測定管理装置，測定管理方法および測定管理プログラム
【課題】測定機器からの出力を補正するための校正値のばらつきを排除し，測定の精度を向上させることが可能となる技術を提供する。
【解決手段】校正実行制御部２２は，校正のための測定機器の出力と基準値との比較により得られた校正値を設定データ記憶部２３に記憶する。校正値取得部１４は，設定データ記憶部２３から校正により得られた測定機器の校正値を取得し，校正値蓄積記憶部１５に蓄積して記憶する。校正値算定部１６は，所定の算出手法により，校正値蓄積記憶部１５に記憶された複数の校正値から測定に用いる測定機器の校正値を算定する。校正値設定部１７は，算定された測定に用いる測定機器の校正値を，設定データ記憶部２３の該当測定機器の構成値として設定する。測定実行制御部２４は，測定時に，設定データ記憶部２３に設定された測定に用いる測定機器の校正値を用いて，測定機器からの出力を補正する。
【解決手段】校正実行制御部２２は，校正のための測定機器の出力と基準値との比較により得られた校正値を設定データ記憶部２３に記憶する。校正値取得部１４は，設定データ記憶部２３から校正により得られた測定機器の校正値を取得し，校正値蓄積記憶部１５に蓄積して記憶する。校正値算定部１６は，所定の算出手法により，校正値蓄積記憶部１５に記憶された複数の校正値から測定に用いる測定機器の校正値を算定する。校正値設定部１７は，算定された測定に用いる測定機器の校正値を，設定データ記憶部２３の該当測定機器の構成値として設定する。測定実行制御部２４は，測定時に，設定データ記憶部２３に設定された測定に用いる測定機器の校正値を用いて，測定機器からの出力を補正する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
測定機器を有する測定システムにおいて，測定の管理を行う測定管理装置，測定管理方法および測定管理プログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
何らかの測定を行う場合において，測定の信頼性向上のために，測定に使用する機器の校正が，通常に行われている。例えば，音響測定分野においてはマイクロホンなどの測定機器の校正が，振動試験分野においては加速度ピックアップセンサなどの測定機器の校正が行われる。
【０００３】
このような測定機器の校正は，例えば，本測定前にその都度行われ，本測定では，得られた校正データによる測定機器の出力値の補正が行われる。また，測定機器の校正がその日の最初の本測定前に１度だけ行われ，その日の本測定ではすべて最初の校正データによる出力値の補正が行われるという場合もある。
【０００４】
ところで，多軸力センサ設置したマニピュレータにおいて，多軸力センサの校正を行う技術が知られている。また，計器の過去の校正データとオンラインによる計器のドリフト検出とにより，信頼性を確保した計器の校正周期を提示する技術が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平９−０１１１６８号公報
【特許文献２】特開２００５−０４３１２１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
測定機器の校正には，人手による校正作業を含む場合も多い。例えば人手による校正作業を含むような場合には，校正により得られた校正値に，作業者の熟練度などに起因するばらつきが発生し，その後の本測定の結果の信頼性が低くなってしまうという問題がある。
【０００７】
本発明は，上記の問題点の解決を図り，測定機器からの出力を補正するための校正値のばらつきを排除し，本測定の結果の信頼性を向上させることが可能となる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
測定機器を有する測定システムにおける各種情報を管理する測定管理装置は，校正のための測定機器の出力と基準値との比較により得られた第一の校正値を取得する校正値取得部と，第一の校正値を蓄積して記憶する校正値蓄積記憶部と，校正値蓄積記憶部に記憶された複数の第一の校正値から，測定において測定機器からの出力を補正するために用いる第二の校正値を算定する校正値算定部と，第二の校正値を，測定において測定機器からの出力を補正するために用いる校正値として設定する校正値設定部とを備える。
【発明の効果】
【０００９】
ばらつきが少ない信頼性の高い校正値による測定機器出力値の補正が可能となり，測定の精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】音響測定システムの構成例を示す図である。
【図２】測定器制御部が有する設定データの例を説明する図である。
【図３】マイクロホン校正の流れを説明する図である。
【図４】人手によるマイクロホン校正作業の例を説明する図である。
【図５】マイクロホン校正時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【図６】音響測定の流れを説明する図である。
【図７】測定時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【図８】本実施の形態による測定管理部および測定器制御部の機能構成例を示す図である。
【図９】本実施の形態による校正値蓄積記憶部に記憶されたマイクロホンごとの蓄積校正値テーブルの例を示す図である。
【図１０】本実施の形態の校正値取得部による校正値取得／蓄積記憶処理フローチャートである。
【図１１】本実施の形態の校正値算定部および校正値設定部による校正値算定／設定処理フローチャートである。
【図１２】本実施の形態によるマイクロホン校正の流れを説明する図である。
【図１３】本実施の形態によるマイクロホン校正時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【図１４】本実施の形態による音響測定の流れを説明する図である。
【図１５】本実施の形態による音響測定時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【図１６】本実施の形態によるマイクロホン校正値算定時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【図１７】加速度ピックアップセンサを使用した振動試験の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下，本実施の形態について，図を用いて説明する。
【００１２】
本実施の形態では，音響測定を例として，説明を行う。
【００１３】
音響測定では，音圧レベルの測定や，音響パワーレベルの測定などが行われる。音圧レベルは，被測定装置から発せられる音の大きさを表すプレッシャーレベルである。音響パワーレベルは，被測定装置全体から発せられる音圧レベルのエネルギー量を表す。
【００１４】
図１は，音響測定システムの構成例を示す図である。
【００１５】
図１に示す音響測定システムでは，無響音室に，測定機器であるマイクロホン３が１０個配置されている。無響音室に配置された各マイクロホン３は，測定室にある測定器２に接続されている。このような無響音室に，測定対象である被測定装置４が配置され，音響測定が実行される。
【００１６】
測定器２は，測定を管理／制御するためのコンピュータ１に接続されている。測定器２は，感度の切り替えや，マイクロホン３の取得信号をコンピュータ１に中継する役割を果たす。
【００１７】
コンピュータ１は，測定管理部１０（または１０’），測定器制御部２０を備える。測定管理部１０（または１０’），測定器制御部２０は，それぞれ，コンピュータ１が備えるＣＰＵ，メモリ等のハードウェアと，ソフトウェアプログラムとにより実現される。
【００１８】
測定管理部１０（または１０’）は，ユーザの指示を受け付け，マイクロホンの校正の実行，本測定の実行等の測定全般を管理する。なお，測定管理部１０は，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えており，測定管理部１０’は，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えていないものとする。
【００１９】
測定器制御部２０は，測定器２を制御し，マイクロホンの校正時に測定器２を介して得られるマイクロホン出力値から校正値を算出したり，本測定時に測定器２を介して得られるマイクロホン出力値から音圧レベルや音響パワーレベルなどを算出する。測定器制御部２０は，測定器２を介して，各マイクロホン３からの出力値を取得する。
【００２０】
図１に示す音響測定システムでは，測定管理部１０（または１０’）を実現するプログラムが，例えばＯＬＥ（Object Linking and Embedding）インタフェース等により，測定器制御部２０を実現するプログラムをコントロールする。なお，測定管理部１０（または１０’）と測定器制御部２０とが，１つのアプリケーションプログラムによって実現されてもよい。また，測定器２がコンピュータの機能を備え，測定器制御部２０が，測定器２内部のコンピュータで実現されてもよい。
【００２１】
図１に示すような音響測定システムにおいて，本測定を実行する前に，各マイクロホン３の校正が行われる。校正により得られた各マイクロホン３の校正値は，測定器制御部２０が有する設定データに記録される。
【００２２】
図２は，測定器制御部が有する設定データの例を説明する図である。
【００２３】
図２（Ａ）は，設定データの例を示す。図２（Ａ）に示す設定データにおいて，“Configuration ”には，測定に使用される＃１〜＃１０のマイクロホン３ごとの設定条件や，マイクロホン３のグループ化（ＧＲ（＃１），ＧＲ（＃２），... ）の設定などが記録されている。“Measurement ”には，１／３オクターブやＦＦＴ（Fast Fourier Transform：高速フーリエ変換）などの各測定項目の設定条件などが記録されている。“Display ”には，画面表示の設定条件などが記録されている。
【００２４】
