説明

画像形成装置用像保持体、プロセスカートリッジ及び画像形成装置

【課題】繰り返し使用時の安定性に優れた画像形成装置用像保持体を提供することにある。
【解決手段】支持体上に、下記一般式(I)で示される化合物を含有する感光層が形成された画像形成装置用像保持体。ただし一般式(I)中、Arは、それぞれ独立に、水素原子、置換もしくは未置換のアルキル基、置換もしくは未置換の1価の芳香族基、又は芳香族複素環を含む置換もしくは未置換の1価の芳香族基を表し、nは1以上3以下の整数を表す。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、画像形成装置用像保持体、プロセスカートリッジ及び画像形成装置に関するものである。
【背景技術】
【0002】
有機光導電性化合物を主成分とする感光層を有する感光体は、従来用いられてきた無機光導電体(セレン、酸化亜鉛、硫化カドミウム又はシリコン等)を主成分として含有する感光体に比較して、製造が比較的容易であること、安価であること、取扱いが容易であること、熱安定性が優れていること等多くの利点を有し、盛んに研究がなされている。
【0003】
特に、光導電体の電荷発生機能と電荷輸送機能とをそれぞれ別個の機能層に分担させ、前者の発生機能を有する材料を電荷発生層に、後者の輸送機能を有する材料を電荷輸送層にそれぞれ含有させる、積層タイプの機能分離型感光層を有する感光体がすでに実用化されている。
【0004】
中でも、光導電性化合物として、その高い電荷移動度からテトラアリールベンジジン化合物が盛んに研究されている。(例えば、特許文献1、特許文献2、特許文献3、特許文献4及び特許文献5参照)。
また、フェノチアジン誘導体を用いた有機感光体が提案されている(例えば、特許文献6及び特許文献7参照)。
【特許文献1】米国特許第4,047,948号明細書
【特許文献2】米国特許第4,299,897号明細書
【特許文献3】特開昭61−132955号公報
【特許文献4】特開昭62−267749号公報
【特許文献5】特開平3−138654号公報
【特許文献6】特開平10−59952号公報
【特許文献7】特開平11−158165号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
本発明の課題は、特許文献1に記載の発明に比べて、繰り返し使用による残留電位の変動が低い画像形成装置用像保持体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上記課題は、以下の手段により解決される。即ち、
請求項1に係る発明は、支持体と、該支持体上に下記一般式(I)で示される化合物を含有する感光層と、を有する画像形成装置用像保持体である。
【0007】
【化1】

【0008】
一般式(I)中、Arは、それぞれ独立に、水素原子、置換もしくは未置換のアルキル基、置換もしくは未置換の1価の芳香族基、又は芳香族複素環を含む置換もしくは未置換の1価の芳香族基を表し、nは1以上3以下の整数を表す。
【0009】
請求項2に係る発明は、請求項1記載の画像形成装置用像保持体と、前記画像形成装置用像保持体を帯電させる帯電手段、帯電した前記画像形成装置用像保持体を露光して静電潜像を形成させる露光手段、前記静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段、前記トナー像を被転写体に転写する転写手段、および前記画像形成装置用像保持体を清掃する清掃手段から選ばれる少なくとも1つと、を少なくとも有するプロセスカートリッジである。
【0010】
請求項3に係る発明は、請求項1記載の画像形成装置用像保持体と、前記画像形成装置用像保持体を帯電させる帯電手段と、帯電した前記画像形成装置用像保持体を露光して静電潜像を形成させる露光手段と、前記静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、前記トナー像を被転写体に転写する転写手段と、を備える画像形成装置である。
【発明の効果】
【0011】
請求項1に係る発明によれば、特許文献1に記載の発明に比べて、繰り返し使用による残留電位の変動が低い画像形成装置用像保持体が提供される。
請求項2に係る発明によれば、特許文献1に記載の発明に比べて、繰り返し使用による残留電位の変動が低い画像形成装置用像保持体を有するプロセスカートリッジが提供される。
請求項3に係る発明によれば、特許文献1に記載の発明に比べて、繰り返し使用による残留電位の変動が低い画像形成装置用像保持体を有する画像形成装置が提供される。
【発明を実施するための最良の形態】
【0012】
以下、本発明の好ましい実施形態について説明する。
本実施形態では、上記一般式(I)で示される化合物を電荷輸送材料として用いることにより、画像形成装置用像保持体が提供される。すなわち、導電性支持体上に感光層が形成された画像形成装置用像保持体であって、当該感光層は上記一般式(I)で示される化合物を含有する。
なお、本実施形態における導電性支持体とは、JIS K 7194「導電性プラスチックの4探針法による抵抗率試験方法」に基づき測定した体積抵抗率が10Ω・cm未満であるような導電性材料で形成されるか、或いは、基材表面に該導電性材料で形成された導電層を有する支持体を指す。
【0013】
該画像形成装置用像保持体における感光層は、電荷発生材料と電荷輸送材料とを同一層に含む単層型感光層、又は電荷発生材料を含む層と電荷輸送材料を含む層とが隣接するように別個に設けられている機能分離型感光層のいずれでもよく、電荷輸送材料として上記一般式(I)で示される化合物を含有させるものである。
【0014】
また、電荷発生材料としては、オキシチタニウムフタロシアニン、クロロガリウムフタロシアニン又はヒドロキシガリウムフタロシアニン等の公知の電荷発生材料を用いうる。なお、該画像形成装置用像保持体は、最表面上(導電性支持体から最も離れた位置)に保護層を備えたものであってもよく、この場合における保護層は、電荷輸送性を有する架橋性シリコーン樹脂を含んでなることが好ましい。
【0015】
(画像形成装置用像保持体)
本実施形態に係る画像形成装置用像保持体は、支持体上に、下記一般式(I)で示される化合物を含有する感光層が形成された画像形成装置用像保持体である。
ここで一般式(I)で示される化合物について説明する。
【0016】
【化2】



【0017】
一般式(I)中、Arは、それぞれ独立に、水素原子、置換もしくは未置換のアルキル基、置換もしくは未置換の1価の芳香族基、又は芳香族複素環を含む置換もしくは未置換の1価の芳香族基を表し、nは1以上3以下の整数を表す。
【0018】
一般式(I)におけるArを表す基として具体的には、例えば、下記の基が挙げられる。
【0019】
一般式(I)におけるArが表すアルキル基としては、例えば、炭素数1以上10以下(好ましくは1以上8以下、より好ましくは1以上6以下)のアルキル基が挙げられ、具体的には、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、又はイソプロピル基等が挙げられる。当該アルキル基は、直鎖状であってもよく、分鎖状であってもよい。
【0020】
一般式(I)におけるArが表す1価の芳香族基は、芳香族環数は特に制限されないが、具体的には例えば、置換もしくは未置換のフェニル基、置換もしくは未置換の芳香族環数2以上20以下の1価の多核芳香族炭化水素、又は置換もしくは未置換の芳香族環数2以上20以下の1価の縮合芳香族炭化水素基が挙げられる。
【0021】
ここで、「多核芳香族炭化水素」とは、具体的には以下に定義される多環式芳香族を意味する。即ち、「多核芳香族炭化水素」とは炭素と水素から構成される芳香環が2個以上存在し、環同士が炭素−炭素結合によって結合している炭化水素を表す。具体的にはビフェニル、ターフェニル、又はスチルベン等が挙げられる。
【0022】
また、「縮合芳香族炭化水素」とは、具体的には以下に定義される多環式芳香族を意味する。即ち、「縮合芳香族炭化水素」とは、炭素と水素から構成される芳香環が2個以上存在し、これらの芳香環同士が1対の隣接して結合する炭素原子を共有している炭化水素を表す。具体的には、ナフタレン、アントラセン、フェナントレン、ピレン、ペリレン、又はフルオレン等が挙げられる。
【0023】
一般式(I)におけるArが表す、芳香族複素環を含む置換もしくは未置換の1価の芳香族基は、芳香族複素環の少なくとも1種を含む1価の芳香族基を示し、芳香族環数、複素環数は特に制限はない。ここで、「芳香族複素環」とは、炭素と水素以外の元素も含む芳香環を表す。その環骨格を構成する原子数(Nr)はNr=5及び/又は6が好ましく用いられる。また、環骨格を構成する炭素原子以外の原子(異種原子)の種類及び数は限定されないが、例えば、硫黄原子、窒素原子、又は酸素原子等が好ましく用いられ、前記環骨格中に2種以上及び/又は2個以上の異種原子が含まれていてもよい。特に、5員環構造を有する複素環としてはチオフェン、ピロール、フラン、又はこれらの3位及び4位の炭素をさらに窒素で置換した複素環が好ましく用いられ、6員環構造を有する複素環としてはピリジン環が好適に挙げられる。
【0024】
また、「芳香族複素環を含む1価の芳香族基」は、骨格を形成する原子団中に、少なくとも1種の前記芳香族複素環を含む結合基を表す。これらは全てが共役系で構成されたもの、あるいは一部が共役系で構成されたもののいずれでもよいが、電荷輸送性の点で、全てが共役系で構成されたものが好ましい。具体的には、例えば、フェニルチオフェン環、フェニルピロール環、又はフェニルピリジン環等が挙げられる。
【0025】
一般式(I)におけるArが表す基に置換し得る置換基としては、例えば、水素原子、アルキル基、アルコキシ基、フェノキシ基、アリール基、アラルキル基、置換アミノ基、又はハロゲン原子等が挙げられる。前記アルキル基としては、炭素数1以上10以下のものが好ましく、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、又はヘキシル基等が挙げられる。前記アルコキシ基としては、炭素数1以上10以下のものが好ましく、例えばメトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、又はイソプロポキシ基等が挙げられる。前記アリール基としては、炭素数6以上20以下のものが好ましく、例えばフェニル基、又はトルイル基等が挙げられる。前記アラルキル基としては、炭素数7以上20以下のものが好ましく、例えばベンジル基、又はフェネチル基等が挙げられる。置換アミノ基の置換基としては、アルキル基、アリール基、又はアラルキル基が挙げられる。
【0026】
また、一般式(I)におけるnは、1以上3以下の整数を示すが、1以上2以下の整数を示すことが好適である。
【0027】
ここで、繰り返し使用による残留電位の変動が低いという観点から、一般式(I)で示される化合物としては、好適には、
Arが、それぞれ独立に、アルキル基、フェニル基、又はチオフェン環等のアリール基、を表し、nが1以上2以下の整数を表す化合物であり、
さらに好適には、
Arが、それぞれ独立に、アルキル基、フェニル基、又はチオフェン環を表し、nが2を表す化合物である。
【0028】
これらの中でも、繰り返し使用による残留電位の変動が低いという観点から一般式(I)で示される化合物として、特に好適には、下記一般式(II)で示される化合物である。
【0029】
【化3】

