眼寸法測定装置
【課題】 被検眼の眼軸長と前眼部寸法とをスムーズに測定する。
【解決手段】 低コヒーレント光を出射する測定光源と、該測定光源から出射された光の一部の光路長を変化させるために移動可能に配置された光路長変更部材と、受光素子と、を有し、被検眼の前眼部及び眼底に低コヒーレント光を照射し、被検眼からの反射光を干渉光として前記受光素子で受光する干渉光学系と、前記受光素子から出力された干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長及び前眼部寸法を測定する演算制御部と、を備える眼寸法測定装置において、前記測定光源は、眼軸長測定用の７５０〜１１００ｎｍの内に中心波長を持つ第１の低コヒーレント光を出射する第１の光源と、前眼部寸法測定用の４００〜７００ｎｍの内に中心波長を持つ第２の低コヒーレント光を出射する第２の光源と、を含む。
【解決手段】 低コヒーレント光を出射する測定光源と、該測定光源から出射された光の一部の光路長を変化させるために移動可能に配置された光路長変更部材と、受光素子と、を有し、被検眼の前眼部及び眼底に低コヒーレント光を照射し、被検眼からの反射光を干渉光として前記受光素子で受光する干渉光学系と、前記受光素子から出力された干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長及び前眼部寸法を測定する演算制御部と、を備える眼寸法測定装置において、前記測定光源は、眼軸長測定用の７５０〜１１００ｎｍの内に中心波長を持つ第１の低コヒーレント光を出射する第１の光源と、前眼部寸法測定用の４００〜７００ｎｍの内に中心波長を持つ第２の低コヒーレント光を出射する第２の光源と、を含む。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検眼の眼寸法を測定する眼寸法測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
低コヒーレント光の干渉を用いて被検眼の眼軸長と前眼部寸法（例えば、角膜厚、前房深度等）とを非接触で測定する光干渉式眼寸法測定装置が知られている（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−１６０６９４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来の装置において前眼部寸法を測定する場合、検者は、前眼部における各層からの正反射成分が精度良く検出できるように、被検眼に対してアライメントと固視誘導とを行う（被検眼光軸と装置光軸を一致させる）必要があった。しかしながら、上記のような調整作業は非常に手間であり、測定時間の長期化、測定精度の低下、等の原因になりうるものであった。
【０００５】
本発明は、上記問題点を鑑み、被検眼の眼軸長と前眼部寸法とをスムーズに測定できる眼寸法測定装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００７】
（１） 低コヒーレント光を出射する測定光源と、該測定光源から出射された光の一部の光路長を変化させるために移動可能に配置された光路長変更部材と、受光素子と、を有し、被検眼の前眼部及び眼底に低コヒーレント光を照射し、被検眼からの反射光を干渉光として前記受光素子で受光する干渉光学系と、
前記受光素子から出力された干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長及び前眼部寸法を測定する演算制御部と、を備える眼寸法測定装置において、
前記測定光源は、
眼軸長測定用の７５０〜１１００ｎｍの内に中心波長を持つ第１の低コヒーレント光を出射する第１の光源と、
前眼部寸法測定用の４００〜７００ｎｍの内に中心波長を持つ第２の低コヒーレント光を出射する第２の光源と、を含むことを特徴とする眼寸法測定装置。
（２） （１）の眼寸法測定装置において、
前記干渉光学系には、前記第１及び第２の光源から出射された各光を分割する光分割部材を有し、
前記光路長変更部材は、該光分割部材によって分割された前記第１及び第２の光源から出射された各光の光路長を同時に変更可能であることを特徴とする。
（３） （２）の眼寸法測定装置において、
前記受光素子は、前記第１の光源による被検眼からの反射光を受光する第１の受光素子であって、前記第１の光源の発光波長に対応した分光感度波長を持つ第１の受光素子と、前記第２の光源による被検眼からの反射光を受光する第２の受光素子であって、前記第２の光源の発光波長に対応した分光感度波長を持つ第２の受光素子と、
を備えることを特徴とする。
（４） （３）の眼寸法測定装置において、
前記演算制御部は、前記第１の光源、前記第２の光源、を制御する演算制御部であって、
前記第１の光源と前記第２の光源とをそれぞれ点灯させると共に、前記光路長変更部材が移動された状態において、前記第１の受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定し、前記第２の受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の前眼部寸法を測定することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
被検眼の眼軸長と前眼部寸法とをスムーズに測定できる
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は、本実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系の概略構成図である。
【００１０】
被検眼前眼部と被検眼眼底に測定光を照射するために配置された照射光学系１０は、低コヒーレント光を出射する測定光源１ａ，１ｂ（例えば、ＳＬＤ）と、測定光源１ａ，１ｂから出射された光束をそれぞれ平行光束とするために配置されたコリメータレンズ２ａ，２ｂと、光源１ａから出射された光と光源１ｂから出射された光とを合成するために配置されたダイクロイックミラー３と、光源１ａ，１ｂから出射された各光を分割／合成するビームスプリッタ５と、ビームスプリッタ５の透過方向に配置された第１三角プリズム（コーナーキューブ）７と、ビームスプリッタ５の反射方向に配置された第２三角プリズム９と、偏光ブームスプリッタ１１と、１／４波長板１３と、検査窓１７と、を有する。なお、ダイクロイックミラー３としては、例えば、光源１ａから出射された光を透過し、光源１ｂから出射された光を反射する光学特性を有する光学部材を使用できる。
【００１１】
測定光源は、眼軸長測定用の７５０〜１１００ｎｍの内に中心波長を持つ第１の低コヒーレント光を出射する第１の光源１ａと、前眼部寸法測定用の４００〜７００ｎｍの内に中心波長を持つ低コヒーレント光を出射する第２の光源１ｂと、を含む。この場合、第１光源１ａの発光波長は、眼内での透過率が高い波長帯域に設定される。また、第２光源１ｂの発光波長は、前眼部の各部位（角膜、水晶体）での散乱効果が高い波長帯域に設定される。なお、第１の光源１ａ及び第２の光源１ｂの少なくともいずれかは、被検眼を固視させるための固視用光源として使用できる。
【００１２】