図２（Ｂ）は，マイクロホン３ごとの設定条件の詳細な例を示す。図２（Ｂ）には，特に＃１のマイクロホン３についての設定条件の例が示されているが，他の＃２〜＃１０のマイクロホン３についても同様である。図２（Ｂ）に示すマイクロホン３の設定条件の詳細において，“Gain Adjust （利得調整）”が，マイクロホン３の校正値を示すパラメータである。すなわち，マイクロホン３の校正により得られた校正値は，設定データの該当マイクロホン３の設定条件における“Gain Adjust ”に記録される。
【００２５】
ここで，図１に示す音響測定システムにおいて，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えていない測定管理部１０’が用いられた場合を想定した例について説明する。
【００２６】
図３は，マイクロホン校正の流れを説明する図である。
【００２７】
ここでは，図１に示す音響測定システムにおいて，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えていない測定管理部１０’が用いられた場合の，マイクロホン校正の流れを説明する。
【００２８】
図１に示す音響測定システムにおいて，測定管理部１０’は，ユーザからマイクロホン校正の指示を受けると，マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ１００）。マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）において，ユーザからマイクロホン３の校正開始の指示を受けると，測定管理部１０’は，測定器制御部２０に対してマイクロホン３の校正開始の指示を送る（ステップＳ１０１）。
【００２９】
測定器制御部２０は，測定管理部１０’からマイクロホン３の校正開始の指示を受けると，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ１０２）。
【００３０】
以下，各マイクロホン３の校正が実行される（ステップＳ１０３）。
【００３１】
具体的には，ユーザが，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）の校正手順の指示に従って，マイクロホン校正器を用いた校正作業を行う（ステップＳ１０４）。
【００３２】
図４は，人手によるマイクロホン校正作業の例を説明する図である。
【００３３】
図４に示すように，ユーザは，マイクロホン校正器５を手で持ち，傾斜して取り付けられたマイクロホン３に差し込む。このとき，ユーザは，１５秒間の校正時間の間，マイクロホン３の面とマイクロホン校正器５の低面とが面接触した状態を，安定に保つようにする。マイクロホン校正器５からは，１［ｋＨｚ］，９４［ｄＢ］の基準音源が出力されている。
【００３４】
図３において，測定器制御部２０は，校正のためのマイクロホン３の出力と基準値との比較により，校正値を算出する（ステップＳ１０５）。測定器制御部２０は，例えば，マイクロホン３の出力が９３．５［ｄＢ］であれば，基準値９４［ｄＢ］との差分−０．５［ｄＢ］を修正するように，校正値を決定する。
【００３５】
測定器制御部２０は，算出された校正値を，設定データに記憶する（ステップＳ１０６）。測定器制御部２０は，マイクロホン３の校正完了を通知する（ステップＳ１０７）。ここでは，１つのマイクロホン３の校正が終了するごとに，校正完了の通知が行われるものとする。
【００３６】
ステップＳ１０４からステップＳ１０７に示す手順が，校正を行うすべてのマイクロホン３について実行される。
【００３７】
測定管理部１０’は，校正を行うすべてのマイクロホン３についての校正完了の通知を受けた後に，ユーザからマイクロホン３の校正終了の指示を受けると，測定器制御部２０に対してマイクロホン３の校正終了の指示を送る（ステップＳ１０８）。
【００３８】
測定器制御部２０は，測定管理部１０’からマイクロホン３の校正終了の指示を受けると，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）を閉じる（ステップＳ１０９）。
【００３９】
また，測定管理部１０’は，マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）を閉じる（ステップＳ１１０）。
【００４０】
図５は，マイクロホン校正時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【００４１】
図５に示すように，コンピュータ１の表示画面には，マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）と，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）とが表示されている。
【００４２】
本測定時には，設定データに記録された校正値は，マイクロホン出力電圧の感度係数として使用され，測定値の結果に大きな影響を及ぼす。
【００４３】
図６は，音響測定の流れを説明する図である。
【００４４】
ここでは，図１に示す音響測定システムにおいて，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えていない測定管理部１０’が用いられた場合の，音響測定の流れを説明する。
【００４５】
図１に示す音響測定システムにおいて，測定管理部１０’は，ユーザから測定の指示を受けると，測定画面（測定管理画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ１２０）。測定画面（測定管理画面）において，ユーザから測定項目の指定および測定開始の指示を受けると，測定管理部１０’は，測定器制御部２０に対して，測定開始の指示を送る（ステップＳ１２１）。
【００４６】
測定器制御部２０は，測定管理部１０’から測定開始の指示を受けると，測定画面（測定器制御画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ１２２）。
【００４７】
図７は，測定時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【００４８】
図７に示すように，コンピュータ１の表示画面には，測定画面（測定管理画面）と，測定画面（測定器制御画面）とが表示されている。測定画面（測定管理画面）では，ユーザは，測定項目などを指定することができる。
【００４９】
図６において，測定器制御部２０は，測定を実行する（ステップＳ１２３）。このとき，測定器制御部２０は，マイクロホン出力値に対して設定データに記録された校正値を用いた補正を行い，測定値を得る。
【００５０】
例えば，音圧レベルの測定では，１つのマイクロホンを用いて，被測定装置４から発せられる音の大きさを表すプレッシャーレベルの測定を行う。測定により得られる音圧レベル測定値Ｌｐは，例えば以下の式（１）により，マイクロホン出力値から算出される。
【００５１】
Ｌｐ＝１０＊Ｌｏｇ（（Ｐ1 ／Ｐ0 ）2 ） ［ｄＢ］ ・・・式（１）
式（１）において，Ｐ1 ＝マイクロホン出力値＊校正値Ｋ［Ｐａ］である。また，音圧測定の基準値Ｐ0 ＝２０［μＰａ］である。
【００５２】
音響パワーレベルの測定では，音響測定の国際規格であるＩＳＯ７７７９の規定により，複数ポイントでの測定が行われる。ここでは，１０個のマイクロホン３による測定が行われるものとする。音響パワーレベルの測定では，個々の測定ポイントの測定値から，測定対象の被測定装置４から出される音響パワーの指定空間全体のエネルギー量が，規定の計算式で算出される。音響パワーレベル測定値ＬＰは，例えば以下の式（２）により，ｎ個の各マイクロホン出力値から得られた音圧レベル測定値Ｌｐ（ｉ）から算出される。なお，ここでは，ｎ＝１０である。
【００５３】
【数１】
図６において，測定器制御部２０は，測定が終了すると，測定管理部１０’に測定終了を通知する（ステップＳ１２４）。
【００５４】
測定管理部１０’は，測定器制御部２０から測定終了の通知を受けると，測定器制御部２０から，測定結果を取得する（ステップＳ１２５）。測定管理部１０’は，取得した測定結果の画面表示や印刷などを行う（ステップＳ１２６）。
【００５５】
ここまで，図１に示す音響測定システムにおいて，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えていない測定管理部１０’が用いられた場合を想定した例について説明した。
【００５６】
しかし，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えていない測定管理部１０’を用いた場合には，測定時に使用する校正値の信頼性に問題があるため，測定結果の信頼性が低くなってしまうという問題がある。
【００５７】
図４で説明したマイクロホン校正作業において，マイクロホン３は取り付け位置ごとに取り付け角度が異なるため，ユーザがマイクロホン３の傾斜に合わせて安定した状態にマイクロホン校正器５を保つことは，非常に困難である。校正実行中にマイクロホン校正器５が安定しないために，面接触が離れてしまうことも多々あり，校正結果にバラツキが生じてしまう。このように，作業者の熟練度や測定器２のヒートラン時間により校正値が一定値に定まらないことが多い。
【００５８】
このような状況で，校正と測定とを繰り返すと，測定結果に差異が発生する。多数のマイクロホン３を同時に使用する音響パワーレベルの測定では，校正誤差が助長されるため，測定結果は更なる影響を受け，正確な測定が実施できなくなってしまう。
【００５９】
そのため，高精度の測定を行うためには，安定した信頼性の高い校正値による補正精度の向上が重要となる。
【００６０】
以下，図１に示す音響測定システムにおいて，安定した信頼性の高い校正値を得るために，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えた測定管理部１０を用いた場合の例を説明する。
【００６１】
図８は，本実施の形態による測定管理部および測定器制御部の機能構成例を示す図である。
【００６２】
