータセットのインスタンスを既知データセットと比較するように動作可能な比較器回路と、
該第３のデータセットのインスタンスが該既知データセットの対応するインスタンスと等しくない場合には、インクリメントして該エラーレートを得るように動作可能なカウンター回路と、
を備える、請求項１８に記載のストレージデバイス。
【請求項２０】
出力は該第１のデータセットであり、該第１のデータセットは軟データを含み、該信頼性モニター回路は、
該軟データのインスタンスをしきい値と比較するように動作可能な比較器回路と、
該軟データのインスタンスが該しきい値未満である場合には、インクリメントして該エラーレートを得るように動作可能なカウンター回路と、
を備える、請求項１８に記載のストレージデバイス。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１３−８０５５０（Ｐ２０１３−８０５５０Ａ）
【公開日】平成２５年５月２日（２０１３．５．２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１２−１７１６４０（Ｐ２０１２−１７１６４０）
【出願日】平成２４年８月２日（２０１２．８．２）
【出願人】（５０８２４３６３９）エルエスアイ コーポレーション (124)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年５月２日（２０１３．５．２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２４年８月２日（２０１２．８．２）
【出願人】（５０８２４３６３９）エルエスアイ コーポレーション (124)
【Ｆターム（参考）】
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