第１光源１ａとしては、より好ましくは、眼内での透過率がより高いλ＝７５０〜８５０ｎｍのいずれかに中心波長を持つ光源を使用できる。また、第１光源１ａとしては、白内障混濁に対する透過率が高いλ＝１０００〜１１００ｎｍのいずれかに中心波長を持つ光源を使用できる。また、第２光源１ｂとしては、より好ましくは、前眼部での散乱効果がより高いλ＝４００〜５００ｎｍのいずれかに中心波長を持つ光源を使用できる。
【００１３】
光源１ａ（光源１ｂ）から出射された光（直線偏光）は、コリメータレンズ２ａ（２ｂ）によってコリメートされた後、ダイクロイックミラー３を介して、ビームスプリッタ５によって分割される。そして、ビームスプリッタ５によって分割された一方の光は三角プリズム７によって反射され、ビームスプリッタ５によって分割された他方の光は三角プリズム９によって反射され、その後、ビームスプリッタ５によって合成される。そして、合成された光は、偏光ビームスプリッタ１１によって反射され、１／４波長板１３によって円偏光に変換された後、ダイクロイックミラー１５及び検査窓１７を介して被検眼に照射される。このとき、測定光束は、被検者眼にて反射されると、１／２波長分位相が変換される。
【００１４】
このとき、第１光源１ａによって被検眼に対して照射された光は、被検眼角膜にて反射された後、後述する受光光学系２０へ向かう。また、第１光源１ａによる光は、眼内での透過率が高いため、眼内を通過し、眼底にて反射された後、再び眼内を介して被検眼から出射され、受光光学系２０へと向かう。
【００１５】
また、第２光源１ｂによって被検眼に対して照射された光は、被検眼前眼部の各部位にて反射（散乱）された後、受光光学系２０へと向かう。この場合、第２光源１ｂによる光は、前眼部の各部位での散乱効果が高いため、第１光源１ａによる前眼部反射光よりも多くの反射光が得られる。
【００１６】
照射光学系１０によって照射された測定光による被検眼からの反射光を干渉光として受光するために配置された受光光学系２０は、検査窓１７と、１／４波長板１３と、偏光ビームスプリッタ１１と、集光レンズ１９と、第１光源１ａによる干渉光と第２光源１ｂによる干渉光とを分割するために配置されたダイクロイックミラー２６と、第１光源１ａによる干渉光を受光する受光素子２７ａと、第２光源１ｂによる干渉光を受光する受光素子２７ｂと、を有する。ダイクロイックミラー２６としては、例えば、第１光源１ａによる干渉光を透過し、第２光源１ｂによる干渉光を反射する光学特性を有する光学部材を使用できる。
【００１７】
なお、受光光学系２０としては、眼軸長測定用の受光素子として用いられ，第１光源１ａの発光波長に対応した分光感度波長を持つ第１の受光素子２７ａと、前眼部寸法測定用の受光素子として用いられ，第２光源１ｂの発光波長に対応した分光感度波長を持つ第２の受光素子２７ｂと、をそれぞれ配置できる。この場合、第１の受光素子２７ａは、その分光感度波長のピークが第１光源１ａの中心波長付近に設定されたものが好ましい。また、第２の受光素子２７ｂは、その分光感度波長のピークが第２光源１ｂの中心波長付近に設定されたものが好ましい。これにより、第１の光源１ａによる干渉光と、第２の光源１ｂによる干渉光と、をそれぞれ精度良く検出できる。
【００１８】
なお、上記構成に限るものではなく、一つの受光素子を設け、その受光素子より前に、第１の光源１ａによる干渉光と第２の光源１ｂによる干渉光をそれぞれ選択的に通過させるフィルタユニットを設けるようにしてもよい。この場合、フィルタユニットとしては、例えば、受光光学系２０の光路中において、第１の光源１ａによる干渉光を通過し，第２の光源１ｂによる干渉光をカットする第１フィルタと、第２の光源１ｂによる干渉光を通過し，第１の光源１ａによる干渉光をカットする第２フィルタと、を切換配置する構成が使用できる。
【００１９】
第１光源１ａによる角膜と眼底からの反射光、及び第２光源１ｂによる前眼部からの反射光は、検査窓１７及びダイクロイックミラー１５を介して、１／４波長板１３によって直線偏光に変換される。その後、偏光ビームスプリッタ１１を透過した反射光は、集光レンズ１９によって集光された後、ダイクロイックミラー２６によって分割される。ここで、第１光源１ａによる反射光は、ダイクロイックミラー２６を透過し、受光素子２７ａによって受光される。また、第２光源２ａによる反射光は、ダイクロイックミラー２６によって反射され、受光素子２７ｂに受光される。
【００２０】
なお、三角プリズム７は、光路長を変更させるための光路長変更部材として用いられ、駆動部７１（例えば、モータ）の駆動によってビームスプリッタ５に対して光軸方向に直線的に移動される。この場合、光路長変更部材は、三角ミラー、コーナープリズム等であってもよい。また、プリズム７の駆動位置は、位置検出センサ７２（例えば、ポテンショメータ、エンコーダ、等）によって検出される。
【００２１】
なお、以上の説明において、光路長変更部材は、光路分割部材によって分割された光路中に配置され、二つに分割された光路間の光路差が調整されるように移動されればよい。具体的には、光路長変更部材及び光路分割部材は、図１のように照射光学系１０の光路中に配置される他、受光光学系２０の光路、又は照射光学系１０と受光光学系２０の共通光路に配置された構成であってもよい。
【００２２】
なお、本実施形態では、ビームスプリッタ５及びプリズム７は、第１光源１ａによる測定光が通過する光路と第２光源１ｂによる測定光が通過する光路との共通光路に配置されている。このため、ビームスプリッタ５は、第１光源１ａ及び第２光源１ｂから出射された各光を分割する。そして、ビームスプリッタ５によって分割された各光は、プリズム７にて反射され、ビームスプリッタ５に戻る。ここで、プリズム７が移動されると、ビームスプリッタ５によって分割された各光の光路長が同時に変更される。
【００２３】
ダイクロイックミラー１５の反射方向には、被検眼の前眼部を撮像するために配置された前眼部撮像光学系３０が設けられている。撮像光学系３０は、光源１ａ，１ｂによる被検眼からの反射光と前眼部照明光源４０による被検眼からの反射光を分割する特性を有するダイクロイックミラー１５、対物レンズ３１、全反射ミラー３３、結像レンズ３５、二次元撮像素子３７、を有する。ここで、照明光源４０によって照明された前眼部像は、検査窓１７、ダイクロイックミラー１５、対物レンズ３１、全反射ミラー３３、結像レンズ３７を介して、二次元撮像素子３７に結像される。ダイクロイックミラー１５としては、例えば、光源１ａ，１ｂによる被検眼からの反射光を透過し、照明光源４０による被検眼からの反射光を反射する光学特性を有する光学部材を使用できる。
【００２４】
次に、本実施形態に係る装置の制御系について説明する。制御部８０は、表示モニタ８１、光源１ａ，１ｂ、受光素子２７ａ，２７ｂ、駆動部７１、位置検出センサ７２、コントロール部８４、メモリ８５、等が接続される。制御部８０は、受光素子２７ａ，２７ｂから出力される受光信号を処理して，被検眼の眼軸長と前眼部寸法（例えば、前房深度）を演算により求める。メモリ８５には、求められた測定値などが記憶される。また、コントロール部８４には、測定開始のトリガ信号を発する測定開始スイッチ８４ａ、等の各種スイッチが設けられている。
【００２５】