本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えた測定管理部１０は，入力受付部１１，表示処理部１２，校正実行管理部１３，校正値取得部１４，校正値蓄積記憶部１５，校正値算定部１６，校正値設定部１７，測定実行管理部１８を備える。また，測定器制御部２０は，表示処理部２１，校正実行制御部２２，設定データ記憶部２３，測定実行制御部２４を備える。
【００６３】
測定管理部１０において，入力受付部１１は，ユーザによる指示，指定などの入力を受け付ける。
【００６４】
表示処理部１２は，ユーザへの情報提供画面や，ユーザによる指示，指定などの入力画面などを，コンピュータ１の表示画面上に表示する。
【００６５】
校正実行管理部１３は，測定器制御部２０に対してマイクロホン３の校正開始を指示するなど，マイクロホン３の校正の全般を管理する。
【００６６】
校正値取得部１４は，マイクロホン３の校正により得られた校正値を取得する。例えば，校正値取得部１４は，マイクロホン３の校正後に，測定器制御部２０の設定データ記憶部２３に記憶されたマイクロホン３の校正値を取得する。校正値取得部１４は，取得された校正値を，マイクロホン３ごとに，校正値蓄積記憶部１５に蓄積して記憶する。
【００６７】
校正値蓄積記憶部１５は，校正値取得部１４により取得されたマイクロホン３の校正値を，マイクロホン３ごとに，蓄積して記憶する記憶装置である。
【００６８】
図９は，本実施の形態による校正値蓄積記憶部に記憶されたマイクロホンごとの蓄積校正値テーブルの例を示す図である。
【００６９】
図９に示すように，校正値蓄積記憶部１５では，過去のマイクロホン３の校正により得られた校正値が，校正が行われた日時の情報が付加されて，マイクロホン３ごとに，蓄積されて記憶されている。
【００７０】
図１０は，本実施の形態の校正値取得部による校正値取得／蓄積記憶処理フローチャートである。
【００７１】
校正値取得部１４は，あるマイクロホン３についての校正の終了が確認されると，測定器制御部２０の設定データ記憶部２３に記憶された設定データから，該当マイクロホン３の校正値を取得する（ステップＳ１０）。また，校正値取得部１４は，コンピュータ１の時計機能から日付／時間を取得する（ステップＳ１１）。
【００７２】
校正値取得部１４は，取得された校正値に，取得された日付／時刻を校正日時として付加したレコードを，該当マイクロホン３の蓄積校正値テーブルに追加して記憶する（ステップＳ１２）。
【００７３】
校正値取得部１４は，図１０に示すような処理を，校正が行われたマイクロホン３ごとに実行する。
【００７４】
図８において，校正値算定部１６は，所定の算定手法またはユーザにより指示された算定手法により，校正値蓄積記憶部１５に記憶された過去の複数の校正値から，測定に用いる校正値を算定する。測定に用いる校正値の算定手法としては，例えば，所定期間内の校正値の平均値や，所定回数の校正値の重み付け平均値などの統計的手法がある。
【００７５】
校正値設定部１７は，校正値算定部１６により算定された校正値を，測定器制御部２０の設定データ記憶部２３に記憶された設定データの該当マイクロホン３の校正値として設定する。測定器制御部２０では，設定データ記憶部２３に記憶された設定データの該当マイクロホン３の校正値が，測定管理部１０の校正値算定部１６により算定された校正値で上書きされたかたちとなる。
【００７６】
図１１は，本実施の形態の校正値算定部および校正値設定部による校正値算定／設定処理フローチャートである。
【００７７】
校正値算定部１６は，音圧レベル，音響パワーレベルなどの測定項目や，ユーザの指定などから，測定に使用するマイクロホン３を特定する（ステップＳ２０）。例えば，図２に示す設定データでは，“Measurement ”に測定項目ごとの設定条件として，測定に使用するマイクロホン３のグループ（ＧＲ（＃１），ＧＲ（＃２），... ）が設定されている。校正値算定部１６は，測定器制御部２０の設定データ記憶部２３に記憶された設定データから，該当測定項目の測定に使用するマイクロホン３を特定することができる。
【００７８】
校正値算定部１６は，校正値蓄積記憶部１５に記憶された，特定されたマイクロホン３の蓄積校正値テーブルから，所定の複数の校正値を取得する（ステップＳ２１）。所定のの複数の校正値とは，例えば所定期間内，所定回数分等の校正値や，ユーザに指定された期間，回数等の校正値などである。
【００７９】
校正値算定部１６は，取得された複数の校正値から，所定の算定手法またはユーザにより指示された算定手法により，測定に用いる校正値を算定する（ステップＳ２２）。
【００８０】
校正値設定部１７は，算定された測定値を，測定器制御部２０の設定データ記憶部２３に，該当マイクロホン３の校正値として設定する（ステップＳ２３）。
【００８１】
校正値算定部１６および校正値設定部１７は，図１１に示すような処理を，測定に使用するすべてのマイクロホン３ごとに実行する。
【００８２】
なお，測定に使用する校正値の算定や，算定された校正値の設定の実行タイミングは，マイクロホン３の校正直後に，マイクロホン３の校正後から測定までの間に，測定を行うたびになど，任意である。
【００８３】
図８において，測定実行管理部１８は，測定器制御部２０に対して測定の開始を指示するなど，音響測定の全般を管理する。
【００８４】
測定器制御部２０において，表示処理部２１は，ユーザへの情報提供画面などを，コンピュータ１の表示画面上に表示する。
【００８５】
校正実行制御部２２は，測定管理部１０からのマイクロホン３の校正実行の指示を受けると，測定器２を制御し，マイクロホン３の校正を行う。校正実行制御部２２は，測定器２から得られた校正のためのマイクロホン３の出力と基準値との比較により，そのマイクロホン３の校正値を算出する。校正実行制御部２２は，算出された校正値を，設定データ記憶部２３に記憶された設定データの該当マイクロホン３の校正値として設定する。
【００８６】
設定データ記憶部２３は，例えば図２に示すような設定データを記憶する記憶装置である。
【００８７】
測定実行制御部２４は，測定管理部１０からの測定実行の指示を受けると，測定器２を制御し，目的とする音響測定を行う。測定実行制御部２４は，測定器２から得られたマイクロホン３の出力値から，目的とする音響測定の測定値を算出する。このとき，測定実行制御部２４は，マイクロホン３の出力値に対して，設定データ記憶部２３に記憶された設定データに設定された校正値を用いた補正を行う。
【００８８】
図１２は，本実施の形態によるマイクロホン校正の流れを説明する図である。
【００８９】
ここでは，図１に示す音響測定システムにおいて，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えた測定管理部１０が用いられた場合の，マイクロホン校正の流れを説明する。
【００９０】
測定管理部１０において，入力受付部１１がユーザからマイクロホン校正の指示を受けると，表示処理部１２は，マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ３０）。マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）において，ユーザからマイクロホン３の校正開始の指示を受けると，校正実行管理部１３は，測定器制御部２０に対してマイクロホン３の校正開始の指示を送る（ステップＳ３１）。
【００９１】
測定器制御部２０において，校正実行制御部２２が測定管理部１０からマイクロホン３の校正開始の指示を受けると，表示処理部２１は，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ３２）。
【００９２】
以下，各マイクロホン３の校正が実行される（ステップＳ３３）。
【００９３】
具体的には，ユーザが，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）の校正手順の指示に従って，マイクロホン校正器５を用いた校正作業を行う（ステップＳ３４）。
【００９４】
測定器制御部２０において，校正実行制御部２２は，校正のためのマイクロホン３の出力と基準値との比較により，校正値を算出する（ステップＳ３５）。
【００９５】
校正実行制御部２２は，算出された校正値を，設定データ記憶部２３の設定データに記憶する（ステップＳ３６）。校正実行制御部２２は，マイクロホン３の校正完了を通知する（ステップＳ３７）。ここでは，１つのマイクロホン３の校正が終了するごとに，校正完了の通知が行われるものとする。
【００９６】
測定管理部１０において，校正実行管理部１３が測定器制御部２０からマイクロホン３の校正完了の通知を受けると，校正値取得部１４は，設定データ記憶部２３の設定データから，該当マイクロホン３の校正値を取得する（ステップＳ３８）。
【００９７】
校正値取得部１４は，取得された校正値を，校正値蓄積記憶部１５の該当マイクロホン３の蓄積校正値テーブルに，蓄積して記憶する（ステップＳ３９）。
【００９８】
ステップＳ３４からステップＳ３９に示す手順が，校正を行うすべてのマイクロホン３について実行される。
【００９９】
測定管理部１０において，校正を行うすべてのマイクロホン３についての校正完了の通知を受けた後に，入力受付部１１がユーザからマイクロホン３の校正終了の指示を受けると，校正実行管理部１３は，測定器制御部２０に対してマイクロホン３の校正終了の指示を送る（ステップＳ４０）。
【０１００】
測定器制御部２０において，校正実行制御部２２が測定管理部１０からマイクロホン３の校正終了の指示を受けると，表示処理部２１はマイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）を閉じる（ステップＳ４１）。
【０１０１】
また，測定管理部１０において，表示処理部１２は，マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）を閉じる（ステップＳ４２）。
【０１０２】
なお，本実施の形態では，同じマイクロホン３の端子は，毎回，測定器２の同じ差込口に差し込まれることを前提としている。マイクロホン３の端子の差込口を変えなければ，特にマイクロホン３と測定器の差込口との対応を設定しなくても，同じマイクロホン３の校正値は，常に同じ蓄積校正値テーブルに記録される。マイクロホン３の端子の差込口を変える場合には，同じマイクロホン３の校正値が同じ蓄積校正値テーブルに記録されるようにするために，例えばユーザがその対応を測定管理部１０で設定する必要がある。