【0030】
一般式(II)中、Rは、それぞれ独立に水素原子、アルキル基、又はアルコキシ基を表し、nは1以上3以下の整数を表す。
【0031】
一般式(II)におけるRが表すアルキル基としては、例えば、炭素数1以上10以下(好ましくは1以上8以下、より好ましくは1以上6以下)のアルキル基が挙げられ、具体的には、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、又はイソプロピル基等が挙げられる。当該アルキル基は、直鎖状であってもよく、分鎖状であってもよい。
一般式(II)におけるRが表すアルコキシ基としては、例えば、炭素数1以上10以下(好ましくは3以上8以下、より好ましくは3以上6以下)のアルコキシ基が挙げられ、具体的には、例えばメトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、又はイソプロポキシ基等が挙げられる。
【0032】
また、一般式(II)におけるnは、1以上3以下の整数を示すが、1以上2以下の整数を示すことが好適である。
【0033】
以下、上記一般式(I)で示される化合物の具体例につき、例示するが、これらに限定されるものではない。
【0034】
【化4】

【0035】
【化5】

【0036】
以下、本実施形態の一般式(I)で示されるフェノチアジン化合物の製造方法について説明する。
本実施形態の一般式(I)で示されるフェノチアジン化合物は、例えば、クロスカップリングビアリール合成を利用して得られる。クロスカップリングビアリール合成は、例えば、Suzuki反応、Kharasch反応、Negishi反応、Stille反応、Grignard反応、又はUllmann反応などが用いられる。
【0037】
本実施形態のフェノチアジン化合物は、例えば、下記のようにして合成されるが、合成方法はこれに限定するものではない。本実施形態のフェノチアジン化合物は、具体的には例えば、一般式(III)で示される化合物と、一般式(IV)で示される化合物とを、溶媒中において、必要に応じて、例えば金属、金属触媒、及び塩基の少なくとも1種の存在下で、反応させることで得られる。
【0038】
【化6】

【0039】
ここで、一般式(III)及び一般式(IV)中、X及びGは、それぞれ独立にハロゲン原子、B(OH)、又は、以下に示す構造が挙げられる。
【0040】
【化7】