以上のような構成を備える装置を用いて、被験者眼の眼軸長と前眼部寸法を測定する場合について説明する。検者は、モニタ８１に表示される被験者眼のアライメント状態を見ながら、図示なきジョイスティック等の操作手段を用いて、装置を上下左右及び前後方向に移動させ、装置を被験者眼Ｅに対して所定の位置関係に置く。また、検者は、固視灯（例えば、第２の光源１ｂ）を被験者眼に固視させる。この場合、制御部８０は、光源１ａと光源１ｂの少なくともいずれかを予め点灯させておけばよい。
【００２６】
ここで、測定開始のトリガ信号が出力されると、制御部８０は、光源１ａと光源１ｂの両方を点灯する。この場合、光源１ａと光源１ｂによる測定光が被検眼に照射され、光源１ａと光源１ｂによる被検眼からの反射光が受光素子２７ａと受光素子２７ｂに入射される。
【００２７】
また、制御部８０は、駆動部７１の駆動を制御し、第１三角プリズム７を往復して移動させる。そして、制御部８０は、受光素子２７ａによって干渉光が検出されたタイミングを元に、眼軸長を算出する。また、そして、制御部８０は、受光素子２７ｂによって干渉光が検出されたタイミングを元に、前眼部寸法を算出する。
【００２８】
ここで、光路長が長くなる方向に向けて所定の初期位置からプリズム７が移動され、プリズム７を介して角膜前面に照射された第２光源１ｂによる測定光の光路長と，プリズム９を介して角膜後面に照射された第２光源１ｂによる測定光の光路長と、が一致されたとき、第２光源１ｂによる角膜前面での反射光と角膜後面での反射光との干渉光が受光素子２７ｂに受光される。このとき、干渉光による干渉信号が受光素子２７ｂから制御部８０に出力され、角膜厚値の算出に用いられる。
【００２９】
さらに、プリズム７が移動され、プリズム７を介して角膜に照射された第２光源１ｂによる測定光の光路長と，プリズム９を介して水晶体前面に照射された第２光源１ｂによる測定光の光路長と、が一致されたとき、第２光源１ｂによる角膜での反射光と水晶体前面での反射光との干渉光が受光素子２７ｂに受光される。このとき、干渉光による干渉信号が受光素子２７ｂから制御部８０に出力され、前房深度の算出に用いられる。
【００３０】
さらに、プリズム７が移動され、プリズム７を介して角膜に照射された第１光源１ａによる測定光の光路長と，プリズム９を介して眼底に照射された第２光源１ａによる測定光の光路長と、が一致されたとき、第１光源１ａによる角膜での反射光と眼底での反射光との干渉光が受光素子２７ａに受光される。このとき、干渉光による干渉信号が受光素子２７ａから制御部８０に出力され、眼軸長の算出に用いられる。
【００３１】
ここで、干渉光を受光する受光素子から出力される干渉信号が被検眼のどの部位に対応する干渉信号であるかは、干渉信号の信号強度、信号の検出順序、等から特定できる。また、前述のような干渉信号が検出されたときのプリズム７の移動位置は、位置検出センサ７２から出力される信号に基づいて検出できる。したがって、眼軸長値を算出する場合、所定の演算式又はテーブル表等を用い、プリズム７の移動位置と被検眼の眼軸長との関係を予め求めておけばよい。また、角膜厚、前房深度においても、同様に、プリズム７の移動位置と各眼寸法との関係を予め求めておけばよい。なお、上記手法に限るものではなく、プリズム７の移動中において干渉信号が検出された時間に基づいて各眼寸法を測定するようにしてもよい。
【００３２】
取得された被験者眼の寸法に関する情報は、メモリ８５に記憶されるとともに、モニタ８１に表示される。また、制御部８０は、所定回数の測定が完了したら（又は被検者の眼寸法値が所定数得られたら）、プリズム７の往復移動を終了し、プリズム７の移動位置を初期位置に復帰させる。なお、上記のように測定値が複数取得された場合、各測定値をそれぞれ出力するようにしてもよいし、複数取得された測定値の平均値を出力するようにしてもよい。
【００３３】
以上のような構成とすれば、前眼部の各部位での散乱効果が高い波長帯域の光を前眼部寸法測定用の光として用いることによって、前眼部における各層からの反射光を良好なＳ／Ｎ比で検出でき、干渉光を高感度で検出できる。したがって、必ずしも被検眼の光軸と測定光軸とを厳密に一致させるために固視位置を調整する必要が無くなり、被検眼の視軸と測定光軸を一致させるために測定光軸上の固視光源を被検眼に固視させれば済む。したがって、固視誘導及びアライメントにかかる手間を軽減でき、前眼部における寸法の測定をスムーズに行うことが可能となる。
【００３４】
また、上記構成においては、第１光源１ａによる干渉光と第２光源１ｂによる干渉光とを各波長成分に分光した後、受光素子にて受光させる構成とした。このため、第１光源１ａと第２光源１ｂとを同時点灯するような場合、第１光源１ａによる干渉信号の検出の際に第２光源１ｂによる干渉光がノイズ信号として検出される、又、第２光源１ｂによる干渉信号の検出の際に第１光源１ａによる干渉光がノイズ信号として検出される、等の状況を回避できる。
【００３５】
また、本実施形態においては、眼軸長測定時及び前眼部寸法測定時において光源１ａ及び光源１ｂを同時点灯させるものとしたが、眼軸長測定時においては、光源１ａを点灯、光源１ｂを消灯させるものとし、前眼部寸法測定時においては、光源１ａを消灯、光源１ｂを点灯させるようにしてもよい。これにより、各測定に不要な光が被検眼に照射されるのを回避できる。この場合、例えば、制御部８０は、プリズム７の移動可能範囲において、眼軸長測定用の移動範囲と前眼部測定用の移動範囲とを設定し、眼軸長測定用の移動範囲にプリズム７が配置されたときに光源１ｂを点灯し、前眼部測定用の移動範囲にプリズム７が配置されたときに光源１ａを点灯するようにすればよい。
【００３６】
なお、以上の説明においては、第１光源１ａによる角膜反射光と眼底反射光との干渉光が受光素子２７ａに受光され、第２光源１ｂによる角膜前面での反射光と他の前眼部位での反射光との干渉光が受光素子２７ｂに受光されるものとしたが、これに限るものではない。
【００３７】
図２は第２実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系について示す概略光学図である。なお、図１の同一の番号を付したものについては、特段の説明がない限り、同一の構成・機能を有するものとする。図２において、ダイクロイックミラー３１は、光源１ａから出射された光を第１測定光と第１参照光とに分割する。具体的には、光源１ａから出射された光の１／２を透過し、他の１／２を反射する。また、ダイクロイックミラー３１は、光源１ｂから出射された光を透過する。ダイクロイックミラー３３は、光源１ｂから出射された光を第２測定光と第２参照光とに分割する役割を有し、具体的には、光源１ｂから出射された光の１／２を透過し、残る１／２を反射する。また、ダイクロイックミラー３３は、光源１ａから出射された光を透過する。
【００３８】
ここで、ダイクロイックミラー３１、３３を透過した第１測定光と第２測定光は、被検眼に照射される。このとき、第１光源１ａによって被検眼に照射された光は、被検眼角膜にて反射されると共に、被検眼眼底にて反射された後に被検眼から出射され、受光光学系２０へと向かう。その後、その反射光は、ダイクロイックミラー３３を通過して、ダイクロイックミラー３１によって反射された後、さらに、集光レンズ２６ａによって受光素子２７ａ上に集光される。また、第２光源１ｂによって被検眼に照射された光は、被検眼前眼部の各部位にて反射（散乱）される。その後、その反射光は、ダイクロイックミラー３３によって反射され、さらに、集光レンズ２６ｂによって受光素子２７ｂ上に集光される。