【０１０３】
図１３は，本実施の形態によるマイクロホン校正時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【０１０４】
図１３に示すように，コンピュータ１の表示画面には，マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）と，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）とが表示されている。図５に示すコンピュータ１の表示画面と比較すると，図１３に示すマイクロホン３の校正画面（測定管理画面）に校正データ格納ボタンがあるのがわかる。図１２に示す処理の流れでは，測定管理部１０は，マイクロホン３の校正が行われるごとに自動的に校正値の蓄積記憶を行っている。図１３に示すマイクロホン３の校正画面（測定管理画面）において，ユーザにより校正データ格納ボタンが押下されたときに，測定管理部１０が校正値の蓄積記憶を行うようにしてもよい。
【０１０５】
図１４は，本実施の形態による音響測定の流れを説明する図である。
【０１０６】
ここでは，図１に示す音響測定システムにおいて，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えた測定管理部１０が用いられた場合の音響測定の流れを説明する。
【０１０７】
測定管理部１０において，入力受付部１１がユーザから測定の指示を受けると，表示処理部１２は，測定画面（測定管理画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ５０）。
【０１０８】
図１５は，本実施の形態による音響測定時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【０１０９】
図１５に示すように，コンピュータ１の表示画面には，測定画面（測定管理画面）と，測定画面（測定器制御画面）とが表示されている。測定画面（測定管理画面）では，ユーザは，マイクロホン校正値算定画面表示のボタン押下や，測定項目などの指定を行うことができる。
【０１１０】
図１４において，入力受付部１１がユーザからマイクロホン校正値算定画面表示の指示を受けると，表示処理部１２は，マイクロホン校正値算定画面（測定管理画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ５１）。
【０１１１】
図１６は，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【０１１２】
図１６に示すように，コンピュータ１の表示画面には，マイクロホン校正値算定画面（測定管理画面）が表示されている。図１６に示すマイクロホン校正値算定画面（測定管理画面）では，ユーザは，測定に使用する校正値の算出のために用いる過去の校正値の期間の指定や，算定手法の指定などを行うことができる。
【０１１３】
図１６に示すマイクロホン校正値算定画面（測定管理画面）では，ユーザは，期間や算定手法の指定後に，測定に使用する校正値の計算を実行することができる。ユーザは，測定に使用する校正値の算出結果を参照し，そのまま測定に使用するか否かを判断することができる。
【０１１４】
このように，ユーザが測定に使用する校正値の算定手法を指示できるようにすることにより，ユーザが算定された校正値が妥当か否かを判断し，ユーザが妥当と判断できる校正値を使用した測定を行うことができるようになる。
【０１１５】
図１４において，入力受付部１１は，ユーザによる測定に使用する校正値の算定のための指定の入力を受け付ける（ステップＳ５２）。
【０１１６】
校正値算定部１６は，ユーザの指定に従って，校正値蓄積記憶部１５から該当期間の校正値を取得する（ステップＳ５３）。校正値算定部１６は，取得された複数の校正値から，ユーザに指定された算出方法を用いて，測定で使用する校正値を算定する（ステップＳ５４）。例えば，ユーザにより過去３ヶ月間のマイクロホン３の校正により得られた校正値の平均値の算定が指定された場合に，校正値算定部１６は，校正値蓄積記憶部１５から過去３ヶ月間の校正値を取得し，それらの平均値を算出して，測定で使用する校正値とする。
【０１１７】
校正値設定部１７は，測定で使用する校正値を，設定データ記憶部２３に記憶された設定データに設定する（ステップＳ５５）。測定器制御部２０では，設定データ記憶部２３に記憶された設定データの該当マイクロホン３の校正値が更新される（ステップＳ５６）。
【０１１８】
ステップＳ５３からステップＳ５６に示す手順が，測定で使用するすべてのマイクロホン３について実行される。
【０１１９】
入力受付部１１がユーザから測定項目の指定および測定開始の指示を受けると，測定実行管理部１８は，測定器制御部２０に対して，測定開始の指示を送る（ステップＳ５７）。
【０１２０】
測定器制御部２０において，測定実行制御部２４が測定管理部１０から測定開始の指示を受けると，表示処理部２１は，測定画面（測定器制御画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ５８）。
【０１２１】
測定実行制御部２４は，目的とする測定を実行する（ステップＳ５９）。このとき，測定実行制御部２４は，マイクロホン出力値に対して，設定データ記憶部２３に記憶された設定データに設定された校正値を用いた補正を行い，測定値を得る。
【０１２２】
測定実行制御部２４は，測定が終了すると，測定管理部１０に測定終了を通知する（ステップＳ６０）。
【０１２３】
測定管理部１０において，測定実行管理部１８は，測定器制御部２０から測定終了の通知を受けると，測定器制御部２０から測定結果を取得する（ステップＳ６１）。測定実行管理部１８は，取得した測定結果の画面表示や印刷などを行う（ステップＳ６２）。
【０１２４】
このように，本実施の形態の測定システムでは，過去の測定機器の校正により得られた複数の第一の校正値から，統計的手法を用いて第二の校正値を算定し，統計的手法を用いて算定された第二の校正値を用いて測定を行う。そのため，作業者の熟練度や測定器２のヒートラン時間に起因する校正結果のばらつきが排除され，安定した信頼性の高い校正値による測定機器出力値の補正が可能となり，測定の精度が向上する。
【０１２５】
以上説明した測定管理部１０および測定器制御部２０による処理は，コンピュータが備えるＣＰＵ，メモリ等のハードウェアとソフトウェアプログラムとにより実現することができ，そのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録することも，ネットワークを通して提供することも可能である。
【０１２６】
以上，本実施の形態について説明したが，本発明はその主旨の範囲において種々の変形が可能であることは当然である。
【０１２７】
例えば，本実施の形態では，音響測定分野における測定の例を示したが，他の分野における測定であってもよい。音響測定分野以外の測定分野としては，例えば加速度ピックアップセンサを使用した振動試験分野などがある。
【０１２８】
図１７は，加速度ピックアップセンサを使用した振動試験の例を示す図である。
【０１２９】
図１７に示す測定システムでは，振動試験開始前に測定機器である加速度ピックアップセンサ２０２の校正が行われ，校正により得られた校正値を用いた被試験装置２０４の振動試験が行われる。
【０１３０】
加速度ピックアップセンサ２０２は，加振台２０１の加振レベルの検出を行い，検出レベルを測定管理／制御システム２００に伝える。測定管理／制御システム２００は，検出レベルより加振台２０１が規定加振レベルとなるよう，出力レベル調整を行う。
【符号の説明】
【０１３１】
１ コンピュータ
２ 測定器
３ マイクロホン
４ 被測定装置
５ マイクロホン校正器
１０ 測定管理部
１１ 入力受付部
１２ 表示処理部
１３ 校正実行管理部
１４ 校正値取得部
１５ 校正値蓄積記憶部
１６ 校正値算定部
１７ 校正値設定部
１８ 測定実行管理部
２０ 測定器制御部
２１ 表示処理部
２２ 校正実行制御部
２３ 設定データ記憶部
２４ 測定実行制御部
【技術分野】
【０００１】
測定機器を有する測定システムにおいて，測定の管理を行う測定管理装置，測定管理方法および測定管理プログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
何らかの測定を行う場合において，測定の信頼性向上のために，測定に使用する機器の校正が，通常に行われている。例えば，音響測定分野においてはマイクロホンなどの測定機器の校正が，振動試験分野においては加速度ピックアップセンサなどの測定機器の校正が行われる。
【０００３】
このような測定機器の校正は，例えば，本測定前にその都度行われ，本測定では，得られた校正データによる測定機器の出力値の補正が行われる。また，測定機器の校正がその日の最初の本測定前に１度だけ行われ，その日の本測定ではすべて最初の校正データによる出力値の補正が行われるという場合もある。
【０００４】
ところで，多軸力センサ設置したマニピュレータにおいて，多軸力センサの校正を行う技術が知られている。また，計器の過去の校正データとオンラインによる計器のドリフト検出とにより，信頼性を確保した計器の校正周期を提示する技術が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平９−０１１１６８号公報
【特許文献２】特開２００５−０４３１２１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
測定機器の校正には，人手による校正作業を含む場合も多い。例えば人手による校正作業を含むような場合には，校正により得られた校正値に，作業者の熟練度などに起因するばらつきが発生し，その後の本測定の結果の信頼性が低くなってしまうという問題がある。
【０００７】
本発明は，上記の問題点の解決を図り，測定機器からの出力を補正するための校正値のばらつきを排除し，本測定の結果の信頼性を向上させることが可能となる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