【0041】
nは1以上3以下の整数を示す。
【0042】
上記反応の際に用いる金属としては、例えば、Pd、Cu、Ti,Sn,Ni,又はPt等が挙げられる。
また、金属触媒としては、金属錯体(例えば、Pd(P(C、Pd(OCOCH、Pd(dba)、Pd(P(CCl、Pd(dppf)Cl、又はPd/C、Ni(C)等(なお、dbaはジベンジリデンアセトン、dppfはビス(ジフェニルホスフィノ)フェロセンを表す。))等が挙げられる。
塩基としては、無機塩基(例えば、NaCo、KCo、CsCO、又はBa(OH)など)、有機塩基(例えばN(C、NH((CHCH)、NH(C、NH(CH、N(CH、DBU(1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデセン−7)、DMAP(N,N−ジメチル−4−アミノピリジン)、又はピリジンなど)が挙げられる。
また、溶媒としては、反応を著しく阻害しない溶媒であればよく、例えば、芳香族炭化水素溶媒(例えばベンゼン、トルエン、キシレン、又はメシチレン等)、エーテル溶媒(例えばジエチルエ−テル、テトラヒドロフラン、又はジオキサン等)、アセトニトリル、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール、又は水、等が挙げられる。また、溶媒としては、P(C、P(o−CH、P(C(CH、又はP(C等を用いてもよい。
【0043】
ここで、上記反応の際に用いる金属、及び金属触媒の使用量は、特に限定されるものではないが、例えば、上記一般式(III)で示される化合物に対してモル比で0.001モル%以上10モル%以下であり、より好ましくは、0.01モル%以上5.0モル%以下である。
また、塩基の使用量は、例えば、上記一般式(III)で示される化合物に対してモル比で0.5モル%以上4.0モル%以下の範囲であり、より好ましくは1.0モル%以上2.5モル%以下の範囲である。
【0044】
また、上記反応は、例えば、常圧下、窒素、アルゴンなどの不活性ガス雰囲気下に実施されるが、加圧条件下に実施してもよい。また、上記反応は、例えば反応温度20℃以上300℃以下の範囲で実施されるが、より好ましくは50℃以上180℃以下の範囲である。ここで、反応時間は反応条件により異なるが、数分以上20時間以下の範囲から選択すればよい。
【0045】
そして、上記反応後、反応溶液を水中に投入して、よく攪拌し、反応生成物が固形物(結晶物)の場合は吸引濾過で濾取することにより粗生成物が得られる。一方、反応生成物が油状物の場合には、酢酸エチル、トルエン等の適当な溶剤で抽出して粗生成物が得られる。その後、得られた組成生物をカラム精製(シリカゲル、アルミナ、活性白土、又は活性炭等を用いたカラム精製)するか、又は溶液中にこれらの吸着剤を添加し、不要分を吸着させる等の処理を行い精製する。また、反応生成物が結晶の場合には、さらに適当な溶剤(例えばヘキサン、メタノール、アセトン、エタノール、酢酸エチル、又はトルエン等)から、再結晶させて精製する。このようにして、目的とする一般式(I)で示されるフェノチアジン化合物が得られる。
【0046】
本実施形態の画像形成装置用像保持体の感光層は、前記一般式(I)で示されるフェノチアジン化合物を用いることにより、バインダーとの相溶性に優れ、得られた塗布膜は膜厚にむらがない。また本実施形態の画像形成装置用像保持体は、前記一般式(I)で示されるフェノチアジン化合物を含有する感光層を有することで、繰返し使用による残留電位変動も低く、優れた環境維持性を発揮する。さらに本実施形態の画像形成装置及びプロセスカートリッジでは、本実施形態の画像形成装置用像保持体を用いるものであるために、長期にわたって良好な画質が得られ、環境負荷の低減や大幅なコストダウンにもなる。
【0047】
本実施形態の画像形成装置用像保持体は、導電性支持体上に感光層を有する画像形成装置用像保持体であって、該感光層に上記した一般式(I)で示される化合物を含有することを特徴とする。
図1から図3は、それぞれ本実施形態の画像形成装置用像保持体の第1から第3実施形態を示す模式断面図である。
いずれも画像形成装置用像保持体1を導電性支持体2及び感光層3の積層方向に沿って切断したものである。
【0048】
図1及び図2に示す、第1及び第2実施形態に係る画像形成装置用像保持体1は、電荷発生物質と電荷輸送物質とが異なる層に含有される機能分離型感光層を備えるものである。すなわち、感光層3中において、電荷発生物質を含有する層(電荷発生層5)と電荷輸送物質を含有する層(電荷輸送層6)とが別個に形成され、それらが隣接するように積層されている。
【0049】
一方、図3に示す、第3実施形態に係る画像形成装置用像保持体1は、電荷発生物質と電荷輸送物質とが同一の層に含有される単層型感光層を備えるものである。すなわち、感光層3中において、電荷発生物質と電荷輸送物質と含有する電荷発生・輸送層8が一層形成されている。
【0050】
より詳しくは、第1実施形態に係る画像形成装置用像保持体1においては、導電性支持体2上に下引き層4、電荷発生層5及び電荷輸送層6がこの順で積層されて感光層3が構成されており、第2実施形態に係る画像形成装置用像保持体1においては、導電性支持体2上に下引き層4、電荷発生層5、電荷輸送層6及び保護層7がこの順で積層されて感光層3が構成されている。また、第3実施形態に係る画像形成装置用像保持体1においては、導電性支持体2上に下引き層4及び電荷発生・輸送層8がこの順で積層されて感光層3が構成されている。
【0051】
なお、図示を省略するが、第2実施形態の変形態様として、第2実施形態における電荷発生層5と電荷輸送層6との積層順を逆にした態様や、第3実施形態の変形態様として、第3実施形態の電荷発生・輸送層8上に、第1及び第2実施形態において用いられる成分からなる保護層7を形成させた態様も挙げられる。
【0052】
導電性支持体2としては、アルミニウムがドラム状、シート状、又はプレート状等の形状のものとして使用されるが、これらに限定されるものではない。導電性支持体2には陽極酸化処理や、ベーマイト処理、又はホーニング処理等を行ってもよい。
【0053】
導電性支持体2と感光層3で挟まれる領域又は導電性支持体2と電荷発生・輸送層8で挟まれる領域には、図1から図3に示すように下引き層4が設けられる。下引き層4としては、ジルコニウムキレート化合物、ジルコニウムアルコキシド化合物、又はジルコニウムカップリング剤等の有機ジルコニウム化合物;チタンキレート化合物、チタンアルコキシド化合物、又はチタネートカップリング剤等の有機チタン化合物;アルミニウムキレート化合物、又はアルミニウムカップリング剤等の有機アルミニウム化合物のほか;アンチモンアルコキシド化合物、ゲルマニウムアルコキシド化合物、インジウムアルコキシド化合物、インジウムキレート化合物、マンガンアルコキシド化合物、マンガンキレート化合物、スズアルコキシド化合物、スズキレート化合物、アルミニウムシリコンアルコキシド化合物、アルミニウムチタンアルコキシド化合物、又はアルミニウムジルコニウムアルコキシド化合物、等の有機金属化合物が用いられる。特に有機ジルコニウム化合物、有機チタニル化合物、又は有機アルミニウム化合物は好ましく使用される。
【0054】
また、ビニルトリクロロシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリス2メトキシエトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−クロロプロピルトリメトキシシラン、γ−2−アミノエチルアミノプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプロプロピルトリメトキシシラン、γ−ウレイドプロピルトリエトキシシラン、又はβ−3,4−エポキシシクロヘキシルトリメトキシシラン等のシランカップリング剤を更に含有させて使用する。
【0055】
更に、ポリビニルアルコール、ポリビニルメチルエーテル、ポリ−N−ビニルイミダゾール、ポリエチレノキシド、エチルセルロース、メチルセルロース、エチレン−アクリル酸共重合体、ポリアミド、ポリイミド、カゼイン、ゼラチン、ポリエチレン、ポリエステル、フェノール樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、エポキシ樹脂、ポリビニルピロリドン、ポリビニルピリジン、ポリウレタン、ポリグルタミン酸、又はポリアクリル酸等の公知の結着樹脂を更に含有させ得る。これらの混合割合は、必要に応じて設定される。
また、下引き層中には電子輸送性顔料を混合/分散して使用し得る。
【0056】
電子輸送性顔料としては、特開昭47−30330号公報に記載のペリレン顔料、ビスベンズイミダゾールペリレン顔料、多環キノン顔料、インジゴ顔料、又はキナクリドン顔料等の有機顔料が挙げられる。また、シアノ基、ニトロ基、ニトロソ基、又はハロゲン原子等の電子吸引性の置換基を有するビスアゾ顔料やフタロシアニン顔料等の有機顔料、酸化亜鉛、又は酸化チタン等の無機顔料が挙げられる。これらの顔料の中では、ペリレン顔料、ビスベンズイミダゾールペリレン顔料、多環キノン顔料、酸化亜鉛、又は酸化チタンが好ましい。
【0057】
またこれらの顔料の表面は、上記カップリング剤や、バインダ等で表面処理してもよい。電子輸送性顔料の含有量は、下引き層全量中95重量%以下、好ましくは90重量%以下で使用される。
【0058】
下引き層中に電子輸送性顔料を混合/分散する方法は、ボールミル、ロールミル、サンドミル、又はアトライター、超音波等を用いる常法が適用される。混合/分散は有機溶剤中で行われるが、有機溶剤としては、有機金属化合物や樹脂を溶解し、また、電子輸送性顔料を混合/分散したときにゲル化や凝集を起こさないものであれば如何なるものでも使用される。例えば、メタノール、エタノール、n−プロパノール、n−ブタノール、ベンジルアルコール、メチルセルソルブ、エチルセルソルブ、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、酢酸メチル、酢酸n−ブチル、ジオキサン、テトラヒドロフラン、メチレンクロライド、クロロホルム、クロルベンゼン、又はトルエン等の通常の有機溶剤を単独あるいは2種以上混合して用いる。
【0059】
下引き層の厚みは、0.1μm以上30μm以下が好ましく、より好ましくは0.2μm以上25μm以下が適当である。
また、下引き層を設けるときに用いる塗布方法としては、ブレードコーティング法、マイヤーバーコーティング法、スプレーコーティング法、浸漬コーティング法、ビードコーティング法、エアーナイフコーティング法、又はカーテンコーティング法等の通常の方法を用いる。
【0060】
前記成分を含有する下引き層形成用組成物を塗布して形成された塗膜を乾燥させて下引き層を得るが、通常、乾燥は溶剤を蒸発させ、製膜され得る温度で行われる。特に、酸性溶液処理、ベーマイト処理を行った基材は、基材の欠陥隠蔽力が不十分となり易いため、下引き層を形成することが好ましい。
【0061】
電荷発生層5に含有される電荷発生材料は、ビスアゾ、又はトリスアゾ等のアゾ顔料;ジブロモアントアントロン等の縮環芳香族顔料;ペリレン顔料、ピロロピロール顔料、又はフタロシアニン顔料等既知のものを使用し得るが、とくに金属及び無金属フタロシアニン顔料が好ましい。その中でも、特開平5−263007号公報及び、特開平5−279591号公報に開示されたヒドロキシガリウムフタロシアニン、特開平5−98181号公報に開示されたクロロガリウムフタロシアニン、特開平5−140472号公報及び、特開平5−140473号公報に開示されたジクロロスズフタロシアニン、又は特開平4−189873号公報及び、特開平5−43813号公報に開示されたチタニルフタロシアニンが特に好ましい。
【0062】
電荷発生層は、電荷発生材料と結着樹脂とを混合して形成するが、このような結着樹脂としては、広範な絶縁性樹脂から選択され、また、ポリ−N−ビニルカルバゾール、ポリビニルアントラセン、ポリビニルピレン、又はポリシラン等の有機光導電性ポリマーから選択し得る。好ましい結着樹脂としては、ポリビニルブチラール樹脂、ポリアリレート樹脂(ビスフェノールAとフタル酸の重縮合体等)、ポリカーボネート樹脂、ポリエステル樹脂、フェノキシ樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、ポリアミド樹脂、アクリル樹脂、ポリアクリルアミド樹脂、ポリビニルピリジン樹脂、セルロース樹脂、ウレタン樹脂、エポキシ樹脂、カゼイン、ポリビニルアルコール樹脂、又はポリビニルピロリドン樹脂等の絶縁性樹脂が挙げられるが、これらに限定されるものではない。これらの結着樹脂は単独あるいは2種以上混合して用いる。
なお本発明における絶縁性樹脂とは、JIS K 7194「導電性プラスチックの4探針法による抵抗率試験方法」に基づき測定した体積抵抗率が1012Ω・cm以上であるような絶縁性樹脂を指す。
【0063】
電荷発生材料と結着樹脂の配合比(重量比)は10:1から1:10の範囲が好ましく、より好ましくは8:3から3:8である。
またこれらを分散させる方法としてはボールミル分散法、アトライター分散法、又はサンドミル分散法等の通常の方法を用いるが、この際、分散によって電荷発生材料の結晶型が変化しない条件が必要とされる。ちなみに本実施形態で用いた前記の分散法のいずれについても分散前と結晶型が変化していないことが確認されている。
【0064】
更にこの分散の際、電荷発生材料の粒子を0.5μm以下、好ましくは0.3μm以下、更に好ましくは0.15μm以下の粒子サイズにすることが有効である。
またこれらの分散に用いる溶剤としては、メタノール、エタノール、n−プロパノール、n−ブタノール、ベンジルアルコール、メチルセルソルブ、エチルセルソルブ、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、酢酸メチル、酢酸n−ブチル、ジオキサン、テトラヒドロフラン、メチレンクロライド、クロロホルム、クロルベンゼン、又はトルエン等の通常の有機溶剤を単独あるいは2種以上混合して用いる。
【0065】
電荷発生層の厚みは0.1μm以上5μm以下が好ましく、より好ましくは0.2μm以上2.0μm以下である。また、電荷発生層を設けるときに用いる塗布方法としては、ブレードコーティング法、マイヤーバーコーティング法、スプレーコーティング法、浸漬コーティング法、ビードコーティング法、エアーナイフコーティング法、又はカーテンコーティング法等の通常の方法を用いる。
【0066】
電荷輸送層6としては、前記一般式(I)で示される化合物を含有する他は、公知の技術によって形成されたものを使用し得る。この電荷輸送層6は、電荷輸送材料と結着樹脂を含有して形成されるか、あるいは高分子電荷輸送材を含有して形成される。
電荷輸送材料としては、前記一般式(I)で示される化合物を用いる。また一般式(I)で示される化合物のほか、p−ベンゾキノン、クロラニル、ブロマニル、アントラキノン等のキノン系化合物;テトラシアノキノジメタン系化合物、2,4,7−トリニトロフルオレノン等のフルオレノン化合物、キサントン系化合物、ベンゾフェノン系化合物、シアノビニル系化合物、エチレン系化合物等の電子輸送性化合物や、トリアリールアミン系化合物、ベンジジン系化合物、アリールアルカン系化合物、アリール置換エチレン系化合物、スチルベン系化合物、アントラセン系化合物、ヒドラゾン系化合物等の正孔輸送性化合物といった他の電荷輸送材料を1種以上混合して用いるが、これらに限定されるものではない。
【0067】
電荷輸送層全量中、前記一般式(I)で示される化合物の含有量は、5質量%以上70質量%以下であり、より好ましくは10質量%以上60質量%以下であり、更に好ましくは20質量%以上50質量%以下である。
また前記一般式(I)で示される化合物以外の化合物を電荷輸送材料として併用する場合は、電荷輸送材料全量中、前記一般式(I)で示される化合物の含有量は、1質量%以上であるのが好ましく、5質量%以上であるのがより好ましい。
【0068】
前記一般式(I)で示される化合物と混合する化合物としては、以下の一般式(V)または一般式(VI)で示される化合物が好ましい。
【0069】
【化8】