【００３９】
ダイクロイックミラー３１の反射方向には、第１参照光を反射するために配置された第１参照ミラー３６が光軸方向に移動可能に配置されている。第１参照ミラー３６は駆動部３６ａによって光軸方向に移動される。これにより、光源１ａによる第１参照光の光路長が変化される。なお、第１参照ミラー３６によって反射された第１参照光は、ダイクロイックミラー３１を透過し、さらに、集光レンズ２６ａによって受光素子２７ａ上に集光される。この場合、第１参照ミラー３６の移動によって第１参照光の光路長が変化され、被検眼眼底に照射された第１測定光による光路長と、第１参照ミラー３６によって反射された第１参照光による光路長と、が一致したとき、光源１ａによる眼底反射光と参照光との干渉光が受光素子２７ａに受光される。
【００４０】
また、ダイクロイックミラー３３の反射方向には、第２参照光を反射するために配置された第２参照ミラー３７が光軸方向に移動可能に配置されている。第２参照ミラー３７は駆動部３７ａによって光軸方向に移動される。これにより、光源１ｂによる第２参照光の光路長が変化される。なお、第２参照ミラー３７によって反射された第２参照光は、ダイクロイックミラー３３を透過し、さらに、集光レンズ２６ｂによって受光素子２７ｂ上に集光される。この場合、第２参照ミラー３７の移動によって第２参照光の光路長が変化され、被検眼角膜に照射された第２測定光による光路長と、第２参照ミラー３７によって反射された第２参照光による光路長と、が一致したとき、光源１ｂによる角膜反射光と参照光との干渉光が受光素子２７ｂに受光される。また、同様に、第２参照ミラー３７の移動によって第２参照光の光路長が変化され、水晶体前面に照射された第２測定光による光路長と、第２参照ミラー３７によって反射された第２参照光による光路長と、が一致したとき、光源１ｂによる水晶体前面反射光と参照光との干渉光が受光素子２７ｂに受光される。
【００４１】
制御部８０は、光源１ａによる眼底反射光と参照光との干渉光が受光素子２７ａに受光されたときの第１参照ミラー３６の移動位置に基づいて眼底位置を検出する。また、制御部８０は、光源１ｂによる角膜反射光と参照光との干渉光が受光素子２７ｂに受光されたときの参照ミラー３７の移動位置に基づいて角膜位置を検出する。そして、制御部８０は、検出された眼底と角膜の位置関係から眼軸長を算出する。また、制御部８０は、光源１ｂによる水晶体前面反射光と参照光との干渉光が受光素子２７ｂに受光されたときの参照ミラー３７の移動位置に基づいて水晶体前面位置を検出し、検出された角膜と水晶体前面の位置関係から前房深度を測定する。また、同様に、角膜前後面の位置をそれぞれ検出することによって，角膜厚の算出も可能である。
【００４２】
また、図３に示すような構成であってもよい。この場合、ハーフミラー３５は、光源１ａから出射された光を第１測定光と第１参照光とに分割すると共に、光源１ｂから出射された光を第２測定光と第２参照光とに分割する。また、第１参照ミラー３６は全反射ミラー、第２参照ミラー３７はダイクロイックミラーであって、光源１ａによる第１参照光を透過し、光源１ｂによる第２参照光を反射する。図３の構成においても、図２と同様に、第１参照ミラー３６及び第２参照ミラー３７が移動されたときに受光素子２７ａ，２７ｂから出力される干渉信号に基づいて眼軸長、前房深度、等を算出できる。
【００４３】
また、上記構成においては、参照光の光路長を変更する参照ミラーとして眼底検出用のミラー（参照ミラー３６）と前眼部検出用のミラー（参照ミラー３７）をそれぞれ設けるものとしたが、これに限るものではない。眼底位置と前眼部の各部位の位置を一つの参照ミラーの移動によって検出するようにしてもよい。例えば、図３において、参照ミラー３７を除去した構成とし、眼底位置検出と前眼部の各部位の位置検出が可能な移動範囲において参照ミラー３６を移動させるような構成であってもよい。
【００４４】
また、上記構成においては、参照ミラーを直線的に移動させることにより参照光の光路長を変化させるものとしたが、これに限るものではなく、回転反射体による光遅延機構により参照光の光路長を変化させる構成であっても、本発明の適用は可能である（例えば、特開２００５−１６０６９４号公報参照）。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】本実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系の概略構成図である。
【図２】第２実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系について示す概略光学図である。
【図３】第３実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系について示す概略光学図である。
【符号の説明】
【００４６】
１ａ 第１光源
１ｂ 第２光源
５ ビームスプリッタ
７ 三角プリズム（光路長変更部材）
１０ 照射光学系
２０ 受光光学系
２７ａ 第１受光素子
２７ｂ 第２受光素子
７１ 駆動部
８０ 制御部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検眼の眼寸法を測定する眼寸法測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
低コヒーレント光の干渉を用いて被検眼の眼軸長と前眼部寸法（例えば、角膜厚、前房深度等）とを非接触で測定する光干渉式眼寸法測定装置が知られている（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−１６０６９４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来の装置において前眼部寸法を測定する場合、検者は、前眼部における各層からの正反射成分が精度良く検出できるように、被検眼に対してアライメントと固視誘導とを行う（被検眼光軸と装置光軸を一致させる）必要があった。しかしながら、上記のような調整作業は非常に手間であり、測定時間の長期化、測定精度の低下、等の原因になりうるものであった。
【０００５】
本発明は、上記問題点を鑑み、被検眼の眼軸長と前眼部寸法とをスムーズに測定できる眼寸法測定装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００７】
（１） 低コヒーレント光を出射する測定光源と、該測定光源から出射された光の一部の光路長を変化させるために移動可能に配置された光路長変更部材と、受光素子と、を有し、被検眼の前眼部及び眼底に低コヒーレント光を照射し、被検眼からの反射光を干渉光として前記受光素子で受光する干渉光学系と、
前記受光素子から出力された干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長及び前眼部寸法を測定する演算制御部と、を備える眼寸法測定装置において、
前記測定光源は、