測定機器を有する測定システムにおける各種情報を管理する測定管理装置は，校正のための測定機器の出力と基準値との比較により得られた第一の校正値を取得する校正値取得部と，第一の校正値を蓄積して記憶する校正値蓄積記憶部と，校正値蓄積記憶部に記憶された複数の第一の校正値から，測定において測定機器からの出力を補正するために用いる第二の校正値を算定する校正値算定部と，第二の校正値を，測定において測定機器からの出力を補正するために用いる校正値として設定する校正値設定部とを備える。
【発明の効果】
【０００９】
ばらつきが少ない信頼性の高い校正値による測定機器出力値の補正が可能となり，測定の精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】音響測定システムの構成例を示す図である。
【図２】測定器制御部が有する設定データの例を説明する図である。
【図３】マイクロホン校正の流れを説明する図である。
【図４】人手によるマイクロホン校正作業の例を説明する図である。
【図５】マイクロホン校正時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【図６】音響測定の流れを説明する図である。
【図７】測定時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【図８】本実施の形態による測定管理部および測定器制御部の機能構成例を示す図である。
【図９】本実施の形態による校正値蓄積記憶部に記憶されたマイクロホンごとの蓄積校正値テーブルの例を示す図である。
【図１０】本実施の形態の校正値取得部による校正値取得／蓄積記憶処理フローチャートである。
【図１１】本実施の形態の校正値算定部および校正値設定部による校正値算定／設定処理フローチャートである。
【図１２】本実施の形態によるマイクロホン校正の流れを説明する図である。
【図１３】本実施の形態によるマイクロホン校正時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【図１４】本実施の形態による音響測定の流れを説明する図である。
【図１５】本実施の形態による音響測定時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【図１６】本実施の形態によるマイクロホン校正値算定時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【図１７】加速度ピックアップセンサを使用した振動試験の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下，本実施の形態について，図を用いて説明する。
【００１２】
本実施の形態では，音響測定を例として，説明を行う。
【００１３】
音響測定では，音圧レベルの測定や，音響パワーレベルの測定などが行われる。音圧レベルは，被測定装置から発せられる音の大きさを表すプレッシャーレベルである。音響パワーレベルは，被測定装置全体から発せられる音圧レベルのエネルギー量を表す。
【００１４】
図１は，音響測定システムの構成例を示す図である。
【００１５】
図１に示す音響測定システムでは，無響音室に，測定機器であるマイクロホン３が１０個配置されている。無響音室に配置された各マイクロホン３は，測定室にある測定器２に接続されている。このような無響音室に，測定対象である被測定装置４が配置され，音響測定が実行される。
【００１６】
測定器２は，測定を管理／制御するためのコンピュータ１に接続されている。測定器２は，感度の切り替えや，マイクロホン３の取得信号をコンピュータ１に中継する役割を果たす。
【００１７】
コンピュータ１は，測定管理部１０（または１０’），測定器制御部２０を備える。測定管理部１０（または１０’），測定器制御部２０は，それぞれ，コンピュータ１が備えるＣＰＵ，メモリ等のハードウェアと，ソフトウェアプログラムとにより実現される。
【００１８】
測定管理部１０（または１０’）は，ユーザの指示を受け付け，マイクロホンの校正の実行，本測定の実行等の測定全般を管理する。なお，測定管理部１０は，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えており，測定管理部１０’は，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えていないものとする。
【００１９】
測定器制御部２０は，測定器２を制御し，マイクロホンの校正時に測定器２を介して得られるマイクロホン出力値から校正値を算出したり，本測定時に測定器２を介して得られるマイクロホン出力値から音圧レベルや音響パワーレベルなどを算出する。測定器制御部２０は，測定器２を介して，各マイクロホン３からの出力値を取得する。
【００２０】
図１に示す音響測定システムでは，測定管理部１０（または１０’）を実現するプログラムが，例えばＯＬＥ（Object Linking and Embedding）インタフェース等により，測定器制御部２０を実現するプログラムをコントロールする。なお，測定管理部１０（または１０’）と測定器制御部２０とが，１つのアプリケーションプログラムによって実現されてもよい。また，測定器２がコンピュータの機能を備え，測定器制御部２０が，測定器２内部のコンピュータで実現されてもよい。
【００２１】
図１に示すような音響測定システムにおいて，本測定を実行する前に，各マイクロホン３の校正が行われる。校正により得られた各マイクロホン３の校正値は，測定器制御部２０が有する設定データに記録される。
【００２２】
図２は，測定器制御部が有する設定データの例を説明する図である。
【００２３】
図２（Ａ）は，設定データの例を示す。図２（Ａ）に示す設定データにおいて，“Configuration ”には，測定に使用される＃１〜＃１０のマイクロホン３ごとの設定条件や，マイクロホン３のグループ化（ＧＲ（＃１），ＧＲ（＃２），... ）の設定などが記録されている。“Measurement ”には，１／３オクターブやＦＦＴ（Fast Fourier Transform：高速フーリエ変換）などの各測定項目の設定条件などが記録されている。“Display ”には，画面表示の設定条件などが記録されている。
【００２４】
図２（Ｂ）は，マイクロホン３ごとの設定条件の詳細な例を示す。図２（Ｂ）には，特に＃１のマイクロホン３についての設定条件の例が示されているが，他の＃２〜＃１０のマイクロホン３についても同様である。図２（Ｂ）に示すマイクロホン３の設定条件の詳細において，“Gain Adjust （利得調整）”が，マイクロホン３の校正値を示すパラメータである。すなわち，マイクロホン３の校正により得られた校正値は，設定データの該当マイクロホン３の設定条件における“Gain Adjust ”に記録される。
【００２５】
ここで，図１に示す音響測定システムにおいて，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えていない測定管理部１０’が用いられた場合を想定した例について説明する。
【００２６】
図３は，マイクロホン校正の流れを説明する図である。
【００２７】
ここでは，図１に示す音響測定システムにおいて，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えていない測定管理部１０’が用いられた場合の，マイクロホン校正の流れを説明する。
【００２８】
図１に示す音響測定システムにおいて，測定管理部１０’は，ユーザからマイクロホン校正の指示を受けると，マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ１００）。マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）において，ユーザからマイクロホン３の校正開始の指示を受けると，測定管理部１０’は，測定器制御部２０に対してマイクロホン３の校正開始の指示を送る（ステップＳ１０１）。
【００２９】
測定器制御部２０は，測定管理部１０’からマイクロホン３の校正開始の指示を受けると，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ１０２）。
【００３０】
以下，各マイクロホン３の校正が実行される（ステップＳ１０３）。
【００３１】
具体的には，ユーザが，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）の校正手順の指示に従って，マイクロホン校正器を用いた校正作業を行う（ステップＳ１０４）。
【００３２】
図４は，人手によるマイクロホン校正作業の例を説明する図である。
【００３３】
図４に示すように，ユーザは，マイクロホン校正器５を手で持ち，傾斜して取り付けられたマイクロホン３に差し込む。このとき，ユーザは，１５秒間の校正時間の間，マイクロホン３の面とマイクロホン校正器５の低面とが面接触した状態を，安定に保つようにする。マイクロホン校正器５からは，１［ｋＨｚ］，９４［ｄＢ］の基準音源が出力されている。
【００３４】
図３において，測定器制御部２０は，校正のためのマイクロホン３の出力と基準値との比較により，校正値を算出する（ステップＳ１０５）。測定器制御部２０は，例えば，マイクロホン３の出力が９３．５［ｄＢ］であれば，基準値９４［ｄＢ］との差分−０．５［ｄＢ］を修正するように，校正値を決定する。
【００３５】
測定器制御部２０は，算出された校正値を，設定データに記憶する（ステップＳ１０６）。測定器制御部２０は，マイクロホン３の校正完了を通知する（ステップＳ１０７）。ここでは，１つのマイクロホン３の校正が終了するごとに，校正完了の通知が行われるものとする。
【００３６】
ステップＳ１０４からステップＳ１０７に示す手順が，校正を行うすべてのマイクロホン３について実行される。
【００３７】
測定管理部１０’は，校正を行うすべてのマイクロホン３についての校正完了の通知を受けた後に，ユーザからマイクロホン３の校正終了の指示を受けると，測定器制御部２０に対してマイクロホン３の校正終了の指示を送る（ステップＳ１０８）。