【0070】
一般式(V)中、Rは水素原子又はメチル基を示す。nは1又は2を示す。Ar及びArはそれぞれ独立に、置換または未置換のアリール基を示し、置換アリール基の置換基としてはハロゲン原子、炭素数が1以上5以下のアルキル基、炭素数が1以上5以下のアルコキシ基、又は炭素数が1以上3以下のアルキル基で置換された置換アミノ基が挙げられる。
【0071】
【化9】

【0072】
一般式(VI)中、R及びRはそれぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原子、炭素数1以上5以下のアルキル基又は炭素数1以上5以下のアルコキシ基を示す。R、R、RおよびRはそれぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原子、炭素数1以上5以下のアルキル基、炭素数1以上5以下のアルコキシ基、炭素数1以上2以下のアルキル基で置換された置換アミノ基、又は、置換若しくは未置換のアリール基を示す。p及びqはそれぞれ独立に、0以上2以下の整数を示す。
【0073】
電荷輸送層に用いる結着樹脂は、ポリカーボネート樹脂、ポリエステル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ塩化ビニリデン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリビニルアセテート樹脂、スチレン-ブタジエン共重合体、塩化ビニリデン-アクリロニトリル共重合体、塩化ビニル-酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル-酢酸ビニル-無水マレイン酸共重合体、シリコン樹脂、シリコン-アルキッド樹脂、フェノール-ホルムアルデヒド樹脂、スチレン-アルキッド樹脂や、ポリ-N-ビニルカルバゾール、ポリシラン、又は特開平8−176293号公報や特開平8−208820号公報に開示されているポリエステル系高分子電荷輸送材等高分子電荷輸送材が用いられる。これらの結着樹脂は単独あるいは2種以上混合して用いる。電荷輸送材料と結着樹脂との配合比(重量比)は10:1から1:10が好ましく、より好ましくは8:3から3:8である。
【0074】
また、電荷輸送材料としては高分子電荷輸送材も用いられる。高分子電荷輸送材としては、ポリ−N−ビニルカルバゾール、又はポリシラン等の電荷輸送性を有する公知のものが用いられる。特に、特開平8−176293号公報や特開平8−208820号公報に開示されているポリエステル系高分子電荷輸送材は、とくに好ましいものである。高分子電荷輸送材はそれだけでも電荷輸送層として使用されるが、上記結着樹脂と混合して成膜してもよい。
【0075】
高分子電荷輸送材としては、下記一般式(VII−1)又は下記一般式(VII−2)で示される高分子化合物が好ましい。
【0076】
【化10】

【0077】
前記一般式(VII−1)及び一般式(VII−2)中、Aはそれぞれ独立に、下記一般式(VIII−1)及び一般式(VIII−2)で示される構造から選択される少なくとも1種を示し、Rはそれぞれ独立に、置換若しくは未置換の芳香環数2以上10以下の1価の多核芳香族炭化水素基、置換若しくは未置換の芳香環数2以上10以下の1価の縮合芳香族炭化水素基、炭素数1以上6以下の1価の直鎖状炭化水素基、炭素数2以上10以下の1価の分枝鎖状炭化水素基、又はヒドロキシ基を示す。Yはそれぞれ独立に、2価のアルコール残基を表示し、Zはそれぞれ独立に、2価のカルボン酸残基を示し、mはそれぞれ独立に、1以上5以下の整数を示し、gはそれぞれ独立に、5以上5000以下の整数を示す。また、B及びB’はそれぞれ独立に、−O−(Y−O)−H、又はO−(Y−O)−CO−Z−CO−OR10で表される基(ただし、Y、Zおよびmは上記と同義である。R10は水素原子、アルキル基、置換若しくは未置換のアリール基、又は置換若しくは未置換のアラルキル基を表す)を示す。
【0078】
【化11】