眼軸長測定用の７５０〜１１００ｎｍの内に中心波長を持つ第１の低コヒーレント光を出射する第１の光源と、
前眼部寸法測定用の４００〜７００ｎｍの内に中心波長を持つ第２の低コヒーレント光を出射する第２の光源と、を含むことを特徴とする眼寸法測定装置。
（２） （１）の眼寸法測定装置において、
前記干渉光学系には、前記第１及び第２の光源から出射された各光を分割する光分割部材を有し、
前記光路長変更部材は、該光分割部材によって分割された前記第１及び第２の光源から出射された各光の光路長を同時に変更可能であることを特徴とする。
（３） （２）の眼寸法測定装置において、
前記受光素子は、前記第１の光源による被検眼からの反射光を受光する第１の受光素子であって、前記第１の光源の発光波長に対応した分光感度波長を持つ第１の受光素子と、前記第２の光源による被検眼からの反射光を受光する第２の受光素子であって、前記第２の光源の発光波長に対応した分光感度波長を持つ第２の受光素子と、
を備えることを特徴とする。
（４） （３）の眼寸法測定装置において、
前記演算制御部は、前記第１の光源、前記第２の光源、を制御する演算制御部であって、
前記第１の光源と前記第２の光源とをそれぞれ点灯させると共に、前記光路長変更部材が移動された状態において、前記第１の受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定し、前記第２の受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の前眼部寸法を測定することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
被検眼の眼軸長と前眼部寸法とをスムーズに測定できる
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は、本実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系の概略構成図である。
【００１０】
被検眼前眼部と被検眼眼底に測定光を照射するために配置された照射光学系１０は、低コヒーレント光を出射する測定光源１ａ，１ｂ（例えば、ＳＬＤ）と、測定光源１ａ，１ｂから出射された光束をそれぞれ平行光束とするために配置されたコリメータレンズ２ａ，２ｂと、光源１ａから出射された光と光源１ｂから出射された光とを合成するために配置されたダイクロイックミラー３と、光源１ａ，１ｂから出射された各光を分割／合成するビームスプリッタ５と、ビームスプリッタ５の透過方向に配置された第１三角プリズム（コーナーキューブ）７と、ビームスプリッタ５の反射方向に配置された第２三角プリズム９と、偏光ブームスプリッタ１１と、１／４波長板１３と、検査窓１７と、を有する。なお、ダイクロイックミラー３としては、例えば、光源１ａから出射された光を透過し、光源１ｂから出射された光を反射する光学特性を有する光学部材を使用できる。
【００１１】
測定光源は、眼軸長測定用の７５０〜１１００ｎｍの内に中心波長を持つ第１の低コヒーレント光を出射する第１の光源１ａと、前眼部寸法測定用の４００〜７００ｎｍの内に中心波長を持つ低コヒーレント光を出射する第２の光源１ｂと、を含む。この場合、第１光源１ａの発光波長は、眼内での透過率が高い波長帯域に設定される。また、第２光源１ｂの発光波長は、前眼部の各部位（角膜、水晶体）での散乱効果が高い波長帯域に設定される。なお、第１の光源１ａ及び第２の光源１ｂの少なくともいずれかは、被検眼を固視させるための固視用光源として使用できる。
【００１２】
第１光源１ａとしては、より好ましくは、眼内での透過率がより高いλ＝７５０〜８５０ｎｍのいずれかに中心波長を持つ光源を使用できる。また、第１光源１ａとしては、白内障混濁に対する透過率が高いλ＝１０００〜１１００ｎｍのいずれかに中心波長を持つ光源を使用できる。また、第２光源１ｂとしては、より好ましくは、前眼部での散乱効果がより高いλ＝４００〜５００ｎｍのいずれかに中心波長を持つ光源を使用できる。
【００１３】
光源１ａ（光源１ｂ）から出射された光（直線偏光）は、コリメータレンズ２ａ（２ｂ）によってコリメートされた後、ダイクロイックミラー３を介して、ビームスプリッタ５によって分割される。そして、ビームスプリッタ５によって分割された一方の光は三角プリズム７によって反射され、ビームスプリッタ５によって分割された他方の光は三角プリズム９によって反射され、その後、ビームスプリッタ５によって合成される。そして、合成された光は、偏光ビームスプリッタ１１によって反射され、１／４波長板１３によって円偏光に変換された後、ダイクロイックミラー１５及び検査窓１７を介して被検眼に照射される。このとき、測定光束は、被検者眼にて反射されると、１／２波長分位相が変換される。
【００１４】
このとき、第１光源１ａによって被検眼に対して照射された光は、被検眼角膜にて反射された後、後述する受光光学系２０へ向かう。また、第１光源１ａによる光は、眼内での透過率が高いため、眼内を通過し、眼底にて反射された後、再び眼内を介して被検眼から出射され、受光光学系２０へと向かう。
【００１５】
また、第２光源１ｂによって被検眼に対して照射された光は、被検眼前眼部の各部位にて反射（散乱）された後、受光光学系２０へと向かう。この場合、第２光源１ｂによる光は、前眼部の各部位での散乱効果が高いため、第１光源１ａによる前眼部反射光よりも多くの反射光が得られる。
【００１６】
照射光学系１０によって照射された測定光による被検眼からの反射光を干渉光として受光するために配置された受光光学系２０は、検査窓１７と、１／４波長板１３と、偏光ビームスプリッタ１１と、集光レンズ１９と、第１光源１ａによる干渉光と第２光源１ｂによる干渉光とを分割するために配置されたダイクロイックミラー２６と、第１光源１ａによる干渉光を受光する受光素子２７ａと、第２光源１ｂによる干渉光を受光する受光素子２７ｂと、を有する。ダイクロイックミラー２６としては、例えば、第１光源１ａによる干渉光を透過し、第２光源１ｂによる干渉光を反射する光学特性を有する光学部材を使用できる。
【００１７】
なお、受光光学系２０としては、眼軸長測定用の受光素子として用いられ，第１光源１ａの発光波長に対応した分光感度波長を持つ第１の受光素子２７ａと、前眼部寸法測定用の受光素子として用いられ，第２光源１ｂの発光波長に対応した分光感度波長を持つ第２の受光素子２７ｂと、をそれぞれ配置できる。この場合、第１の受光素子２７ａは、その分光感度波長のピークが第１光源１ａの中心波長付近に設定されたものが好ましい。また、第２の受光素子２７ｂは、その分光感度波長のピークが第２光源１ｂの中心波長付近に設定されたものが好ましい。これにより、第１の光源１ａによる干渉光と、第２の光源１ｂによる干渉光と、をそれぞれ精度良く検出できる。
【００１８】
なお、上記構成に限るものではなく、一つの受光素子を設け、その受光素子より前に、第１の光源１ａによる干渉光と第２の光源１ｂによる干渉光をそれぞれ選択的に通過させるフィルタユニットを設けるようにしてもよい。この場合、フィルタユニットとしては、例えば、受光光学系２０の光路中において、第１の光源１ａによる干渉光を通過し，第２の光源１ｂによる干渉光をカットする第１フィルタと、第２の光源１ｂによる干渉光を通過し，第１の光源１ａによる干渉光をカットする第２フィルタと、を切換配置する構成が使用できる。