【００３８】
測定器制御部２０は，測定管理部１０’からマイクロホン３の校正終了の指示を受けると，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）を閉じる（ステップＳ１０９）。
【００３９】
また，測定管理部１０’は，マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）を閉じる（ステップＳ１１０）。
【００４０】
図５は，マイクロホン校正時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【００４１】
図５に示すように，コンピュータ１の表示画面には，マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）と，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）とが表示されている。
【００４２】
本測定時には，設定データに記録された校正値は，マイクロホン出力電圧の感度係数として使用され，測定値の結果に大きな影響を及ぼす。
【００４３】
図６は，音響測定の流れを説明する図である。
【００４４】
ここでは，図１に示す音響測定システムにおいて，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えていない測定管理部１０’が用いられた場合の，音響測定の流れを説明する。
【００４５】
図１に示す音響測定システムにおいて，測定管理部１０’は，ユーザから測定の指示を受けると，測定画面（測定管理画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ１２０）。測定画面（測定管理画面）において，ユーザから測定項目の指定および測定開始の指示を受けると，測定管理部１０’は，測定器制御部２０に対して，測定開始の指示を送る（ステップＳ１２１）。
【００４６】
測定器制御部２０は，測定管理部１０’から測定開始の指示を受けると，測定画面（測定器制御画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ１２２）。
【００４７】
図７は，測定時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【００４８】
図７に示すように，コンピュータ１の表示画面には，測定画面（測定管理画面）と，測定画面（測定器制御画面）とが表示されている。測定画面（測定管理画面）では，ユーザは，測定項目などを指定することができる。
【００４９】
図６において，測定器制御部２０は，測定を実行する（ステップＳ１２３）。このとき，測定器制御部２０は，マイクロホン出力値に対して設定データに記録された校正値を用いた補正を行い，測定値を得る。
【００５０】
例えば，音圧レベルの測定では，１つのマイクロホンを用いて，被測定装置４から発せられる音の大きさを表すプレッシャーレベルの測定を行う。測定により得られる音圧レベル測定値Ｌｐは，例えば以下の式（１）により，マイクロホン出力値から算出される。
【００５１】
Ｌｐ＝１０＊Ｌｏｇ（（Ｐ1 ／Ｐ0 ）2 ） ［ｄＢ］ ・・・式（１）
式（１）において，Ｐ1 ＝マイクロホン出力値＊校正値Ｋ［Ｐａ］である。また，音圧測定の基準値Ｐ0 ＝２０［μＰａ］である。
【００５２】
音響パワーレベルの測定では，音響測定の国際規格であるＩＳＯ７７７９の規定により，複数ポイントでの測定が行われる。ここでは，１０個のマイクロホン３による測定が行われるものとする。音響パワーレベルの測定では，個々の測定ポイントの測定値から，測定対象の被測定装置４から出される音響パワーの指定空間全体のエネルギー量が，規定の計算式で算出される。音響パワーレベル測定値ＬＰは，例えば以下の式（２）により，ｎ個の各マイクロホン出力値から得られた音圧レベル測定値Ｌｐ（ｉ）から算出される。なお，ここでは，ｎ＝１０である。
【００５３】
【数１】
図６において，測定器制御部２０は，測定が終了すると，測定管理部１０’に測定終了を通知する（ステップＳ１２４）。
【００５４】
測定管理部１０’は，測定器制御部２０から測定終了の通知を受けると，測定器制御部２０から，測定結果を取得する（ステップＳ１２５）。測定管理部１０’は，取得した測定結果の画面表示や印刷などを行う（ステップＳ１２６）。
【００５５】
ここまで，図１に示す音響測定システムにおいて，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えていない測定管理部１０’が用いられた場合を想定した例について説明した。
【００５６】
しかし，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えていない測定管理部１０’を用いた場合には，測定時に使用する校正値の信頼性に問題があるため，測定結果の信頼性が低くなってしまうという問題がある。
【００５７】
図４で説明したマイクロホン校正作業において，マイクロホン３は取り付け位置ごとに取り付け角度が異なるため，ユーザがマイクロホン３の傾斜に合わせて安定した状態にマイクロホン校正器５を保つことは，非常に困難である。校正実行中にマイクロホン校正器５が安定しないために，面接触が離れてしまうことも多々あり，校正結果にバラツキが生じてしまう。このように，作業者の熟練度や測定器２のヒートラン時間により校正値が一定値に定まらないことが多い。
【００５８】
このような状況で，校正と測定とを繰り返すと，測定結果に差異が発生する。多数のマイクロホン３を同時に使用する音響パワーレベルの測定では，校正誤差が助長されるため，測定結果は更なる影響を受け，正確な測定が実施できなくなってしまう。
【００５９】
そのため，高精度の測定を行うためには，安定した信頼性の高い校正値による補正精度の向上が重要となる。
【００６０】
以下，図１に示す音響測定システムにおいて，安定した信頼性の高い校正値を得るために，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えた測定管理部１０を用いた場合の例を説明する。
【００６１】
図８は，本実施の形態による測定管理部および測定器制御部の機能構成例を示す図である。
【００６２】
本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えた測定管理部１０は，入力受付部１１，表示処理部１２，校正実行管理部１３，校正値取得部１４，校正値蓄積記憶部１５，校正値算定部１６，校正値設定部１７，測定実行管理部１８を備える。また，測定器制御部２０は，表示処理部２１，校正実行制御部２２，設定データ記憶部２３，測定実行制御部２４を備える。
【００６３】
測定管理部１０において，入力受付部１１は，ユーザによる指示，指定などの入力を受け付ける。
【００６４】
表示処理部１２は，ユーザへの情報提供画面や，ユーザによる指示，指定などの入力画面などを，コンピュータ１の表示画面上に表示する。
【００６５】
校正実行管理部１３は，測定器制御部２０に対してマイクロホン３の校正開始を指示するなど，マイクロホン３の校正の全般を管理する。
【００６６】
校正値取得部１４は，マイクロホン３の校正により得られた校正値を取得する。例えば，校正値取得部１４は，マイクロホン３の校正後に，測定器制御部２０の設定データ記憶部２３に記憶されたマイクロホン３の校正値を取得する。校正値取得部１４は，取得された校正値を，マイクロホン３ごとに，校正値蓄積記憶部１５に蓄積して記憶する。
【００６７】
校正値蓄積記憶部１５は，校正値取得部１４により取得されたマイクロホン３の校正値を，マイクロホン３ごとに，蓄積して記憶する記憶装置である。
【００６８】
図９は，本実施の形態による校正値蓄積記憶部に記憶されたマイクロホンごとの蓄積校正値テーブルの例を示す図である。
【００６９】
図９に示すように，校正値蓄積記憶部１５では，過去のマイクロホン３の校正により得られた校正値が，校正が行われた日時の情報が付加されて，マイクロホン３ごとに，蓄積されて記憶されている。
【００７０】
図１０は，本実施の形態の校正値取得部による校正値取得／蓄積記憶処理フローチャートである。
【００７１】
校正値取得部１４は，あるマイクロホン３についての校正の終了が確認されると，測定器制御部２０の設定データ記憶部２３に記憶された設定データから，該当マイクロホン３の校正値を取得する（ステップＳ１０）。また，校正値取得部１４は，コンピュータ１の時計機能から日付／時間を取得する（ステップＳ１１）。
【００７２】
校正値取得部１４は，取得された校正値に，取得された日付／時刻を校正日時として付加したレコードを，該当マイクロホン３の蓄積校正値テーブルに追加して記憶する（ステップＳ１２）。
【００７３】
校正値取得部１４は，図１０に示すような処理を，校正が行われたマイクロホン３ごとに実行する。
【００７４】
図８において，校正値算定部１６は，所定の算定手法またはユーザにより指示された算定手法により，校正値蓄積記憶部１５に記憶された過去の複数の校正値から，測定に用いる校正値を算定する。測定に用いる校正値の算定手法としては，例えば，所定期間内の校正値の平均値や，所定回数の校正値の重み付け平均値などの統計的手法がある。
【００７５】
校正値設定部１７は，校正値算定部１６により算定された校正値を，測定器制御部２０の設定データ記憶部２３に記憶された設定データの該当マイクロホン３の校正値として設定する。測定器制御部２０では，設定データ記憶部２３に記憶された設定データの該当マイクロホン３の校正値が，測定管理部１０の校正値算定部１６により算定された校正値で上書きされたかたちとなる。
【００７６】
図１１は，本実施の形態の校正値算定部および校正値設定部による校正値算定／設定処理フローチャートである。
【００７７】
校正値算定部１６は，音圧レベル，音響パワーレベルなどの測定項目や，ユーザの指定などから，測定に使用するマイクロホン３を特定する（ステップＳ２０）。例えば，図２に示す設定データでは，“Measurement ”に測定項目ごとの設定条件として，測定に使用するマイクロホン３のグループ（ＧＲ（＃１），ＧＲ（＃２），... ）が設定されている。校正値算定部１６は，測定器制御部２０の設定データ記憶部２３に記憶された設定データから，該当測定項目の測定に使用するマイクロホン３を特定することができる。