【0079】
一般式(VIII−1)及び一般式(VIII−2)中、Arはそれぞれ独立に、置換若しくは未置換のフェニル基、置換若しくは未置換の芳香環数2以上10以下の1価の多核芳香族炭化水素基、置換若しくは未置換の芳香環数2以上10以下の1価の縮合芳香族炭化水素基又は置換若しくは未置換の1価の芳香族複素環基を示し、Xは、置換若しくは未置換のフェニレン基、置換若しくは未置換の芳香環数2以上10以下の2価の多核芳香族炭化水素基、置換若しくは未置換の芳香環数2以上10以下の2価の縮合芳香族炭化水素基、又は置換若しくは未置換の2価の芳香族複素環基を表し、jはそれぞれ独立に、0又は1を示し、Tはそれぞれ独立に、炭素数1以上6以下の2価の直鎖状炭化水素基又は炭素数2以上10以下の2価の分枝鎖状炭化水素基を示す。
【0080】
電荷輸送層の厚みは5μm以上50μm以下が好ましく、より好ましくは10μm以上30μm以下である。
塗布方法としては、ブレードコーティング法、ワイヤーバーコーティング法、スプレーコーティング法、浸漬コーティング法、ビードコーティング法、エアーナイフコーティング法、又はカーテンコーティング法等の通常の方法を用いる。
【0081】
電荷輸送層を設けるときに用いる溶剤としては、ベンゼン、トルエン、キシレン、又はクロルベンゼン等の芳香族炭化水素類;アセトン、又は2−ブタノン等のケトン類;塩化メチレン、クロロホルム、又は塩化エチレン等のハロンゲン化脂肪族炭化水素類;テトラヒドロフラン、又はエチルエーテル等の環状もしくは直鎖状のエーテル類等の通常の有機溶剤を単独あるいは2種以上混合して用いる。
【0082】
また、感光層中に酸化防止剤、光安定剤、熱安定剤等の添加剤を添加してもよい。
酸化防止剤としては例えば、ヒンダードフェノール、ヒンダードアミン、パラフェニレンジアミン、アリールアルカン、ハイドロキノン、スピロクロマン、スピロインダノン若しくはそれらの誘導体、有機硫黄化合物、又は有機燐化合物等が挙げられる。
光安定剤の例としては例えば、ベンゾフェノン、ベンゾトリアゾール、ジチオカルバメート、又はテトラメチルピペリジン等の誘導体が挙げられる。
【0083】
また、少なくとも1種の電子受容性物質を含有してもよい。使用される電子受容物質としては、例えば、無水コハク酸、無水マレイン酸、ジブロム無水マレイン酸、無水フタル酸、テトラブロム無水フタル酸、テトラシアノエチレン、テトラシアノキノジメタン、o−ジニトロベンゼン、m−ジニトロベンゼン、クロラニル、ジニトロアントラキノン、トリニトロフルオレノン、ピクリン酸、o−ニトロ安息香酸、p−ニトロ安息香酸、又はフタル酸等が挙げられる。これらのうち、フルオレノン系、キノン系、又はCl、CN、NO等の電子吸引性置換基を有するベンゼン誘導体が特に好ましい。
【0084】
本実施形態の画像形成装置用像保持体は、保護層(表面層)を備えるようにしてもよいが、保護層を高強度保護層(高強度表面層)とすることが好ましい。この高強度保護層としては、バインダー樹脂中に導電性粒子を分散したもの、通常の電荷輸送層材料にフッ素樹脂、アクリル樹脂等の潤滑性粒子を分散したもの、シリコーンや、アクリル等のハードコート剤等が使用される。高強度保護層は、電荷輸送性を有し、架橋構造を有するシロキサン系樹脂を含むものが好ましく、このうち特に、下記一般式(IX)で示される構造のものが好ましい。
【0085】
G−D−F (IX)
一般式(IX)におけるGは無機ガラス質ネットワークサブグループ、Dは可とう性有機サブユニット、Fは電荷輸送性サブユニットを意味する。Fとしては、光キャリア輸送特性を有する構造として、トリアリールアミン系化合物、ベンジジン系化合物、アリールアルカン系化合物、アリール置換エチレン系化合物、スチルベン系化合物、アントラセン系化合物、ヒドラゾン系化合物、キノン系化合物、フルオレノン化合物、キサントン系化合物、ベンゾフェノン系化合物、シアノビニル系化合物、又はエチレン系化合物等が挙げられる。
【0086】
一般式(IX)におけるGは、好ましくは反応性を有するSi基であり、この基は互いに架橋反応を生じて3次元的なSi−O−Si結合である無機ガラス質ネットワークを形成する。
一般式(IX)におけるDは、電荷輸送性を付与するためのFを、3次元的な無機ガラス質ネットワークに直接結合で結びつけるためのものである。
【0087】
一般式(IX)で表される化合物において、Dで表される、無機ガラス質ネットワークに直接結合で結びつける基は、一般式(IX)で表される化合物を加水分解した際に生じるシラノール基と結合する基を意味し、−Si(R11)(3−a)Qaで示される基、エポキシ基、イソシアネート基、カルボキシ基、ヒドロキシ基、又はハロゲン原子等の基がよい。これらのうち、−Si(R11)(3−a)Qaで示される基、エポキシ基、又はイソシアネート基を有する化合物が好ましい。なお、R11は、水素原子、アルキル基、又は置換若しくは未置換のアリール基であり、Qは加水分解性基である。aは、0から3の整数である。
なおこれらの基を分子内に2つ以上持つものが硬化膜の架橋構造が3次元的になるため好ましい。
【0088】
保護層は、他のカップリング剤、フッ素化合物を混合して用いてもよい。この化合物として、各種シランカップリング剤、及び市販のシリコーン系ハードコート剤が用いられる。
シランカップリング剤としては、ビニルトリクロロシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−β(アミノエチル)γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、テトラメトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、又はジメチルジメトキシシラン、等が用いられる。
市販のハードコート剤としては、KP−85、X−40−9740、X−40−2239(以上、信越シリコーン社製)、AY42−440、AY42−441、又はAY49−208(以上、東レダウコーニング社製)等が用いられる。
【0089】
保護層にはまた、(トリデカフルオロ−1,1,2,2−テトラヒドロオクチル)トリエトキシシラン、(3,3,3−トリフルオロプロピル)トリメトキシシラン、3−(ヘプタフルオロイソプロポキシ)プロピルトリエトキシシラン、1H,1H,2H,2H−パーフルオロアルキルトリエトキシシラン、1H,1H,2H,2H−パーフルオロデシルトリエトキシシラン、又は1H,1H,2H,2H−パーフルオロオクチルトリエトシキシラン等の含フッ素化合物を加えてもよい。
【0090】
シランカップリング剤の量は必要に応じて設定されるが、含フッ素化合物の量は、フッ素を含まない化合物1重量部に対して0.25重量部以下とすることが望ましい。また、上記した−Si(R11)(3−a)Qaで示される加水分解性基を有する置換ケイ素基を2個以上有している化合物を併用して用いることがより好ましい。
【0091】
これらのコーティング液の調整は、無溶媒で行うか、必要に応じてメタノール、エタノール、プロパノール、又はブタノール等のアルコール類;アセトン、又はメチルエチルケトン等のケトン類;テトラヒドロフラン、ジエチルエーテル、又はジオキサン等のエーテル類等が使用されるが、好ましくは沸点が100℃以下のものである。これらは、必要に応じ混合して使用される。溶剤量は必要に応じ設定されるが、一般式(IX)で示される化合物1重量部に対し0.5重量部以上30重量部以下、好ましくは、1重量部以上20重量部以下で使用される。
【0092】
反応温度及び時間は原料の種類によっても異なるが、通常、0℃以上100℃以下、好ましくは10℃以上70℃以下、特に好ましくは、15℃以上50℃以下の温度で行う。反応時間に特に制限はないが、反応時間は10分から100時間の範囲で行うことが好ましい。
【0093】
硬化触媒としては、塩酸、酢酸、リン酸、又は硫酸等のプロトン酸、アンモニア、又はトリエチルアミン等の塩基、ジブチル錫ジアセテート、ジブチル錫ジオクトエート、又はオクエ酸第一錫等の有機錫化合物、テトラ−n−ブチルチタネート、又はテトライソプロピルチタネート等の有機チタン化合物、アルミニウムトリブトキシド、又はアルミニウムトリアセチルアセトナート等の有機アルミニウム化合物、有機カルボン酸の鉄塩、マンガン塩、コバルト塩、亜鉛塩、又はジルコニウム塩等が挙げられるが、金属化合物が好ましく、更に、金属のアセチルアセトナート、あるいは、アセチルアセテートが好ましく、特にアルミニウムトリアセチルアセトナートが好ましい。
【0094】
硬化触媒の使用量は必要に応じ設定されるが、加水分解性ケイ素置換基を含有する材料の合計量に対して0.1重量%以上20重量%以下が好ましく、0.3重量%以上10重量%以下がより好ましい。
硬化温度は、必要に応じ設定されるが、所望の強度を得るためには60℃以上、より好ましくは80℃以上に設定される。硬化時間は、必要に応じ設定されるが、10分から5時間が好ましい。
また、硬化反応を行ったのち、高湿度状態に保つことも有効である。更に、用途によっては、ヘキサメチルジシラザンや、又はトリメチルクロロシラン等を用いて表面処理を行い、疎水化する。
【0095】
画像形成装置用像保持体の保護層には、酸化防止剤を添加することが好ましい。
酸化防止剤としては、ヒンダードフェノール系又はヒンダードアミン系が望ましく、有機イオウ系酸化防止剤、フォスファイト系酸化防止剤、ジチオカルバミン酸塩系酸化防止剤、チオウレア系酸化防止剤、又はベンズイミダゾール系酸化防止剤、等の公知の酸化防止剤を用いてもよい。酸化防止剤の添加量としては、保護層全量中、20重量%以下が望ましく、10重量%以下が更に望ましい。
【0096】
ヒンダードフェノール系酸化防止剤としては、2,6−ジ−t−ブチル−4−メチルフェノール、2,5−ジ−t−ブチルヒドロキノン、N,N’−ヘキサメチレンビス(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシヒドロシンナマイド、3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシ−ベンジルホスホネート−ジエチルエステル、2,4−ビス[(オクチルチオ)メチル]−o−クレゾール、2,6−ジ−t−ブチル−4−エチルフェノール、2,2’−メチレンビス(4−メチル−6−t−ブチルフェノール)、2,2’−メチレンビス(4−エチル−6−t−ブチルフェノール)、4,4’−ブチリデンビス(3−メチル−6−t−ブチルフェノール)、2,5−ジ−t−アミルヒドロキノン、2−t−ブチル−6−(3−ブチル−2−ヒドロキシ−5−メチルベンジル)−4−メチルフェニルアクリレート、又は4,4’−ブチリデンビス(3−メチル−6−t−ブチルフェノール)、等が挙げられる。
【0097】
また画像形成装置用像保持体の保護層には、アルコールに溶解する樹脂を加えてもよい。アルコール系溶剤に可溶な樹脂としては、ポリビニルブチラール樹脂、ポリビニルホルマール樹脂、又はブチラールの一部がホルマールやアセトアセタール等で変性された部分アセタール化ポリビニルアセタール樹脂等のポリビニルアセタール樹脂(例えば積水化学社製エスレックB、K等)、ポリアミド樹脂、セルロ−ス樹脂、又はフェノール樹脂等が挙げられる。特に、電気特性上ポリビニルアセタール樹脂が好ましい。上記樹脂の重量平均分子量は2000以上100,000以下が好ましく、5,000以上50,000以下が更に好ましい。
樹脂の添加量は1%以上40%以下が好ましく、より好ましくは1%以上30%以下であり、5%以上20%以下が特に好ましい。
【0098】
更に、保護層に各種粒子を添加してもよい。それらは、単独で用いてもよいが、併用してもよい。粒子の一例として、ケイ素含有粒子が挙げられる。ケイ素含有粒子とは、構成元素にケイ素を含む粒子であり、具体的には、コロイダルシリカ又はシリコーン粒子等が挙げられる。ケイ素含有粒子として用いられるコロイダルシリカは、平均粒子径1nm以上100nm以下、好ましくは10nm以上30nm以下の酸性またはアルカリ性の水分散液、あるいはアルコール、ケトン、エステル等の有機溶媒中に分散させたものから選ばれ、一般に市販されているものを使用する。最表面層中のコロイダルシリカの固形分含有量は、特に限定されるものではないが、製膜性、電気特性、強度の面から最表面層の全固形分中の0.1重量%以上50重量%以下、好ましくは0.1重量%以上30重量%以下である。
【0099】
ケイ素含有粒子として用いられるシリコーン粒子は、球状で、平均粒子径1nm以上500nm以下、好ましくは10nm以上100nm以下の、シリコーン樹脂粒子、シリコーンゴム粒子、又はシリコーン表面処理シリカ粒子から選ばれ、一般に市販されているものを使用する。画像形成装置用像保持体における最表面層中のシリコーン粒子の含有量は、最表面層の全固形分中の0.1重量%以上30重量%以下が好ましく、0.5重量%以上10重量%以下がより好ましい。
【0100】