【００１９】
第１光源１ａによる角膜と眼底からの反射光、及び第２光源１ｂによる前眼部からの反射光は、検査窓１７及びダイクロイックミラー１５を介して、１／４波長板１３によって直線偏光に変換される。その後、偏光ビームスプリッタ１１を透過した反射光は、集光レンズ１９によって集光された後、ダイクロイックミラー２６によって分割される。ここで、第１光源１ａによる反射光は、ダイクロイックミラー２６を透過し、受光素子２７ａによって受光される。また、第２光源２ａによる反射光は、ダイクロイックミラー２６によって反射され、受光素子２７ｂに受光される。
【００２０】
なお、三角プリズム７は、光路長を変更させるための光路長変更部材として用いられ、駆動部７１（例えば、モータ）の駆動によってビームスプリッタ５に対して光軸方向に直線的に移動される。この場合、光路長変更部材は、三角ミラー、コーナープリズム等であってもよい。また、プリズム７の駆動位置は、位置検出センサ７２（例えば、ポテンショメータ、エンコーダ、等）によって検出される。
【００２１】
なお、以上の説明において、光路長変更部材は、光路分割部材によって分割された光路中に配置され、二つに分割された光路間の光路差が調整されるように移動されればよい。具体的には、光路長変更部材及び光路分割部材は、図１のように照射光学系１０の光路中に配置される他、受光光学系２０の光路、又は照射光学系１０と受光光学系２０の共通光路に配置された構成であってもよい。
【００２２】
なお、本実施形態では、ビームスプリッタ５及びプリズム７は、第１光源１ａによる測定光が通過する光路と第２光源１ｂによる測定光が通過する光路との共通光路に配置されている。このため、ビームスプリッタ５は、第１光源１ａ及び第２光源１ｂから出射された各光を分割する。そして、ビームスプリッタ５によって分割された各光は、プリズム７にて反射され、ビームスプリッタ５に戻る。ここで、プリズム７が移動されると、ビームスプリッタ５によって分割された各光の光路長が同時に変更される。
【００２３】
ダイクロイックミラー１５の反射方向には、被検眼の前眼部を撮像するために配置された前眼部撮像光学系３０が設けられている。撮像光学系３０は、光源１ａ，１ｂによる被検眼からの反射光と前眼部照明光源４０による被検眼からの反射光を分割する特性を有するダイクロイックミラー１５、対物レンズ３１、全反射ミラー３３、結像レンズ３５、二次元撮像素子３７、を有する。ここで、照明光源４０によって照明された前眼部像は、検査窓１７、ダイクロイックミラー１５、対物レンズ３１、全反射ミラー３３、結像レンズ３７を介して、二次元撮像素子３７に結像される。ダイクロイックミラー１５としては、例えば、光源１ａ，１ｂによる被検眼からの反射光を透過し、照明光源４０による被検眼からの反射光を反射する光学特性を有する光学部材を使用できる。
【００２４】
次に、本実施形態に係る装置の制御系について説明する。制御部８０は、表示モニタ８１、光源１ａ，１ｂ、受光素子２７ａ，２７ｂ、駆動部７１、位置検出センサ７２、コントロール部８４、メモリ８５、等が接続される。制御部８０は、受光素子２７ａ，２７ｂから出力される受光信号を処理して，被検眼の眼軸長と前眼部寸法（例えば、前房深度）を演算により求める。メモリ８５には、求められた測定値などが記憶される。また、コントロール部８４には、測定開始のトリガ信号を発する測定開始スイッチ８４ａ、等の各種スイッチが設けられている。
【００２５】
以上のような構成を備える装置を用いて、被験者眼の眼軸長と前眼部寸法を測定する場合について説明する。検者は、モニタ８１に表示される被験者眼のアライメント状態を見ながら、図示なきジョイスティック等の操作手段を用いて、装置を上下左右及び前後方向に移動させ、装置を被験者眼Ｅに対して所定の位置関係に置く。また、検者は、固視灯（例えば、第２の光源１ｂ）を被験者眼に固視させる。この場合、制御部８０は、光源１ａと光源１ｂの少なくともいずれかを予め点灯させておけばよい。
【００２６】
ここで、測定開始のトリガ信号が出力されると、制御部８０は、光源１ａと光源１ｂの両方を点灯する。この場合、光源１ａと光源１ｂによる測定光が被検眼に照射され、光源１ａと光源１ｂによる被検眼からの反射光が受光素子２７ａと受光素子２７ｂに入射される。
【００２７】
また、制御部８０は、駆動部７１の駆動を制御し、第１三角プリズム７を往復して移動させる。そして、制御部８０は、受光素子２７ａによって干渉光が検出されたタイミングを元に、眼軸長を算出する。また、そして、制御部８０は、受光素子２７ｂによって干渉光が検出されたタイミングを元に、前眼部寸法を算出する。
【００２８】
ここで、光路長が長くなる方向に向けて所定の初期位置からプリズム７が移動され、プリズム７を介して角膜前面に照射された第２光源１ｂによる測定光の光路長と，プリズム９を介して角膜後面に照射された第２光源１ｂによる測定光の光路長と、が一致されたとき、第２光源１ｂによる角膜前面での反射光と角膜後面での反射光との干渉光が受光素子２７ｂに受光される。このとき、干渉光による干渉信号が受光素子２７ｂから制御部８０に出力され、角膜厚値の算出に用いられる。
【００２９】
さらに、プリズム７が移動され、プリズム７を介して角膜に照射された第２光源１ｂによる測定光の光路長と，プリズム９を介して水晶体前面に照射された第２光源１ｂによる測定光の光路長と、が一致されたとき、第２光源１ｂによる角膜での反射光と水晶体前面での反射光との干渉光が受光素子２７ｂに受光される。このとき、干渉光による干渉信号が受光素子２７ｂから制御部８０に出力され、前房深度の算出に用いられる。
【００３０】
さらに、プリズム７が移動され、プリズム７を介して角膜に照射された第１光源１ａによる測定光の光路長と，プリズム９を介して眼底に照射された第２光源１ａによる測定光の光路長と、が一致されたとき、第１光源１ａによる角膜での反射光と眼底での反射光との干渉光が受光素子２７ａに受光される。このとき、干渉光による干渉信号が受光素子２７ａから制御部８０に出力され、眼軸長の算出に用いられる。
【００３１】
ここで、干渉光を受光する受光素子から出力される干渉信号が被検眼のどの部位に対応する干渉信号であるかは、干渉信号の信号強度、信号の検出順序、等から特定できる。また、前述のような干渉信号が検出されたときのプリズム７の移動位置は、位置検出センサ７２から出力される信号に基づいて検出できる。したがって、眼軸長値を算出する場合、所定の演算式又はテーブル表等を用い、プリズム７の移動位置と被検眼の眼軸長との関係を予め求めておけばよい。また、角膜厚、前房深度においても、同様に、プリズム７の移動位置と各眼寸法との関係を予め求めておけばよい。なお、上記手法に限るものではなく、プリズム７の移動中において干渉信号が検出された時間に基づいて各眼寸法を測定するようにしてもよい。
【００３２】
取得された被験者眼の寸法に関する情報は、メモリ８５に記憶されるとともに、モニタ８１に表示される。また、制御部８０は、所定回数の測定が完了したら（又は被検者の眼寸法値が所定数得られたら）、プリズム７の往復移動を終了し、プリズム７の移動位置を初期位置に復帰させる。なお、上記のように測定値が複数取得された場合、各測定値をそれぞれ出力するようにしてもよいし、複数取得された測定値の平均値を出力するようにしてもよい。