【００７８】
校正値算定部１６は，校正値蓄積記憶部１５に記憶された，特定されたマイクロホン３の蓄積校正値テーブルから，所定の複数の校正値を取得する（ステップＳ２１）。所定のの複数の校正値とは，例えば所定期間内，所定回数分等の校正値や，ユーザに指定された期間，回数等の校正値などである。
【００７９】
校正値算定部１６は，取得された複数の校正値から，所定の算定手法またはユーザにより指示された算定手法により，測定に用いる校正値を算定する（ステップＳ２２）。
【００８０】
校正値設定部１７は，算定された測定値を，測定器制御部２０の設定データ記憶部２３に，該当マイクロホン３の校正値として設定する（ステップＳ２３）。
【００８１】
校正値算定部１６および校正値設定部１７は，図１１に示すような処理を，測定に使用するすべてのマイクロホン３ごとに実行する。
【００８２】
なお，測定に使用する校正値の算定や，算定された校正値の設定の実行タイミングは，マイクロホン３の校正直後に，マイクロホン３の校正後から測定までの間に，測定を行うたびになど，任意である。
【００８３】
図８において，測定実行管理部１８は，測定器制御部２０に対して測定の開始を指示するなど，音響測定の全般を管理する。
【００８４】
測定器制御部２０において，表示処理部２１は，ユーザへの情報提供画面などを，コンピュータ１の表示画面上に表示する。
【００８５】
校正実行制御部２２は，測定管理部１０からのマイクロホン３の校正実行の指示を受けると，測定器２を制御し，マイクロホン３の校正を行う。校正実行制御部２２は，測定器２から得られた校正のためのマイクロホン３の出力と基準値との比較により，そのマイクロホン３の校正値を算出する。校正実行制御部２２は，算出された校正値を，設定データ記憶部２３に記憶された設定データの該当マイクロホン３の校正値として設定する。
【００８６】
設定データ記憶部２３は，例えば図２に示すような設定データを記憶する記憶装置である。
【００８７】
測定実行制御部２４は，測定管理部１０からの測定実行の指示を受けると，測定器２を制御し，目的とする音響測定を行う。測定実行制御部２４は，測定器２から得られたマイクロホン３の出力値から，目的とする音響測定の測定値を算出する。このとき，測定実行制御部２４は，マイクロホン３の出力値に対して，設定データ記憶部２３に記憶された設定データに設定された校正値を用いた補正を行う。
【００８８】
図１２は，本実施の形態によるマイクロホン校正の流れを説明する図である。
【００８９】
ここでは，図１に示す音響測定システムにおいて，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えた測定管理部１０が用いられた場合の，マイクロホン校正の流れを説明する。
【００９０】
測定管理部１０において，入力受付部１１がユーザからマイクロホン校正の指示を受けると，表示処理部１２は，マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ３０）。マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）において，ユーザからマイクロホン３の校正開始の指示を受けると，校正実行管理部１３は，測定器制御部２０に対してマイクロホン３の校正開始の指示を送る（ステップＳ３１）。
【００９１】
測定器制御部２０において，校正実行制御部２２が測定管理部１０からマイクロホン３の校正開始の指示を受けると，表示処理部２１は，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ３２）。
【００９２】
以下，各マイクロホン３の校正が実行される（ステップＳ３３）。
【００９３】
具体的には，ユーザが，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）の校正手順の指示に従って，マイクロホン校正器５を用いた校正作業を行う（ステップＳ３４）。
【００９４】
測定器制御部２０において，校正実行制御部２２は，校正のためのマイクロホン３の出力と基準値との比較により，校正値を算出する（ステップＳ３５）。
【００９５】
校正実行制御部２２は，算出された校正値を，設定データ記憶部２３の設定データに記憶する（ステップＳ３６）。校正実行制御部２２は，マイクロホン３の校正完了を通知する（ステップＳ３７）。ここでは，１つのマイクロホン３の校正が終了するごとに，校正完了の通知が行われるものとする。
【００９６】
測定管理部１０において，校正実行管理部１３が測定器制御部２０からマイクロホン３の校正完了の通知を受けると，校正値取得部１４は，設定データ記憶部２３の設定データから，該当マイクロホン３の校正値を取得する（ステップＳ３８）。
【００９７】
校正値取得部１４は，取得された校正値を，校正値蓄積記憶部１５の該当マイクロホン３の蓄積校正値テーブルに，蓄積して記憶する（ステップＳ３９）。
【００９８】
ステップＳ３４からステップＳ３９に示す手順が，校正を行うすべてのマイクロホン３について実行される。
【００９９】
測定管理部１０において，校正を行うすべてのマイクロホン３についての校正完了の通知を受けた後に，入力受付部１１がユーザからマイクロホン３の校正終了の指示を受けると，校正実行管理部１３は，測定器制御部２０に対してマイクロホン３の校正終了の指示を送る（ステップＳ４０）。
【０１００】
測定器制御部２０において，校正実行制御部２２が測定管理部１０からマイクロホン３の校正終了の指示を受けると，表示処理部２１はマイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）を閉じる（ステップＳ４１）。
【０１０１】
また，測定管理部１０において，表示処理部１２は，マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）を閉じる（ステップＳ４２）。
【０１０２】
なお，本実施の形態では，同じマイクロホン３の端子は，毎回，測定器２の同じ差込口に差し込まれることを前提としている。マイクロホン３の端子の差込口を変えなければ，特にマイクロホン３と測定器の差込口との対応を設定しなくても，同じマイクロホン３の校正値は，常に同じ蓄積校正値テーブルに記録される。マイクロホン３の端子の差込口を変える場合には，同じマイクロホン３の校正値が同じ蓄積校正値テーブルに記録されるようにするために，例えばユーザがその対応を測定管理部１０で設定する必要がある。
【０１０３】
図１３は，本実施の形態によるマイクロホン校正時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【０１０４】
図１３に示すように，コンピュータ１の表示画面には，マイクロホン３の校正画面（測定管理画面）と，マイクロホン３の校正画面（測定器制御画面）とが表示されている。図５に示すコンピュータ１の表示画面と比較すると，図１３に示すマイクロホン３の校正画面（測定管理画面）に校正データ格納ボタンがあるのがわかる。図１２に示す処理の流れでは，測定管理部１０は，マイクロホン３の校正が行われるごとに自動的に校正値の蓄積記憶を行っている。図１３に示すマイクロホン３の校正画面（測定管理画面）において，ユーザにより校正データ格納ボタンが押下されたときに，測定管理部１０が校正値の蓄積記憶を行うようにしてもよい。
【０１０５】
図１４は，本実施の形態による音響測定の流れを説明する図である。
【０１０６】
ここでは，図１に示す音響測定システムにおいて，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定機能を備えた測定管理部１０が用いられた場合の音響測定の流れを説明する。
【０１０７】
測定管理部１０において，入力受付部１１がユーザから測定の指示を受けると，表示処理部１２は，測定画面（測定管理画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ５０）。
【０１０８】
図１５は，本実施の形態による音響測定時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【０１０９】
図１５に示すように，コンピュータ１の表示画面には，測定画面（測定管理画面）と，測定画面（測定器制御画面）とが表示されている。測定画面（測定管理画面）では，ユーザは，マイクロホン校正値算定画面表示のボタン押下や，測定項目などの指定を行うことができる。
【０１１０】
図１４において，入力受付部１１がユーザからマイクロホン校正値算定画面表示の指示を受けると，表示処理部１２は，マイクロホン校正値算定画面（測定管理画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ５１）。
【０１１１】
図１６は，本実施の形態によるマイクロホン校正値算定時のコンピュータ表示画面の例を示す図である。
【０１１２】
図１６に示すように，コンピュータ１の表示画面には，マイクロホン校正値算定画面（測定管理画面）が表示されている。図１６に示すマイクロホン校正値算定画面（測定管理画面）では，ユーザは，測定に使用する校正値の算出のために用いる過去の校正値の期間の指定や，算定手法の指定などを行うことができる。
【０１１３】
図１６に示すマイクロホン校正値算定画面（測定管理画面）では，ユーザは，期間や算定手法の指定後に，測定に使用する校正値の計算を実行することができる。ユーザは，測定に使用する校正値の算出結果を参照し，そのまま測定に使用するか否かを判断することができる。
【０１１４】
このように，ユーザが測定に使用する校正値の算定手法を指示できるようにすることにより，ユーザが算定された校正値が妥当か否かを判断し，ユーザが妥当と判断できる校正値を使用した測定を行うことができるようになる。
【０１１５】
図１４において，入力受付部１１は，ユーザによる測定に使用する校正値の算定のための指定の入力を受け付ける（ステップＳ５２）。
【０１１６】