また、その他の粒子としては、4フッ化エチレン、3フッ化エチレン、6フッ化プロピレン、フッ化ビニル、又はフッ化ビニリデン等のフッ素系粒子や「第8回ポリマー材料フォーラム講演予稿集、p89」に示される、前記フッ素樹脂と水酸基を有するモノマーを共重合させた樹脂を含む粒子、ZnO-Al2O3、SnO2-Sb2O3、In2O3-SnO2、ZnO-TiO2、ZnO-TiO2、MgO-Al2O3、FeO-TiO2、TiO2、SnO2、In2O3、ZnO、又はMgO等の半導電性金属酸化物が挙げられる。
ここで半導電性とは、JIS K 7194「導電性プラスチックの4探針法による抵抗率試験方法」に基づき測定した体積抵抗率が10Ω・cm以上1011Ω・cm以下であることを意味する。
【0101】
また、保護層にシリコーンオイル等のオイルを添加し得る。シリコーンオイルとしては、例えば、ジメチルポリシロキサン、ジフェニルポリシロキサン、又はフェニルメチルシロキサン等のシリコーンオイル;アミノ変性ポリシロキサン、エポキシ変性ポリシロキサン、カルボキシル変性ポリシロキサン、カルビノール変性ポリシロキサン、メタクリル変性ポリシロキサン、メルカプト変性ポリシロキサン、又はフェノール変性ポリシロキサン等の反応性シリコーンオイル;ヘキサメチルシクロトリシロキサン、オクタメチルシクロテトラシロキサン、デカメチルシクロペンタシロキサン、又はドデカメチルシクロヘキサシロキサン等の環状ジメチルシクロシロキサン類;1,3,5−トリメチル−1,3,5−トリフェニルシクロトリシロキサン、1,3,5,7−テトラメチル−1,3,5,7−テトラフェニルシクロテトラシロキサン、又は1,3,5,7,9−ペンタメチル−1,3,5,7,9−ペンタフェニルシクロペンタシロキサン等の環状メチルフェニルシクロシロキサン類;ヘキサフェニルシクロトリシロキサン等の環状フェニルシクロシロキサン類;3−(3,3,3−トリフルオロプロピル)メチルシクロトリシロキサン等のフッ素含有シクロシロキサン類;メチルヒドロシロキサン混合物、ペンタメチルシクロペンタシロキサン、又はフェニルヒドロシクロシロキサン等のヒドロシリル基含有シクロシロキサン類;ペンタビニルペンタメチルシクロペンタシロキサン等のビニル基含有シクロシロキサン類等の環状のシロキサン等が挙げられる。
【0102】
なお単層型感光層の場合、当該単層型感光層は、上記電荷発生物質、上記電荷輸送物質(本実施形態の一般式(I)で示される化合物を含む。)及び結着樹脂を含有して形成され得る。なお、電荷輸送物質は高分子電荷輸送物質を含有してもよい。上記結着樹脂としては、上記電荷発生層及び電荷輸送層に用いられる結着樹脂として列挙されたものが用いられる。単層型感光層中の電荷発生物質の含有量は、10重量%以上85重量%以下、好ましくは20重量%以上50重量%以下である。また、単層型感光層中の電荷輸送物質の含有量は5重量以上50重量%以下とすることが好ましい。
塗布に用いる溶剤や塗布方法は、前述のものが用いられる。単層型感光層の膜厚は5μm以上50μm以下が好ましく、10μm以上40μm以下がより好ましい。
【0103】
画像形成装置用像保持体の導電性支持体から最も離れた位置に配置される最外部の層には、フッ素系樹脂を必須成分とする改質樹脂の水性分散液を塗布、あるいは浸漬処理し得る。
【0104】
画像形成装置用像保持体の上記最外部の層に適用する、フッ素系樹脂を必須成分とする改質樹脂の水性分散液について以下に説明する。フッ素系樹脂としては、テトラフルオロエチレンのホモポリマー又はテトラフルオロエチレンとオレフィン、含フッ素オレフィン、パーフルオロオレフィン、又はフルオロアルキルビニルエーテル等とのコポリマー;フッ化ビニリデンのホモポリマー又はフッ化ビニリデンとオレフィン、含フッ素オレフィン、パーフルオロオレフィン、フルオロアルキルビニルエーテル等とのコポリマー;クロロトリフルオロエチレンのホモポリマー又はクロロトリフルオロエチレンとオレフィン、含フッ素オレフィン、パーフルオロオレフィン、フルオロアルキルビニルエーテル等とのコポリマー等が挙げられ、特に、テトラフルオロエチレンのホモポリマー又はコポリマーが好ましく、また、テトラフルオロエチレンのホモポリマーと各種コポリマーを重量比で95:5から10:90で混合して用いることが好ましい。
【0105】
フッ素系樹脂を必須成分とする改質樹脂は、水性分散液として用いられるが、この水性分散液には更にワックス及び/又はシリコーンを含有する。ワックス及び/又はシリコーンを含有させることにより、フッ素系樹脂がブレード内部に浸透することを促進するため好ましい。
【0106】
ここで、ワックスとしては、パラフィンワックス、マイクロクリスタリンワックス、又はペロトラタム等、シリコーンとしては、シリコーンオイル、シリコーングリス、オイルコンパウンド、又はシリコーンワニス等が挙げられる。
フッ素系樹脂を必須成分とする改質樹脂の水性分散液には、必要によって、フッ素系あるいはその他ノニオン系、カチオン系、アニオン系又は両性界面活性剤、pH調整剤、溶剤、多価アルコール、柔軟剤、粘度調整剤、光安定剤、又は酸化防止剤等が混合される。浸透層の形成は、ブレード部材をフッ素系樹脂を必須成分とする改質樹脂の水性分散液中に浸漬することにより行うが、減圧下でも行い得る。この際の圧力としては、0.9気圧以下、好ましくは、0.8気圧以下、より好ましくは0.7気圧以下にて処理する。
【0107】
また、水性分散液を40℃以上、好ましくは50℃以上に加熱することが効果的である。更に、0.1気圧以上、好ましくは、0.2気圧以上、より好ましくは0.3気圧以上にて処理することも効果的であり、減圧、加圧、加熱処理を組み合わせることも効果的である。また、スプレーや、塗布法によりブレード部材に付着させたのち、40℃以上、好ましくは50℃以上に加熱することで、浸透層が形成される。更に、フッ素系樹脂を必須成分とする改質樹脂の水性分散液を付着させた後、加熱乾燥を行う前、あるいは行った後にふき取り、あるいは洗浄を行う。
【0108】
(画像形成装置)
本実施形態の画像形成装置は、既述の本実施形態の画像形成装置用像保持体と、前記画像形成装置用像保持体を帯電させる帯電装置と、帯電した前記画像形成装置用像保持体を露光して静電潜像を形成させる露光装置と、前記静電潜像を現像してトナー像を形成する現像装置と、前記トナー像を被転写体に転写する転写装置と、を備えることを特徴とする。
図4は、本実施形態の画像形成装置の好適な一実施形態の基本構成を概略的に示す断面図である。
図4に示す画像形成装置200は、本実施形態の画像形成装置用像保持体207と、画像形成装置用像保持体207を接触帯電方式により帯電させる帯電装置208と、帯電装置208に接続された電源209と、帯電装置208により帯電される画像形成装置用像保持体207を露光して静電潜像を形成する露光装置210と、露光装置210により形成された静電潜像をトナーにより現像してトナー像を形成する現像装置211と、現像装置211により形成されたトナー像を被転写体500に転写する転写装置212と、クリーニング装置213と、除電器214と、定着装置215とを備える。
【0109】
図4に示した帯電装置208は、画像形成装置用像保持体207の表面に接触型帯電部材(例えば、帯電ロール)を接触させて像保持体に電圧をに印加し、像保持体表面を帯電させるものである。
接触型帯電部材としては、芯材の外周面に弾性層、抵抗層、保護層等を設けたローラ状のものが好適に用いられる。なお、接触型帯電部材の形状は、上記したローラ状の他、ブラシ状、ブレード状、又はピン電極状等何れでもよく、画像形成装置の仕様や形態に合わせて選択される。
【0110】
ローラ状の接触型帯電部材における芯材の材質としては、導電性を有するもの、例えば、鉄、銅、真鍮、ステンレス、アルミニウム、又はニッケル等が用いられる。また、導電性粒子等を分散した樹脂成形品等が用いられる。弾性層の材質としては、導電性あるいは半導電性を有するもの、例えば、ゴム材に導電性粒子あるいは半導電性粒子を分散したものが使用される。抵抗層及び保護層の材質としては結着樹脂に導電性粒子あるいは半導電性粒子を分散し、その抵抗を制御したものである。
これらの接触型帯電部材を用いて像保持体を帯電させる際には、接触型帯電部材に電圧が印加されるが、かかる印加電圧は直流電圧、直流電圧に交流電圧を重畳したもののいずれでもよい。
なお、図4における接触型帯電部材の代わりに、コロトロン、又はスコロトロン等の非接触方式のコロナ帯電装置も用いられる。これらは画像形成装置の仕様や形態に合わせて選択される。
【0111】
露光装置210としては、画像形成装置用像保持体表面に、半導体レーザー、LED(light emitting diode)、液晶シャッター等の光源を所望の像様に露光する光学系装置等が用いられる。
【0112】
現像装置211としては、一成分系、二成分系等の正規または反転現像剤を用いた従来より公知の現像装置等が用いられる。現像装置211に使用されるトナーの形状は特に限定されないが、球形トナーが好ましい。
【0113】
転写装置212としては、ローラ状の接触帯電部材の他、ベルト、フィルム、又はゴムブレード等を用いた接触型転写帯電器、あるいはコロナ放電を利用したスコロトロン転写帯電器やコロトロン転写帯電器等、が挙げられる。
【0114】
クリーニング装置213は、転写工程後の画像形成装置用像保持体の表面に付着する残存トナーを除去するためのもので、これにより清浄面化された画像形成装置用像保持体は上記の画像形成プロセスに繰り返し供される。クリーニング装置としては、クリーニングブレードの他、ブラシクリーニング、又はロールクリーニング等が用いられるが、これらの中でもクリーニングブレードを用いることが好ましい。また、クリーニングブレードの材質としてはウレタンゴム、ネオプレンゴム、又はシリコーンゴム等が挙げられる。
【0115】
上記実施形態は1つの画像形成ユニットを有するものであるが、他の実施形態に係る画像形成装置は、この画像形成ユニットを複数有するタンデム型画像形成装置である。
例えば、画像形成ユニットが4つである場合、4つの画像形成ユニットの各現像装置においては、例えばイエロー、マゼンタ、シアン、ブランクの4色の色成分トナーを使用する。また、タンデム型画像形成装置は、4つの画像形成ユニットに共通し記録材料を搬送するベルトと、このベルトを搬送する搬送装置と、各現像装置にトナー像を供給するトナー供給装置と、カラートナー像を記録材料に定着させる定着装置とを備えていることが好ましい。
【0116】
また、本実施形態の画像形成装置は像保持体を200000サイクル以上、更に、250000サイクル、あるいは、300000サイクル以上も使用する場合には、トナーのみを単独に補給する機構を有するものが好ましい。
【0117】
(プロセスカートリッジ)
本実施形態のプロセスカートリッジは、既述の本実施形態の画像形成装置用像保持体を少なくとも有し、かつ、前記画像形成装置用像保持体を帯電させる帯電装置、帯電した前記画像形成装置用像保持体を露光して静電潜像を形成させる露光装置、前記静電潜像を現像してトナー像を形成する現像装置、前記トナー像を被転写体に転写する転写装置、および前記画像形成装置用像保持体をクリーニングするクリーニング装置から選ばれる少なくとも1つと、を備えることを特徴する。
【0118】
図5は、本実施形態の画像形成装置用像保持体を備えるプロセスカートリッジの好適な一実施形態の基本構成を概略的に示す断面図である。
プロセスカートリッジ300は、画像形成装置用像保持体207とともに、帯電装置208、現像装置211、クリーニング装置(クリーニング手段)213、露光のための開口部218、及び、除電露光のための開口部217を取り付けレール216を用いて組み合わせ、そして一体化したものである。
そして、このプロセスカートリッジ300は、現像装置211により形成されたトナー像を被転写体500に転写する転写装置212と、定着装置215と、図示しない他の構成部分とからなる画像形成装置本体に対して着脱自在としたものであり、画像形成装置本体とともに画像形成装置を構成するものである。
以上、本実施形態を説明したが、本実施形態は、その要旨の範囲内で様々な変形や変更がされ得る。
【実施例】
【0119】
以下、実施例によって本発明を説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
【0120】
<一般式(I)で示されるフェノチアジン化合物の合成>
(合成例1−例示化合物9−)
下記スキームに従い、フェノチアジン(16.1g)、1−ブロモ−4−ヨードベンゼン(22.6g)、硫酸銅五水和物(2.0g)、炭酸カリウム(18g)、o−ジクロロベンゼン(100ml)を200ml二口フラスコに入れ、窒素雰囲気下で180℃で6時間加熱した。反応終了後、トルエンを加え濾過した。ロータリーエバポレーターにてろ液の溶媒を留去して、粗生成物を得た。これをカラムクロマトグラフィー(クロロホルム:ヘキサン=2:5)にて精製し、エタノール+ヘキサンで再結晶し、10−(4−ブロモフェニル)−10H−フェノチアジンを6.4g得た。
【0121】
【化12】