【００３３】
以上のような構成とすれば、前眼部の各部位での散乱効果が高い波長帯域の光を前眼部寸法測定用の光として用いることによって、前眼部における各層からの反射光を良好なＳ／Ｎ比で検出でき、干渉光を高感度で検出できる。したがって、必ずしも被検眼の光軸と測定光軸とを厳密に一致させるために固視位置を調整する必要が無くなり、被検眼の視軸と測定光軸を一致させるために測定光軸上の固視光源を被検眼に固視させれば済む。したがって、固視誘導及びアライメントにかかる手間を軽減でき、前眼部における寸法の測定をスムーズに行うことが可能となる。
【００３４】
また、上記構成においては、第１光源１ａによる干渉光と第２光源１ｂによる干渉光とを各波長成分に分光した後、受光素子にて受光させる構成とした。このため、第１光源１ａと第２光源１ｂとを同時点灯するような場合、第１光源１ａによる干渉信号の検出の際に第２光源１ｂによる干渉光がノイズ信号として検出される、又、第２光源１ｂによる干渉信号の検出の際に第１光源１ａによる干渉光がノイズ信号として検出される、等の状況を回避できる。
【００３５】
また、本実施形態においては、眼軸長測定時及び前眼部寸法測定時において光源１ａ及び光源１ｂを同時点灯させるものとしたが、眼軸長測定時においては、光源１ａを点灯、光源１ｂを消灯させるものとし、前眼部寸法測定時においては、光源１ａを消灯、光源１ｂを点灯させるようにしてもよい。これにより、各測定に不要な光が被検眼に照射されるのを回避できる。この場合、例えば、制御部８０は、プリズム７の移動可能範囲において、眼軸長測定用の移動範囲と前眼部測定用の移動範囲とを設定し、眼軸長測定用の移動範囲にプリズム７が配置されたときに光源１ｂを点灯し、前眼部測定用の移動範囲にプリズム７が配置されたときに光源１ａを点灯するようにすればよい。
【００３６】
なお、以上の説明においては、第１光源１ａによる角膜反射光と眼底反射光との干渉光が受光素子２７ａに受光され、第２光源１ｂによる角膜前面での反射光と他の前眼部位での反射光との干渉光が受光素子２７ｂに受光されるものとしたが、これに限るものではない。
【００３７】
図２は第２実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系について示す概略光学図である。なお、図１の同一の番号を付したものについては、特段の説明がない限り、同一の構成・機能を有するものとする。図２において、ダイクロイックミラー３１は、光源１ａから出射された光を第１測定光と第１参照光とに分割する。具体的には、光源１ａから出射された光の１／２を透過し、他の１／２を反射する。また、ダイクロイックミラー３１は、光源１ｂから出射された光を透過する。ダイクロイックミラー３３は、光源１ｂから出射された光を第２測定光と第２参照光とに分割する役割を有し、具体的には、光源１ｂから出射された光の１／２を透過し、残る１／２を反射する。また、ダイクロイックミラー３３は、光源１ａから出射された光を透過する。
【００３８】
ここで、ダイクロイックミラー３１、３３を透過した第１測定光と第２測定光は、被検眼に照射される。このとき、第１光源１ａによって被検眼に照射された光は、被検眼角膜にて反射されると共に、被検眼眼底にて反射された後に被検眼から出射され、受光光学系２０へと向かう。その後、その反射光は、ダイクロイックミラー３３を通過して、ダイクロイックミラー３１によって反射された後、さらに、集光レンズ２６ａによって受光素子２７ａ上に集光される。また、第２光源１ｂによって被検眼に照射された光は、被検眼前眼部の各部位にて反射（散乱）される。その後、その反射光は、ダイクロイックミラー３３によって反射され、さらに、集光レンズ２６ｂによって受光素子２７ｂ上に集光される。
【００３９】
ダイクロイックミラー３１の反射方向には、第１参照光を反射するために配置された第１参照ミラー３６が光軸方向に移動可能に配置されている。第１参照ミラー３６は駆動部３６ａによって光軸方向に移動される。これにより、光源１ａによる第１参照光の光路長が変化される。なお、第１参照ミラー３６によって反射された第１参照光は、ダイクロイックミラー３１を透過し、さらに、集光レンズ２６ａによって受光素子２７ａ上に集光される。この場合、第１参照ミラー３６の移動によって第１参照光の光路長が変化され、被検眼眼底に照射された第１測定光による光路長と、第１参照ミラー３６によって反射された第１参照光による光路長と、が一致したとき、光源１ａによる眼底反射光と参照光との干渉光が受光素子２７ａに受光される。
【００４０】
また、ダイクロイックミラー３３の反射方向には、第２参照光を反射するために配置された第２参照ミラー３７が光軸方向に移動可能に配置されている。第２参照ミラー３７は駆動部３７ａによって光軸方向に移動される。これにより、光源１ｂによる第２参照光の光路長が変化される。なお、第２参照ミラー３７によって反射された第２参照光は、ダイクロイックミラー３３を透過し、さらに、集光レンズ２６ｂによって受光素子２７ｂ上に集光される。この場合、第２参照ミラー３７の移動によって第２参照光の光路長が変化され、被検眼角膜に照射された第２測定光による光路長と、第２参照ミラー３７によって反射された第２参照光による光路長と、が一致したとき、光源１ｂによる角膜反射光と参照光との干渉光が受光素子２７ｂに受光される。また、同様に、第２参照ミラー３７の移動によって第２参照光の光路長が変化され、水晶体前面に照射された第２測定光による光路長と、第２参照ミラー３７によって反射された第２参照光による光路長と、が一致したとき、光源１ｂによる水晶体前面反射光と参照光との干渉光が受光素子２７ｂに受光される。
【００４１】
制御部８０は、光源１ａによる眼底反射光と参照光との干渉光が受光素子２７ａに受光されたときの第１参照ミラー３６の移動位置に基づいて眼底位置を検出する。また、制御部８０は、光源１ｂによる角膜反射光と参照光との干渉光が受光素子２７ｂに受光されたときの参照ミラー３７の移動位置に基づいて角膜位置を検出する。そして、制御部８０は、検出された眼底と角膜の位置関係から眼軸長を算出する。また、制御部８０は、光源１ｂによる水晶体前面反射光と参照光との干渉光が受光素子２７ｂに受光されたときの参照ミラー３７の移動位置に基づいて水晶体前面位置を検出し、検出された角膜と水晶体前面の位置関係から前房深度を測定する。また、同様に、角膜前後面の位置をそれぞれ検出することによって，角膜厚の算出も可能である。
【００４２】
また、図３に示すような構成であってもよい。この場合、ハーフミラー３５は、光源１ａから出射された光を第１測定光と第１参照光とに分割すると共に、光源１ｂから出射された光を第２測定光と第２参照光とに分割する。また、第１参照ミラー３６は全反射ミラー、第２参照ミラー３７はダイクロイックミラーであって、光源１ａによる第１参照光を透過し、光源１ｂによる第２参照光を反射する。図３の構成においても、図２と同様に、第１参照ミラー３６及び第２参照ミラー３７が移動されたときに受光素子２７ａ，２７ｂから出力される干渉信号に基づいて眼軸長、前房深度、等を算出できる。
【００４３】