校正値算定部１６は，ユーザの指定に従って，校正値蓄積記憶部１５から該当期間の校正値を取得する（ステップＳ５３）。校正値算定部１６は，取得された複数の校正値から，ユーザに指定された算出方法を用いて，測定で使用する校正値を算定する（ステップＳ５４）。例えば，ユーザにより過去３ヶ月間のマイクロホン３の校正により得られた校正値の平均値の算定が指定された場合に，校正値算定部１６は，校正値蓄積記憶部１５から過去３ヶ月間の校正値を取得し，それらの平均値を算出して，測定で使用する校正値とする。
【０１１７】
校正値設定部１７は，測定で使用する校正値を，設定データ記憶部２３に記憶された設定データに設定する（ステップＳ５５）。測定器制御部２０では，設定データ記憶部２３に記憶された設定データの該当マイクロホン３の校正値が更新される（ステップＳ５６）。
【０１１８】
ステップＳ５３からステップＳ５６に示す手順が，測定で使用するすべてのマイクロホン３について実行される。
【０１１９】
入力受付部１１がユーザから測定項目の指定および測定開始の指示を受けると，測定実行管理部１８は，測定器制御部２０に対して，測定開始の指示を送る（ステップＳ５７）。
【０１２０】
測定器制御部２０において，測定実行制御部２４が測定管理部１０から測定開始の指示を受けると，表示処理部２１は，測定画面（測定器制御画面）をコンピュータ１の表示画面に表示する（ステップＳ５８）。
【０１２１】
測定実行制御部２４は，目的とする測定を実行する（ステップＳ５９）。このとき，測定実行制御部２４は，マイクロホン出力値に対して，設定データ記憶部２３に記憶された設定データに設定された校正値を用いた補正を行い，測定値を得る。
【０１２２】
測定実行制御部２４は，測定が終了すると，測定管理部１０に測定終了を通知する（ステップＳ６０）。
【０１２３】
測定管理部１０において，測定実行管理部１８は，測定器制御部２０から測定終了の通知を受けると，測定器制御部２０から測定結果を取得する（ステップＳ６１）。測定実行管理部１８は，取得した測定結果の画面表示や印刷などを行う（ステップＳ６２）。
【０１２４】
このように，本実施の形態の測定システムでは，過去の測定機器の校正により得られた複数の第一の校正値から，統計的手法を用いて第二の校正値を算定し，統計的手法を用いて算定された第二の校正値を用いて測定を行う。そのため，作業者の熟練度や測定器２のヒートラン時間に起因する校正結果のばらつきが排除され，安定した信頼性の高い校正値による測定機器出力値の補正が可能となり，測定の精度が向上する。
【０１２５】
以上説明した測定管理部１０および測定器制御部２０による処理は，コンピュータが備えるＣＰＵ，メモリ等のハードウェアとソフトウェアプログラムとにより実現することができ，そのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録することも，ネットワークを通して提供することも可能である。
【０１２６】
以上，本実施の形態について説明したが，本発明はその主旨の範囲において種々の変形が可能であることは当然である。
【０１２７】
例えば，本実施の形態では，音響測定分野における測定の例を示したが，他の分野における測定であってもよい。音響測定分野以外の測定分野としては，例えば加速度ピックアップセンサを使用した振動試験分野などがある。
【０１２８】
図１７は，加速度ピックアップセンサを使用した振動試験の例を示す図である。
【０１２９】
図１７に示す測定システムでは，振動試験開始前に測定機器である加速度ピックアップセンサ２０２の校正が行われ，校正により得られた校正値を用いた被試験装置２０４の振動試験が行われる。
【０１３０】
加速度ピックアップセンサ２０２は，加振台２０１の加振レベルの検出を行い，検出レベルを測定管理／制御システム２００に伝える。測定管理／制御システム２００は，検出レベルより加振台２０１が規定加振レベルとなるよう，出力レベル調整を行う。
【符号の説明】
【０１３１】
１ コンピュータ
２ 測定器
３ マイクロホン
４ 被測定装置
５ マイクロホン校正器
１０ 測定管理部
１１ 入力受付部
１２ 表示処理部
１３ 校正実行管理部
１４ 校正値取得部
１５ 校正値蓄積記憶部
１６ 校正値算定部
１７ 校正値設定部
１８ 測定実行管理部
２０ 測定器制御部
２１ 表示処理部
２２ 校正実行制御部
２３ 設定データ記憶部
２４ 測定実行制御部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定機器を有する測定システムにおける各種情報を管理する測定管理装置であって，
校正のための測定機器の出力と基準値との比較により得られた第一の校正値を取得する校正値取得部と，
前記第一の校正値を蓄積して記憶する校正値蓄積記憶部と，
前記校正値蓄積記憶部に記憶された複数の第一の校正値から，測定において前記測定機器からの出力を補正するために用いる第二の校正値を算定する校正値算定部と，
前記第二の校正値を，測定において前記測定機器からの出力を補正するために用いる校正値として設定する校正値設定部とを備える
ことを特徴とする測定管理装置。
【請求項２】
前記校正値蓄積記憶部に記憶された複数の第一の校正値から前記第二の校正値を算定するための算定手法の，ユーザによる指示入力を受け付ける入力受付部を備え，
前記校正値算定部は，前記ユーザにより指示された算定手法を用いて，前記校正値蓄積記憶部に記憶された複数の第一の校正値から前記第二の校正値を算定する
ことを特徴とする請求項１に記載された測定管理装置。
【請求項３】
測定機器を有する測定システムにおける各種情報を管理する測定管理装置のコンピュータによる測定管理方法であって，
前記コンピュータが，
校正のための測定機器の出力と基準値との比較により得られた第一の校正値を取得する過程と，
前記第一の校正値を，前記コンピュータがアクセス可能な記憶装置に蓄積して記憶する過程と，
前記記憶装置に記憶された複数の第一の校正値から，測定において前記測定機器からの出力を補正するために用いる第二の校正値を算定する過程と，
前記第二の校正値を，測定において前記測定機器からの出力を補正するために用いる校正値として設定する過程とを実行する
ことを特徴とする測定管理方法。
【請求項４】
測定機器を有する測定システムにおける各種情報を管理する測定管理装置のコンピュータが実行するプログラムであって，
前記コンピュータに，
校正のための測定機器の出力と基準値との比較により得られた第一の校正値を取得する手順と，
前記第一の校正値を，前記コンピュータがアクセス可能な記憶装置に蓄積して記憶する手順と，
前記記憶装置に記憶された複数の第一の校正値から，測定において前記測定機器からの出力を補正するために用いる第二の校正値を算定する手順と，
前記第二の校正値を，測定において前記測定機器からの出力を補正するために用いる校正値として設定する手順とを
実行させるための測定管理プログラム。
【請求項１】
測定機器を有する測定システムにおける各種情報を管理する測定管理装置であって，
校正のための測定機器の出力と基準値との比較により得られた第一の校正値を取得する校正値取得部と，
前記第一の校正値を蓄積して記憶する校正値蓄積記憶部と，
前記校正値蓄積記憶部に記憶された複数の第一の校正値から，測定において前記測定機器からの出力を補正するために用いる第二の校正値を算定する校正値算定部と，
前記第二の校正値を，測定において前記測定機器からの出力を補正するために用いる校正値として設定する校正値設定部とを備える
ことを特徴とする測定管理装置。
【請求項２】
前記校正値蓄積記憶部に記憶された複数の第一の校正値から前記第二の校正値を算定するための算定手法の，ユーザによる指示入力を受け付ける入力受付部を備え，
前記校正値算定部は，前記ユーザにより指示された算定手法を用いて，前記校正値蓄積記憶部に記憶された複数の第一の校正値から前記第二の校正値を算定する
ことを特徴とする請求項１に記載された測定管理装置。
【請求項３】
測定機器を有する測定システムにおける各種情報を管理する測定管理装置のコンピュータによる測定管理方法であって，
前記コンピュータが，
校正のための測定機器の出力と基準値との比較により得られた第一の校正値を取得する過程と，
前記第一の校正値を，前記コンピュータがアクセス可能な記憶装置に蓄積して記憶する過程と，
前記記憶装置に記憶された複数の第一の校正値から，測定において前記測定機器からの出力を補正するために用いる第二の校正値を算定する過程と，
前記第二の校正値を，測定において前記測定機器からの出力を補正するために用いる校正値として設定する過程とを実行する
ことを特徴とする測定管理方法。
【請求項４】
測定機器を有する測定システムにおける各種情報を管理する測定管理装置のコンピュータが実行するプログラムであって，
前記コンピュータに，
校正のための測定機器の出力と基準値との比較により得られた第一の校正値を取得する手順と，
前記第一の校正値を，前記コンピュータがアクセス可能な記憶装置に蓄積して記憶する手順と，
前記記憶装置に記憶された複数の第一の校正値から，測定において前記測定機器からの出力を補正するために用いる第二の校正値を算定する手順と，
前記第二の校正値を，測定において前記測定機器からの出力を補正するために用いる校正値として設定する手順とを
実行させるための測定管理プログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【公開番号】特開２０１０−２１６９４９（Ｐ２０１０−２１６９４９Ａ）
【公開日】平成２２年９月３０日（２０１０．９．３０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−６３０９１（Ｐ２００９−６３０９１）
【出願日】平成２１年３月１６日（２００９．３．１６）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年９月３０日（２０１０．９．３０）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年３月１６日（２００９．３．１６）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
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