【0122】
次に、下記スキームに従い、200mlフラスコに塩化アルミニウム(5.0g)、ジクロロメタン(30ml)を加え撹拌した。ジクロロメタン(12ml)に溶解したヘキサン酸クロリド(4.6g)を滴下して、ジクロロメタン(30ml)に溶解した。得られた10−(4−ブロモフェニル)−10H−フェノチアジン(6.0g)を滴下して室温(25℃)で一日撹拌した。反応終了後、5質量%炭酸水素ナトリウム水溶液を加え、さらにクロロホルムを加えて純水で洗浄し,硫酸ナトリウムで乾燥させた。これをカラムクロマトグラフィー(酢酸エチル:ヘキサン=1:9)にて精製し,ヘキサン+酢酸エチルで再結晶し、フェノチアジンアシル化合物5.8gを得た。
【0123】
【化13】

【0124】
次に、下記スキームに従い、300mlフラスコにフェノチアジンアシル化合物(5.8g)を入れ、トリフルオロ酢酸(45ml)に溶解した。さらにトリエチルシラン(5.4g)を加えて、室温(25℃)で5時間撹拌した。反応終了後、10質量%水酸化ナトリウム水溶液を加えて塩基性にし、酢酸エチルを加えて混合溶液を純水で洗浄し、硫酸ナトリウムで乾燥させた。これをカラムクロマトグラフィー(ヘキサン)で精製を行い、10−(4−ブロモフェニル)−3,7−ジヘキシル−10H−フェノチアジン4.5gを得た。
【0125】
【化14】

【0126】
次に、下記スキームに従い、300mlフラスコに窒素雰囲気下でテトラ(トリフェニルホスフィン)パラジウム(0.3g)をトルエン(5ml)に溶解させた。続いて10−(4−ブロモフェニル)−3,7−ジヘキシル−10H−フェノチアジン(4.5g)、トルエン(10ml)、1M炭酸水素ナトリウム水溶液(10ml)、エタノール(5ml)、2−クロロチオフェンボロン酸(1.99g)の順に加え、11時間還流した。反応終了後、反応溶液を濾過し純水で洗浄し、硫酸ナトリウムで乾燥させた。これをカラムクロマトグラフィー(クロロホルム:ヘキサン=1:9)にて精製を行い、10−(4−(5−クロロチオフェン−2−イル)フェニル)−3,7−ジヘキシル−10H−フェノチアジン3.6gを得た。
【0127】
【化15】

【0128】
さらに、下記スキームに従い、100mlフラスコに窒素雰囲気下で塩化ニッケル(0.84g)、トリフェニルホスフィン(6.7g)を入れ、無水DMF(ジメチルホルムアミド:20ml)に溶解させた。その後、50℃まで加熱して亜鉛(0.4g)を加えた。溶液が赤色に変化したのを確認から、さらに50℃で1時間加熱した。その後、DMF(15ml)に溶解した10−(4−(5−クロロチオフェン−2−イル)フェニル)−3,7−ジヘキシル−10H−フェノチアジン(3.6g)を加えて、さらに50℃で3時間加熱した。反応終了後、純水に反応溶液を入れ撹拌した。濾過し、5質量%EDTA水溶液(エチレンジアミンテトラ酢酸水溶液)及び純水で洗浄し、乾燥して粗生成物を得た。粗生成物を酢酸エチル+ヘキサンで再結晶を行い、[例示化合物9]1.6gを得た。
【0129】
【化16】

【0130】
(合成例2−例示化合物10−)
合成例1において、ヘキサン酸クロリド(4.6g)の代わりにn−オクタノイルクロリド(5.6g)を用いた以外は、合成例1と同様に行い、[例示化合物10]2.0gを得た。
【0131】
(合成例3−例示化合物23−)
【0132】
下記スキームに従い、200ml二口フラスコに、フェノチアジン(10.0g)、2−クロロ−5−(4−ヨードフェニル)チオフェン(14.5g)、硫酸銅五水和物(1.3g)、炭酸カリウム(10g)、o−ジクロロベンゼン(50ml)を入れ、窒素雰囲気下180℃で13時間加熱した。反応終了後、トルエンを加え濾過し、これをカラムクロマトグラフィー(クロロホルム:ヘキサン=1:4)及びエタノールとクロロホルムで再結晶を行い、10−(4−(5−クロロチオフェン−2−イル)フェニル)−10H−フェノチアジンを7.6g得た。
【0133】
【化17】

【0134】
次に、下記スキームに従い、300mlフラスコに10−(4−(5−クロロチオフェン−2−イル)フェニル)−10H−フェノチアジン(7.6g)をクロロホルム(100ml)に溶解させた。N−ブロモスクシンイミド(6.9g)を加えて室温(25℃)で2時間撹拌した。反応終了、純水で洗浄し硫酸ナトリウムで乾燥させた。これをカラムクロマトグラフィー(クロロホルム:ヘキサン=1:5)及びヘキサン+クロロホルムで再結晶を行い、3,7−ジブロモ−10−(4−(5−クロロチオフェン−2−イル)フェニル)−10H−フェノチアジン5.1gを得た。
【0135】
【化18】

【0136】
次に、下記スキームに従い、窒素雰囲気下で200mlフラスコにテトラ(トリフェニルホスフィン)パラジウム(0.6g)をトルエン(5ml)に溶解させた。続いて3,7−ジブロモ−10−(4−(5−クロロチオフェン−2−イル)フェニル)−10H−フェノチアジン(5.0g)、トルエン(50ml)、1M炭酸水素ナトリウム水溶液(50ml)、エタノール(10ml)、2−ヘキシルチオフェンボロン酸(5.6g)の順に加え、16時間還流した。反応終了後,反応溶液を吸引濾過し、純水で洗浄し塩化カルシウムで乾燥させた。これをエタノール+クロロホルムで再結晶を行い、10−(4−(5−クロロチオフェン−2−イル)フェニル−3,7−ビス(5−ヘキシルチオフェン−2−イル)−10H−フェノチアジン4.6gを得た。
【0137】
【化19】