また、上記構成においては、参照光の光路長を変更する参照ミラーとして眼底検出用のミラー（参照ミラー３６）と前眼部検出用のミラー（参照ミラー３７）をそれぞれ設けるものとしたが、これに限るものではない。眼底位置と前眼部の各部位の位置を一つの参照ミラーの移動によって検出するようにしてもよい。例えば、図３において、参照ミラー３７を除去した構成とし、眼底位置検出と前眼部の各部位の位置検出が可能な移動範囲において参照ミラー３６を移動させるような構成であってもよい。
【００４４】
また、上記構成においては、参照ミラーを直線的に移動させることにより参照光の光路長を変化させるものとしたが、これに限るものではなく、回転反射体による光遅延機構により参照光の光路長を変化させる構成であっても、本発明の適用は可能である（例えば、特開２００５−１６０６９４号公報参照）。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】本実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系の概略構成図である。
【図２】第２実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系について示す概略光学図である。
【図３】第３実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系について示す概略光学図である。
【符号の説明】
【００４６】
１ａ 第１光源
１ｂ 第２光源
５ ビームスプリッタ
７ 三角プリズム（光路長変更部材）
１０ 照射光学系
２０ 受光光学系
２７ａ 第１受光素子
２７ｂ 第２受光素子
７１ 駆動部
８０ 制御部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
低コヒーレント光を出射する測定光源と、該測定光源から出射された光の一部の光路長を変化させるために移動可能に配置された光路長変更部材と、受光素子と、を有し、被検眼の前眼部及び眼底に低コヒーレント光を照射し、被検眼からの反射光を干渉光として前記受光素子で受光する干渉光学系と、
前記受光素子から出力された干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長及び前眼部寸法を測定する演算制御部と、を備える眼寸法測定装置において、
前記測定光源は、
眼軸長測定用の７５０〜１１００ｎｍの内に中心波長を持つ第１の低コヒーレント光を出射する第１の光源と、
前眼部寸法測定用の４００〜７００ｎｍの内に中心波長を持つ第２の低コヒーレント光を出射する第２の光源と、を含むことを特徴とする眼寸法測定装置。
【請求項２】
請求項１の眼寸法測定装置において、
前記干渉光学系には、前記第１及び第２の光源から出射された各光を分割する光分割部材を有し、
前記光路長変更部材は、該光分割部材によって分割された前記第１及び第２の光源から出射された各光の光路長を同時に変更可能であることを特徴とする眼寸法測定装置。
【請求項３】
請求項２の眼寸法測定装置において、
前記受光素子は、前記第１の光源による被検眼からの反射光を受光する第１の受光素子であって、前記第１の光源の発光波長に対応した分光感度波長を持つ第１の受光素子と、前記第２の光源による被検眼からの反射光を受光する第２の受光素子であって、前記第２の光源の発光波長に対応した分光感度波長を持つ第２の受光素子と、
を備えることを特徴とする眼寸法測定装置。
【請求項４】
請求項３の眼寸法測定装置において、
前記演算制御部は、前記第１の光源、前記第２の光源、を制御する演算制御部であって、
前記第１の光源と前記第２の光源とをそれぞれ点灯させると共に、前記光路長変更部材が移動された状態において、前記第１の受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定し、前記第２の受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の前眼部寸法を測定することを特徴とする眼寸法測定装置。
【請求項１】
低コヒーレント光を出射する測定光源と、該測定光源から出射された光の一部の光路長を変化させるために移動可能に配置された光路長変更部材と、受光素子と、を有し、被検眼の前眼部及び眼底に低コヒーレント光を照射し、被検眼からの反射光を干渉光として前記受光素子で受光する干渉光学系と、
前記受光素子から出力された干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長及び前眼部寸法を測定する演算制御部と、を備える眼寸法測定装置において、
前記測定光源は、
眼軸長測定用の７５０〜１１００ｎｍの内に中心波長を持つ第１の低コヒーレント光を出射する第１の光源と、
前眼部寸法測定用の４００〜７００ｎｍの内に中心波長を持つ第２の低コヒーレント光を出射する第２の光源と、を含むことを特徴とする眼寸法測定装置。
【請求項２】
請求項１の眼寸法測定装置において、
前記干渉光学系には、前記第１及び第２の光源から出射された各光を分割する光分割部材を有し、
前記光路長変更部材は、該光分割部材によって分割された前記第１及び第２の光源から出射された各光の光路長を同時に変更可能であることを特徴とする眼寸法測定装置。
【請求項３】
請求項２の眼寸法測定装置において、
前記受光素子は、前記第１の光源による被検眼からの反射光を受光する第１の受光素子であって、前記第１の光源の発光波長に対応した分光感度波長を持つ第１の受光素子と、前記第２の光源による被検眼からの反射光を受光する第２の受光素子であって、前記第２の光源の発光波長に対応した分光感度波長を持つ第２の受光素子と、
を備えることを特徴とする眼寸法測定装置。
【請求項４】
請求項３の眼寸法測定装置において、
前記演算制御部は、前記第１の光源、前記第２の光源、を制御する演算制御部であって、
前記第１の光源と前記第２の光源とをそれぞれ点灯させると共に、前記光路長変更部材が移動された状態において、前記第１の受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定し、前記第２の受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の前眼部寸法を測定することを特徴とする眼寸法測定装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図２】
【図３】
【公開番号】特開２０１０−１８４０５０（Ｐ２０１０−１８４０５０Ａ）
【公開日】平成２２年８月２６日（２０１０．８．２６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−３０４８８（Ｐ２００９−３０４８８）
【出願日】平成２１年２月１２日（２００９．２．１２）
【出願人】（０００１３５１８４）株式会社ニデック (745)
【公開日】平成２２年８月２６日（２０１０．８．２６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年２月１２日（２００９．２．１２）
【出願人】（０００１３５１８４）株式会社ニデック (745)
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