【0138】
続いて、下記スキームに従い、200mlフラスコに塩化ニッケル(0.8g)、トリフェニルホスフィン(6.7g)を入れ、無水DMF(50ml)に溶解させ、窒素雰囲気下で50℃まで加熱した後、亜鉛(0.4g)を加えた。反応溶液が赤色に換わってから50℃で1時間加熱した。その後、10−(4−(5−クロロチオフェン−2−イル)フェニル−3,7−ビス(5−ヘキシルチオフェン−2−イル)−10H−フェノチアジン(4.6g)を加え、さらに50℃で2時間加熱した。反応終了後、純水を加え撹拌した。その後、吸引濾過を行い、5%EDTA水溶液及び純水で洗浄して乾燥し、粗生成物を得た。これを酢酸エチル+ヘキサンで再結晶を行い、[例示化合物23]2.7gを得た。
【0139】
【化20】

【0140】
(合成例4−例示化合物15−)
合成例3において、2−ヘキシルチオフェンボロン酸(5.6g)の代わりに、2−チオフェンボロン酸(8.8g)を用いた以外は、合成例3と同様に行い、[例示化合物15]3.1gを得た。
【0141】
また、得られた化合物は、赤外線吸収測定(KBr錠剤法、株式会社 堀場製作所、FT−730、分解能4cm−1))、NMR測定(H−NMR、溶媒:CDCl、VARIAN株式会社製、UNITY−300、300MHz)を行った。
例として、[例示化合物9]の赤外線吸収スペクトルを図6に、H−NMRスペクトルを図7に、[例示化合物23]の赤外線吸収スペクトルを図8に、H−NMRスペクトル(H−NMR、溶媒:CDCl)を図9に示す。
【0142】
(実施例1)
アルミニウム基板上に、ジルコニウム化合物(オルガチックスZC540、マツモト製薬社製)10重量部及びシラン化合物(A1110、日本ユニカー社製)1重量部とi−プロパノール40重量部及びブタノール20重量部からなる溶液を浸漬コーティング法にて塗布し、150℃において10分間加熱乾燥し、膜厚0.6μmの下引き層を形成した。この上に、X線回折スペクトルにおけるブラッグ角度(2θ±0.2°)の7.4°、16.6°、25.5°及び28.3°に強い回折ピークを持つクロロガリウムフタロシアニン結晶の1重量部を、ポリビニルブチラール樹脂(エスレックBM−S、積水化学社製)1重量部及び酢酸n−ブチル100重量部と混合し、ガラスビーズとともにペイントシェーカーで1時間処理して分散した後、得られた塗布液を上記下引き層の上に浸漬コーティング法で塗布し、100℃において10分間加熱乾燥し、電荷発生層を形成した。
次に、上記によりえられた例示化合物9を2重量部と、以下に構造を示すビスフェノール(Z)高分子化合物(粘度平均分子量:40,000)3重量部をクロロベンゼン35重量部に加熱溶解後,室温(25℃)に戻した。この塗布液を前記電荷発生層上に浸漬コーティング法で塗布し、110℃、60分の加熱を行って膜厚20μmの電荷輸送層を形成した。
【0143】
【化21】

【0144】
(実施例2〜実施例4)
実施例1で用いた例示化合物9に代えて、例示化合物10、例示化合物23、および例示化合物15をそれぞれ用いた他は、実施例1に記載の方法により画像形成装置用像保持体を作製した。
【0145】
(実施例5)
実施例1で用いたクロロガリウムフタロシアニン結晶に代えて、X線回折スペクトルにおけるブラッグ角度(2θ±0.2°)の7.5°、9.9°、12.5°、16.3°、18.6°、25.1°及び28.3°に強い回折ピークを持つヒドロキシガリウムフタロシアニン結晶を用いた他は、実施例1に記載の方法により画像形成装置用像保持体を作製した。
【0146】
(比較例1)
実施例1で用いた例示化合物9に代えて、下記構造の化合物(X)を用いた他は、実施例1に記載の方法により画像形成装置用像保持体を作製した。
【0147】
【化22】

【0148】
(比較例2)
実施例1で用いた例示化合物9に代えて、下記構造の化合物(XI)を用いた他は、実施例1に記載の方法により画像形成装置用像保持体を作製した。
【0149】
【化23】

【0150】
上記実施例1から実施例5および比較例1から比較例2で得られた、それぞれの画像形成装置用像保持体を用い、電子写真特性について、静電複写紙試験装置(エレクトロスタティックアナライザーEPA−8100、川口電気社製)を用いて、常温常湿(20℃、40%RH)の環境下、−6KVのコロナ放電を行い、帯電させた後、タングステンランプの光を、モノクロメーターを用いて800nmの単色光にし、感光体表面上で1μW/cm2になるように調整して、照射した。そして、その表面電位VO(ボルト)、半減露光量E1/2(erg/cm2)を測定し、その後、10ルックスの白色光を1秒間照射し、残留電位VRP(ボルト)を測定した。更に上記の帯電、露光を1000回繰り返した後のV0、E1/2、VRPを測定し、またその変動量をΔV0、ΔE1/2、ΔVRPを評価した(安定性、耐久性)。
【0151】
つぎに上記実施例および比較例で得られた画像形成装置用像保持体を用い、画像形成装置を作製した。画像形成装置用像保持体以外の要素は、富士ゼロックス製プリンターDocucenter C6550Iに搭載されたものを用いた。
各画像形成装置について、高温高湿(28℃、75%RH)の環境下で1万枚分の画像形成テスト(画像濃度10%、シアン100%)を実施した。なお、本テスト条件においては、各カートリッジのプロセスは通常通り行われるが、シアン以外のカートリッジのトナーは使用(供給)されない。テスト後、トナーのクリーニング性(クリーニング不良による帯電器の汚れや画質劣化)、画質(プロセスブラック1dotライン斜め45度細線再現性)を評価した。得られた結果を表1に示す。
【0152】
トナーのクリーニング性の評価方法
目視にて、
○:良好
△:部分的(全体の10%程度以下)にスジ状の画質欠陥あり
×:広範にスジ状の画質欠陥あり
の基準で判定した。
【0153】
画質は拡大鏡を用いて判断し、以下の評価基準に基づいて評価した。
A:良好
B:部分的に欠陥有り(実用上は問題なし)
C:欠陥有り(細線が再現できていない)
【0154】
【表1】

【0155】
上記の結果から、本実施例で得られた画像形成装置用像保持体は、比較例に比べて繰り返し使用による残留電位変動が低いことがわかる。また該画像形成装置用像保持体を有する画像形成装置で得られた画像は、画質も良好であることがわかる。
【図面の簡単な説明】
【0156】
【図1】第1実施形態に係る画像形成装置用像保持体の模式断面図である。
【図2】第2実施形態に係る画像形成装置用像保持体の模式断面図である。
【図3】第3実施形態に係る画像形成装置用像保持体の模式断面図である。
【図4】実施形態に係る画像形成装置の概略構成図である。
【図5】実施形態に係るプロセスカートリッジの概略構成図である。
【図6】合成例1で得られた化合物の赤外線吸収スペクトルを示すグラフである。
【図7】合成例1で得られた化合物のNMRスペクトルを示すグラフである。
【図8】合成例3で得られた化合物の赤外線吸収スペクトルを示すグラフである。
【図9】合成例3で得られた化合物のNMRスペクトルを示すグラフである。
【符号の説明】
【0157】
1 画像形成装置用像保持体
2 導電性支持体
3 感光層
4 下引き層
5 電荷発生層
6 電荷輸送層
7 保護層
8 電荷発生・輸送層
200 画像形成装置
207 画像形成装置用像保持体
208 帯電装置
209 電源
210 露光装置
211 現像装置
212 転写装置
213 クリーニング装置
214 除電器
215 定着装置
216 取り付けレール
217 除電露光のための開口部
218 露光のための開口部
300 プロセスカートリッジ
500 被転写体

【特許請求の範囲】
【請求項1】
支持体と、該支持体上に下記一般式(I)で示される化合物を含有する感光層と、を有する画像形成装置用像保持体。
【化1】



〔一般式(I)中、Arは、それぞれ独立に、水素原子、置換もしくは未置換のアルキル基、置換もしくは未置換の1価の芳香族基、又は芳香族複素環を含む置換もしくは未置換の1価の芳香族基を表し、nは1以上3以下の整数を表す。〕
【請求項2】
請求項1記載の画像形成装置用像保持体と、前記画像形成装置用像保持体を帯電させる帯電手段、帯電した前記画像形成装置用像保持体を露光して静電潜像を形成させる露光手段、前記静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段、前記トナー像を被転写体に転写する転写手段、および前記画像形成装置用像保持体を清掃する清掃手段から選ばれる少なくとも1つと、を少なくとも有するプロセスカートリッジ。
【請求項3】
請求項1記載の画像形成装置用像保持体と、前記画像形成装置用像保持体を帯電させる帯電装手段と、帯電した前記画像形成装置用像保持体を露光して静電潜像を形成させる露光手段と、前記静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、前記トナー像を被転写体に転写する転写手段と、を備える画像形成装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【公開番号】特開2010−128458(P2010−128458A)
【公開日】平成22年6月10日(2010.6.10)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−306414(P2008−306414)
【出願日】平成20年12月1日(2008.12.1)
【出願人】(000005496)富士ゼロックス株式会社 (21,908)
【Fターム(参考)】